可校正相位的多相位波形產生器及相關的相位校正方法
2023-04-24 09:49:36 3
專利名稱：可校正相位的多相位波形產生器及相關的相位校正方法
技術領域：
本發明涉及多相位波形產生器，特別是涉及一種可校正相位的多相位波形產生器以及進行相位校正的相關方法。
背景技術：
隨著科技的進步，各式各樣具有不同應用的集成電路陸續被提出。一般在各種集成電路應用裡面，常會有一些組件必須負責產生準確的多相位(multiphase)訊號，且各個不同的相位之間必須維持良好的線性關係，通常這樣的裝置稱為「多相位波形產生器」(multiphase waveformgenerator)。舉例來說，在光碟機相關應用的晶片中，決定寫入波形的「寫入策略」(write strategy)就必須利用多相位波形產生器來產生具有特定解析度(例如T/32或是T/64，T為一個位的時間長度)的多相位訊號輸出(亦即輸出訊號的相位變化的最小單位為T/32或是T/64)，而各個相位之間的線性度會直接影響整個光碟片寫入工作的效能(performance)。
請參閱圖1，圖1為已知技術一多相位波形產生器的示意圖。圖1中的多相位波形產生器100用來接收一輸入訊號SIN，依據一延遲參數n來改變輸入訊號SIN的相位以產生一輸出訊號SOUT。圖1中的多相位波形產生器100包含有一延遲模塊110以及一選擇模塊130。延遲模塊110中包含有多個串聯的延遲單元(delay unit)115，用來延遲輸入訊號SIN以產生多個延遲訊號(此處共有M個延遲單元115，故總共能產生M個延遲訊號，依序為D1、D2、D3、.....DM)。選擇模塊130包含有一控制訊號產生器135以及一多工器140。控制訊號產生器135可依據延遲參數n來產生用以控制多工器140的控制訊號CTRL(由於此處共有M個延遲訊號輸入至多工器140，故控制訊號CTRL亦可具有M種不同的狀態，分別是CTRL1、CTRL2、xCTRL3、.....CTRLM，其中，CTRLX用來控制多工器140依據延遲訊號DX來產生輸出訊號SOUT)，控制訊號CTRL可適當地對多工器140進行訊號切換，最後多相位波形產生器100就會產生與輸入訊號SIN具有不同的相位的輸出訊號SOUT。換句話說，通過多工器140的切換工作，多相位波形產生器100所產生的輸出訊號SOUT的下降緣(或上升緣)相對於輸入訊號SIN的下降緣(或上升緣)要落後一希望的時間長度，而這希望的時間長度則由選擇適當的延遲參數n的值而決定。
假設圖1中的多相位波形產生器的相位變化的最小單位是T/32(T是輸入訊號SIN中每一個位的時間長度)，則延遲參數n可以具有32個不同的值(以光碟機為例，寫入策略會依據輸入訊號SIN的數據型樣來決定延遲參數n的值)，此處分別以n0、n1、n2、......、n30、n31來表示延遲參數的32個值。當接收到延遲參數nK(K為介於0與31之間的整數)之後，控制訊號產生器135會產生出對應的控制訊號CTRLJ(一般而言，控制訊號產生器135中可存有一對照表，該對照表中記錄了延遲參數n的每一個值所對應到的控制訊號CTRL的狀態)，控制多工器140依據延遲訊號DJ來產生輸出訊號SOUT，理想上而言，此時輸出訊號SOUT中的下降緣(或上升緣)應該要比輸入訊號SIN中的下降緣(或上升緣)延遲K/T的時間。
