復介電常數測量裝置的製作方法
2023-05-15 18:01:21 1
專利名稱:復介電常數測量裝置的製作方法
技術領域:
本發明涉及一種復介電常數測量裝置。
技術背景復介電常數包括介電常數和損耗。參照圖2 ,文獻"Temperature characterization of dielectric resonator materials, Kaifez D, J Eur Ceram Soc, 2001, Vol.21, p2663-2667"公開了一種採用平行板開式腔諧振法的復介電常數測量 裝置,由平行板開式腔、網絡分析儀和計算機組成,平行板開式腔包括上金屬板l、下金屬板 2、測試樣品3、耦合環4和同軸線5,計算機和網絡分析儀通過GPIB電纜相連,網絡分析儀的 掃頻信號輸入輸出端連接到同軸線5上,上金屬板1和下金屬板2將測試樣品3夾在中間,信號 通過同軸線5輸入到平行板開式腔內,由耦合環4耦合到測試樣品3上。它是將圓柱形測試樣品 3作為介質諧振器,其兩端用相對較大的上金屬板1和下金屬板2短路,選擇TEou模工作,電磁 場在測試樣品3外快速衰減,輻射損耗極小,品質因數0值較高。在測量時,計算機控制網絡 分析儀產生連續的微波掃頻信號,採用同軸線5饋電,耦合環4耦合到測試樣品3以產生諧振, 根據測量出的S參數曲線即可計算出測試樣品3的復介電常數。理論上認為上金屬板1和下金屬 板2之間測試樣品3外為截止區,電磁場快速衰減,輻射損耗極小,但實際上同軸線5由平行板 開式腔的側面伸入,雖然其它區域仍不存在輻射損耗,但同軸,5與上金屬板1和下金屬板2 平行,這樣同軸線5與上金屬板1和下金屬板2就形成了類似帶線的結構,會有一部分能量沿著 該結構傳出,形成輻射損耗,導致測量精度降低。 發明內容為了克服現有技術由於輻射損耗而導致測量精度低的不足,本發明提供一種復介電常數 測量裝置,採用在饋電側上、下金屬板之間增加短路板來阻擋輻射損耗,可降低輻射損耗, 可提高測暈精度。本發明解決其技術問題所採用的技術方案 一種復介電常數測量裝置,包括上金屬板、 下金屬板、耦合環、同軸線、計算機和網絡分析儀,其特點是還包括短路板,下金屬板的一 端與短路板的一端固連,另一端為自由端,測試樣品置於下金屬板重心位置,測試樣品上面 擱置上金屬板,上金屬板的一端與短路板連接,另一端為自由端,帶耦合環的同軸線穿過短 路板與網絡分析儀電連接。本發明的有益效果是由於在饋電側上、下金屬板之間增加短路板來阻擋輻射損耗',降 低了輻射損耗,提高了測量精度。
下面結合附圖和實施例對本發明作詳細說明。
圖1是本發明復介電常數測量裝置結構示意圖。 圖2是現有技術復介電常數測量裝置結構示意圖。圖中,l-上金屬板,2-下金屬板,3-測試樣品,4-耦合環,5-同軸線,6-短路板,7-上金 屬板突出部。
具體實施方式
參照圖1,本發明所述的復介電常數測量裝置由平行板開式腔、網絡分析儀和計算機組 成,平行板開式腔包括上金屬板l、下金屬板2、測試樣品3、耦合環4、同軸線5、短路板6 和上金屬板1的突出部7,計算機和網絡分析儀通過GPIB電纜相連,網絡分析儀的掃頻信號 輸入輸出端經同軸線連接到平行板開式腔的輸入端。上下金屬板1和2將測試樣品3夾在中 央,信號通過同軸線5輸入到平行板開式腔內,由耦合環4耦合到測試樣品3上,下金屬板 2的一端與短路板6的一端固連,下金屬板2另一端為自由端,帶耦合環4的同軸線5從短 路板6中穿過與網絡分析儀電連接。上金屬板1的高度可根據測試樣品3來調節,並可用大 力鉗將短路板6和上金屬板突出部7夾牢。由於採用GPIB電纜把計算機和網絡分析儀連接,因此在計算機的控制下,網絡分析儀 將掃頻信號通過同軸線5輸入到平行板開式腔中,激勵測試樣品3,反射信號通過同軸線5 再傳回網絡分析儀中,在經過計算機對監測數據實時採集、理論運算、誤差分析、結果顯示 和數據保存。由於採用了短路板6,所以由同軸線5和上下金屬板1和2之間結構所導致的輻射被阻 擋,輻射損耗降低。下金屬板2和短路板6連接在一起不能活動,上金屬板1和短路板6貼在一起可以分離 開,方便根據測試樣品3的高度來調節上金屬板1的位置,靠近短路板6 —側的兩邊各伸出 了一個突出部7,突出部7稍寬於上金屬板1寬度,在位置調節好後,可用大力鉗或者其他 夾持物將短路板6和上金屬板1的突出部7夾牢,以降低接觸損耗,上金屬板1的另一端為 自由端。上下金屬板1和2與短路板6均採用黃銅製成,也可在短路板6與上金屬板1以及下金 屬板2的連接面,或者上金屬板1以及下金屬板2與短路板6的連接面鍍金或銀以降低電阻 損耗。
權利要求
1、一種復介電常數測量裝置,包括上金屬板、下金屬板、耦合環、同軸線、計算機和網絡分析儀,其特徵在於還包括短路板,下金屬板的一端與短路板的一端固連,另一端為自由端,測試樣品置於下金屬板重心位置,測試樣品上面擱置上金屬板,上金屬板的一端與短路板連接,另一端為自由端,帶耦合環的同軸線穿過短路板與網絡分析儀電連接。
2、 根據權利要求l所述的復介電常數測量裝置,其特徵在於所述的上金屬板有稍寬於 上金屬板寬度的突出部。
3、 根據權利要求1所述的復介電常數測量裝置,其特徵在於所述的短路板與上、下金 屬板的連接面,上、下金屬板與短路板的連接面鍍金或銀。
4、 根據權利要求1 3任一所述的復介電常數測量裝置,其特徵在於所述的金屬板與 短路板用夾持物緊固,以便分離。
全文摘要
本發明公開了一種復介電常數測量裝置,包括上金屬板、下金屬板、耦合環、同軸線、計算機和網絡分析儀,其特點是還包括短路板,下金屬板的一端與短路板的一端固連,另一端為自由端,測試樣品置於下金屬板重心位置,測試樣品上面擱置上金屬板,上金屬板的一端與短路板連接,另一端為自由端,帶耦合環的同軸線穿過短路板與網絡分析儀電連接。由於在饋電側上、下金屬板之間增加短路板來阻擋輻射損耗,故降低了輻射損耗,提高了測量精度。
文檔編號G01R27/26GK101126778SQ20071001840
公開日2008年2月20日 申請日期2007年8月3日 優先權日2007年8月3日
發明者吳昌英, 許家棟, 高 韋 申請人:西北工業大學