光學斷層圖像攝像設備及其控制方法
2023-05-22 04:36:46
專利名稱：光學斷層圖像攝像設備及其控制方法
技術領域：
本發明涉及光學斷層圖像攝像設備及其控制方法。例如，本發明涉及用於眼科診療的光學斷層圖像攝像設備及其控制方法。
背景技術：
近年來，通過使用光來形成被測體的表面和內部圖像的光學圖像測量技術得到了關注。不同於傳統的X射線CT，光學圖像測量技術對人體沒有侵入性，因此，特別地，正期待將這種技術應用至醫學領域。尤其是在眼科領域的應用進展顯著。作為光學圖像測量技術的典型過程，存在一種被稱為光學相干斷層成像技術(OCT)的過程。根據所述過程，由於使用了幹涉儀來比較反射照明光束和參考光束，因此可以進行具有高解析度和高靈敏度的測量。還存在以下優勢:由於所使用的照明光是寬頻帶的極弱的光，因此對被檢體的安全性高。對利用光學幹涉的光學相干斷層成像技術進行運用的光學斷層圖像攝像設備(以下稱為「0CT設備」)是能夠以高解析度獲取樣本的斷層圖像的設備，特別地，涉及形成被檢眼前眼部圖像所用的前眼部光學斷層圖像攝像設備。OCT設備能夠通過使用(光學)幹涉系統，使作為測量光的低相干光對樣本進行照射，並對來自具有高靈敏度的樣本的背向散射光進行測量。此外，OCT設備可以使用測量光來掃描樣本，從而獲取具有高解析度的斷層圖像。因而，獲取了被檢眼前眼部中的角膜部位的斷層圖像，並將該圖像用於眼科診斷等。在這種眼科設備中，為了拍攝圖像，設備的檢查部(即，測量光學系統)使被檢眼前眼部的角膜部位和光學幹涉系統 的攝像位置相一致，並且被檢眼和設備在預定長度處對準。日本特開2009-22502說明了一種角膜觀察設備，其能夠把握角膜的圖像的深度位置並判斷角膜細胞的異常狀態。在角膜觀察設備中，為了拍攝前眼部的角膜上皮、前彈力層、角膜基質層、後彈力層或角膜表皮的各部位的圖像，移動參考鏡。此外，針對各攝像部位，將被檢眼和角膜觀察設備之間的距離設置為預定長度，並且移動參考鏡以進行實際攝像。此外，日本特開2011-147612說明了一種光學斷層圖像攝像設備，其既能夠拍攝前眼部斷層圖像也能夠拍攝眼底斷層圖像。所述設備是如下的眼科攝像設備，其涉及移動光學幹涉系統中的參考鏡，以根據前眼部攝像模式和眼底攝像模式來將光學幹涉系統的攝像位置移動至預定位置。該眼科攝像設備具有如下配置，其中，在前眼部攝像模式下將參考鏡移動至預定位置，並且在此時將被檢眼和眼科攝像設備之間的距離設置為預定長度且不改變。在這種情況下，當嘗試獲取前眼部的期望部位的斷層圖像時，一般需要通過移動固視燈來獲取如下狀態:期望的部位存在於與攝像位置相對應的部中。在這種情況下，不能避免被檢體的負擔或用於獲得期望狀態的操作上的困難。此外，作為另一方面，還可以從所拍攝的斷層圖像中切出期望部位並對該部位進行電子放大。然而，無法避免放大所造成的解析度下降和放大所需時間的增加等。
發明內容
鑑於上述問題，本發明的目的是提供如下的光學斷層圖像攝像設備及其控制方法，其能夠容易地改變被檢體斷層圖像的攝像區域的大小。 本發明提供的光學斷層圖像攝像設備配置如下。 即，根據本發明的光學斷層圖像攝像設備是用於基於將參考光與來自被測量光照射的被檢體的返回光進行合成而獲得的光，來創建所述被檢體的斷層圖像，所述光學斷層圖像攝像設備包括:測量光光路長度改變部件，用於改變所述測量光的光路長度；參考光光路長度改變部件，用於改變所述參考光的光路長度；指示部件，用於指示所述斷層圖像的攝像區域的大小；以及控制部件，用於響應於所述指示部件的指示來控制所述測量光光路長度改變部件和所述參考光光路長度改變部件。