然而，隨著製程的變異或是環境參數(例如溫度)的改變，延遲模塊110中延遲單元115所產生的延遲時間可能會變的與設計時所假設的理想狀態不同，此時若使用控制訊號產生器135中預設的對照表來依據延遲參數n決定控制訊號CTRL，則可能無法產生出具有正確相位的輸出訊號SOUT。另外，如先前所述，多相位波形產生器110的每一個不同相位間必須具有不錯的線性關係存在。因此，若對多相位波形產生器100的輸出訊號SOUT的相位線性度有嚴格的要求時，則最好的方法就是設計特殊的電路，或使用特別的方法，來對多相位波形產生器進行相位校正的工作。
發明內容
因此本發明的一個目的是提供一種可校正相位的多相位波形產生器及相關的相位校正方法。
根據以下的實施例，本發明所提出的多相位波形產生器包含有一多相位波形產生模塊以及一校正模塊。該多相位波形產生模塊用來接收一輸入訊號，並依據一延遲參數改變該輸入訊號的相位以產生一輸出訊號。該校正模塊則電連接於該多相位波形產生模塊，用來產生對應於一第一、第二預定訊號第一、第二參考值；依據該第一、第二參考值來決定對應一測試延遲參數的理想相位數值；以及，依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生模塊。
另外，根據以下的實施例，本發明所提出的校正方法則用來對一多相位波形產生器進行相位校正的工作。該多相位波形產生器用來接收一輸入訊號，並依據一延遲參數改變該輸入訊號的相位以產生一輸出訊號，該方法則包含有以下步驟產生對應於一第一預定訊號的第一參考值；產生對應於一第二預定訊號的第二參考值；依據該第一、第二參考值來決定對應一測試延遲參數的理想相位數值；以及，依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生器。
圖1為已知技術一多相位波形產生器的示意圖。
圖2為本發明的多相位波形產生器的第一實施例示意圖。
圖3為依據二參考電壓來決定各延遲參數所對應的理想電壓值的示意圖。
圖4為本發明的多相位波形產生器的第二實施例示意圖。
圖5為本發明的多相位波形產生器相位校正方法的一實施例流程圖。
附圖符號說明100、200、400多相位波形產生器110、210、410延遲模塊115、215、415延遲單元130、230、430選擇模塊135、235、435控制訊號產生器140、240、440多工器250、450 校正模塊260、460 相位量測模塊262、266、462平均電路264 反相器268 減法器270、470 模擬至數字轉換器280、480 控制模塊
310 理想的電壓對延遲參數關係線具體實施方式
請參閱圖2，圖2為本發明的多相位波形產生器的第一實施例示意圖。本實施例中的多相位波形產生器200包含有一延遲模塊210、一選擇模塊230、以及一校正模塊250。延遲模塊210類似於圖1中的延遲模塊110，選擇模塊230則類似於圖1中的選擇模塊130(不同之處在於圖2中的選擇模塊230可以被校正，校正的方式則將於後文中說明，在此不多作贅述)。另外，為了說明上的方便，以下將以T/32作為相位變化的最小單位為例來說明本實施例中的多相位波形產生器200。
本實施例中的校正模塊250包含有一相位量測模塊260以及一控制模塊280。由於所產生的值與所接收到的訊號的相位狀況有對應的關係，故此處以「相位量測模塊」(phase measuring module)來作為圖2中裝置260的名稱，圖2例子中相位量測模塊260包含有一平均電路262(平均電路262可以是一低通濾波器)、一反相器264、一平均電路266(平均電路266亦可是一低通濾波器)、一減法器268、以及一模擬至數字轉換器(analog todigital converter，ADC)270。
