透鏡保持架驅動裝置以及安裝有該裝置的相機的製作方法

2023-05-12 00:04:06

專利名稱：透鏡保持架驅動裝置以及安裝有該裝置的相機的製作方法
技術領域：
本發明涉及透鏡保持架驅動裝置以及安裝有該裝置的相機，特別是涉及通過校正利用行動電話用小型相機拍攝靜止圖像時產生的抖動(振動)而能夠拍攝無像模糊的圖像的透鏡保持架驅動裝置以及安裝有該裝置的相機。
背景技術：
以往以來，提出有各種即使在拍攝靜止圖像時抖動(振動)也能夠防止成像面上的像模糊而進行清晰拍攝的抖動校正裝置(像模糊校正裝置)。作為抖動校正方式，已知傳感器移動方式、透鏡移動方式等光學方式、以及通過利用軟體進行的圖像處理而校正抖動的軟體方式。傳感器移動方式例如公開於日本特開2004-274242號公報(專利文獻I)中。專利文獻I所公開的數位相機構成為，攝像元件(CCD :電荷耦合器件)能夠利用致動器以標準位置(中央)為中心移動。致動器使CCD與通過振動傳感器檢測到的抖動對應地移動，從而進行抖動校正。CXD設置於CXD移動單元內。通過該CXD移動單元，CXD能夠在與Z軸正交的XY平面內移動。CXD移動單元主要包括固定地設於殼體的底板、相對於底板沿X軸方向移動的第一滑動件、和相對於第一滑動件沿Y軸方向移動的第二滑動件這三個部件。在專利文獻I所公開的傳感器移動方式中，CCD移動單元(可動機構)會變大。因此，將傳感器移動方式的抖動校正裝置運用於行動電話用小型相機在尺寸(外形、高度)方面是困難的。接著，說明透鏡移動方式。例如，日本特開2009-145771號公報(專利文獻2)公開了包含用於驅動校正透鏡的抖動校正單元的像模糊校正裝置。抖動校正單元包括作為固定部件的底板；能夠移動地保持校正透鏡的可動鏡筒；被底板與可動鏡筒夾持的三個球；相對於底板弾性支承可動鏡筒的多個弾性體；固定在底板上的兩個線圈；以及固定在可動鏡筒上的兩個磁體。另外，日本特開2006-65352號公報(專利文獻3)公開了 「像模糊校正裝置」，通過對包括多個透鏡組的攝像光學系統(成像光學系統)中的特定的ー個透鏡組(以下稱為「校正透鏡」)，在與光軸垂直的面內彼此正交的兩個方向上進行移動控制而校正像模糊的。在專利文獻3所公開的像模糊校正裝置中，通過縱搖移動框架以及橫搖移動框架，相對於固定框架沿上下方向(縱向)以及左右方向(橫向)移動自如地支承校正透鏡。日本特開2008-26634號公報(專利文獻4)公開了 「抖動校正単元」，包含通過沿與成像光學系統的光軸交叉的方向移動而校正由成像光學系統所形成的像的模糊的校正光學部件。在專利文獻4所公開的校正光學部件中，保持校正透鏡的透鏡保持框架藉助縱滑動件以及橫滑動件，相對於收容筒沿縱向以及橫向移動自如地被支承。
日本特開2006-215095號公報(專利文獻5)公開了「像模糊校正裝置」，能夠以小的驅動カ使校正透鏡移動，能夠迅速且高精度地進行像模糊校正。專利文獻5所公開的像模糊校正裝置包括保持校正透鏡的保持框架；以該保持框架沿第一方向(縱向)滑動自如的方式支承該保持框架的第一滑動件；以保持框架沿第二方向(橫向)滑動自如的方式支承該保持框架的第二滑動件；沿第一方向驅動第一滑動件的第一線圈電機；以及沿第二方向驅動第二滑動件的第二線圈電機。日本特開2008-15159號公報(專利文獻6)公開了包括能夠沿與光軸正交的方向移動地設置的模糊校正光學系統的透鏡鏡筒。在專利文獻6所公開的模糊校正光學系統中，設置於VR (Vibration Reduction :抖動校正)主體單元內的可動VR單元被設置成保持校正透鏡(第三透鏡組)，並能夠在與光軸正交的XY平面內移動。
日本特開2007-212876號公報(專利文獻7)公開了「像模糊校正裝置」，使保持於移動框架的校正透鏡能夠相對於透鏡系統的光軸沿彼此正交的第一方向以及第二方向移動，並通過驅動單元控制成使校正透鏡的光軸與透鏡系統的光軸重合，從而能夠校正像模糊。日本特開2007-17957號公報(專利文獻8)公開了「像模糊校正裝置」，通過透鏡驅動單元的動作，向與透鏡系統的光軸正交的方向並且彼此正交的第一方向以及第二方向，驅動用於校正由透鏡系統形成的像的模糊的校正透鏡，從而校正像模糊。在專利文獻8所公開的像模糊校正裝置中，將透鏡驅動單元設置於與校正透鏡的光軸正交的方向的一偵れ日本特開2007-17874號公報(專利文獻9)公開了「像模糊校正裝置」，使保持於移動框架的校正透鏡能夠沿與透鏡系統的光軸正交的方向並且彼此正交的第一方向以及第二方向移動，並控制成使校正透鏡的光軸與透鏡系統的光軸重合，從而能夠校正像模糊的。該專利文獻9所公開的像模糊校正裝置包括具有能夠相對地移動的線圈和磁體的驅動単元。線圈和磁體中的一者固定於移動框架，另ー者固定幹支承框架，該支承框架以移動框架能夠移動的方式支承該移動框架。另外，該專利文獻9所公開的像模糊校正裝置包括第一霍爾元件，通過檢測磁體的磁力而檢測校正透鏡有關第一方向的位置信息；以及第二霍爾元件，通過檢測磁體的磁力而檢測校正透鏡有關第二方向的位置信息。上述專利文件2至9所公開的透鏡移動方式的像模糊校正裝置(抖動校正裝置)均具有在與光軸垂直的平面內對校正透鏡進行移動調整的構造。可是，這樣的構造的像模糊校正裝置(抖動校正裝置)具有構造複雜且不適宜小型化的問題。即，與上述傳感器移動方式的抖動校正裝置同樣，將透鏡移動方式的抖動校正裝置運用於行動電話用小型相機在尺寸(外形、高度)方面是困難的。軟體方式例如公開於日本特開第平11-64905號公報(專利文獻10)中。在專利文獻10所公開的抖動校正方法中，從檢測単元的檢測結果中去除噪點成分，根據去除了該噪點成分的檢測信號，計算校正攝像裝置的因抖動而造成的圖像模糊所需的特定信息，從而在攝像裝置靜止並無抖動的狀態下，拍攝圖像也靜止。可是，對於該專利文獻10所公開的軟體方式，存在與上述光學式相比畫質較差的問題。而且，對於軟體方式，由於還包含軟體的處理，所以存在拍攝時間花費較長時間的缺點。
為了解決上述問題，已提出了通過使保持透鏡和攝像元件(圖像傳感器)的透鏡組件(相機組件)自身搖動而校正抖動(像模糊)的抖動校正裝置(像模糊校正裝置)。在此將那樣的方式稱為「光學単元傾斜(tilt)方式」。以下，就「光學単元傾斜方式」進行說明。例如，日本特開2007-41455號公報(專利文獻11)公開了 「光學裝置的像模糊校正裝置」，該光學裝置的像模糊校正裝置包括透鏡組件，保持透鏡和攝像元件；框架構造，利用轉動軸以該透鏡組件能夠轉動的方式支承該透鏡組件；驅動單元(致動器)，通過對轉動軸的被驅動單元(轉動件)賦予驅動力，使透鏡組件相對於框架構造轉動；以及施カ單元(板簧)，將驅動単元(致動器)壓靠於轉動軸的被驅動單元(轉動件)。框架構造包括內框架和外框架。驅動單元(致動器)被設置為相對於轉動軸的被驅動單元(轉動件)自與光軸垂直的方向抵接。驅動單元(致動器)包括壓電元件和轉動軸側的作用単元。作用單元利用壓電元件的縱振動以及彎曲振動驅動轉動軸。 另外，日本特開2007-93953號公報(專利文獻12)公開了「相機的抖動校正裝置」，通過將攝像透鏡以及圖像傳感器一體化而成的相機組件收容於殼體的內部，並且利用軸將相機組件以與攝像光軸正交且彼此垂直交叉的第一軸和第二軸為中心搖動自如地支承於殼體，與由抖動傳感器檢測到的殼體的抖動對應地在殼體內部控制相機組件整體的姿勢，從而校正拍攝靜止圖像時的抖動。專利文獻12所公開的相機的抖動校正裝置包括中間框架,從固定有相機組件的內框架的外側支承該內框架,使該內框架以第一軸為中心搖動自如；外框架，固定於殼體，從中間框架的外側支承該中間框架，使該中間框架以第二軸為中心搖動自如；第一驅動單元，組裝於中間框架，使內框架與來自抖動傳感器(檢測縱向的抖動的第一傳感器組件)的抖動信號對應地繞第一軸搖動；以及第二驅動單元，組裝於外框架，使中間框架與來自抖動傳感器(檢測橫向的抖動的第二傳感器組件)的抖動信號對應地繞第二軸搖動。第一驅動單元包括第一步進電機；使該第一步進電機減速的第一減速齒輪機構；以及與最後級的齒輪一體旋轉，並通過設於內框架的第一凸輪從動件使內框架搖動的第一凸輪。第二驅動單元包括第二步進電機；使該第二步進電機減速的第二減速齒輪機構；以及與最後級的齒輪一體旋轉，並通過設於中間框架的第二凸輪從動件使中間框架搖動的第二凸輪。還有，日本特開2009-288770號公報(專利文獻13)公開了通過改善對攝像單元的搖動校正用的攝像單元驅動機構的結構而能夠可靠地校正搖動的攝像用光學裝置。在專利文獻13所公開的攝像用光學裝置中，在固定罩的內側構成了攝像單元(可動組件)和用於使該攝像單元位移而進行搖動校正的搖動校正機構。攝像単元用於使透鏡沿光軸的方向移動。攝像単元具有在內側保持透鏡以及固定光圈的移動體、使該移動體沿光軸方向移動的透鏡驅動機構、和搭載透鏡驅動機構以及移動體的支承體。透鏡驅動機構包括透鏡驅動用線圈、透鏡驅動用磁體和磁軛。攝像單元利用4根吊線被支承於固定體上。兩個成為ー對的搖動校正用的第一攝像單元驅動機構以及第ニ攝像單元驅動機構分別設於中間隔著光軸的兩側的兩個部位。在這些攝像單元驅動機構中，在可動體側保持攝像單元驅動用磁體，在固定體側保持攝像單元驅動用線圈。另外，日本特開2007-142938號公報(專利文獻14)公開了具有使用陀螺儀等角速度傳感器而校正拍攝時的抖動的功能的移動信息終端設備。為了進行攝像圖像的抖動的校正，需要在與相機透鏡的光軸正交的面內，設定彼此正交的、作為基準的縱軸和橫軸，並檢測以縱軸為旋轉的中心軸線的旋轉和以橫軸為旋轉的中心軸線的旋轉這兩者的角速度。專利文獻14公開了在攝像裝置的側面配置有檢測繞縱軸旋轉的旋轉角速度的第一陀螺儀、和檢測繞橫軸旋轉的旋轉角速度的第二陀螺儀的裝置。另外，日本特開2008-20668號公報(專利文獻15)公開了沿光軸方向驅動透鏡的透鏡驅動裝置。該專利文獻15所公開的透鏡驅動裝置包括固定於透鏡支承體的外周的多個線圈體、和與線圈體相對設置的磁體單元。磁體單元在徑向上分極為N極和S極且在透鏡的光軸方向上具有不同的磁極N、S。線圈體與磁極對應地設於磁體単元，在相鄰的線圈體中流過彼此相反方向的電流。現有技術文獻
專利文獻專利文獻I :日本特開2004-274242號公報專利文獻2 :日本特開2009-145771號公報專利文獻3 日本特開2006-65352號公報專利文獻4 :日本特開2008-26634號公報專利文獻5 :日本特開2006-215095號公報專利文獻6 :日本特開2008-15159號公報專利文獻7 :日本特開2007-212876號公報專利文獻8 日本特開2007-17957號公報專利文獻9 日本特開2007-17874號公報專利文獻10 :日本特開平11-64905號公報專利文獻11 :日本特開2007-41455號公報專利文獻12 日本特開2007-93953號公報專利文獻13 :日本特開2009-288770號公報(圖I至圖5)專利文獻14 :日本特開2007-142938號公報(段落0005、段落0006、圖2)專利文獻15 日本特開2008-20668號公報

發明內容
