半導體雷射器偏振測試裝置的製造方法

2023-05-18 05:52:11

半導體雷射器偏振測試裝置的製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種半導體雷射器偏振測試裝置，其包括：半導體雷射器、與該半導體雷射器連接的單模光纖、以及與該單模光纖連接的功率計；其中，還包括壓設在該單模光纖上的第一光纖夾具、以及支撐該單模光纖的第二光纖夾具。本實用新型通過第一光纖夾具和第二光纖夾具在水平方向擠壓單模光纖來改變偏振態，並通過雷射器的功率測試值來判斷偏振態的變化，確定受偏振影響的最低功率輸出點；本實用新型測試裝置結構更加簡單、直觀、便於操作；本測試裝置簡單、測試快、成本低，在幾秒鐘之內就能判斷出受偏振影響的最低功率點。
【專利說明】
半導體雷射器偏振測試裝置
技術領域
[0001]本實用新型屬於半導體雷射器技術領域，尤其涉及一種半導體雷射器偏振測試裝置。
【背景技術】
[0002]半導體雷射器(Semiconductor Laser D1de)是用半導體材料作為工作物質的雷射器。由於物質結構上的差異，不同種類產生雷射的具體過程比較特殊。常用工作物質有砷化鎵(GaAs)、硫化鎘(CdS)、磷化銦(InP)、硫化鋅(ZnS)等。半導體雷射器在雷射通信、光存儲、光陀螺、雷射列印、測距以及雷達等方面以及獲得了廣泛的應用。
[0003]單模光纖(Single Mode Fiber):中心玻璃芯很細(芯徑一般為9或ΙΟμπι)，只能傳一種模式的光纖。
[0004]目前大部分慄浦雷射器都使用單模光纖輸出，單模光纖對於偏振比較敏感，導致在不同偏振態下雷射器測試結果偏差較大。
【實用新型內容】
[0005]本實用新型的目的在於提供一種有效的判斷並測試偏振的敏感性的半導體雷射器偏振測試裝置。
[0006]本實用新型提供一種半導體雷射器偏振測試裝置，其包括:半導體雷射器、與該半導體雷射器連接的單模光纖、以及與該單模光纖連接的功率計;其中，還包括壓設在該單模光纖上的第一光纖夾具、以及支撐該單模光纖的第二光纖夾具。
[0007]優選地，所述單模光纖外套設有光纖圈，所述第一光纖夾具壓設在該單模光纖上的光纖圈，所述第二光纖夾具支撐該單模光纖的光纖圈。
[0008]優選地，所述第一、第二光纖夾具在水平方向固定該單模光纖。
[0009]優選地，所述第一光纖夾具位於該單模光纖的光纖圈的上端面處，所述第二光纖夾具位於該單模光纖的光纖圈的下端面處。
[0010]優選地，所述第一光纖夾具和第二光纖夾具為一個整體。
[0011]優選地，所述第二光纖夾具為固定狀態，所述第一光纖夾具為移動狀態。
[0012]優選地，還包括安裝所述半導體雷射器的驅動板。
[0013]優選地，還包括將所述單模光纖連接至該功率計上的適配器。
[0014]本實用新型通過第一光纖夾具和第二光纖夾具在水平方向擠壓單模光纖來改變偏振態，並通過雷射器的功率測試值來判斷偏振態的變化，確定受偏振影響的最低功率輸出點；本實用新型測試裝置結構更加簡單、直觀、便於操作;本測試裝置簡單、測試快、成本低，在幾秒鐘之內就能判斷出受偏振影響的最低功率點。
【附圖說明】