根據本發明的第二方面，一種光學斷層圖像攝像設備的控制方法，用於通過以測量光照射被檢體、並將來自所照射的被檢體的返回光與參考光進行合成來獲得幹涉光，來獲取所述被檢體的斷層圖像，所述控制方法包括以下步驟:在要改變所述斷層圖像的攝像區域的大小的情況下，改變所述測量光的光路長度；以及與所述測量光的光路長度的改變相關聯地改變所述參考光的光路長度。通過以下參考附圖對典型實施例的詳細說明，本發明的其它特徵將變得明顯。
圖1是示出根據本發明典型實施例的整個設備的圖。圖2是示出根據本發明典型實施例的光學測量系統結構的圖。圖3是示出如下狀態的說明圖，在該狀態中，在X方向上掃描被檢眼的前眼部。圖4A、4B和4C是分別示出位於前眼部攝像位置處的掃描區域以及根據該掃描區域所獲取的圖像的說明圖。圖5是示出測量操作畫面的示例的圖。圖6是示出測量操作畫面的其它示例的圖。圖7是與本發明實施例相關的測量流程圖。圖8A、8B、8C、8D和8E是交替地示出前眼部的斷層圖像的顯示示例以及經過校正的斷層圖像的顯示示例的圖。
具體實施例方式以下將根據附圖來詳細說明本發明的優選實施例。以下說明本發明的實施例。第一實施例以下說明根據本實施例的光學斷層圖像攝像設備(0CT設備)。設備的示意性結構將參考圖1說明根據本實施例的光學斷層圖像攝像設備的示意性結構。
圖1是光學斷層圖像攝像設備的側面圖。光學斷層圖像攝像設備200包括:光學頭900，其為拍攝前眼部的二維圖像和斷層圖像所用的光學測量系統；以及臺架部950，其為能夠在XYZ方向上通過使用電動機(未示出)來移動光學頭的可移動部。基部951包括分光器(在後面說明)。個人計算機925，其還用作臺架部的控制部，用於控制臺架部並構造斷層圖像；硬碟926，其同樣用作被攝體信息存儲部並存儲用於拍攝斷層圖像的程序；監視器928，用作顯示部；以及輸入部929，用於向個人計算機發送指示。特別地，輸入部929包括鍵盤和滑鼠。下頜支架323用於保持被檢者的下頜和前額，以促使被檢者固定眼睛(被檢眼)。外部固視燈324用於使被檢眼固視。可以對外部固視燈324和內部固視燈(在後面說明)進行切換。分光器和光學測暈系統的結構參考圖2對本實施例的分光器和光學測量系統的結構進行說明。首先，說明光學頭900的內部。將物鏡101-1和101_2設置為與被檢眼100相對，在其光軸上的光路根據波長帶而分支為OCT光學系統的光路LI和用於前眼部觀察和內部固視燈的光路L2。通過反射鏡102和分色鏡103使得進行所述分支。光路L2進一步分支為到用於前眼部觀察的(XD105的光路、以及到內部固視燈106的光路。利用第三分色鏡104、通過與上述相同的方式根據波長帶使得進行該進一步分支。光路L2包括物鏡101-3、107和108，並且物鏡107由電動機(未示出)來驅動以進行用於固視燈和前眼部觀察的焦點調整。(XD105在前眼部觀察所用照明光(未示出)的波長(具體地，780nm)附近具有 靈敏度。另一方面，內部固視燈106生成可見光以促使被檢者固定眼睛。光路LI形成上述的OCT光學系統，並用於拍攝被檢眼100的前眼部100_1的斷層圖像。更具體地，光路LI用於獲得形成斷層圖像所用的幹涉信號。在光路LI中，布置了透鏡101-4、鏡113、以及以光來對被檢眼100的前眼部100-1進行掃描的X掃描器114-1和Y掃描器114-2。