一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的製作方法

2023-05-04 18:14:36 1

專利名稱：一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及醫療器械領域，尤其涉及一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置。
背景技術：
現有技術在使用磁共振設備對患者進行掃描檢查之前，設備操作者(例如醫師)需要對磁共振設備的性能進行測試。在磁共振設備各項性能參數測試的過程中，需要將模擬人體各身體部位的測試模具(例如水模)放在梯度信號接收線圈內，信號接收線圈放置在磁場中心，為保證磁共振系統各項參數指標校準正確，圖像性能測試(如層間距誤差測試、定位誤差測試)能夠得到正確的結果，就要求測試模具在X、Y、Z三個方向上與磁場中心重合。現有的測試模具按照如下的方式進行定位，水平方向(X、Y方向)上主要是依靠移動檢查床進行雷射燈定位，高度方向(Z方向)上主要是靠測試模具支架厚度進行調節。上述高度調節的方式存在如下缺點1)測試模具在磁場中的具有唯一高度不能改變，但每臺磁共振設備平面基準都不相同或與理論基準平面有誤差，所以在高度方向上很難保證測試模具中心與磁場中心重合；2)如需保證在高度方面上測試模具中心與磁場中心重合或在可接受的誤差範圍之內，就必須反覆的更換不同厚度的支架或在支架上各種厚度的墊片，這種調節方式效率低下，精度不易保證。

實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題在於，提供一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，可以快速準確的調節測試模具的高度使之與磁場中心重合而不受基準面的限制，減少定位時間，提高性能測試質量和效率。為了解決上述技術問題，本實用新型的實施例提供了一種磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，包括託盤、連接在所述託盤上的託盤支架、滑塊以及驅動單元；所述託盤用於承託測試模具，所述滑塊夾持並承載所述託盤支架，所述滑塊與所述託盤支架至少其中之一具有一斜坡面，所述驅動單元驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架與所述滑塊之間沿所述斜坡面相對運動。優選的，所述託盤支架的端側設置楔形槽，所述滑塊設置在所述楔形槽中。優選的，所述滑塊包括第一滑塊和第二滑塊；所述第一滑塊和/或所述第二滑塊的底部分別開設螺紋孔。優選的，所述驅動單元包括距離調節螺杆，所述距離調節螺杆設置與所述螺紋孔的旋向相適配的螺紋，所述距離調節螺杆穿插在所述螺紋孔中；所述第一滑塊和/或所述第二滑塊沿所述距離調節螺杆平移。[0014]優選的，所述斜坡面包括所述第一滑塊和/或所述第二滑塊具有的斜面，所述斜面支撐在所述楔形槽上。優選的，所述斜坡面包括所述楔形槽具有的頂壁，所述滑塊支撐在所述楔形槽的所述頂壁上。優選的，所述第一滑塊和/或所述第二滑塊的側體上開設導向槽；所述託盤支架開設螺釘孔，多個導向螺釘貫穿所述螺釘孔限位在所述導向槽中。優選的，所述距離調節螺杆的端部具有轉柄。優選的，所述楔形槽相貫設置用以增加提升或降低空間的槽。優選的，在所述槽的中部設置支架卡耳。優選的，所述託盤上設置夾持耳；在所述託盤的端部設置方孔。本實用新型所提供的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，由於滑塊與託盤支架至少其中之一具有一斜坡面，驅動單元驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架與滑塊之間沿斜坡面相對運動，從而實現對測試模具高度的調節。本實用新型可以快速準確的調節測試模具高度使之與磁場中心重合而不受基準面的限制，減少定位時間，提高性能測試質量和效率。