在進行校正工作時，首先，挑選具有明確相位的一第一預定訊號S1與一第二預定訊號S2，例如數據形態(data pattern)為100100100......的訊號的相位就相當明確，周期性地包含有1周期的高狀態與2周期的低狀態；數據形態為110110110......的訊號的相位亦相當明確，周期性地包含有2周期的高狀態與1周期的低狀態。電路會先分別使用第一預定訊號S1與第二預定訊號S2作為輸入訊號SIN，並控制選擇模塊230直接以輸入訊號SIN作為輸出訊號SOUT，量測此時減法器268所產生的模擬電壓值VA(假設其值分別為一第一參考電壓VR1與一第二參考電壓VR2)，將之轉換為數字模式(亦即將第一參考電壓VR1轉換成一第一參考值、將第二參考電壓VR2轉換成一第二參考值)後存入控制模塊280之中(當然亦可以直接使用模擬電路來處理VR1與VR2，只是此時的電路會較為複雜，但亦為本領域的技術人員所能設計出來的)，以作為校正的基準。
假設第一預定訊號S1的數據形態(data pattern)為100100100......，則以其作為輸入訊號SIN時，輸入訊號SIN中就會周期性地包含有1T的高狀態(電位為VH)與2T的低狀態(電位為VL)(當然，高低狀態可以相反，此處僅用作舉例說明，並非本發明的限制條件)；假設第二預定訊號S2的數據形態為110110110......，則以其作為輸入訊號SIN時，輸入訊號SIN中就會周期性地包含有2T的高狀態(電位為VH)與1T的低狀態(電位為VL)。理想上來講，在上述兩種情形下，第一參考電壓VR1應該等於(VL-VH)/3，第二參考電壓VR2則應該等於(VH-VL)/3。
此時，使用第一參考電壓VR1與一第二參考電壓VR2作為基準，以內插的運算方式，就可以決定出在使用第一預定訊號S1作為輸入訊號SIN時，分別以n1、n2、......、n31這些值作為延遲參數時，減法器268所應產生的理想電壓值V1、V2、......、V31，其個別輸入ADC 270後的輸出結果稱為理想相位數值。各個理想電壓值與相對應的延遲參數的關係如圖3所示(當然，若使用外插的方式計算出圖3中VR1與VR2兩點所構成的線段延伸出各點的理想電壓值，亦是一種可行的作法)。
量測出第一參考電壓VR1與第二參考電壓VR2，並計算出理想電壓值V1、V2、......、V31之後，控制模塊280即可開始對控制訊號產生器235進行校正。舉例來說，在針對延遲參數nK(K為介於1與31之間的整數)進行校正時，電路可以使用第一預定訊號S1作為輸入訊號SIN，並使用延遲參數nK來控制控制訊號產生器235利用內建的對照表產生出控制訊號CTRL(假設其初始狀態為CTRLJ，則多工器240即會依據延遲訊號DJ來產生輸出訊號SOUT)，量測出此時減法器268所產生的實際電壓VK』。理想上而言，此時輸出訊號SOUT應該會周期性地包含有((32+K)/32)T的高狀態與((64-K)/32)T的低狀態，而實際電壓VK』則應該等於理想電壓VK(亦即VK』的點應該要落在圖3所示理想的電壓對延遲參數關係線310上)。
然而，實際上由於製程、溫度等因素影響，控制訊號產生器235內建的對照表不見得是夠準確的，也就是VK』與VK之間可能會有差異，若VK』大於VK，即表示第J個延遲單元215所產生的延遲訊號DJ落後於輸入訊號SIN的延遲時間大於K×T/32(相反，若VK』小於VK，即表示延遲訊號DJ落後於輸入訊號SIN的延遲時間小於K×T/32)，亦即CTRLJ並不適合作為延遲參數nK所對應的控制訊號，因而需要校正。此時，控制模塊280即可修正儲存於控制訊號產生器235中的對照表，改變延遲參數nK所對應到的控制訊號CTRL的狀態，直到減法器268所產生的實際電壓VK』最接近於理想電壓VK為止。