此外，在透鏡115和116中，透鏡115由電動機(未示出)來驅動以將以下光的焦點調整到前眼部100-1上，其中，所述光從光源118發射出並通過連接至光學耦合器117的光纖117-2。由於焦點的調整，來自前眼部100-1的光同時形成光點形狀的圖像以入射光纖117-2的端部。接著，說明包括從光源118起的光路、光學參考系統和分光器的結構。所述結構包括光源118、鏡119、色散補償玻璃120、上述的光學稱合器117、與光學耦合器117連接並一體化的單模光纖117-廣117-4、透鏡121、以及分光器180。上述組件構成了 Michelson幹涉儀。從光源118發射出的光通過光纖117-1經由光學耦合器117分割為光纖117-2側的測量光和光纖117-3側的參考光。測量光通過上述OCT光學系統的光路來照射要接受觀察的被檢眼100的眼底，並通過視網膜的反射和散射經由同一光路到達光學耦合器117。另一方面，參考光經由光纖117-3、透鏡121、用於將測量光的色散與參考光的色散進行匹配而插入的色散補償玻璃120到達參考鏡119，並從參考鏡119反射。然後，參考光通過同一光路返回併到達光學耦合器117。光學耦合器117合成測量光和參考光以形成幹涉光。在這種情況下，當測量光光路長度和參考光光路長度滿足預定條件時出現幹涉。以通過電動機和驅動機構(未示出)來將參考鏡119在光軸上進行調整的方式來保持參考鏡119，並且參考鏡119能夠對參考光光路長度進行調整以使其與根據前眼部100-1而變化的測量光光路長度相一致或至少相匹配。將幹涉光通過光纖117-4來引導至分光器180。分光器180包括透鏡181和183、衍射光柵182、以及線傳感器184。經由透鏡181使從光纖117-4輸出的幹涉光大致準直，並由衍射光柵182進行分光，以通過透鏡183來在線傳感器184上形成圖像。在本實施例中，將線傳感器184作為下述的光接收元件的示例來示出，所述光接收元件用於接收幹涉光，並且生成和輸出與所述幹涉光相對應的輸出信號。接著，說明光源118的外圍。光源118是超發光二極體(SLD)，其為典型的低相干光源。從光源118發射出的光具有855nm的中心波長以及大約IOOnm的波長帶寬。在這種情況下，由於帶寬會影響要獲取的斷層圖像在光軸方向上的解析度，因此其是重要的參數。此外，儘管選擇了 SLD，但是不特別限定光源118的類型，只要光源能夠發射低相干光即可，並且還可以使用放大自發射(ASE)等。考慮到眼睛的測量，就中心波長而言近紅外光是合適的。此外，期望中心波長是儘可能短的波長，這是由於中心波長會影響要獲取的斷層圖像在橫向的解析度。出於這兩個原因，將中心波長設置為855nm。儘管將Michelson幹涉儀用作本實施例中的幹涉儀,但還可以使用Mach-Zehnder幹涉儀。建議在測量光和參考光之間的光量差大的情況下使用Mach-Zehnder幹涉儀，在光量差相對小的情況下使用Michelson幹涉儀。創建斷層圖像的方法說明通過使用光學斷層圖像攝像設備來創建或拍攝斷層圖像的方法。光學斷層圖像攝像設備能夠通過控制X掃描器114-1和Y掃描器114-2來獲取被檢眼100的前眼部100-1中期望部位的斷層圖像。在圖3示出的狀態中，測量光201照射至被檢眼100，以在x方向上掃描前眼部
