電子組件的直立式測試設備的製作方法
2023-05-20 06:33:21 1
專利名稱：電子組件的直立式測試設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試設備，尤其涉及一種電子組件的直立式測試設備。
背景技術：
傳統的存儲器模塊的測試方法，都是通過專業的測試設備，利用人工的方式執行測試。舉例而言，可以將存儲器模塊插在主機板上，主機板連接至顯示卡，顯示卡連接至屏幕，存儲器模塊插在主機板的存儲器插槽中，再對主機板進行開機測試，由人工的方式觀看測試結果，再依據測試結果對測試過的存儲器模塊進行分類。雖然可以通過機器手臂來對存儲器模塊進行插拔的動作，但是主機板必須水平置放，以讓機器手臂可以將存儲器模塊插入至主機板上的存儲器插槽。然而，主機板佔了相當大的水平區域。若要對眾多存儲器模塊進行測試，則必須利用眾多的主機板，而這些主機板只能水平置放，這樣佔據了相當大的空間，不利測試場所的小型化，因而增加了測試成本。
發明內容
因此，本發明的一個目的是提供一種電子組件的直立式測試設備，並達到自動化測試的目的、節省測試空間並減少測試成本。為達上述目的，本發明提供一種電子組件的直立式測試設備，其包含一箱體組件、 多個第一主機板組件及一處理機。第一主機板組件設置於箱體組件中。各第一主機板組件包含一主機板、一第一主插座、一轉接板、一第一副插座及一中央處理器。主機板直立地設置於箱體組件中。第一主插座設置於主機板上，並電連接至主機板。轉接板電連接至第一主插座，並實質上垂直於主機板。第一副插座設置於轉接板上。中央處理器設置於主機板上，並電連接至主機板。處理機將多個電子組件分別沿著一鉛直方向插入至此等第一副插座中以進行測試，並於測試完畢後將此等電子組件拔出。通過上述的直立式測試設備，可以在有限的空間下創造出更多的測試產能，並有效降低測試成本。為讓本發明的上述內容能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，並配合所附圖，作詳細說明如下。
圖1顯示依據本發明第一實施例的直立式測試設備的整體示意圖；圖2顯示圖1的直立式測試設備的局部示意圖；圖3顯示的的直立式測試設備的局部立體示意圖；圖4顯示依據本發明第二實施例的直立式測試設備的局部示意圖；圖5顯示依據本發明第三實施例的直立式測試設備的局部示意圖；圖6與7顯示依據本發明第三實施例的直立式測試設備的局部示意圖；圖8顯示依據本發明的處理機、電源供應器及主機板的連接關係；
圖9顯示依據本發明第四實施例的第一主機板組件的示意圖。主要元件符號說明DV:鉛直方向1 測試設備10:箱體組件10'附加箱體組件12 底座14 上蓋16 溫控模塊17 加熱器18 空間20,20'第一主機板組件21 主機板22 第一主插座23 第二主插座24 轉接板24A:第二轉接板25 連接線26 第一副插座27 第二副插座28:中央處理器29A 散熱風扇29B 顯示卡30 處理機31 懸吊支架32 機器手臂40:電源供應器
50 測試前暫存區51 測試前儲存區55 測試後粗分類區56 測試後細分類區60 第二主機板組件80 機臺90 油壓缸95 油壓缸懸吊支架100 電子組件200:集成電路
具體實施方式
圖1顯示依據本發明第一實施例的直立式測試設備的整體示意圖。圖2顯示圖1 的直立式測試設備的局部示意圖。圖3顯示的直立式測試設備的局部立體示意圖。如圖1至3所示，本實施例的電子組件的直立式測試設備1包含一箱體組件10、多個第一主機板組件20以及一處理機(Handler) 30。當然，電子組件的直立式測試設備1亦可更包含多個附加箱體組件10'。附加箱體組件10'的功能類似於箱體組件10，這樣可以增加測試的產能。以下僅以單一箱體組件10的內部構造來做說明。第一主機板組件20設置於箱體組件10中。各第一主機板組件20包含一主機板 21、一第一主插座22、一轉接板24、一第一副插座沈及一中央處理器28。主機板21譬如是從市面上可購得的各廠牌的主機板，其直立地設置於箱體組件10中。如此一來，可依據客戶的需要購買特定主機板來進行存儲器模塊的測試，當然亦可使用特製的主機板來進行測試。