發明要解決的問題因為上述專利文獻I所公開的「傳感器移動方式」的抖動校正裝置(數位相機)中，CCD移動單元(可動機構)較大，所以在尺寸(外形、高度)方面難以將其適用於行動電話用小型相機。另ー方面，因為上述專利文獻2至9所公開的「透鏡移動方式」的像模糊校正裝置(抖動校正裝置)均是在與光軸垂直的平面內對校正透鏡進行移動調整，所以存在構造複雜且不適宜小型化的問題。另外，由於專利文獻10所公開的「軟體方式」的抖動校正方法存在與光學式相比畫質較差的問題，還存在拍攝時間也包括軟體的處理，花費較長時間的缺點。另ー方面，在專利文獻11所公開的「光學單元傾斜方式」的像模糊校正裝置中，需要以包括內框架和外框架的框架構造覆蓋透鏡組件。其結果，存在像模糊校正裝置成為大型的問題。在專利文獻12所公開的「光學単元傾斜方式」的抖動校正裝置中，也需要以內框架、中間框架和外框架覆蓋相機組件。其結果，抖動校正裝置成為大型。而且，在「光學単元傾斜方式」中，還存在由於存在旋轉軸，產生孔-軸之間的摩擦，所以產生磁滯(hysteresis)的問題。在專利文獻13所公開的「光學単元傾斜方式」的攝像用光學裝置中，除了需要透鏡驅動用磁體之外，還需要攝像單元驅動用磁體。其結果，存在攝像用光學裝置成為大型的問題。另外，專利文獻14所公開的移動信息終端設備僅公開了使用陀螺儀等角速度傳感器作為抖動傳感器。另外，專利文獻15僅公開了沿光軸方向驅動透鏡的透鏡驅動裝置。因而，本發明的解決課題在於提供能夠實現小型且薄型化的透鏡保持架驅動裝置(抖動校正裝置)。 本發明的其他的目的隨著說明的進行而明確。本發明的透鏡保持架驅動裝置包括透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元；第ー驅動単元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動；第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動；支承単元，包括基座和支承部件，該基座配置在與所述透鏡保持架隔開的位置，該支承部件以所述透鏡保持架能夠沿所述第二方向和/或所述第三方向移動的方式支承該透鏡保持架；以及位置檢測單元，配置在所述支承単元，以檢測所述透鏡保持架相對於所述基座的所述第二方向上和/或所述第三方向上的位置。本發明的透鏡保持架驅動裝置包括透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元；第ー驅動単元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動；第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動；基座電路板，配置在與所述透鏡保持架隔開的位置；以及位置檢測單元，連接到所述基座電路板，以檢測所述透鏡保持架與所述基座電路板的所述第二方向上和/或所述第三方向上的相對位置。本發明的透鏡保持架驅動裝置包括透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元；第ー驅動単元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動；第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動；支承単元，包括基座和支承部件，該基座配置在與所述透鏡保持架隔開的位置，該支承部件以透鏡保持架能夠沿所述第二方向和/或所述第三方向移動的方式支承該透鏡保持架；以及位置檢測單元，配置在所述支承単元，以檢測所述透鏡保持架相對於所述基座的所述第二方向上和/或所述第三方向上的位置，所述透鏡保持架以能夠沿所述第一方向移動的方式被透鏡保持架支承単元支承，所述透鏡保持架支承単元包括配置在所述透鏡保持架的外側的透鏡保持架支承框，以及在所述透鏡保持架與所述透鏡保持架支承框之間連接並被固定的板簧，所述第一驅動単元和所述第二驅動單元分別包括線圈和磁體，一方所述線圈形成在線圈基板，並且包括在所述線圈基板的平面內相互隔開的多個的線圈部分，通過所述線圈與所述磁體的協同相互作用，使所述透鏡保持架移動，所述支承部件的一端固定於所述基座，另一端固定於所述透鏡保持架支承單元。本發明的相機安裝有上述透鏡保持架驅動裝置。根據本發明，因為採用鏡筒移動方式，所以與以往的光學式抖動校正方式(透鏡、移動方式、傳感器移動方式、光學単元傾斜方式)相比，能夠更縮小透鏡保持架驅動裝置的尺寸(主要是高度)。


圖I是表示本發明的第一實施方式的透鏡保持架驅動裝置的分解立體圖。圖2是表示圖I所示的透鏡保持架驅動裝置所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置20的分解立體圖。圖3是表示去除了保護罩而表示圖I所示的透鏡保持架驅動裝置的組裝立體圖。圖4是表示對圖I至圖3所示的透鏡保持架驅動裝置進行控制的抖動校正致動器的結構的方框圖。 圖5是本發明的第二實施方式的透鏡保持架驅動裝置的外觀立體圖。圖6是圖5所示的透鏡保持架驅動裝置的縱剖視圖。圖7是表示圖5所示的透鏡保持架驅動裝置的分解立體圖。圖8是表示圖5所示的透鏡保持架驅動裝置所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置的分解立體圖。圖9是圖6以及圖7所示的透鏡保持架驅動裝置所使用的磁路的立體圖。圖10是圖9所示的磁迴路的縱剖視圖。圖11是省略了圖9所不的磁迴路中的4片第一永磁體片和第一聚焦線圈而表不的俯視圖。圖12是本發明的第三實施方式的透鏡保持架驅動裝置的外觀立體圖。圖13是圖12所示的透鏡保持架驅動裝置的縱剖視圖。圖14是表示圖12所示的透鏡保持架驅動裝置的分解立體圖。圖15是表示圖12所示的透鏡保持架驅動裝置所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置的可動部的分解立體圖。圖16是表示圖12的透鏡保持架驅動裝置所使用的位置檢測單元的位置信息単元的俯視圖。圖17是表示在圖6所示的透鏡保持架驅動裝置中使用光學式位置檢測單元作為位置檢測單元的變形例的縱剖視圖。
具體實施例方式以下，參照

本發明的實施方式。參照圖I至圖3，說明本發明的第一實施方式的抖動校正裝置(透鏡保持架驅動裝置)10。圖I是表示抖動校正裝置10的分解立體圖。圖2是表示圖I所示的抖動校正裝置10所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置20的分解立體圖。圖3是表示去除了保護罩而表示圖I所示的抖動校正裝置10的組裝立體圖。在此，如圖I至圖3所示那樣，使用正交坐標系(X、Y、Z)。在圖I至圖3所示的狀態下，正交坐標系(X、Y、Z)中，X軸方向是前後方向(進深方向)，Y軸方向是左右方向(寬度方向)，Z軸方向是上下方向(高度方向)。並且，在圖I至圖3所示的例子中，上下方向Z是透鏡的光軸0方向。另外,在本第一實施方式中，X軸方向(前後方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實際使用狀況下，光軸0方向即Z軸方向成為前後方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為後方向。圖示的抖動校正裝置10是通過校正利用行動電話用小型相機拍攝靜止圖像時所產生的抖動(振動)而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動校正裝置10是通過使自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體沿與光軸0正交且彼此正交的第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)移動而校正抖動的裝置。自動聚焦用透鏡驅動裝置20用於使透鏡鏡筒(透鏡單元)12沿光軸0移動。從自動聚焦用透鏡驅動裝置20的底面隔開地設置基座印刷電路板(基座)14。該基座印刷電路板14的下部(後部)搭載有未圖示的設置於攝像基板上的攝像元件。該攝像元件攝像由透鏡鏡筒12成像的被攝體並變換為電信號。攝像元件例如由CCD(charge coupled device,電荷稱合器件)型圖像傳感器、CMOS (complementary metal oxide semiconductor,互補金 屬氧化物半導體)型圖像傳感器等構成。因而，通過組合透鏡驅動裝置20、攝像基板和攝像元件構成相機組件。接著，參照圖2說明自動聚焦用透鏡驅動裝置20。自動聚焦用透鏡驅動裝置20包括具有用於保持透鏡鏡筒12的筒狀部240的透鏡保持架24 ;以位於筒狀部240的周圍的方式固定於該透鏡保持架24的聚焦線圈26 ;保持與該聚焦線圈26相對地設置於聚焦線圈26的外側的永磁體28的磁體保持架(透鏡保持架支承框)30 ;以及設於透鏡保持架24的筒狀部240的光軸0方向兩側的一對板簧32、34。一對板簧32、34以透鏡保持架24在徑向被定位的狀態下透鏡保持架24能夠沿光軸0方向位移的方式支承該透鏡保持架24。一對板簧32、34中的ー側的板簧32被稱為上側板簧，另ー側的板簧34被稱為下側板簧。另外，磁體保持架30、一對板簧32、34和後述的上側印刷電路板36構成透鏡保持架支承單元。另外，如上述那樣，在實際的使用狀況下，Z軸方向(光軸0方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸0方向)的下方向成為後方向。因而，上側板簧32也被稱為前側彈簧，下側板簧34也被稱為後側彈簧。磁體保持架30呈八邊筒狀。即，磁體保持架30具有八邊筒形狀的外筒部302 ;設於該外筒部302的上端(前端)的八邊形的上側環狀端部304 ；以及設於外筒部302的下端(後端)的八邊形的下側環狀端部306。上側環狀端部304具有向上方突出的八個上側突起304a。下側環狀端部306也具有向下方突出的八個下側突起306a。聚焦線圈26呈與八邊筒狀的磁體保持架30的形狀相匹配的八邊筒狀。永磁體28包含沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此隔開地設置於磁體保持架30的八邊筒形狀的外筒部302的4片矩形狀的永磁體片282。總之，永磁體28與聚焦線圈26隔有間隔地設置。上側板簧(前側彈簧)32設置於透鏡保持架24的光軸0方向上側(前側)，下側板簧(後側彈簧)34設置於透鏡保持架24的光軸0方向下側(後側)。上側板簧(前側彈簧)32與下側板簧(後側彈簧)34具有大致相同的結構。上側板簧(前側彈簧)32具有安裝於透鏡保持架24的上端部的上側內圈部322、和安裝於磁體保持架30的上側環狀端部304的上側外圈部324。在上側內圈部322與上側外圈部324之間設有四個上側臂部326。S卩，四個臂部326連接上側內圈部322與上側外圈部 324。上側外圈部324具有分別與磁體保持架30的八個上側突起304a卡合的八個卡合缺口 324a。在上側板簧(前側彈簧)32的上部設置環狀的上側印刷電路板(上側基板)36。