100-1。線傳感器184基於來自前眼部100-1中X方向上的攝像區域的預定數量的攝像信息來拍攝圖像。在X方向上的某些位置處所獲得的線傳感器184上的亮度分布經過快速傅立葉變換(FFT)，並且將FFT所獲得的線性亮度分布轉換為濃度或顏色信息以在監視器上進行顯示。該圖像稱為A掃描圖像。即，根據從作為光接收元件的線傳感器184接收到的幹涉光所獲得的輸出信號，來獲取作為A掃描圖像的圖像。將排列了多個A掃描圖像的二維圖像稱為B掃描圖像。在獲取用於構造一個B掃描圖像的多個A掃描圖像之後，移動y方向上的掃描位置以再次進行X方向上的掃描，從而獲取多個B掃描圖像。通過在監視器上顯示多個B掃描圖像或根據多個B掃描圖像所構成的三維斷層圖像，操作者可以使用這些圖像以進行被檢眼的診斷。在這種情況下，通常根據下述圖4A 4C中示出的X方向上的掃描範圍Rtl來確定如下視角，所述視角產生獲取前眼部斷層圖像所用的攝像區域。此外，通過掃描器的掃描角度Θ以及從物鏡101-1到被檢眼的前眼部之間的攝像距離PO來確定掃描範圍R0。S卩，在對攝像區域大小進行改變的情況下，掃描角度Θ或攝像距離PO會改變，並且涉及使光學頭900在z軸方向上移動的對測量光光路長度的改變，可以容易地改變攝像距離PO。因此，在本實施例中，光學頭900通過改變測量光光路長度來改變攝像距離PO，並且將該結構定義為測量光光路長度改變部件，其中，光學頭900 (及其移動部件)實際上是測量光光路長度改變單元。存在與本典型實施例中的用於改變測量光光路長度的結構不同的其它結構，但在本實施例中，將測量光光路長度改變部件定義為包括了這些結構的概念。為了將測量光與參考光進行合成以獲得所期望的幹涉，需要測量光光路長度和參考光光路長度彼此相關聯地移動以滿足上述的預定條件。因而，根據在與攝像距離PO相對應的前眼部位置處的測量光光路長度來移動參考鏡119以改變參考光光路長度。示出了參考鏡119和用於移動參考鏡119的結構作為本實施例中的用於改變參考光光路長度所用的參考光光路長度改變部件的示例。此外，如上所述，為了從合成光獲得幹涉，需要根據測量光光路長度來改變參考光光路長度。在本實施例中，作為示例，個人計算機925中用作控制單元(有時稱為「光路長度連動單元」)的模塊區域使得參考光光路長度改變部件與測量光光路長度改變部件對測量光光路長度的改變相關聯地改變參考光光路長度。圖4A 4C是示出當攝像距離PO改變時的前眼部位置處的掃描範圍的圖。圖4A 4C示出與各自不同的攝像距離PO相關聯的視角中(攝像區域中)所顯示的斷層圖像。通過改變攝像距離PO並根據該改變來移動參考鏡119，可以在不改變掃描角度Θ的情況下改變前眼部的攝像區域的大小。通過如圖4B所示地將攝像距離PO改變至Pmax(從圖4A到圖4B)以增加被檢眼和設備之間的距離，並且將參考鏡119移動至與攝像距離Pmax相對應的位置處，可以在(與 圖4A的RO相比的)寬掃描範圍Rmax(視角)中拍攝前眼部的圖像。因而，如示出的顯示器中所見，掃描了前眼部的更大的部分。此外，通過如圖4C所示地將攝像距離PO改變為Pmin(從圖4A到圖4C)以減少被檢眼和設備之間的距離，並且將參考鏡119移動至與攝像距離Pmin相對應的位置處，如圖4C示出的顯示器所示，可以在放大了前眼部的掃描範圍Rmin中拍攝前眼部的圖像。測量畫面圖5示出測量畫面1000。測量畫面1000包括:前眼部觀察畫面1101，其由進行前眼部觀察所用的(XD105獲得；以及斷層圖像顯示畫面1301，用於檢查所獲得的斷層圖像。通過按下用於切換右被檢眼和左被檢眼的L或R按鈕1001，將光學頭900移動至右眼或左眼的初始位置。操作者對輸入部929中所包括的滑鼠進行操作，以移動滑鼠光標1002的位置。在測量設備中，可以通過滑鼠光標位置檢測單元、根據滑鼠光標的位置來改變對準單元。