第一主插座22設置於主機板21上，並電連接至主機板21。轉接板M電連接至第一主插座22，並實質上垂直於主機板21。第一副插座沈設置於轉接板M上。中央處理器 28設置於主機板21上，並電連接至主機板21。處理機30將多個電子組件100分別沿著一鉛直方向DV插入至此等第一副插座沈中以進行測試，並於測試完畢後將此等電子組件100拔出。電子組件100譬如是存儲器模塊，譬如是DIMM存儲器模塊，其上安裝有多個集成電路(IC)200。處理機30包含一懸吊支架31及一機器手臂32，亦可更包含可進行數據處理及管控分類程序的相關模塊。機器手臂 32可以沿著懸吊支架31移動(X軸向移動)，懸吊支架31亦可被移動(Y軸向移動)，而處理機30的機器手臂32可以一次抓取一個或多個電子組件100來進行Z軸向移動。此外，前述測試設備1可以更包含一測試前暫存區50、一測試前儲存區51、一測試後粗分類區陽及一測試後細分類區56。處理機30將電子組件100從此等測試前暫存區 50取出後插入至第一副插座沈中。處理機30依據多個測試結果(譬如是正常或不正常) 分別將測試完畢的此等電子組件100移至測試後粗分類區55。此等電子組件100在測試前可以先存放在測試前儲存區51，而在測試後可以被存放在測試後細分類區56。值得注意的是，可以提供另一處理機(未顯示)以將此等電子組件100從測試前儲存區51移動至測試前暫存區50，或從測試後粗分類區55移動至測試後細分類區56。當然，亦可由處理機30來執行前述動作。此外，各第一主機板組件20可以更包含一第二主插座23、一第二副插座27、一連接線25、一散熱風扇^A以及一顯示卡^B。第二主插座23設置於主機板21上，並電連接至主機板21。第二副插座27設置於轉接板M上，用來接收插入的其中一個電子組件100 以供測試用。連接線25電連接第二副插座27及轉接板對。散熱風扇29A設置於中央處理器觀上。顯示卡29B設置於主機板21上。使用者可以將顯示屏幕(未顯示)連接至顯示卡^B以讓測試人員觀測測試狀況及結果。然而，顯示卡29B並非是必要元件，因為所有測試過程的數據都可以由處理機30監控並處理。圖4顯示依據本發明第二實施例的直立式測試設備的局部示意圖。如圖4所示， 本實施例的測試設備類似於第一實施例，不同之處在於測試設備更包含多個第二主機板組件60，其設置於箱體組件10中，並堆迭於此等第一主機板組件20的上方，此等第二主機板組件60的結構及功用相同於此等第一主機板組件20的結構及功能。於此實施例中，處理機 30可行經此等第二主機板組件60及此等第一主機板組件20之間，並將此等電子組件100分別向下插入至此等第一主機板組件20中及向上插入至此等第二主機板組件60中，只要機器手臂32可以繞著懸吊支架31翻轉即可。值得注意的是，對於位於上方的箱體組件10 而言，處理機30將電子組件100插入至第一副插座沈中以進行測試的鉛直方向DV，是與電子組件100所受的重力方向同向；而對於位於下方的箱體組件10而言，處理機30將電子組件100插入至第一副插座沈中以進行測試的鉛直方向DV，是與電子組件100所受的重力方向反向。上方的箱體組件10與下方的箱體組件10可以單獨存在或一起存在。圖5顯示依據本發明第三實施例的直立式測試設備的局部示意圖。如圖5所示， 本實施例類似於第一實施例，不同之處在於箱體組件10及附加箱體組件10'設置一機臺 80中，且箱體組件10及此等附加箱體組件10'可被抽出機臺80以便進行維修。圖6與7顯示依據本發明第三實施例的直立式測試設備的局部示意圖。如圖6與 7所示，本實施例的測試設備的箱體組件10包含一底座12、一上蓋14以及一溫控模塊16。 此等第一主機板組件20固定於底座12中。上蓋14可被移動以覆蓋底座12及此等第一主機板組件20。溫控模塊16設置於上蓋14及底座12所形成的一空間18中，用來控制空間 18的溫度。於一例子中，溫控模塊16包含一加熱器17。於另一例子中，溫控模塊可以包含氣體提供裝置，用來提供氣體至空間18中以控制溫度。在處理機30插置完電子組件100 以後，處理機30移走，然後一油壓缸懸吊支架95上的油壓缸90將上蓋14往下推以與底座 12閉合，進而可以依據客戶的需要執行某些特定溫度的測試。