上側印刷電路板36具有分別供磁體保持架30的八個上側突起304a壓入(嵌入)的八個上側基板孔36a。即，磁體保持架30的八個上側突起304a分別經由上側外圈部324的八個卡合缺口 324a，壓入(嵌入)上側印刷電路板36的八個上側基板孔36a。S卩，上側板簧(前側彈簧)32的上側外圈部324被夾持而固定在磁體保持架30的上側環狀端部304與上 偵_刷電路板36之間。同樣，下側板簧(後側彈簧)34具有安裝於透鏡保持架24的下端部的下側內圈部(未圖示)、和安裝於磁體保持架30的下側環狀端部306的下側外圈部344。在下側內圈部與上側外圈部344之間設有四個下側臂部(未圖示)。即，四個下側臂部連接下側內圈部與下側外圈部344。下側外圈部344具有分別與磁體保持架30的八個下側突起306a卡合的八個下側卡合缺口 344a。在下側板簧(後側彈簧)34的下部設置環狀的止動件38。止動件38具有分別供磁體保持架30的八個下側突起306a壓入(嵌入)的八個止動件缺口 38a。S卩，磁體保持架30的八個下側突起306a分別經由下側外圈部344的八個卡合缺口 344a，壓入(嵌入)止動件38的八個止動件缺口 38a。S卩，下側板簧(後側彈簧)34的下側外圈部344被夾持而固定在磁體保持架30的下側環狀端部306與止動件38之間。包括上側板簧32和下側板簧34的彈性部件作為引導透鏡保持架24使其僅沿光軸0方向移動的引導單元而發揮作用。上側板簧32和下側板簧34分別由鈹青銅、磷青銅等構成。在透鏡保持架24的筒狀部240的內周壁上切削有內螺紋242。另一方面，在透鏡鏡筒12的外周壁上切削有與上述內螺紋242相配的外螺紋122。因而，為了在透鏡保持架24上安裝透鏡鏡筒12，通過使透鏡鏡筒12相對於透鏡保持架24的筒狀部240繞光軸0旋轉並沿光軸0方向旋入，將透鏡鏡筒12收容於透鏡保持架24內，並利用粘接劑等彼此接
八
口 o另外，聚焦線圈26和永磁體28 (第一驅動單元)通過對聚焦線圈26通電，在永磁體28的磁場與由聚焦線圈26中流過的電流產生的磁場相互作用下，能夠對透鏡保持架24(透鏡鏡筒12)沿光軸0方向進行位置調整。接著，參照圖I以及圖3，說明抖動校正裝置10。抖動校正裝置10具有一端被固定於基座印刷電路板(基座)14的四角部的4根吊線16 (支承部件)、和與上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20的永磁體28相對地設置於永磁體28的外側的抖動校正用線圈18。另外，基座印刷電路板14和吊線16構成支承單元。4根吊線16沿光軸0延伸，以自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體能夠沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動的方式支承該自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體。4根吊線16的另一端固定於上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20的上側印刷電路板36。詳細而言，上側印刷電路板36具有供4根吊線16的另一端插入(嵌入)的四個線固定用孔36b。將4根吊線16的另一端插入(嵌入)到上述四個線固定用孔36b中，並利用粘接齊Li、焊錫等固定。4根吊線16中的兩根吊線也使用於對聚焦線圈26供電。如上述那樣，永磁體28由沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相對地設置的4片永磁體片282構成。抖動校正裝置10包括與4片永磁體片282分別相對地隔開設置的四個線圈基板40。在上述四個線圈基板40上形成有上述抖動校正用線圈18。 詳細而言，在各線圈基板40的兩端部形成有一對抖動校正用線圈18。因而，合計具有八個抖動校正用線圈18。形成於在第二方向(左右方向)Y上彼此相對設置的兩個線圈基板40上的四個抖動校正用線圈18用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20沿第一方向(前後方向)X移動(搖動)。這樣的四個抖動校正用線圈18被稱為第一方向致動器18(1)。另一方面，形成於在第一方向(前後方向)X上彼此相對設置的兩個線圈基板40上的四個抖動校正用線圈18用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20沿第二方向(左右方向)Y移動(搖動)。這樣的四個抖動校正用線圈18被稱為第二方向致動器18(2)。總之，抖動校正用線圈18與永磁體28 (第二驅動單元)配合，沿X軸方向(第一方向)和Y軸方向(第二方向)驅動自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體。另外，抖動校正用線圈18與永磁體28的組合作為音圈電機而發揮作用。這樣，圖示的抖動校正裝置10通過使收容於自動聚焦用透鏡驅動裝置20的透鏡鏡筒12本身沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y移動，校正抖動。因而，抖動校正裝置10被稱為「鏡筒移動方式」的抖動校正裝置。抖動校正裝置10還包括包含了覆蓋四個線圈基板40的四邊筒部422的保護罩42。在圖示的例子中，如圖I所示那樣，四個線圈基板40安裝於保護罩42的四邊筒部422的內壁上。圖示的抖動校正裝置10還包括用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置20相對於基座印刷電路板14的位置的位置檢測單元50。圖示的位置檢測單元50由安裝在基座印刷電路板14上的四個霍爾元件50構成。上述四個霍爾元件50分別與4片永磁體片282隔開地相對設置。在第一方向(前後方向)X上相對設置的一對霍爾元件50通過檢測與該一對霍爾兀件50相對的一對永磁體片282的磁力，檢測跟隨第一方向(前後方向)X的移動(搖動)的第一位置。在第二方向(左右方向)Y上相對設置的一對霍爾元件50通過檢測與該一對霍爾兀件50相對的一對永磁體片282的磁力，檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(搖動)的第二位置。圖4是表示對抖動校正裝置10進行控制的抖動校正致動器600的結構的方框圖。抖動校正裝置10搭載於帶相機的行動電話(未圖示)中。在帶相機的行動電話的殼體(未圖不)中，設有用於檢測第一方向(前後方向)x的抖動的第一方向陀螺儀602、和用於檢測第二方向(左右方向)Y的抖動的第二方向陀螺儀 604。第一方向陀螺儀602檢測第一方向(前後方向)X的角速度,並輸出表不檢測到的第一方向(前後方向)X的角速度的第一角速度信號。第二方向陀螺儀604檢測第二方向(左右方向)Y的角速度，並輸出表示檢測到的第二方向(左右方向)Y的角速度的第二角速度信號。第一角速度信號以及第二角速度信號被提供給抖動校正控制單元606。快門按鈕608將快門操作指令信號提供給抖動校正控制單元606。抖動校正控制單元606具有根據第一角速度信號以及第二角速度信號檢測帶相機的行動電話的殼體的抖動的抖動檢測電路612、和接受快門操作指令信號的時序控制電路614。抖動檢測電路612包含濾波電路和放大電路。抖動檢測電路612將抖動檢測信號提供給抖動量檢測電路616。抖動量檢測電路616根據抖動檢測信號檢測帶相機的行動電話的殼體的抖動量，並將抖動量檢測信號輸出到係數變換電路618。係數變換電路618對抖動量檢測信號進行係數變換，並將係數變換了的信號輸出到控制電路620。來自設於抖動校正裝置10的位置檢測單元(位置傳感器)50的位置檢測信號被提供給該控制電路620。 控制電路620響應係數變換了的信號，基於位置檢測信號，輸出控制信號以抵消由抖動檢測電路612檢測到的抖動。時序控制電路614響應快門操作指令信號，控制抖動量檢測電路616、係數變換電路618和控制電路620的動作時機。控制信號被提供給驅動電路 622。如上述那樣，抖動校正裝置10，包括用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體沿第一方向(前後方向)X移動(搖動)的第一方向致動器18 (I)、和用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體沿第二方向(左右方向)Y移動(搖動)的第二方向致動器18(2)作為音圈電機。總之，抖動校正裝置10包含第一方向致動器18(1)和第二方向致動器18(2)。驅動電路622響應控制信號，驅動第一方向致動器18(1)和第二方向致動器18(2)。通過這樣的結構，抖動校正裝置10能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體移動(搖動)從而抵消帶相機的行動電話的殼體的抖動。其結果，能夠校正抖動。如上所述的本發明的第一實施方式的抖動校正裝置10發揮以下說明的效果。因為在自動聚焦用透鏡驅動裝置20上設置抖動校正裝置10，共用永磁體28，所以能夠削減元件件數。其結果，能夠縮小(降低)抖動校正裝置10的尺寸(主要是高度)。在光學單元傾斜方式的抖動校正裝置中，由於存在旋轉軸，所以產生孔-軸之間的摩擦從而產生磁滯。相對於此，在本第一實施方式的抖動校正裝置10中，因為利用4根吊線16機械地支承自動聚焦用透鏡驅動裝置20整體，所以不易產生磁滯。與以往的光學式抖動校正方式(透鏡移動方式、傳感器移動方式、光學單兀傾斜方式)的抖動校正裝置相比，因為採用鏡筒移動方式，所以能夠使抖動校正裝置10的尺寸(主要是高度)與自動聚焦用透鏡驅動裝置20大致相等。其結果，能夠將本第一實施方式的抖動校正裝置10搭載於行動電話用光學抖動校正相機中。另外，在第一實施方式中，作為位置檢測單位(位置傳感器)，使用了由霍爾元件50構成的磁式位置檢測單元，但是也可以使用光反射器等光學式位置檢測單元那樣的其他位置檢測單元(位置傳感器)替代霍爾元件50。另外,在上述第一實施方式中,永磁體28由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對設置的4片永磁體片282構成，但是永磁體片的數量不限定於4片，例如也可以由不僅在第一方向和第二方向上而且在對角線方向上也相對設置的8片永磁體片構成。在該情況下，抖動校正用線圈18的個數、線圈基板40的個數也與永磁體片282的片數對應地變更。另外，在上述第一實施方式中，4根吊線16的一端固定於基座14的四角部，但是也可以固定於基座14的外周部。而且，吊線16的根數也不限定於4根，也可以是多根。
