一種點燈測試設備的製作方法

2023-05-22 20:53:21 1

本發明涉及顯示裝置測試技術領域，尤其涉及一種點燈測試設備。

背景技術：

現有技術中，顯示面板在製作完成之後，通常需要利用點燈測試設備對顯示面板進行點燈測試，即通過點燈測試設備對顯示面板上的測試點位進行加載信號，以測試顯示面板的顯示質量。

使用傳統的點燈測試設備為顯示面板進行點燈測試時，首先將顯示面板放置在點燈測試設備的工作檯上；然後通過機械手臂或者人工將點燈測試設備上的測試探針與顯示面板上的測試點位進行對位接觸，從而完成點燈測試。然而現有技術中，由於顯示面板上的每個測試點位所佔面積較小，測試探針與測試點位的對位接觸可以認為是點對點的對位接觸，這樣顯示面板的放置誤差或顯示面板在測試點位處的裁剪誤差等都容易造成測試探針對位錯位，從而使得點燈測試設備與顯示面板之間的對位精度較低，影響點燈測試設備的測試質量。

技術實現要素：

本發明的實施例提供一種點燈測試設備，能夠提高點燈測試設備與待測顯示面板之間的對位精度，提升點燈測試設備的測試質量。

為達到上述目的，本發明的實施例採用如下技術方案：

本發明實施例提供一種點燈測試設備，包括背光源，所述背光源用於向待測顯示面板提供光源，還包括：

定位卡槽，所述定位卡槽的內側壁上設置有多個導電觸片，所述待測顯示面板可插入所述定位卡槽中，使得所述待測顯示面板的測試點位與所述導電觸片對應接觸；

信號提供單元，所述信號提供單元用於向所述導電觸片提供測試信號。

可選的，所述定位卡槽的一端固定有擋塊；

所述定位卡槽上設置有定位塊和固定結構，所述定位塊可在所述定位卡槽上滑動，所述固定結構可將所述定位塊固定在所述定位卡槽的任意位置，以使所述定位塊和所述擋塊配合卡住插入所述定位卡槽中的所述待測顯示面板。

可選的，所述背光源的出光面包括與所述待測顯示面板對應的第一區域和所述第一區域以外的第二區域；

所述背光源上設置有可伸縮遮光件，所述可伸縮遮光件可遮擋所述第二區域的光線。

可選的，所述可伸縮遮光件為捲簾式遮光板。

可選的，所述固定結構包括銷釘，設置在所述定位塊上的第一定位孔和設置在所述定位卡槽的側壁上的多個第二定位孔；

所述定位塊可通過穿過所述第一定位孔和任意一個所述第二定位孔的所述銷釘固定在所述定位卡槽上。

可選的，所述信號提供單元包括殼體，所述殼體上設置有信號輸入接口和控制面板，所述殼體外設置有信號發生器，所述信號輸入接口與所述信號發生器電連接；所述殼體內部設置有轉接板；所述轉接板與所述信號輸入接口電連接；所述轉接板與所述導電觸片電連接；

所述控制面板用於控制所述信號發生器發射所述測試信號。

可選的，所述定位卡槽固定在所述背光源上；

所述背光源與所述殼體鉸接。

可選的，所述定位卡槽固定於所述背光源的側邊上，以使所述待測顯示面板插入所述定位卡槽時，所述待測顯示面板與所述背光源的出光面貼合。

可選的，所述導電觸片為銅片。

可選的，多個所述導電觸片的尺寸相同。

本發明實施例提供的點燈測試設備，包括背光源，背光源用於向待測顯示面板提供光源，還包括：定位卡槽，定位卡槽的內側壁上設置有多個導電觸片，待測顯示面板可插入定位卡槽中，使得待測顯示面板的測試點位與導電觸片對應接觸；信號提供單元，信號提供單元用於嚮導電觸片提供測試信號。相較於現有技術，本發明實施例通過設置定位卡槽，在定位卡槽的內側壁上設置多個導電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實現定位卡槽內側壁上的導電觸片與待測顯示面板的測試點位的對位接觸，相比於現有技術中需要人工或機械手臂進行測試探針與測試點位的對位接觸，本發明實施例提供的方式使得導電觸片與測試點位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由於測試點位與導電觸片為點對面的對位接觸，這樣相比於現有技術中的測試探針與測試點位的點對點的對位接觸，進一步提高了測試點位與導電觸片的對位精度，即提高了點燈測試設備與顯示面板之間的對位精度，提升了點燈測試設備的測試質量。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的一種點燈測試設備結構示意圖；