圖8顯示依據本發明的處理機、電源供應器及主機板的連接關係。如圖8所示，本發明的測試設備可以更包含一電源供應器40，電連接至處理機30，處理機30電連接至主機板21，處理機30在將電子組件100插入至第一副插座沈中後導通電源供應器40及主機板 21以進行測試，並於測試完畢後斷開電源供應器40及主機板21以移除主機板21。因此， 所有測試過程都可以由處理機30來執行或監控，測試人員的需求數可以大幅降低。以下詳細說明測試流程。首先，處理機30從測試前暫存區50抓取電子組件100 插入至第一副插座沈及/或第二副插座27中，然後將主機板21通電(開機)，讀取主機板 21的信號是否正常，若發現異常，則對主機板21斷電(關機)，更換新的電子組件100進行測試。若主機板21的信號正常，則重複上述程序，以繼續對箱體組件10中的其他主機板21 插入電子組件100。主機板開機測試的時間通常很長，譬如是1500秒至3000秒或更長。所以處理機30可以繼續利用其他附加箱體組件10'的主機板21來進行其他電子組件100的測試，同樣是重複上述步驟。等到所有箱體組件10'都已經插滿電子組件100後，判斷測試時間是否已經到達，若否則繼續等待，若是則讀取各主機板21的信號，以判斷電子組件100 的測試結果是否正常，並依據測試結果將電子組件100拔出送至測試後粗分類區55。另外， 可以通過另一處理機來將電子組件100從測試後粗分類區55搬運至測試後細分類區56。圖9顯示依據本發明第四實施例的第一主機板組件的示意圖。如圖9所示，本實施例的第一主機板組件20'類似於第一實施例，不同之處在於第一主機板組件20'更包含一第二主插座23、一第二轉接板24A及一第二副插座27。第二主插座23設置於主機板 21上，並電連接至主機板21。第二轉接板24A電連接至第二主插座23，並實質上垂直於主機板21。第二副插座27設置於第二轉接板24A上，用來接收插入之其中一個電子組件100 以供測試用。第二副插座27及第一副插座沈位於同一水平面上。如此可以使處理機30的定位更加方便。第二轉接板24A可以具有如圖所示的舉升結構，也就是由一第一水平延伸板24A1、一第二水平延伸板24A3及一垂直延伸板24A2所構成，垂直延伸板24A2連接第一水平延伸板24A1及第二水平延伸板24A3，而第二副插座27設置於第二水平延伸板24A3。 值得注意的是，第一水平延伸板24A1、第二水平延伸板24A3及垂直延伸板24A2可以分開形成或一體形成。此外，這種第一主機板組件20'可應用於上述的所有實施例中以供測試用。通過上述的直立式測試設備，由於轉接板M的作用，使得處理機30可以將電子組件100沿著垂直方向插至第一副插座26/第二副插座27中，而轉接板M的水平延伸尺寸很小，所以直立式主機板21之間的間距可以有效縮小。因此，可以在有限的空間下創造出更多的測試產能，並有效降低測試成本。在較佳實施例的詳細說明中所提出的具體實施例僅方便說明本發明的技術內容， 而非將本發明狹義地限制於上述實施例，在不超出本發明權利要求範圍的情況，所做的種種變化實施，皆屬於本發明的保護範圍。
權利要求
1.一種電子組件的直立式測試設備，其特徵在於，所述的設備包含 一箱體組件；多個第一主機板組件，設置於所述箱體組件中，各所述第一主機板組件包含 一主機板，直立地設置於所述箱體組件中； 一第一主插座，設置於所述主機板上，並電連接至所述主機板； 一轉接板，電連接至所述第一主插座，並垂直於所述主機板；一第一副插座，設置於所述轉接板上；及一中央處理器，設置於所述主機板上，並電連接至所述主機板；以及一處理機，用來將多個電子組件分別沿著一鉛直方向插入至所述的多個第一副插座中以進行測試，並於測試完畢後將所述的多個電子組件拔出。
2.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的測試設備更包含一電源供應器，電連接至所述處理機，所述處理機電連接至所述主機板，所述處理機在將所述電子組件插入至所述第一副插座中後導通所述電源供應器及所述主機板以進行測試，並於測試完畢後斷開所述電源供應器及所述主機板以移除所述主機板。