參照圖5至圖8，說明本發明的第二實施方式的抖動校正裝置(透鏡保持架驅動裝置)10A。圖5是抖動校正裝置IOA的外觀立體圖。圖6是抖動校正裝置IOA的縱剖視圖。圖7是表示抖動校正裝置IOA的分解立體圖。圖8是表示圖5所示的抖動校正裝置IOA所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的分解立體圖。在此，如圖5至圖8所示那樣，使用正交坐標系(X、Y、Z)。在圖5至圖8所示的狀態下，正交坐標系(X、Y、Z)中，X軸方向是前後方向(進深方向)，Y軸方向是左右方向(寬度方向)，Z軸方向是上下方向(高度方向)。並且，在圖5至圖8所示的例子中，上下方向Z是透鏡的光軸0方向。另外，在本第二實施方式中，X軸方向(前後方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實際使用狀況下，光軸0方向即Z軸方向成為前後方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為後方向。圖示的抖動校正裝置IOA是通過校正利用行動電話用小型相機拍攝靜止圖像時所產生的抖動(振動)而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動校正裝置IOA是通過使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體沿與光軸0正交且彼此正交的第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)移動而校正抖動的裝置。自動聚焦用透鏡驅動裝置20A用於使透鏡鏡筒(透鏡單元)12A沿光軸0移動。從自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的底部向徑向外側隔開地設置基座14A。在該基座14A的下部(後部)搭載有未圖示的設置於攝像基板上的攝像元件。該攝像元件攝像由透鏡鏡筒12A成像的被攝體並變換為電信號。攝像元件例如由CCD型圖像傳感器、CMOS型圖像傳感器等構成。因而，通過組合透鏡驅動裝置20A、攝像基板和攝像元件構成相機組件。基座14A由外形是四邊形且內部具有圓形開口的環形狀的基部142A和從該基部142A的外緣向光軸0方向的上側突出的四邊筒形狀的筒狀部144A構成。抖動校正裝置IOA具有4根吊線16A，其一端固定於基座14A的基部142A的四角部；以及抖動校正用線圈18A，其如後述那樣地與後述的自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的永磁體28A相對設置。4根吊線16A沿光軸0延伸，以自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體能夠沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動的方式支承該自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體。4根吊線16A的另一端如後述那樣地固定於上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的上端部。抖動校正裝置IOA如後述那樣包括與永磁體28A相對地隔開設置的一個四邊環形狀的線圈基板40A。該線圈基板40A安裝於基座14A的筒狀部144A的上端。在該線圈基板40A上形成有上述抖動校正用線圈18A。接著，參照圖8說明自動聚焦用透鏡驅動裝置20A。自動聚焦用透鏡驅動裝置20A包括具有用於保持透鏡鏡筒12A的筒狀部240A的透鏡保持架24A ；以位於筒狀部240A的周圍的方式固定於該透鏡保持架24A上的第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2 ;保持與這些第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2相對地設置於第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2的外側的永磁體28A的磁體保持架(透鏡保持架支承框)30A ；以及設於透鏡保持架24A的筒狀部240A的光軸O方向兩側的一對板簧32A、34A。另外，磁體保持架30A和一對板簧32A、34A構成透鏡保持架支承單元。第一聚焦線圈26A-1安裝於透鏡保持架24A的筒狀部240A的光軸O方向的上側，第二聚焦線圈26A-2安裝於透鏡保持架24A的筒狀部240A的光軸O方向的下側。一對板簧32A、34A以透鏡保持架24A在徑向被定位的狀態下透鏡保持架24A能夠沿光軸O方向位移的方式支承該透鏡保持架24A。一對板簧32A、34A中的一側的板簧32A被稱為上側板簧，另一側的板簧34A被稱為下側板簧。另外，如上述那樣，在實際的使用狀況下，Z軸方向(光軸O方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸O方向)的下方向成為後方向。因而，上側板簧32A也被稱為前側彈簧，下側板簧34A也被稱為後側彈簧。磁體保持架30A呈八邊筒狀。即，磁體保持架30A具有八邊筒形狀的外筒部302A ；設於該外筒部302A的上端(前端)的四邊形的上側環狀端部304A ;以及設於外筒部302A的下端(後端)的八邊形的下側環狀端部306A。第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2分別呈與八邊筒狀的磁體保持架30A的形狀相匹配的八邊筒狀。永磁體28A由在第一方向(前後方向)X、第二方向(左右方向)Y和上下方向Z彼此隔開地設置於磁體保持架30A的八邊筒形狀的外筒部302A的8片矩形狀的永磁體片構成。在上述8片矩形狀永磁體中，4片第一永磁體片282A-1設置於外筒部302A的光軸O方向的上側，其餘的4片第二永磁體片282A-2設置於外筒部302A的光軸O方向的下側。4片第一永磁體片282A-1與第一聚焦線圈26A-1隔有間隔地設置，4片第二永磁體片282A-2與第二聚焦線圈26A-2隔有間隔地設置。上側板簧(前側彈簧)32A設置於透鏡保持架24A的光軸O方向上側(前側)，下側板簧(後側彈簧)34A設置於透鏡保持架24A的光軸O方向下側(後側)。上側板簧(前側彈簧)32A與下側板簧(後側彈簧)34A具有大致相同的結構。上側板簧(前側彈簧)32A具有安裝於透鏡保持架24A的上端部的上側內圈部322A、和安裝於磁體保持架30A的上側環狀端部304A的上側外圈部324A。在上側內圈部322A與上側外圈部324A之間設有四個上側臂部326A。S卩，四個臂部326A連接上側內圈部322A與上側外圈部324A。上側外圈部324A具有供上述4根吊線16A的另一端插入(嵌入)的四個線固定用孔324Aa。同樣，下側板簧(後側彈簧)34A具有安裝於透鏡保持架24A的下端部的下側內圈部342A、和安裝於磁體保持架30A的下側環狀端部306A的下側外圈部344A。在下側內圈部342A與上側內圈部344A之間設有四個下側臂部346A。即，四個下側臂部346A連接下側內圈部342A與下側外圈部344。包括上側板簧32A和下側板簧34A的彈性部件作為引導透鏡保持架24A使其僅沿光軸O方向移動的引導單元而發揮作用。上側板簧32A和下側板簧34A分別由鈹青銅、磷、青銅等構成。在透鏡保持架24A的筒狀部240A的內周壁上切削有內螺紋(未圖示)。另一方面，在透鏡鏡筒12A的外周壁上切削有與上述內螺紋相配的外螺紋(未圖示)。因而，為了在透鏡保持架24A上安裝透鏡鏡筒12A，通過使透鏡鏡筒12A相對於透鏡保持架24A的筒狀部240A繞光軸O旋轉並沿光軸O方向旋入，將透鏡鏡筒12A收容於透鏡保持架24A內，並利用粘接劑等彼此接合。如後述那樣，第一聚焦線圈26A-1、第二聚焦線圈26A-2和永磁體28A (第一驅動單元)通過在第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2中分別流過第一自動聚焦(AF)電流和第二自動聚焦(AF)電流，在永磁體28A的磁場與由第 一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2中流過的AF電流產生的磁場相互作用下，能夠對透鏡保持架24A(透鏡鏡筒12A)沿光軸O方向進行位置調整。接著，參照圖6和圖7，更詳細地說明抖動校正裝置IOA0抖動校正裝置IOA如上述那樣具有一端被固定於基座14A的基部142A的四角部的4根吊線(支承部件)16A、和與上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的永磁體28A相對設置的抖動校正用線圈18A。另外，基座14A和吊線16A構成支承單元。4根吊線16A沿光軸O延伸，以自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體能夠沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動的方式支承該自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體。4根吊線16A的另一端固定於上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的上端部。詳細而言，如上述那樣，上側板簧32A的上側外圈部324A具有供4根吊線16A的另一端插入(嵌入)的四個線固定用孔324Aa(參照圖8)。另外，磁體保持架30A的上側環狀端部304A具有供4根吊線16A的另一端插入的四個線插入用孔304Aa(參照圖8)。將4根吊線16A的另一端經由上述四個線插入用孔304Aa插入(嵌入)四個線固定用孔324Aa中，並利用粘接劑、焊錫等固定。4根吊線16A也用於對第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2進行供電。如上述那樣，永磁體28A由在第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相對且沿光軸O方向上下隔開地設置的4片第一永磁體片282A-1和4片第二永磁體片282A-2構成。抖動校正裝置IOA包括插入4片第一永磁體片282A-1與4片第二永磁體片282A-2之間，並隔開地設置的一個環狀線圈基板40A。線圈基板40A在其四角具有供4根吊線16A穿過的貫穿孔40Aa。在該一個線圈基板40A上形成有上述抖動校正用線圈18A。詳細而言，在線圈基板40A上作為抖動校正用線圈18A形成有四個抖動校正用線圈 18Af、18Ab、18Al 和 18Ar(參照圖 9)。在第一方向(前後方向)X上彼此相對設置的兩個抖動校正用線圈18Af和18Ab用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A沿第一方向(前後方向)X移動(搖動)。這樣的兩個抖動校正用線圈18Af和18Ab被稱為第一方向致動器。另外,在此,將對於光軸O位於前側的抖動校正用線圈18Af稱為「前側抖動校正用線圈」，將對於光軸O位於後側的抖動校正用線圈18Ab稱為「後側抖動校正用線圈」。