圖2為本發明實施例提供的一種點燈測試設備結構俯視示意圖；

圖3為本發明實施例提供的一種導電觸片結構示意圖；

圖4為現有技術提供的一種待測顯示面板結構示意圖；

圖5為本發明另一實施例提供的一種導電觸片結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

本發明實施例提供的點燈測試設備，參考圖1至圖5所示，包括背光源11，背光源11用於向待測顯示面板12提供光源，還包括：定位卡槽13，定位卡槽13的內側壁上設置有多個導電觸片131，待測顯示面板12可插入定位卡槽13中，使得待測顯示面板12的測試點位121與導電觸片131對應接觸；信號提供單元，所述信號提供單元用於嚮導電觸片131提供測試信號。

參考圖1至圖5所示，通過將導電觸片131設置在定位卡槽13的內側壁上，然後將待測顯示面板12插入定位卡槽13內，即可實現待測顯示面板12上的測試點位121與導電觸片131的對位接觸，進而實現導電觸片131與測試點位121之間的信號傳送。

其中，導電觸片一般為能導電的金屬片，在實際應用中，導電觸片131一般選用銅片。

本發明實施例對於導電觸片131的形狀、尺寸等不做限定，本領域技術人員可以根據實際情況進行設定。較佳的，導電觸片131為矩形。這樣可以與測試點位121更好配合，進一步提高導電觸片131和測試點位121的對位精度。

這樣一來，相較於現有技術，本發明實施例通過設置定位卡槽，在定位卡槽的內側壁上設置多個導電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實現定位卡槽內側壁上的導電觸片與待測顯示面板的測試點位的對位接觸，相比於現有技術中需要人工或機械手臂進行測試探針與測試點位的對位接觸，本發明實施例提供的方式使得導電觸片與測試點位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由於測試點位與導電觸片為點對面的對位接觸，這樣相比於現有技術中的測試探針與測試點位的點對點的對位接觸，進一步提高了測試點位與導電觸片的對位精度，即提高了點燈測試設備與顯示面板之間的對位精度，提升了點燈測試設備的測試質量。

進一步的，參考圖1和圖2所示，定位卡槽13的一端固定有擋塊132；定位卡槽13上設置有定位塊133和固定結構，定位塊133可在定位卡槽13上滑動，所述固定結構可將定位塊133固定在定位卡槽13的任意位置，以使定位塊133和擋塊132配合卡住插入定位卡槽13中的待測顯示面板12。

現有技術中當檢測不同尺寸的待測顯示面板時，就需要不同尺寸的點燈測試設備，這樣很多點燈測試設備就是一次性使用，容易造成資源浪費。而本發明實施例中設置一個較長尺寸的定位卡槽13，通過調節定位塊133和擋塊132之間的距離，使得定位卡槽13不但可以適應較大尺寸的待測顯示面板12的插入，也可以適應較小尺寸的待測顯示面板12的插入，這樣擴大了點燈測試設備的適用範圍。

其中，所述固定結構可以有多種，示例的，所述固定結構包括銷釘，設置在定位塊133上的第一定位孔和設置在定位卡槽13的側壁上的多個第二定位孔；定位塊133可通過穿過所述第一定位孔和任意一個所述第二定位孔的所述銷釘固定在定位卡槽13上。採用這樣的固定結構可以使得定位塊133和定位卡槽13之間的固定較為牢固，且操作較為簡單。