滑鼠光標位置檢測單元根據滑鼠光標在顯示畫面上的像素位置來計算滑鼠光標的位置。在測量畫面中設置範圍，並將所設置的範圍預先與對準驅動相關聯。因而，當將滑鼠光標放置在所設置的範圍中的像素處時，可以進行在所設置的範圍中確定的對準。此外，通過轉動滑鼠的滑輪來使滑鼠進行對準操作。此外，布置在各圖像附近處的滑動條用於進行調整。滑動條1103指定了相對於被檢眼的攝像距離，並且當移動滑動條1103時，前眼部觀察畫面中的特性1003的大小與滑動條1103的移動相關聯地改變。此外，特性1003的大小與前眼部的攝像區域(視角)相關聯，並且特性1003的改變使前眼部觀察用調焦透鏡107移動至預定位置。示出調焦透鏡107作為本實施例中的包括了針對前眼部進行聚焦用的調焦透鏡的前眼部觀察部件或單元的示例。滑動條的上限對應於上述的前眼部攝像區域Rmax，並且滑動條的下限對應於上述的前眼部攝像區域Rmin。滑動條1203進行OCT焦點調整。OCT焦點調整用於將透鏡115在所示方向上進行移動，以進行針對前眼部的焦點調整。此外，在各圖像中，所述滑動條也與滑鼠進行的對準操作相關聯地進行移動。即，個人計算機925中的控制部件/單元(有時稱為「調焦連動單元」)進一步與滑動條1203所進行的OCT焦點調整相獨立或相關聯地、使OCT調焦透鏡115與測量光光路改變部件對測量光光路長度的改變相關聯地進行針對前眼部的聚焦。根據與攝像距離改變相關的測量光光路長度的改變，前眼部觀察部件/單元進行針對前眼部的聚焦操作。在本實施例中，控制單元(有時稱為「用於前眼部的調焦連動單元」)與測量光光路改變部件對測量光光路長度的改變相關聯地、使前眼部觀察單元進行針對前眼部的聚焦。接著，參考圖1、2和6來說明作為本實施例特徵的通過使用OCT設備來獲取斷層圖像的方法、以及用於處理斷層圖像的方法。圖7是示出操作者和個人計算機925的操作的流程圖。前眼部照明光(未示出)照亮被檢眼100，此後，由此產生的反射光穿過物鏡
101-1和101-2，並通過上述光路L2來在(XD105上形成圖像。形成在(XD105上的前眼部圖像經過如下處理:由CXD控制部(未示出)讀取、放大、經過A/D轉換、並輸入至運算部。在步驟SlOl中，在個人計算機925中取入輸入至運算部的前眼部圖像。在步驟S102中，個人計算機925獲取到前眼部圖像1102。在步驟S103中，針對前眼部圖像，當操作者在用於向個人計算機發送指示的輸入部929中利用上述滑動條1103來指定期望攝像區域的改變時，移動光學頭900以獲得與攝像區域相對應的攝像距離。在步驟S104中，根據與光學頭900的移動相關的測量光光路長度的預定長度的改變，將參考鏡119和前眼部調焦透鏡107分別移動至與測量光光路長度相對應的位置處。同時，通過上述拍攝斷層圖像的方法來獲取前眼部斷層圖像1301。即，調整相干門以使得前眼部圖像1102位於攝像框中，此後，在發出改變攝像區域的指示的情況下，光學頭900與參考鏡119彼此相關聯地移動以進行調焦操作。當操作者在步驟S105中完成前眼部和設備的對準之後，在步驟S106中移動滑動條1203。然後，操作OCT調焦透鏡115，並且操作者在監視前眼部斷層圖像1301的同時進行調焦，並且在步驟 S107中按下攝像按鈕1005，以獲取前眼部的斷層圖像。在步驟S108中，顯示所獲取的圖像，或者校正並顯示該圖像，並且在步驟S109中結束處理。