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的爆破結構示意圖；圖2是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤的立體結構示意圖；圖3是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤支架的俯視結構示意圖；圖4是本實用新型實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤支架的沿圖3所示A-A方向的剖視結構示意圖；圖5是本實用新型實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤支架的沿圖4所示B-B方向的剖視結構示意圖；圖6是本實用新型實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤支架的沿圖4所示C-C方向的剖視結構示意圖；圖7是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的滑塊的剖視結構示意圖；圖8是本實用新型實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的滑塊的沿圖7所示D-D方向的剖視結構示意圖；圖9是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的託盤支架和滑塊與距離調節螺杆進行裝配的剖視結構示意圖；[0033]圖10是本實用新型一實施例的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的使用狀態示意圖。
具體實施方式
下面參考附圖對本實用新型的優選實施例進行描述。參見圖1，本實用新型實施例提供了一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，包括託盤1、連接在託盤1上的託盤支架2、滑塊以及驅動單元5。託盤1具有定位部11，置於定位部11中的一測試模具8由託盤支架2支撐。託盤支架2相對的兩端側對稱設置兩楔形槽21，在兩楔形槽21中分別具有滑塊， 滑塊夾持並承載所述託盤支架2，滑塊與託盤支架2至少其中之一具有一斜坡面，驅動單元 5驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架2與所述滑塊之間沿斜坡面相對運動。本實用新型的一種優選實施方式中，滑塊包括對稱設置的第一滑塊3和第二滑塊 4，連接在第一滑塊3和第二滑塊4上的驅動單元5可改變第一滑塊3和第二滑塊4間的相對距離；實施時，第一滑塊3和第二滑塊4擠壓兩楔形槽21的頂壁211使託盤支架2整體升高，第一滑塊3和第二滑塊4滑離兩楔形槽21的頂壁211使託盤支架2整體降低。託盤1是用於定位測試模具的一板件，如圖2所示。具體實施時，託盤1端側具有的夾持耳12可對信號接收線圈9的側壁91 (參考圖10)進行夾持固定，兩者固定後便可校準託盤1上的測試模具的各項參數指標。夾持耳12的作用是克服常見的調高裝置由底部進行固定帶來的調節精度不準的缺點，在保持調節裝置與信號接收圈進行穩固固定的前提下，實現高度的精確調節。實施時，通過改變託盤1的尺寸以及夾持耳12的寬度可以適應不同型號(尺寸)的信號接收線圈9，只需滿足夾持耳12能夠夾持在信號接收線圈9的側壁 91上即可。由於校準測試模具各項參數的過程中，需要保持整個裝置的水平狀態。此外，夾持耳12還具有保持高度調節裝置水平而不側翻的功用。託盤1的中部設置定位部11，該定位部11是一與本實施例中的球形待測試模具相適配的圓孔，該圓孔可以起到當球形待測試模具置放在託盤1上時定位待測試模具的作用。託盤1的端部位於定位部11的鄰側設置一方孔13，該方孔13主要起到提手的作用，便於整個調節裝置的安放和攜帶。託盤支架2連接在託盤1的下部，兩者通過螺固的方式進行連接。具體的，託盤1 和託盤支架2上分別開設位置相對應的螺紋孔14、20。其中，託盤1上的螺紋孔14為貫通孔，多個螺釘7穿過螺紋孔14螺固在螺紋孔20中將託盤1與託盤支架2固定連接。其他方式中，託盤1和託盤支架2可以採用常用的幹涉方式進行連接，並不影響實施。結合參見圖3-圖6所示，託盤支架2是中間低、兩側高且具有支撐弧面25的一塊狀承接件。當託盤1由託盤支架2固定後，上述定位部11和該支撐弧面25剛好成為測試模具的受力點可對測試模具進行支撐。