進一步的，參考圖1和圖2所示，背光源11的出光面包括與待測顯示面板12對應的第一區域和所述第一區域以外的第二區域；背光源11上設置有可伸縮遮光件14，可伸縮遮光件14可遮擋所述第二區域的光線。為了配合定位卡槽13適用不同尺寸，背光源11設置的尺寸也較大，而當檢測尺寸較小的待測顯示面板12時，需要將較大尺寸的背光源11中與待測顯示面板12非對應的第二區域遮擋，否則第二區域較強的光線會影響到人眼對待測顯示面板12的觀察。因而本發明實施例中採用可伸縮遮光件14，當檢測待測顯示面板12時，可伸縮遮光件14伸展開以遮擋背光源11的第二區域，當檢測結束時，可伸縮遮光件14收縮回背光源11的邊緣處。在實際應用中，可伸縮遮光件14一般為捲簾式遮光板。

進一步的，參考圖1和圖2所示，所述信號提供單元包括殼體15，殼體15上設置有信號輸入接口16和控制面板17，殼體15外設置有信號發生器，信號輸入接口16與所述信號發生器電連接；殼體15內部設置有轉接板；所述轉接板與信號輸入接口16電連接；所述轉接板與導電觸片131電連接；控制面板17用於控制所述信號發生器發射所述測試信號。

當需要對已插入定位卡槽13的待測顯示面板12進行檢測時，控制面板17控制所述信號發生器發射測試信號，測試信號經過信號輸入接口16到達轉接板，然後轉接板上的測試信號再經由導電觸片131到達待測顯示面板12的測試點位，以控制待測顯示面板12的顯示。

將轉接板設置在殼體15的內部，可以達到節省空間的目的。需要說明的是，由於轉接板位於殼體15的內部，而定位卡槽13的導電觸片131位於殼體15的外部，因而轉接板在與導電觸片131進行電連接時，殼體15上需設置一個連通殼體15內部與殼體15外部的引線槽18，用於電連接轉接板和導電觸片131的數據線穿過引線槽18，引線槽18的一端電連接轉接板，另一端電連接導電觸片131。

參考圖1和圖2所示，定位卡槽13固定在背光源11上；背光源11與殼體15鉸接。將定位卡槽13固定在背光源11上，待測顯示面板12插入到定位卡槽13中，背光源11與殼體15鉸接，這樣背光源11和待測顯示面板12可以相對於殼體15一起進行轉動，方便調試待測顯示面板的觀察視角。並且，在不進行檢測時，可以將背光源11扣回到殼體15上，這樣可以節省佔用空間。

其中，定位卡槽13可以固定在背光源11的出光面上，也可以固定在背光源11的側邊上，本發明實施例對此不作限定。較佳的，定位卡槽13固定於背光源11的側邊上，以使待測顯示面板12插入定位卡槽13時，待測顯示面板12與背光源11的出光面貼合。這樣可以避免待測顯示面板12與背光源11的出光面之間存在間隙時，間隙對待測顯示面板12的測試效果造成影響。

參考圖3和圖5所示，定位卡槽13的內側壁上設置的多個導電觸片131的尺寸可以相同，也可以不同，本發明實施例對此不做限定。優選的，參考圖5所示，設置多個導電觸片131的尺寸相同，這樣可以進一步提高導電觸片131和測試點位121的對位精度。

本發明實施例提供的點燈測試設備，包括背光源，背光源用於向待測顯示面板提供光源，還包括：定位卡槽，定位卡槽的內側壁上設置有多個導電觸片，待測顯示面板可插入定位卡槽中，使得待測顯示面板的測試點位與導電觸片對應接觸；信號提供單元，信號提供單元用於嚮導電觸片提供測試信號。相較於現有技術，本發明實施例通過設置定位卡槽，在定位卡槽的內側壁上設置多個導電觸片，通過將待測顯示面板插入所述定位卡槽，即可實現定位卡槽內側壁上的導電觸片與待測顯示面板的測試點位的對位接觸，相比於現有技術中需要人工或機械手臂進行測試探針與測試點位的對位接觸，本發明實施例提供的方式使得導電觸片與測試點位的對位更加容易，且對位精度更高；同時，由於測試點位與導電觸片為點對面的對位接觸，這樣相比於現有技術中的測試探針與測試點位的點對點的對位接觸，進一步提高了測試點位與導電觸片的對位精度，即提高了點燈測試設備與顯示面板之間的對位精度，提升了點燈測試設備的測試質量。

以上所述，僅為本發明的具體實施方式，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術範圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應以所述權利要求的保護範圍為準。