另一方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相對設置的兩個抖動校正用線圈18A1和18Ar用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A沿第二方向(左右方向)Y移動(搖動)。這樣的兩個抖動校正用線圈18A1和18Ar被稱為第二方向致動器。另外，在此，將對於光軸O位於左側的抖動校正用線圈18A1稱為「左側抖動校正用線圈」，將對於光軸O位於右側的抖動校正用線圈18Ar稱為「右側抖動校正用線圏」。總之，抖動校正用線圈18A和永磁體28A(第二驅動單元)中，四個抖動校正用線圈18Af、18Ab、18Al和18Ar用於與永磁體28A配合，沿X軸方向(第一方向)和Y軸方向(第二方向)驅動自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體。另外，抖動校正用線圈18Af、18Ab、18A1和18Ar與永磁體28A的組合作為音圈電機發揮作用。這樣，圖示的抖動校正裝置IOA通過使收容於自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的透 鏡鏡筒12A本身沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y移動，校正抖動。因而，抖動校正裝置IOA被稱為「鏡筒移動方式」的抖動校正裝置。抖動校正裝置IOA還包括包含了覆蓋自動聚焦用透鏡驅動裝置20A的上部(4片第一永磁體片282A-1)的四邊筒部422A的罩42A。圖示的抖動校正裝置IOA還包括用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置20A相對於基座14A的位置的位置檢測單元50A。圖示的位置檢測單元50A包括磁式位置檢測單元，該磁式位置檢測單元由安裝在基座14A的基部142A上的兩個霍爾元件50A構成。上述兩個霍爾兀件50A與4片第二永磁體片282A-2中的兩片永磁體片分別隔開地相對設置。如圖10所示那樣，各霍爾元件50A被設置成橫穿從第二永磁體片282A-2的N極至S極的方向。在相對於光軸O第一方向(前後方向)X上設置的一個霍爾元件50A通過檢測與該ー個霍爾兀件50A相對的一片第二永磁體片282A-2的磁力，檢測跟隨第一方向(前後方向)X的移動(搖動)的第一位置。相對於光軸O在第二方向(左右方向)Y上設置的ー個霍爾兀件50A通過檢測與該一個霍爾兀件50A相對的一片第二永磁體片282A-2的磁力，檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(搖動)的第二位置。另外，在第二實施方式的抖動校正裝置IOA中，使用了由兩個霍爾元件50Α構成的磁式位置檢測單元作為位置檢測單元50Α，但是也可以如上述第一實施方式的抖動校正裝置10那樣，採用由四個霍爾元件50構成的磁式位置檢測單元。參照圖9至圖11，詳細地說明圖6和圖7所示的抖動校正裝置IOA所使用的磁路。圖9是磁路的立體圖，圖10是磁路的縱剖視圖。圖11是省略了磁路中的4片第一永磁體片282Α-2和第一聚焦線圈26Α-1而表不的俯視圖。4片第一永磁體片282Α-1和4片第二永磁體片282Α-2在透鏡保持架24Α的徑向外側和內側，分別磁化為相鄰彼此不同的磁極。例如，如圖10所示那樣，第一永磁體片282Α-1內側磁化為S極，外側磁化為N極，第二永磁體片282Α-2內側磁化為N極，外側磁化為S極。圖10所示的箭頭表示由這些永磁體片282Α-1、282Α-2產生的磁通量的方向。接著，參照圖9說明對透鏡保持架24Α (透鏡鏡筒12Α)沿光軸O方向進行位置調整的情況的動作。在第一聚焦線圈26Α-1和第二聚焦線圈26Α-2中，沿彼此相反方向分別流過第一AF電流和第二 AF電流。例如，如圖9所示那樣，在第一聚焦線圈26Α-1中，以順時針旋轉的方式流過以箭頭IAFl所示那樣的第一 AF電流，在第二聚焦線圈26Α-2中，以逆時針旋轉的方式流過以箭頭IAF2所示那樣的第二 AF電流。
在該情況下，按照弗來明左手定則，如圖9所示那樣，在第一聚焦線圈26A-1中作用為以箭頭IAFl所示那樣的上方向的電磁力，也在第二聚焦線圈26A-2中作用為以箭頭IAF2所示那樣的上方向的電磁力。其結果，能夠使透鏡保持架24A(透鏡鏡筒12A)向光軸O方向的上方移動。相反地，通過在第一聚焦線圈26A-1中以逆時針旋轉的方式流過第一 AF電流，在第二聚焦線圈26A-2中以順時針旋轉的方式流過第二 AF電流，能夠使透鏡保持架24A(透鏡鏡筒12A)向光軸O方向的下方移動。接著，參照圖11，說明使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體沿第一方向(前後方向)X或第二方向(左右方向)Y移動的情況的動作。首先，說明使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體向第二方向(左右方向)Y的右側移動的情況的動作。在該情況下，如圖11所示那樣，在左側抖動校正用線圈18A1中，以順時針旋轉的方式流過如箭頭IISl所示那樣的第一抖動校正(IS)電流，在右側抖動校 正用線圈18Ar中，以逆時針旋轉的方式流過如箭頭IIS2所示那樣的第二抖動校正(IS)電流。在該情況下，按照弗來明左手定則，在左側抖動校正用線圈18A1中作用為左方向的電磁力，也在右側抖動校正用線圈18Ar中作用為左方向的電磁力。可是，因為這些抖動校正用線圈18A1和18Ar固定於基座14A，所以作為其反作用力，在自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體中作用為如圖11的箭頭FISl和FIS2所示那樣的、右方向的電磁力。其結果，能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體向右方向移動。相反地，通過在左側抖動校正用線圈18A1中以逆時針旋轉的方式流過第一 IS電流，在右側抖動校正用線圈18Ar中以順時針旋轉的方式流過第二 IS電流，能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體向左方向移動。另ー方面，通過在後側抖動校正用線圈18Ab中以順時針旋轉的方式流過第三IS電流，在前側抖動校正用線圈18Af中以逆時針旋轉的方式流過第四IS電流，能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體向前方向移動。另外，通過在後側抖動校正用線圈18Ab中以逆時針旋轉的方式流過第三IS電流，在前側抖動校正用線圈18Af中以順時針旋轉的方式流過第四IS電流，能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體向後方向移動。這樣，能夠校正相機的抖動。對於如上述那樣的、本發明的第二實施方式的抖動校正裝置10A，發揮如下說明那樣的效果。因為在自動聚焦用透鏡驅動裝置20A上設置抖動校正裝置10A，共用永磁體28A，所以能夠削減元件件數。其結果，能夠縮小(降低)抖動校正裝置IOA的尺寸(主要是高度)。在光學単元傾斜方式的抖動校正裝置中，由於存在旋轉軸，所以產生孔-軸之間的摩擦從而產生磁滯。相對於此，在本第二實施方式的抖動校正裝置IOA中，因為利用4根吊線16A機械地支承自動聚焦用透鏡驅動裝置20A整體，所以不易產生磁滯。與以往的光學式抖動校正方式(透鏡移動方式、傳感器移動方式、光學單兀傾斜方式)的抖動校正裝置相比，因為採用鏡筒移動方式，所以能夠使抖動校正裝置IOA的尺寸(主要是高度)與自動聚焦用透鏡驅動裝置20A大致相等。其結果，能夠將本第二實施方式的抖動校正裝置IOA搭載於行動電話用光學抖動校正相機中。另外，因為在上側的4片第一永磁體片282A-1與下側的4片第二永磁體片282A-2之間設置抖動校正用線圈18A，所以能夠實現高靈敏度的致動器。另外，在第二實施方式中，作為位置檢測單位(位置傳感器)，使用了由兩個霍爾元件50A構成的磁式位置檢測單元，但是，如後述，也可以使用光反射器等光學式位置檢測単元那樣的其他位置檢測單元(位置傳感器)替代霍爾元件50A。在上述第二實施方式中，永磁體片28A由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對並沿光軸O方向上下隔開地設置的4片第一永磁體片282A-1和4片第二永磁體片282A-2構成，但是第一永磁體片和第二永磁體片各自的片數不限定於4片，例如也可以由不僅在第一方向和第二方向上而且在對角線方向上也相對地設置的8片永磁體片構成。在該情況下，抖動校正用線圈18A的個數也變更為八個。另外，在上述第二實施方式中，4根吊線16A 自基座14A的基部142A的四角部豎立設置，但是可以自基部142A的外周部豎立設置。而且，吊線16A的根數也不限定於4根，可以是多根。上述第一實施方式和第二實施方式的抖動校正裝置10和IOA米用永磁體18和18A移動(可動)的「移動磁體方式」。可是，作為抖動校正裝置，也可以採用線圈移動(可動)的「移動線圈方式」。由此，能夠實現自動聚焦用透鏡驅動裝置的可動部的輕量化。參照圖12至圖15，說明本發明的第三實施方式的抖動校正裝置(透鏡保持架驅動裝置)10B。圖12是抖動校正裝置IOB的外觀立體圖。圖13是抖動校正裝置IOB的縱剖視圖。圖14是表示抖動校正裝置IOB的分解立體圖。圖15是表示圖12所示的抖動校正裝置IOB所使用的自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部的分解立體圖。在此，如圖12至圖15所示，使用正交坐標系(X、Y、Z)。在圖12至圖15所示的狀態下，正交坐標系(Χ、Υ、Ζ)中，X軸方向是前後方向(進深方向)，Y軸方向是左右方向(寬度方向)，Z軸方向是上下方向(高度方向)。並且，在圖12至圖15所示的例子中，上下方向Z是透鏡的光軸O方向。另外,在本第三實施方式中,X軸方向(前後方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實際使用狀況下，光軸O方向即Z軸方向成為前後方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為後方向。圖示的抖動校正裝置IOB是通過校正利用行動電話用小型相機拍攝靜止圖像時所產生的抖動(振動)而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動校正裝置IOB是通過使自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β的可動部沿與光軸O正交且彼此正交的第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)移動而校正抖動的裝置。圖示的抖動校正裝置IOB是採用了「移動線圈方式」的抖動校正裝置。