[0015]圖1是本實用新型半導體雷射器偏振測試裝置的結構示意圖；
[0016]圖2為圖1所示半導體雷射器偏振測試裝置的工作示意圖；
[0017]圖3為圖1所示半導體雷射器偏振測試裝置的測試結果的示意圖。
[0018]圖號說明:
[0019]10-半導體雷射器、20-單模光纖、21-光纖圈、30-功率計、40-驅動板、
[0020]50-第一光纖夾具、60-第二光纖夾具。
【具體實施方式】
[0021]下面參照附圖結合實施例對本實用新型作進一步的描述。
[0022]本實用新型提供一種半導體雷射器偏振測試裝置，請參閱圖1所示，本測試裝置包括:半導體雷射器10、與該雷射器10連接的單模光纖20、以及與該單模光纖20連接的功率計30。其中，半導體雷射器10安裝在驅動板40上；單模光纖20由半導體雷射器10輸出，該單模光纖20通過適配器(圖未示)連接至該功率計30;該功率計30是測試用的儀器，該功率計30用於測試單模光纖20功率變化值來確定雷射器10對於偏振態的敏感性。
[0023]該單模光纖20外套設有光纖圈21。
[0024]本半導體雷射器偏振測試裝置還包括壓設在該單模光纖20的光纖圈的第一光纖夾具50、以及支撐該單模光纖20的光纖圈的第二光纖夾具60，第一光纖夾具50位於該單模光纖20的光纖圈21的上端面處，第二光纖夾具60位於該單模光纖20的光纖圈21的下端面處，該第一光纖夾具50和第二光纖夾具60為一個整體，第二光纖夾具60為固定狀態，第一光纖夾具50為移動狀態。
[0025]本實用新型採用單模光纖20傳輸光信號，單模光纖20打成一個圈；第一、第二光纖夾具50、60在水平方向固定該單模光纖20，通過第一、第二光纖夾具50、60改變光線彎曲半徑來改變偏振態，然後再通過功率計30測試單模光纖20功率變化值來確定雷射器10對於偏振態的敏感性。
[0026]請參閱圖2所示，首先，啟動雷射器10，通過光纖夾具50、60在水平方向擠壓單模光纖20來改變偏振態，具體過程為:固定第二光纖夾具60的位置，保持單模光纖20水平方向；然後移動第一光纖夾具50的水平位置來擠壓單模光纖20的光纖圈21，不斷改變單模光纖20的偏振態;最通過功率計30測試的功率值大小變化，判斷出雷射器10對於偏振敏感的程度，並確定受偏振影響的最小功率值。
[0027]請參閱圖3所示，通過功率計30測試值的變化，可以判斷雷射器10對於偏振的敏感性，並確定受偏振影響的最小功率輸出點。
[0028]本實用新型通過第一光纖夾具和第二光纖夾具在水平方向擠壓單模光纖來改變偏振態，並通過雷射器的功率測試值來判斷偏振態的變化，確定受偏振影響的最小功率輸出點。
[0029]本實用新型與傳統使用偏振控制器來改變偏振態的方法比，本實用新型測試裝置結構更加簡單、直觀、便於操作;本測試裝置簡單、測試快、成本低，在幾秒鐘之內就能判斷出受偏振影響的最低功率點。
[0030]在上述實施例中，僅對本實用新型進行了示範性描述，但是本領域技術人員在不脫離本實用新型所保護的範圍和精神的情況下，可根據不同的實際需要設計出各種實施方式。
[0031]以上詳細描述了本實用新型的優選實施方式，但是本實用新型並不限於上述實施方式中的具體細節，在本實用新型的技術構思範圍內，可以對本實用新型的技術方案進行多種等同變換，這些等同變換均屬於本實用新型的保護範圍。
【主權項】
1.一種半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於，其包括:半導體雷射器、與該半導體雷射器連接的單模光纖、以及與該單模光纖連接的功率計;其中，還包括壓設在該單模光纖上的第一光纖夾具、以及支撐該單模光纖的第二光纖夾具。2.根據權利要求1所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:所述單模光纖外套設有光纖圈，所述第一光纖夾具壓設在該單模光纖的光纖圈上，所述第二光纖夾具支撐該單模光纖的光纖圈。3.根據權利要求1所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:所述第一、第二光纖夾具在水平方向固定該單模光纖。4.根據權利要求2所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:所述第一光纖夾具位於該單模光纖的光纖圈的上端面處，所述第二光纖夾具位於該單模光纖的光纖圈的下端面處。5.根據權利要求1所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:所述第一光纖夾具和第二光纖夾具為一個整體。6.根據權利要求1所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:所述第二光纖夾具為固定狀態，所述第一光纖夾具為移動狀態。7.根據權利要求1-6任一所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:還包括安裝所述半導體雷射器的驅動板。8.根據權利要求1-6任一所述的半導體雷射器偏振測試裝置，其特徵在於:還包括將所述單模光纖連接至該功率計上的適配器。
【文檔編號】G01M11/02GK205691317SQ201620452102
【公開日】2016年11月16日
【申請日】2016年5月18日 公開號201620452102.1, CN 201620452102, CN 205691317 U, CN 205691317U, CN-U-205691317, CN201620452102, CN201620452102.1, CN205691317 U, CN205691317U
【發明人】魯開源, 米格爾多納西門託
【申請人】昂納信息技術（深圳）有限公司