其他實施方式中，可以根據測試模具的形狀對應調整託盤1定位部11和託盤支架2支撐弧面25的形狀以滿足支撐要求，兩者裝配後可以支撐規則或不規則形狀的測試模具，如方形、橢圓形以及其他異形形態的測試模具。託盤支架2相對兩側端的底部分別對稱開設兩楔形槽21，該兩楔形槽21亦是中部低、兩側高的槽體結構，兩滑塊(第一滑塊3和第二滑塊4)可分別從兩相對楔形槽21的底部開口端置入其中。實施時，通過第一滑塊3和第二滑塊4的斜面33、43抵頂兩楔形槽21的頂壁211實現託盤支架2相對位置的改變。參見圖7、圖8使示，第一滑塊3和第二滑塊4是形狀與兩楔形槽21的形狀相適配的兩楔塊。兩滑塊3、4側體上對稱開設與楔形槽21的頂壁211相平行的導向槽32、42，且託盤支架2的相對兩側壁分別開設貫通楔形槽21的螺釘孔M，多個導向螺釘6可貫穿螺釘孔M限位在所述導向槽32、42中。進一步的，當兩滑塊3、4置放在兩楔形槽21中並通過距離調節螺杆5旋轉改變兩滑塊相對距離的過程中，如兩滑塊3、4件的距離變小，第一滑塊3和第二滑塊4可擠壓兩楔形槽21的頂壁211使託盤支架2的相對位置升高；如兩滑塊3、4間的距離變大，兩楔形槽 21的頂壁211可隨第一滑塊3和第二滑塊4滑落使託盤支架2的相對位置降低。通過距離調節螺杆5旋轉改變兩滑塊3、4間的相對距離是通過如下方式實現的 第一滑塊3和第二滑塊4的底部分別開設螺紋旋向相反(如正反螺紋)的螺紋孔31、41，距離調節螺杆5的兩端分別設置與螺紋孔31、41的旋向相適配的螺紋並且裝配在上述螺紋孔 31、41中。由於螺紋旋向相反，當旋轉距離調節螺杆5時，第一滑塊3和第二滑塊4將沿距離調節螺杆5做相向或相背的同步平移。上述對兩滑塊3、4進行平移的目的是改變第一滑塊3和第二滑塊4位於楔形槽21中的相對位置，使兩滑塊3、4的斜面33、43能夠擠壓或滑脫兩楔形槽21的頂壁211。優選的，距離調節螺杆5的端部具有用於增大旋轉扭矩的轉柄52。所設置的轉柄 52可以迅速、輕鬆的實現對距離調節螺杆5旋轉的同時，也可在其上設置刻度，便於託盤支架2高度的精確調節。該精確調節的具體實施方式
，後續說明。優選的，驅動單元5可以採用除通過上述距離調節螺杆改變兩滑塊間距離結構外的其他形式，如齒條。優選的，兩楔形槽21之間相貫設置用以增加託盤支架2提升或降低空間的槽23。 在所述槽23的中部設置用於對所述距離調節螺杆5進行限位的支架卡耳22。本實用新型實施例所提供的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置在具體裝配時，如圖9所示。首先，通過多個螺釘7穿過螺紋孔14螺固在螺紋孔20中將託盤1 與託盤支架2固定連接。然後，把第一滑塊3和第二滑塊4通過距離調節螺杆5連接起來， 注意設置好第一滑塊3和第二滑塊4間的初始距離，兩滑塊3、4間的初始距離決定了整個高度調節裝置的初始高度。調節好初始距離後，將兩滑塊3、4從楔形槽21的底部開口端滑入其中。由於兩滑塊3、4的相對側體上對稱開設與楔形槽21頂壁211相平行的導向槽32、 42，且託盤支架2的相對兩側壁分別開設貫通楔形槽21的螺釘孔24，當兩滑塊3、4置於兩楔形槽21的相應位置後，多個導向螺釘6貫穿在螺釘孔M中並限位在導向槽32、42中。導向螺釘6限位在導向槽32、42中的作用是使兩滑塊3、4能夠沿距離調節螺杆5所在直線以及導向螺釘6與導向槽32、42間共同限位的軌跡上進行滑行，具有限定兩滑塊3、4從兩楔形槽21相對的兩側端滑進或滑出進行往復移動的效果。本實用新型實施例所提供的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置在具體實施過程是當需要調節測試模具在信號接收線圈9中的位置時，通過高度調節裝置自身高度的提升或下降聯動其上的測試模具8運動，使其能夠在空間內與磁場中心重合。參見圖10，信號接收線圈9是一大致呈立方狀的具有中空內腔的測試裝置，將其放置在磁場中心後便可實施對磁共振系統的各項參數指標進行校準的操作。實施時，高度調節裝置100具有的兩對稱布置的夾持耳12夾持在所述信號接收線圈9的側壁91上進行固定，測試模具8安放在裝置的高度調節裝置100上。當進行磁共振設備性能參數測試時，裝置整體放置在磁場中心，當檢測到測試模具8的中心高度與磁場中心高度有高度不重合時，轉動高度調節裝置100的轉柄52即可迅速實現高度重合。