自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β用於使透鏡鏡筒(未圖示)沿光軸O移動。從自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β的底部向徑向外側隔開地設置基座14Β。在該基座14Β的下部(後部)搭載未圖示的設置於攝像基板上的攝像元件。該攝像元件拍攝由透鏡鏡筒成像的被攝體並變換為電信號。攝像元件例如由CCD型圖像傳感器、CMOS型圖像傳感器等構成。因而，由透鏡驅動裝置20B、攝像基板和攝像元件的組合構成相機組件。基座14B由外形是四邊形且內部具有圓形開ロ的環形狀的基部142B和從該基部142B的外緣向光軸O方向的上側突出的具有四個矩形開ロ 144Ba的四邊筒形狀的筒狀部144B。抖動校正裝置IOB具有成對地一端固定於基座14B的基部142B的四角部的8根吊線16B、和如後述那樣地與後述的自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的永磁體28B相對設置的抖動校正用線圈18B。8根吊線16B沿光軸O延伸，以自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部能夠沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動的方式支承該自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部。8根吊線16B的另一端如後述那樣固定於上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的上端部。抖動校正裝置IOB如後述那樣包括與永磁體28B相對地隔開設置的ー個四邊環形狀的線圈基板40B。該線圈基板40B安裝在線圈保持架44B上。在該線圈基板40B上形成有上述抖動校正用線圈18B。線圈保持架44B在四角具有與光軸O方向平行地延伸的四個柱部442B、設於上述四個柱部442B的上端(前端)的大致四邊形的上側環狀端部444B、和設於四個柱部442B的下端(後端)的下側環狀端部446B。上側環狀端部444B在四角具有向上方突出的四個上側突起444Ba。下側環狀端部446B也具有向上方突出的四個下側突起446Ba。接著，參照圖14和圖15說明自動聚焦用透鏡驅動裝置20B。自動聚焦用透鏡驅動裝置20B包括具有用於保持透鏡鏡筒的筒狀部240B的透鏡保持架24B ;以位於筒狀部240B的周圍的方式固定於該透鏡保持架24B上的第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2 ;保持與這些第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2相對地設置於第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2的外側的永磁體28B的四個磁體保持架(透鏡保持架支承框)30B ；以及設於透鏡保持架24B的筒狀部240B的光軸O方向兩側的一對板簧32B、34B。另外，磁體保持架30B和一對板簧32B、34B構成透鏡保持架支承單元。第一聚焦線圈26B-1安裝於透鏡保持架24B的筒狀部240B的光軸O方向的上側，第二聚焦線圈26B-2安裝於透鏡保持架24B的筒狀部240B的光軸O方向的下側。一對板簧32B、34B以透鏡保持架24B在徑向被定位的狀態下透鏡保持架24B能夠沿光軸O方向位移的方式支承該透鏡保持架24B。一對板簧32B、34B中的ー側的板簧32B被稱為上側板簧，另ー側的板簧34B被稱為下側板簧。另外，如上述那樣，在實際的使用狀況下，Z軸方向(光軸O方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸O方向)的下方向成為後方向。因而，上側板簧32B也被稱為前側彈簧，下側板簧34B也被稱為後側彈簧。四個磁體保持架30B嵌入(插入地固定子)基座14B的筒狀部144B的四個矩形開ロ 144Ba中。永磁體28B由在四個磁體保持架30B上分別各兩個在第一方向(前後方向)X、第二方向(左右方向)和上下方向Z彼此隔開地設置的、8片矩形狀的永磁體片構成。在上述8片矩形狀永磁體中，4片第一永磁體片282B-1設置於四個磁體保持架30B的光軸O方向的上側，其餘的4片第二永磁體片282B-2設置於四個磁體保持架30B的光軸O方向的下側。4片第一永磁體片282B-1與第一聚焦線圈26B-1隔有間隔地設置，4片第二永磁體片282B-2與第二聚焦線圈26B-2隔有間隔地設置。上側板簧(前側彈簧)32B設置於透鏡保持架24B的光軸O方向上側(前側)，下、側板簧(後側彈簧)34B設置於透鏡保持架24B的光軸O方向下側(後側)。上側板簧(前側彈簧)32B與下側板簧(後側彈簧)34B具有大致相同的結構。上側板簧(前側彈簧)32B具有安裝於透鏡保持架24B的上端部的上側內圈部322A、和安裝於線圈保持架44B的上側環狀端部444B的上側外圈部324B。在上側內圈部322B與上側外圈部324B之間設有四個上側臂部326B。S卩，四個臂部326B連接上側內圈部322B與上側外圈部324B。上側外圈部324B具有供線圈保持架44B的四個上側突起444Ba分別壓入(裝入)的四個上側孔324Ba。即，線圈保持架44B的四個上側突起444Ba分別壓入(裝入)上側 板簧32B的上側外圈部324B的四個上側孔324Ba。另ー方面，在透鏡保持架24B的筒狀部240B的上端具有四個上側突起240Ba。上側內圈部322B具有供該筒狀部240B的四個上側突起240Ba分別壓入(裝入)的四個上側孔322Ba。即，透鏡保持架24B的筒狀部240B的四個上側突起240Ba分別壓入(裝入)上側板簧32B的上側內圈部322B的四個上側孔322Ba。同樣，下側板簧(後側彈簧)34B具有安裝於透鏡保持架24B的下端部的下側內圈部342B、和安裝於線圈保持架44B的下側環狀端部446B的下側外圈部344B。在下側內圈部342B與下側外圈部344B之間設有四個下側臂部346B。即，四個下側臂部346B連接下側內圈部342B與下側外圈部344B。下側外圈部344B具有供線圈保持架44B的四個下側突起446Ba分別壓入(裝入)的四個下側孔344Ba。即，線圈保持架44B的四個下側突起446Ba分別壓入(裝入)下側板簧34B的下側外圈部344B的四個下側孔344Ba。包括上側板簧32B和下側板簧34B的弾性部件作為能夠引導透鏡保持架24B使其僅沿光軸O方向移動的引導單元而發揮作用。上側板簧32B和下側板簧34B分別由鈹青銅、磷青銅等構成。在透鏡保持架24B的筒狀部240B的內周壁上切削有內螺紋(未圖示)。另一方面，在透鏡鏡筒的外周壁上切削有與上述內螺紋相配的外螺紋(未圖示)。因而，為了在透鏡保持架24B上安裝透鏡鏡筒，通過使透鏡鏡筒相對於透鏡保持架24B的筒狀部240B繞光軸O旋轉並沿光軸O方向旋入，將透鏡鏡筒收容於透鏡保持架24B內，並利用粘接劑等彼此接合。第一聚焦線圈26B-1、第二聚焦線圈26B-2和永磁體28B(第一驅動單元)通過在第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2中分別流過第一自動聚焦(AF)電流和第二自動聚焦(AF)電流，在永磁體28B的磁場與由第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2中流過的第一 AF電流和第二 AF電流產生的磁場相互作用下，能夠對透鏡保持架24B (透鏡鏡筒)沿光軸O方向進行位置調整。接著，參照圖13和圖14，更詳細地說明抖動校正裝置10B。抖動校正裝置IOB如上述那樣具有成對地一端固定於基座14B的基部142B的四角部的8根吊線16B (支承部件)、和與上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的永磁體28B相對設置的抖動校正用線圈18B。另外，基座14B和吊線16B構成支承單元。因此，基部142B在其四角部具有供成對的8根吊線16B的一端插入(嵌入)的八個線固定用孔142Ba。8根吊線16B沿光軸O延伸，以自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部能夠沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動的方式支承該自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部。8根吊線16B的另一端固定於上述自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的上端部。詳細而言，線圈保持架44B在上側環狀端部444B的四角還具有向徑向外側突出的四個突出部448B(參照圖15)。四個突出部448B分別具有供兩根吊線16B的另一端插入(嵌入)的兩個線固定用孔448Ba。因而，將8根吊線16B的另一端插入(嵌入)到上述八個線固定用孔448Ba中，並利用粘接劑、焊錫等固定。
另外，在本第三實施方式中，使吊線16B的根數為8根是為了藉助上述8根吊線16B，向第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2、以及抖動校正用線圈18B供電。如上述那樣，永磁體28B由在第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相對並沿光軸O方向上下隔開地設置的4片第一永磁體片282B-1和4片第二永磁體片282B-2構成。抖動校正裝置IOB包括插入4片第一永磁體片282B-1與4片第二永磁體片282B-2之間，並隔開地設置的ー個環狀線圈基板40B。在該ー個線圈基板40B上形成有上述抖動校正用線圈18B。詳細而言，在線圈基板40B上形成有四個抖動校正用線圈18B。在第一方向(前後方向)X上彼此相對地設置的兩個抖動校正用線圈18B用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部沿第一方向(前後方向)X移動(搖動)。這樣的兩個抖動校正用線圈18B被稱為第一方向致動器。另ー方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相對地設置的兩個抖動校正用線圈18B用於使自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部沿第二方向(左右方向)Y移動(搖動)。這樣的兩個抖動校正用線圈18B被稱為第二方向致動器。總之，抖動校正用線圈18B用於與永磁體28B配合，沿X軸方向(第一方向)和Y軸方向(第二方向)驅動自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部。