舉例來說，當VK』大於VK時，控制模塊280可以將控制訊號CTRL的狀態自CTRLJ依序改變為CTRLJ-1、CTRLJ-2、CTRLJ-3......，以依序依據延遲訊號DJ-1、DJ-2或DJ-3......來產生輸出訊號SOUT，直到實際電壓VK』最接近理想電壓VK為止(當然，也可以不用一個個延遲單元215依序嘗試，電路亦可直接依據VK』與VK之間的差距，直接以比率換算，將控制訊號CTRL改變成最可能的狀態)，並將最終讓實際電壓VK』最接近理想電壓VK的控制訊號CTRL的狀態(假設是CTRLJ-3)儲存在控制訊號產生器235中對照表內(此處是儲存於延遲參數nK所對應到的欄位)，等到電路開始正常操作時，當控制訊號產生器235接收到延遲參數nK時，其即會產生CTRLJ-3作為控制訊號來控制多工器240。
除了可以針對每一個不同的延遲參數n分別進行校正之外，在延遲模塊210中每一個延遲單元215的一致性很好時(亦即每一個延遲單元215所造成的延遲時間都相同)，系統亦可以先對單一個延遲參數進行校正，再以此為基礎開始進行對其他延遲參數的校正程序，如此一來可以更加減少校正所需的時間。舉例來說，若校正的結果顯示延遲參數n1所對應的控制訊號應該要是CTRL5(亦即，必須利用延遲訊號D5來產生下降緣(或上升緣)落後於輸入訊號SIN的下降緣(或上升緣)T/32時間的輸出訊號SOUT)，則對應於另一個延遲參數nW(其中W＝2～31)而言，CTRL5×W很可能就是延遲參數nW所該對應到的控制訊號，此時系統可以直接以CTRL5×W來作為控制訊號，並檢查減法器268所產生的實際電壓VW』是否就是最接近於理想電壓VW的值。若結果為「是」，則控制模塊280即可將CTRL5×W儲存在控制訊號產生器235中的對照表內(此處是儲存於延遲參數nW所對應到的欄位)；若結果為「否」，控制模塊280則可以視VW』與VW之間的差異狀況，從CTRL5×W為起點開始修改控制訊號的狀態，直到VW』最接近於VW為止。
請參閱圖4，圖4為本發明的多相位波形產生器的第二實施例示意圖。本實施例中的多相位波形產生器400與圖2所示的多相位波形產生器200具有大致上相同的電路架構，不同點則在於圖4中的相位量測模塊460中僅包含有一平均電路462(可以是一低通濾波器)以及一模擬至數字轉換器470，除此之外，圖2與圖4兩個電路的運作原理實際上是相同的。雖然圖4的電路架構比較簡單，但是相位量測模塊460的量測結果(即模擬至數字轉換器470的輸出訊號)的噪聲抗擾性(noise immunity)卻會比圖2所示的電路架構稍差。
而模擬電路並非實現相位量測模塊的唯一作法，在數字電路運算的速度夠快的情形下，使用數字電路來作為相位量測模塊亦是可行的作法。此時，電路設計者可以直接使用模擬至數字轉換器以高的取樣頻率將輸出訊號SOUT的電壓轉換成數字值，再使用數字式電路來依據模擬至數字轉換器輸出結果，計算出對應於輸出訊號SOUT的平均電壓的數字值即可。然而，此種作法的基本原理仍與前文對圖2所做的敘述相似，故在此不多作贅述。
接下來請參閱圖5，圖5為本發明所提出的多相位波形產生器相位校正方法的一實施例流程圖。為了說明上的方便，此處將配合圖2所示的裝置架構來詳細說明圖5中的各個步驟步驟510量測對應於一第一預定訊號S1的第一參考值。此處是以第一預定訊號S1作為多相位波形產生器200的輸入訊號SIN，並控制多工器240直接以第一預定訊號S1作為輸出訊號SOUT。假設第一預定訊號S1的數據形態(data pattern)為100100100......，則輸入訊號SIN中會周期性地包含有1T的高狀態(電位為VH)與2T的低狀態(電位為VL)(當然，高低狀態可以相反，此處僅用作舉例說明，並非本發明的限制條件)，理想上減法器268所輸出的第一參考電壓VR1會等於(VL-VH)/3，該第一參考值為由模擬至數字轉換器270所輸出，對應於第一參考電壓VR1的數字值。