3.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的測試設備更包含一測試後粗分類區，所述處理機依據多個測試結果分別將測試完畢的所述的多個電子組件移至所述測試後粗分類區。
4.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的測試設備更包含一測試前暫存區，所述處理機將所述電子組件從所述測試前暫存區取出後插入至所述第一副插座中。
5.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的各所述第一主機板組件更包含 一第二主插座，設置於所述主機板上，並電連接至所述主機板；一第二副插座，設置於所述轉接板上，用來接收插入的其中一個電子組件以供測試用；及一連接線，電連接所述第二副插座及所述轉接板。
6.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的測試設備更包含多個第二主機板組件，設置於所述箱體組件中，並堆迭於所述的多個第一主機板組件的上方，所述的多個第二主機板組件的結構及功用相同於所述的多個第一主機板組件的結構及功能，所述處理機可行經所述的多個第二主機板組件及所述的多個第一主機板組件之間，並將所述的多個電子組件分別向下插入至所述的多個第一主機板組件中及向上插入至所述的多個第二主機板組件中。
7.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的箱體組件包含 一底座，所述的多個第一主機板組件固定於所述底座中；一上蓋，其可被移動以覆蓋所述底座及所述的多個第一主機板組件；以及一溫控模塊，設置於所述上蓋及所述底座所形成的一空間中，用來控制所述空間的溫度。
8.如權利要求7所述的測試設備，其特徵在於，所述的溫控模塊包含一加熱器。
9.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的處理機一次抓取所述的電子組件的多個。
10.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的第一主機板組件更包含 一散熱風扇，設置於所述中央處理器上；以及一顯示卡，設置於所述主機板上。
11.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的測試設備更包含多個附加箱體組件，所述箱體組件及所述的多個附加箱體組件設置一機臺中，且所述箱體組件及所述的多個附加箱體組件可被抽出所述機臺以便進行維修。
12.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的鉛直方向與所述電子組件所受的重力方向同向。
13.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的鉛直方向與所述電子組件所受的重力方向反向。
14.如權利要求1所述的測試設備，其特徵在於，所述的第一主機板組件更包含 一第二主插座，設置於所述主機板上，並電連接至所述主機板；一第二轉接板，電連接至所述第二主插座，並垂直於所述主機板；及一第二副插座，設置於所述第二轉接板上，用來接收插入的其中一個電子組件以供測試用，其中所述第二副插座及所述第一副插座位於同一水平面上。
全文摘要
本發明公開了一種電子組件的直立式測試設備，該直立式測試設備包含一箱體組件、多個第一主機板組件及一處理機。第一主機板組件設置於箱體組件中。各第一主機板組件包含一主機板、一第一主插座、一轉接板、一第一副插座及一中央處理器。主機板直立地設置於箱體組件中。第一主插座設置於主機板上，並電連接至主機板。轉接板電連接至第一主插座，並實質上垂直於主機板。第一副插座設置於轉接板上。中央處理器設置於主機板上，並電連接至主機板。處理機將多個電子組件分別沿著一鉛直方向插入至此等第一副插座中以進行測試，並於測試完畢後將此等電子組件拔出。
文檔編號G11C29/56GK102456416SQ201010523950
公開日2012年5月16日 申請日期2010年10月28日 優先權日2010年10月28日
發明者羅文賢 申請人:維瀚科技有限公司