另外，抖動校正用線圈18B與永磁體28B的組合作為音圈電機而發揮作用。這樣，圖示的抖動校正裝置IOB通過使收容於自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的透鏡鏡筒本身沿第一方向(前後方向)X和第二方向(左右方向)Y移動，校正抖動。因而，抖動校正裝置IOB被稱為「鏡筒移動方式」的抖動校正裝置。抖動校正裝置IOB還包括覆蓋了自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的上部的罩42B。另外，除了參照圖13和圖14之外，還參照圖16，抖動校正裝置IOB還包括用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置20B的可動部相對於基座14B的位置的位置檢測單元50B、51B。詳細而言，圖示的位置檢測單元50B、51B由光學式位置檢測單元構成。位置檢測単元50B、51B由兩個位置檢測器構成，各位置檢測器由彼此相對設置的光反射器50B和位置信息単元51B構成。兩個位置信息単元51B沿第一方向X和第二方向Y設置於線圈保持架44B的下側環狀端部446B的下表面(在圖13中，僅圖示了沿第二方向Y設置的ー個位置信息單元)。如圖16所示那樣，各位置信息単元51B由反射帶(膠帶)構成，貼附於下側環狀端部446B的下表面。反射帶51B具有沿第一方向X或第二方向Y以基準位置為界白黒明暗清晰地區分的圖案。另一方面,如圖14所不那樣,兩個光反射器50B安裝於基座14B的基部142B上。兩個光反射器50B與兩個位置信息単元51B分別隔開地相對設置。相對於光軸O沿第一方向(前後方向)X設置的ー個光反射器50B如圖16的箭頭所示那樣橫穿與其相対的ー個位置信息単元51B的明暗，接受來自該位置信息単元51B的反射光(檢測反射光的光強度)，由此檢測跟隨第一方向(前後方向)X的移動(搖動)的第一位置作為電壓電平。相對於光軸O沿第二方向(左右方向)Y設置的ー個光反射器50B如圖16的箭頭所示那樣橫穿與其相対的ー個位置信息単元51B的明暗，接受來自該位置信息單元51B的反射光(檢測反射光的光強度)，由此檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(搖動)的第二位置作為電壓電平。 另外，在第三實施方式的抖動校正裝置IOB中，作為位置檢測單元5 0Β使用了包含兩個光反射器50Β的光學式位置檢測單元，但是也可以採用包含四個光反射器的光學式位置檢測單元。另外，位置信息單元51Β的圖案也不限定於白黑的明暗(2值)圖案，可以是色彩層次連續的圖案、面積比變化連續的圖案等各種圖案。在這樣的結構的抖動校正裝置IOB中，因為對透鏡保持架24Β (透鏡鏡筒)沿光軸O方向進行位置調整的情況下的動作與參照圖9說明了的第二實施方式的抖動校正裝置IOA相同，所以省略其說明。另外，因為使自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β的可動部沿第一方向(前後方向)X或第二方向(左右方向)Y移動的情況下的動作也與參照圖11說明了的第二實施方式的抖動校正裝置IOA相同，所以省略其說明。如上述那樣的、本發明的第三實施方式的抖動校正裝置10Β，發揮以下所述那樣的效果。因為在自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β上設置抖動校正裝置10Β，共用永磁體28Β，所以能夠削減元件件數。其結果，能夠縮小(降低)抖動校正裝置IOB的尺寸(主要是高度)。在光學単元傾斜方式的抖動校正裝置中，由於存在旋轉軸，所以產生孔_軸之間的摩擦從而產生磁滯。相對於此，在本第三實施方式的抖動校正裝置IOB中，因為利用8根吊線16Β機械地支承自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β的可動部，所以不易產生磁滯。與以往的光學式抖動校正方式(透鏡移動方式、傳感器移動方式、光學單兀傾斜方式)的抖動校正裝置相比，因為採用鏡筒移動方式，所以能夠使抖動校正裝置IOB的尺寸(主要是高度)與自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β大致相等。其結果，能夠將本第三實施方式的抖動校正裝置IOB搭載於行動電話用光學抖動校正相機中。另外，因為在上側的4片第一永磁體片282Β-1與下側的4片第二永磁體片282Β-2之間設置抖動校正用線圈18Β，所以能夠實現高靈敏度的致動器。而且，因為採用移動線圈方式，所以與移動磁體方式相比，能夠使自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β的可動部輕量化。詳細而言，在第二實施方式的「移動磁體方式」的抖動校正裝置IOA中，自動聚焦用透鏡驅動裝置20Β整體作為可動部動作。即，如圖8所示那樣，可動部的元件包括透鏡鏡筒12Α、透鏡保持架24Α、第一聚焦線圈26Α-1和第二聚焦線圈26Α-2、上側板簧32Α、下側板簧34Α、永磁體28Α和磁體保持架30Α。因此，移動磁體方式的可動部的總重量例如成為1620mgo相對於此，在第三實施方式的「移動線圈方式」的抖動校正裝置IOB中，其可動部的元件如圖15所示那樣，包括透鏡鏡筒、透鏡保持架24B、第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2、抖動校正用線圈18B和線圈保持架44B。因此，移動線圈方式的可動部的總重量例如成為765mg。這樣，能夠削減可動部的重量，因此能夠改善偏置校正電流值，其結果，能夠提高可動部的推力。在上述第三實施方式中，永磁體片28B由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對並沿光軸O方向上下隔開地設置的4片第一永磁體片282B-1和4片第二永磁體片282B-2構成，但是第一永磁體片和第二永磁體片各自的片數不限定於4片，例如也可以由不僅在 第一方向和第二方向而且在對角線方向上也相對地設置的8片永磁體片構成。在該情況下，抖動校正用線圈18B的個數也變更為八個。另外，在上述第三實施方式中，8根吊線16B自基座14B的基部142B的四角部成對地豎立設置，但是也可以自基部142B的外周部成對地豎立設置。而且，吊線16B的根數也不限定於8根，也可以是多根。圖17是表示在上述第二實施方式的抖動校正裝置IOA中作為位置檢測單元使用了在上述第三實施方式的抖動校正裝置IOB中採用的光學式位置檢測單元的變形例的縱首1J視圖。在該變形例中，代替兩個霍爾元件50A，在設置它們的位置設有兩個光反射器50B。即，上述兩個光反射器50B與4片第二永磁體片282A-2中的兩片第二永磁體片分別隔開地相對設置。並且，在與上述兩個光反射器50B相対的可動部(自動聚焦用透鏡驅動裝置20A)上，分別貼附了兩個位置信息単元(反射帶)51B。在圖示的例子中，兩個位置信息単元(反射帶)51B設於(貼附於)下側板簧34A的下表面。因為該光學式位置檢測單元的位置檢測動作與上述第三實施方式的光學式位置檢測單元的位置檢測動作相同，所以為了簡化說明，省略了其說明。另外，雖未圖示，但是毋庸置疑，在上述第一實施方式的抖動校正裝置10中也可以使用上述光學式位置檢測單元以代替磁式位置檢測單元。以下，說明本發明的典型的形態。上述本發明的典型的形態的抖動校正裝置中，自動聚焦用透鏡驅動裝置可以包括透鏡保持架，具有用於保持透鏡鏡筒的筒狀部，聚焦線圈以位於筒狀部的周圍的方式固定於透鏡保持架；磁體保持架，設置於該透鏡保持架的外周，保持永磁體；以及ー對板簧，以透鏡保持架在徑向被定位的狀態下該透鏡保持架能夠沿光軸方向位移的方式支承該透鏡保持架。根據本發明的第一形態的抖動校正裝置，自動聚焦用透鏡驅動裝置可以具有安裝於磁體保持架的上端的上側基板。在該情況下，多根吊線的另一端固定於上側基板。另外，ー對板簧可以在透鏡保持架與磁體保持架之間連接並被固定。永磁體可以包含在第一方向和第二方向上彼此相對設置的多個永磁體片。在該情況下，抖動校正線圈設置於多個永磁體片的外側，抖動校正裝置可以包括與多個永磁體片分別相對地隔開設置並形成有抖動校正用線圈的多個線圈基板。抖動校正裝置還可以包括覆蓋多個線圈基板的保護罩。在該情況下，多個線圈基板可以安裝在保護罩的內壁上。抖動校正裝置優選具有用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置相對於基座的位置的位置檢測單元。位置檢測單元例如可以由與永磁體片隔開地相對設置，安裝在基座上的霍爾元件構成。根據本發明的其他形態的抖動校正裝置，永磁體由在第一方向和第二方向上彼此相對設置且在光軸方向上彼此隔開地設置的、多個第一永磁體片和多個第二永磁體片構成。第一永磁體片和第二永磁體片的各個永磁體片沿徑向分極為N極和S極,第一永磁體片和第二永磁體片沿光軸方向具有不同的磁極。聚焦線圈由第一聚焦線圈和第二聚焦線圈構成，該第一聚焦線圈和第二聚焦線圈分別固定為與多個第一永磁體片和多個第二永磁體片相對並位於透鏡保持架的筒狀部的周圍。抖動校正用線圈由在多片第一永磁體片與4片第二永磁體片之間插入設置的多個抖動校正用線圈構成。抖動校正裝置包括形成有多個抖動校正用線圈的環形狀的線圈基板。
根據本發明的第二形態的抖動校正裝置，基座可以由環形狀的基部和從該基部的外緣向光軸方向的上側突出的筒狀部構成。在該情況下，線圈基板被固定在基座的筒狀部的上端，一對板簧在透鏡保持架與磁體保持架之間連接並被固定。另外，多根吊線可以自基部的外周部豎立設置。在該情況下，磁體保持架可以具有上側環狀端部，該上側環狀端部具有供多根吊線的另一端插入的多個線插入用孔，一對板簧中的位於光軸方向的上側的上側板簧可以具有供多根吊線的另一端嵌入的多個線固定用孔。線圈基板可以具有供多根吊線穿過的多個貫穿孔。抖動校正裝置優選具有用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置相對於基座的位置的位置檢測單元。位置檢測單元例如可以由至少兩個霍爾元件構成，該至少兩個霍爾元件分別與多個第二永磁體片中的沿第一方向和第二方向設置的至少兩片第二永磁體片隔開地相對設置，安裝在基部上。取而代之，位置檢測單元可以由彼此相對設置的、至少兩個光反射器和至少兩個位置信息單元構成。在該情況下，至少兩個位置信息単元沿第一方向和第二方向設置於一對板簧中的位於光軸方向的下側的下側板簧的下表面，至少兩個光反射器分別與至少兩個位置信息単元隔開地相對設置，安裝在基部上。根據本發明的第三形態的抖動校正裝置，抖動校正裝置可以還包括保持線圈基板的線圈保持架，基座可以由環形狀的基部、和從該基部的外緣向光軸方向的上側突出的具有多個開ロ的筒狀部構成。在該情況下，磁體保持架由分別保持一片第一永磁體片和一片第二永磁體片的多個磁體保持架構成。多個磁體保持架插入地固定於基座的筒狀部的多個開口中，一對板簧在透鏡保持架與線圈保持架之間連接並被固定。另外，多根吊線可以自基部的外周部成對地豎立設置。在該情況下，線圈保持架可以具有上側環狀端部、和從該上側環狀端部的外周部向徑向外側突出的多個突出部，所述多個突出部具有供多根吊線的另一端嵌入的多個線固定用孔。抖動校正裝置優選具有用於檢測自動聚焦用透鏡驅動裝置的可動部相對於基座的位置的位置檢測單元。線圈保持架可以還包括下側環狀端部，所述位置檢測單元可以由彼此相對設置的、至少兩個光反射器和至少兩個位置信息單元構成。在該情況下，至少兩個位置信息単元沿第一方向和第二方向設置於線圈保持架的下側環狀端部的下表面，至少兩個光反射器分別與至少兩個位置信息単元隔開地相對設置，安裝在基部上。以上，參照本發明的實施方式特別表示並說明了本發明，但是本發明不限定於這些實施方式。可以了解在不脫離由權利要求書規定的本發明的主g和範圍之下，本領域技術人員能夠在形式或詳細結構上作到各種變形。例如，在上述實施方式中，作為位置檢測單元(位置傳感器)，使用了由霍爾元件構成的磁式位置檢測單元、或者包括光反射器的光學式位置檢測單元，但也可以使用其他的位置檢測單元(位置傳感器)。本發明基於2009年8月21日提交的日本專利申請第2009-191619號以及2010 年7月13日提交的日本專利申請第2010-158602號，主張優先權的權利，它們的公開內容作為參考文獻全部援用於本發明。