步驟510量測對應於一第二預定訊號S2的第二參考值。此處是以第二預定訊號S2作為多相位波形產生器200的輸入訊號SIN，並控制多工器240直接以第二預定訊號S2作為輸出訊號SOUT。假設第二預定訊號S2的數據型樣為110110110......，則輸入訊號SIN中會周期性地包含有2T的高狀態(電位為VH)與1T的低狀態(電位為VL)，理想上減法器268所輸出的第二參考電壓VR2會等於(VH-VL)/3，該第二參考值為由模擬至數字轉換器270所輸出，對應於第二參考電壓VR2的數字值。
步驟530依據該第一、第二參考值，決定出對應於各個延遲參數的理想相位數值。舉例來說，若以第一預定訊號S1作為輸入訊號SIN，且以nK作為測試延遲參數，則由減法器268所輸出的理想電壓VK應該等於[(32-K)×VR1+K×VR2]/32，因此，對應於延遲參數nK的理想相位數值可以設為對應於理想電壓VK的數字值(亦即模擬至數字轉換器270所應輸出的數字值)。
步驟540使用所述理想相位數值來校正該多相位波形產生器。舉例來說，在對測試延遲參數nK進行校正時，可以使用第一預定訊號S1來作為多相位波形產生器200的輸入訊號SIN，並以測試延遲參數nK來控制選擇模塊230修改輸入訊號SIN的相位，此時由減法器268所輸出的實際電壓為VK』，由模擬至數字轉換器270所輸出對應於實際電壓VK』的數字值則為此時的實際相位數值。假設在未校正前的情形下，控制訊號產生器235會對應延遲參數nK產生控制訊號CTRLJ來控制多工器240，多工器240則依據第J個延遲訊號DJ來產生輸出訊號SOUT，並由控制模塊280來檢測該理想相位數值與該實際相位數值的差異狀況，以對控制訊號產生器235進行校正。若該理想相位數值不等於該實際相位數值的原因是因為VK』大於VK，則控制模塊280可以將控制訊號CTRL的狀態自CTRLJ依序改變為CTRLJ-1、CTRLJ-2、CTRLJ-3......，以依序依據延遲訊號DJ-1、DJ-2或DJ-3......來產生輸出訊號SOUT(即相當於修改輸出訊號SOUT的下降緣落後於輸入訊號SIN的下降緣的延遲時間)，直到該實際相位數值最接近該理想相位數值為止(當然，也可以不用一個個延遲單元215依序嘗試，本方法亦可直接依據VK』與VK之間的差距，直接以比率換算，將控制訊號CTRL改變成最可能的狀態)，並將最終讓實際電壓值VK』最接近理想電壓值VK的控制訊號CTRL的狀態(假設是CTRLJ-3)儲存於控制訊號產生器235中對照表內(此處是儲存於延遲參數nK所對應到的欄位)，等到電路開始正常操作時，當控制訊號產生器235接收到延遲參數nK時，其即會產生CTRLJ-3作為控制訊號來控制多工器240。
雖然在前文中是結合圖2的裝置架構來說明圖5流程圖中的各個步驟，然而，以其它類型的裝置架構亦可以用來實現本發明所提出的方法，因此本發明所提出的方法不應受特定的裝置架構限制其專利範圍。
以上所述僅為本發明的較佳實施例，凡依本發明的權利要求所做的均等變化與修飾，皆應屬本發明專利的涵蓋範圍。
權利要求
1.一種多相位波形產生器，其包含有一多相位波形產生模塊，用來接收一輸入訊號，並依據一延遲參數改變該輸入訊號的相位以產生一輸出訊號；以及一校正模塊，電連接於該多相位波形產生模塊，用來產生對應於一第一、第二預定訊號的第一、第二參考值；依據該第一、第二參考值來決定對應一測試延遲參數的理想相位數值；以及，依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生模塊。