實施過程如下當旋轉距離調節螺杆5時，因距離調節螺杆5具有兩段螺紋旋向相反的但與兩滑塊3、4的螺紋孔31、41相適配的螺紋。兩滑塊3、4沿距離調節螺杆5進行平移，其間的水平距離增大時，兩楔形槽21的頂壁211可隨第一滑塊3和第二滑塊4滑落使託盤支架2的相對位置降低，整個裝置(含測試模具)隨之下降；如其間的水平距離變小，第一滑塊3和第二滑塊4可擠壓兩楔形槽21的頂壁211使託盤支架2的相對位置升高，整個裝置(含測試模具)隨之上升。在兩滑塊3、4上升或下降過程中，兩楔形槽21之間相貫設置的圓弧槽23能夠增加託盤支架2提升或降低空間，不至於發生兩滑塊3、4卡死不能移動的情況；在圓弧槽23中部設置的支架卡耳22用助於對距離調節螺杆5進行限位，防止距離調節螺杆5在旋轉過程中發生竄動。實施上述結構的高度調節裝置進行高度調節時，可以實現高度調節裝置高度的精確調節，亦即託盤支架2提升或降低的距離可以與轉柄52的旋轉角度設置關聯。本實施例中，第一滑塊3和第二滑塊4具有坡角角度與兩楔形槽21的坡角角度相同的斜面33、43，並且斜面對應支撐在兩楔形槽21的頂壁211上，如該坡角為45 時(滑塊斜面33、43與水平面的夾角為45 )、距離調節螺杆5的螺距為2毫米，當螺柱5旋轉一周後，第一滑塊3和第二滑塊4之間的距離變化L為4毫米，託盤1的高度變化H為H= (L/2) *tan45當距離調節螺杆5旋轉一周之後，整個高度調節裝置高度上升或下降了一個螺距 (2毫米)的高度。其他實施方式中，也可以根據該轉換關係，H=(L/2)*tani3 (其中，所述楔形槽的坡角為β，所述兩滑塊間的距離變化值為L，所述託盤支架提升或降低的位移值為H)，將託盤支架2提升或降低的距離關聯轉換到轉柄52的轉動角度大小上來，從而實現高度的精確控制。本實用新型用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的其他實施方式中託盤支架2也可通過一個滑塊(第一滑塊3或第二滑塊4)進行運動。實施時，託盤支架2的一端可沿垂直方向進行滑動的連接在固定塊上，相對的另一端連接具有上述結構的任一滑塊，實現滑塊的水平運動；兩滑塊3、4不一定設置為與楔形槽21相適配的楔塊，其可設置成其他可以抵頂斜坡面(楔形槽21斜面)的塊體結構，例如，長方體。託盤支架2的頂壁211也可以是斜面外的其他形狀，如弧面，只要滿足託盤支架2 與所述滑塊之間沿所述斜坡面(頂壁)相對運動既可。託盤支架2也可不設置楔形槽21，其僅需設置一個外露的斜面(相當於頂壁211)， 並將滑塊設置成具有導向功能的塊體在其上滑動即可。楔形槽21的開口方向並不限定同時開設在端側和底部。可以是僅在底部開口，封閉端部並只留下供螺杆通過的圓孔的結構，該結構僅對移動距離產生限制，並不會影響實施。也可以是僅在端部開口，封閉底部的結構，亦即楔形槽21與底部緊挨著的時候是高度調節裝置的最高位置，當滑塊滑出時，實現託盤支架下降；返回的過程則可視為託盤支架升高，以此實現高度調節裝置的調節。可以理解的是，上述設定的距離調節螺杆的螺距和坡角的大小僅是本實用新型高度精確控制的一個具體實施方式
，兩者也可根據實際情況更換為其他參數，但轉柄52的旋轉角度(以及其上的刻度)與託盤支架2提升或降低的距離可以按照上述的託架高度變化公式進行換算，距離調節螺杆螺距和坡角的大小不解釋為對本實用新型保護範圍的限定。本實用新型磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置的其他實施方式中，由於託盤支架具有力矩傳動和/或支撐的作用，其他具有該相同功能的機構，如任意形式的底座， 可以等同為本實用新型實施例的託盤支架。實施本實用新型的磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，由於滑塊與託盤支架至少其中之一具有一斜坡面，驅動單元驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架與滑塊之間沿斜坡面相對運動，從而實現對測試模具高度的調節。本實用新型可以快速準確的調節測試模具高度使之與磁場中心重合而不受基準面的限制，減少定位時間，提高性能測試質量和效率。以上所揭露的僅為本實用新型較佳實施例而已，當然不能以此來限定本實用新型之權利範圍，因此依本實用新型權利要求所作的等同變化，仍屬本實用新型所涵蓋的範圍。