權利要求
1.一種透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，包括 透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元； 第一驅動單元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動； 第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動； 支承単元，包括基座和支承部件，該基座配置在與所述透鏡保持架隔開的位置，該支承部件以所述透鏡保持架能夠沿所述第二方向和/或所述第三方向移動的方式支承所述透鏡保持架；以及 位置檢測單元，配置在所述支承単元，以檢測所述透鏡保持架相對於所述基座的所述第二方向上和/或所述第三方向上的位置。
2.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述透鏡保持架以能夠沿所述第一方向移動的方式被透鏡保持架支承単元支承，所述透鏡保持架支承単元包括配置在所述透鏡保持架的外側的透鏡保持架支承框，以及在所述透鏡保持架與所述透鏡保持架支承框之間連接並被固定的板簧。
3.如權利要求2所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述板簧包括上側板簧和下側板簧，所述上側板簧固定於所述透鏡保持架的上端部和所述透鏡保持架支承框的上端部，所述下側板簧固定於所述透鏡保持架的下端部和所述透鏡保持架支承框的下端部。
4.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述支承部件是多個吊線。
5.如權利要求4所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述吊線的一端固定於所述基座，另一端固定於所述透鏡保持架支承単元。
6.如權利要求5所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述吊線的所述另一端固定於所述透鏡保持架支承単元的上端部。
7.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述第一驅動單元和所述第二驅動單元分別包括線圈和磁體，通過所述線圈與所述磁體的協同相互作用，使所述透鏡保持架移動。
8.如權利要求7所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，一方所述線圈形成在線圈基板，並且包括在所述線圈基板的平面內相互隔開的多個的線圈部分。
9.如權利要求8所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，在與所述相互隔開的多個的線圈的間隔部對應的位置上，配置所述位置檢測單元。
10.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，用罩覆蓋了所述第一驅動単元和所述第二驅動單元。
11.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述位置檢測單元是霍爾元件或者是光反射器。
12.如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述基座上能夠安裝攝像元件。
13.ー種相機，其特徵在於，安裝有如權利要求I所述的透鏡保持架驅動裝置。
14.一種透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，包括 透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元； 第一驅動單元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動；第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動； 基座電路板，配置在與所述透鏡保持架隔開的位置；以及 位置檢測單元，連接到所述基座電路板，以檢測所述透鏡保持架與所述基座電路板的所述第二方向上和/或所述第三方向上的相對位置。
15.如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述透鏡保持架以能夠沿所述第一方向移動的 方式被透鏡保持架支承単元支承，所述透鏡保持架支承単元包括配置在所述透鏡保持架的外側的透鏡保持架支承框，以及在所述透鏡保持架與所述透鏡保持架支承框之間連接並被固定的板簧。
16.如權利要求15所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述板簧包括上側板簧和下側板簧，所述上側板簧固定於所述透鏡保持架的上端部和所述透鏡保持架支承框的上端部，所述下側板簧固定於所述透鏡保持架的下端部和所述透鏡保持架支承框的下端部。
17.如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述基座電路板具有以所述透鏡保持架能夠沿所述第二方向和/或所述第三方向移動的方式支承所述透鏡保持架的支承部件。
18.如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述第一驅動單元和所述第二驅動單元分別包括線圈和磁體，通過所述線圈與所述磁體的協同相互作用，使所述透鏡保持架移動。
19.如權利要求18所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，一方所述線圈形成在線圈基板，並且包括在所述線圈基板的平面內相互隔開的多個的線圈部分。
20.如權利要求19所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，在與所述相互隔開的多個的線圈的間隔部對應的位置上，配置所述位置檢測單元。
21.如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述位置檢測單元是霍爾元件或者是光反射器。
22.如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述基座上能夠安裝攝像元件。
23.ー種相機，其特徵在於，安裝有如權利要求14所述的透鏡保持架驅動裝置。
24.一種透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，包括 透鏡保持架，能夠安裝透鏡單元； 第一驅動單元，使所述透鏡保持架沿光軸方向即第一方向移動； 第二驅動單元，使所述透鏡保持架沿與所述光軸正交且彼此不同的第二方向和/或第三方向移動； 支承単元，包括基座和支承部件，該基座配置在與所述透鏡保持架隔開的位置，該支承部件以所述透鏡保持架能夠沿所述第二方向和/或所述第三方向移動的方式支承所述透鏡保持架；以及 位置檢測單元，配置在所述支承単元，以檢測所述透鏡保持架相對於所述基座的所述第二方向上和/或所述第三方向上的位置， 所述透鏡保持架以能夠沿所述第一方向移動的方式被透鏡保持架支承単元支承，所述透鏡保持架支承単元包括配置在所述透鏡保持架的外側的透鏡保持架支承框，以及在所述透鏡保持架與所述透鏡保持架支承框之間連接並被固定的板簧， 所述第一驅動單元和所述第二驅動單元分別包括線圈和磁體，一方所述線圈形成在線圈基板，並且包括在所述線圈基板的平面內相互隔開的多個的線圈部分，通過所述線圈與所述磁體的協同相互作用，使所述透鏡保持架移動， 所述支承部件的一端固定於所述基座，另一端固定於所述透鏡保持架支承単元。
25.如權利要求24所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在幹，所述板簧包括上側板簧和下側板簧，所述上側板簧固定於所述透鏡保持架的上端部和所述透鏡保持架支承框的上端部，所述下側板簧固定於所述透鏡保持架的下端部和所述透鏡保持架支承框的下端部。
26.如權利要求24所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述支承部件是多個吊 線。
27.如權利要求26所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述吊線的所述另一端固定於所述透鏡保持架支承単元的上端部。
28.如權利要求26所述的透鏡保持架驅動裝置，其特徵在於，所述吊線用於對第一驅動單元供電。
全文摘要
本發明提供能夠實現小型且薄型化的透鏡保持架驅動裝置以及安裝有該裝置的相機。透鏡保持架驅動裝置(10)包括透鏡保持架(24)，能夠安裝透鏡單元(12)；第一驅動單元(26、28)，使透鏡保持架(24)沿光軸的方向即第一方向(O)移動；第二驅動單元(18、28)，使透鏡保持架(24)沿與光軸(O)正交且彼此不同的第二方向(X)和/或第三方向(Y)移動；支承單元，包括基座(14)和支承部件(16)，該基座(14)配置在與透鏡保持架(24)隔開的位置，該支承部件(16)以透鏡保持架(24)能夠沿第二方向(X)和/或第三方向(Y)移動的方式支承該透鏡保持架(24)；以及位置檢測單元(50)，配置在支承單元，以檢測透鏡保持架(24)相對於基座(14)的第二方向(X)上和/或第三方向(Y)上的位置。
文檔編號G02B7/09GK102645815SQ20121005213
公開日2012年8月22日 申請日期2010年8月12日 優先權日2009年8月21日
發明者森谷昭弘, 菅原正吉 申請人:三美電機株式會社