2.如權利要求1所述的多相位波形產生器，其中該多相位波形產生模塊包含有一延遲模塊，用來延遲該輸入訊號以產生多個延遲訊號；以及一選擇模塊，電連接於該延遲模塊，用來依據該測試延遲參數，自該多個延遲訊號中選擇出一測試延遲訊號，並依據該測試延遲訊號來產生一測試輸出訊號。
3.如權利要求2所述的多相位波形產生器，其中在產生該第一、第二參考值時，該選擇模塊直接以該第一、第二預定訊號作為該輸出訊號。
4.如權利要求2所述的多相位波形產生器，其中該校正模塊包含有一相位量測模塊，電連接於該選擇模塊以接收該輸出訊號，用來產生該第一、第二參考值與一實際相位數值；以及一控制模塊，電連接於該相位量測模塊，用來依據該第一、第二參考值來決定對應該測試延遲參數的理想相位數值，並比較該理想相位數值與該實際相位數值以校正該測試延遲參數所對應的實際延遲時間；其中，在該選擇模塊以該第一預定訊號作為該輸出訊號時，該相位量測模塊產生對應該第一預定訊號的第一參考值；在該選擇模塊以該第二預定訊號作為該輸出訊號時，該相位量測模塊產生對應該第二預定訊號的第二參考值；在該選擇模塊以該測試輸出訊號作為該輸出訊號時，該相位量測模塊產生對應該測試輸出訊號的實際相位數值。
5.如權利要求4所述的多相位波形產生器，其中該相位量測模塊包含有一平均電路，電連接於該選擇模塊，用來量測該輸出訊號的平均電壓；以及一模擬至數字轉換器，電連接於該平均電路與該控制模塊，用來依據該輸出訊號的平均電壓產生該第一、第二參考值與該實際相位數值；其中，該第一參考值對應於該第一預定訊號的平均電壓；該第二參考值對應於該第二預定訊號的平均電壓；該實際相位數值對應於該測試輸出訊號的平均電壓。
6.如權利要求5所述的多相位波形產生器，其中該平均電路為一低通濾波器。
7.如權利要求4所述的多相位波形產生器，其中該相位量測模塊包含有一反相器，電連接於該選擇模塊，用來產生該輸出訊號的反相訊號；一第一平均電路，電連接於該選擇模塊，用來產生該輸出訊號的平均電壓；一第二平均電路，電連接於該反相器，用來產生該反相訊號的平均電壓；以及一減法器，電連接於該第一、第二平均電路，用來產生該輸出訊號的平均電壓與該反相訊號的平均電壓間的電壓差；以及一模擬至數字轉換器，電連接於該減法器與該控制模塊，用來依據該輸出訊號的平均電壓與該反相訊號的平均電壓間的電壓差產生該第一、第二參考值與該實際相位數值；其中，在該選擇模塊以該第一預定訊號作為該輸出訊號時，該模擬至數字轉換器產生該第一參考值；在該選擇模塊以該第二預定訊號作為該輸出訊號時，該模擬至數字轉換器產生該第二參考值；在該選擇模塊以該測試輸出訊號作為該輸出訊號時，該模擬至數字轉換器產生該實際相位數值。
8.如權利要求7所述的多相位波形產生器，其中該第一與該第二平均電路皆為低通濾波器。
9.如權利要求1所述的多相位波形產生器，其中該第一預定訊號的每N個位中包含有X個對應於一第一邏輯值的位；該第二預定訊號的每N個位中包含有X+1個對應於該第一邏輯值的位。
10.一種校正一多相位波形產生器的方法，該多相位波形產生器用來接收一輸入訊號，並依據一延遲參數改變該輸入訊號的相位以產生一輸出訊號，該方法包含有產生對應於一第一預定訊號的第一參考值；產生對應於一第二預定訊號的第二參考值；依據該第一、第二參考值來決定對應一測試延遲參數的理想相位數值；以及依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生器。