權利要求1.一種用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於，包括託盤(1)、 連接在所述託盤(1)上的託盤支架(2 )、滑塊以及驅動單元(5 )；所述託盤用於承託測試模具，所述滑塊夾持並承載所述託盤支架(2)，所述滑塊與所述託盤支架(2)至少其中之一具有一斜坡面，所述驅動單元(5)驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架(2)與所述滑塊之間沿所述斜坡面相對運動。
2.如權利要求1所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於， 所述託盤支架(2)的端側設置楔形槽(21)；所述滑塊包括第一滑塊(3)和第二滑塊(4)，所述第一滑塊(3)和/或所述第二滑塊 (4)設置在所述楔形槽(21)中。
3.如權利要求2所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於， 所述第一滑塊(3)和/或所述第二滑塊(4)的底部開設螺紋孔；所述驅動單元(5)包括距離調節螺杆，所述距離調節螺杆設置與所述螺紋孔的旋向相適配的螺紋，所述距離調節螺杆(5)穿插在所述螺紋孔中；所述第一滑塊(3)和/或所述第二滑塊(4)沿所述距離調節螺杆(5)平移。
4.如權利要求2或3所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於，所述斜坡面包括所述第一滑塊(3)和/或所述第二滑塊(4)具有的斜面，所述斜面支撐在所述楔形槽(21)上。
5.如權利要求2或3任一項所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於，所述斜坡面包括所述楔形槽(21)具有的頂壁(211)，所述滑塊支撐在所述楔形槽(21)的所述頂壁(211)上。
6.如權利要求4所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於， 所述第一滑塊(3)和/或所述第二滑塊(4)的側體上開設導向槽；所述託盤支架(2)開設螺釘孔(24)，多個導向螺釘(6)貫穿所述螺釘孔(24)限位在所述導向槽中。
7.如權利要求6所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於， 所述距離調節螺杆(5)的端部設置轉柄(52)。
8.如權利要求6或7所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於，所述楔形槽(21)相貫設置用以增加提升或降低空間的槽(23)。
9.如權利要求8所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於， 在所述槽(23)的中部設置支架卡耳(22)。
10.如權利要求1-3任一項所述的用於磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，其特徵在於，所述託盤(1)上設置夾持耳(12 )；在所述託盤(1)的端部設置方孔(13 )。
專利摘要本實用新型公開了一種磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，包括託盤、連接在所述託盤上的託盤支架、滑塊以及驅動單元，所述託盤用於承託測試模具，所述滑塊夾持並承載所述託盤支架，所述滑塊與所述託盤支架至少其中之一具有一斜坡面，所述驅動單元驅動滑塊沿水平方向運動而使託盤支架與所述滑塊之間沿所述斜坡面相對運動。實施本實用新型的磁共振設備性能測試模具的高度調節裝置，可以快速準確的調節測試模具的高度使之與磁場中心重合而不受基準面的限制，減少定位時間，提高性能測試質量和效率。
文檔編號G01R35/00GK202275156SQ201120335509
公開日2012年6月13日 申請日期2011年9月8日 優先權日2011年9月8日
發明者周小明, 楊能飛 申請人:深圳邁瑞生物醫療電子股份有限公司