11.如權利要求10所述的方法，其中，依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生器的步驟包含有以一測試輸入訊號作為該輸入訊號，使用該多相位波形產生器依據該測試延遲參數將該測試輸入訊號的至少一邊緣延遲一實際延遲時間以產生一測試輸出訊號；產生對應該測試輸出訊號的實際相位數值；以及比較該實際相位數值與該理想相位數值以校正該多相位波形產生器。
12.如權利要求11所述的方法，其中，比較該實際相位數值與該理想相位數值以校正該多相位波形產生器的步驟包含有改變該測試延遲參數所對應的實際延遲時間，直到對應該測試輸出訊號的實際相位數值最接近該理想相位數值為止。
13.如權利要求11所述的方法，其中該第一參考值對應於該第一預定訊號的平均電壓；該第二參考值對應於該第二預定訊號的平均電壓；以及該實際相位數值對應於該測試輸出訊號的平均電壓。
14.如權利要求11所述的方法，其中該第一參考值對應於一第一電壓差，其中，該第一電壓差為該第一預定訊號的平均電壓與其反相訊號的平均電壓之間的電壓差；該第二參考值對應於一第二電壓差，其中，該第二電壓差為該第二預定訊號的平均電壓與其反相訊號的平均電壓之間的電壓差；以及該實際相位數值對應於一實際電壓差，其中，該實際電壓差為該測試輸出訊號的平均電壓與其反相訊號的平均電壓之間的電壓差。
15.如權利要求11所述的方法，其中在產生該第一參考值的步驟中，該方法使用該第一預定訊號作為該輸出訊號，並量測該輸出訊號的平均電壓所對應的數字值作為該第一參考值；在產生該第二參考值的步驟中，該方法使用該第二預定訊號作為該輸出訊號，並量測該輸出訊號的平均電壓所對應的數字值作為該第二參考值；以及在產生該實際相位數值的步驟中，該方法量測該測試輸出訊號的平均電壓所對應的數字值作為該實際相位數值。
16.如權利要求12所述的方法，其中在產生該第一參考值的步驟中，該方法使用該第一預定訊號作為該輸出訊號，產生該輸出訊號與其反相訊號的第一與第二平均電壓，並量測該第一、第二平均電壓之間的電壓差所對應的數字值作為該第一參考值；在產生該第二參考值的步驟中，該方法使用該第二預定訊號作為該輸出訊號，產生該輸出訊號與其反相訊號的第三與第四平均電壓，並量測該第三、第四平均電壓之間的電壓差所對應的數字值作為該第二參考值；以及在產生該實際相位數值的步驟中，該方法產生該測試輸出訊號與其反相訊號的第五與第六平均電壓，並量測該第五、第六平均電壓之間的電壓差所對應的數字值作為該實際相位數值。
17.如權利要求11所述的方法，其中，該測試輸入訊號等於該第一預定訊號。
18.如權利要求10所述的方法，其中該第一預定訊號的每N個位中包含有X個對應於一第一邏輯值的位；該第二預定訊號的每N個位中包含有X+1個對應於該第一邏輯值的位。
全文摘要
本發明披露了一種可校正相位的多相位波形產生器及相關的相位校正方法。該多相位波形產生器包含有一多相位波形產生模塊以及一校正模塊。該多相位波形產生模塊用來接收一輸入訊號，並依據一延遲參數改變該輸入訊號的相位以產生一輸出訊號。該校正模塊電連接於該多相位波形產生模塊，用來產生對應於一第一、第二預定訊號的第一、第二參考值；依據該第一、第二參考值來決定對應一測試延遲參數的理想相位數值；以及，依據該理想相位數值來校正該多相位波形產生模塊。
文檔編號G11B7/00GK1697036SQ20041004330
公開日2005年11月16日 申請日期2004年5月14日 優先權日2004年5月14日
發明者徐哲祥, 凃維軒 申請人:聯發科技股份有限公司