在這種情況下，例如相對於在使用被設置為標準的攝像距離PO的情況下所獲得的斷層圖像，在步驟S108中獲取的圖像可能是在同一寬度的畫面中更大範圍的部位的圖像、或者是更小範圍的部位的圖像。如下文所述，校正操作是如下操作:放大或縮小顯示區域(視角)，以使得可以與在攝像距離PO處所獲得的部位大小同樣的大小來顯示所拍攝圖像的部位。通過在個人計算機925中用作圖像校正單元的模塊區域來進行上述操作，所述圖像校正單元用於校正和改變圖像的顯示形式。此外，通過控制單元所包括的用作顯示控制單元的模塊區域來進行用於在顯示單元上發出改變攝像區域的大小的指示的光標顯示等或其顯示形式的改變。實際上，在前眼部斷層圖像中，當攝像距離大於標準距離時，僅水平方向上的大小變小而不出現斷層深度上的改變；並且當攝像距離小於標準距離時，僅水平方向上的大小變大。圖8A 8E示出經過校正的前眼部斷層圖像的顯示圖像的示例。在圖8A中，與攝像距離PO相對應的水平方向上的視野xO隨著攝像距離Pmax增加而變狹窄至圖SB中水平方向上的視野xm。可以容易地通過已知的圖像處理方法來將水平方向上的視野xm轉換為視野xO並如圖SC所示地顯示視野xO。關於攝像距離Pmin，可以處理圖像並如圖SE所示地顯示圖像。此外，可以基於圖8C和SE的圖像來進行各種測量，或通過將攝像距離P乘以水平方向上的視野X來使用圖8B和8D的原始圖像以進行各種測量。具體地，在縮小攝像區域的情況的示例中，可以獲取圖8B所示的圖像。通過將視野從圖8B中的xm放大至圖8C中的xO來準備圖SC中的圖像。此外，在放大攝像區域的情況下，可以獲取圖8D所示的圖像。通過將視野從圖8D中的xn縮小至圖8E中的xO來準備圖8E的圖像。此外，如圖6所示，通過使用攝像區域選擇按鈕1004而非滑動條1103，可以在未獲取前眼部圖像的情況下改變攝像區域。在圖7中，分別設置了標準值(R0=6mm)、最大值(Rmax=9mm)和最小值(Rmin=3mm)。在圖7的步驟S105中，對(XD105所拍攝的前眼部圖像進行圖像處理以檢測被檢眼100的瞳孔位置，因此，可以獲得光學斷層圖像攝像設備和被檢眼100之間的對準位置關係。該光學斷層圖像攝像設備在xyz臺架(未示出)上驅動光學頭900，以將已檢測到的被檢眼100的瞳孔位置置於理想的位置。此外，即使在斷層圖像的拍攝期間，也可以一直對被檢眼100的前眼部進行監視。如上所述，在本實施例的光學斷層圖像攝像設備中可以設置如下設備，所述設備允許操作者指定用於攝像的各種攝像區域。即，可以在保持光學系統性能的同時，設置具有各種視野和高解析度的光學斷層圖像攝像設備。此外，與此同時，可以改變被檢眼和設備之間的操作距離，由此，可以在根據被檢體狀態將操作距離設置得更長的情況下進行攝像，來減輕被檢體的負荷。其它實施例另外，還可以通過下述處理來實現本發明。具體地，經由網絡或各種存儲介質來將用於實現上述實施例·功能的軟體(程序)提供至系統或設備，並且系統或設備的計算機(或CPU、MPU等)讀取並執行所述程序。本發明不限於上述實施例，並可以在不偏離實施例的精神的範圍內進行各種修改或改變。例如，在上述示例中，說明了被檢體是眼睛的情況，但實施例還可以適用於諸如皮膚或不同於眼睛的器官等的被測體。在這種情況下，本發明可以適用於諸如內窺鏡以及眼科設備等的醫療設備。因而，優選地將上述被檢眼理解為被檢體。儘管已經參考典型實施例說明了本發明，但是應該理解，本發明不限於所公開的典型實施例。所附權利要求書的範圍符合最寬的解釋，以包含所有修改、等同結構和功能。
權利要求
1.一種光學斷層圖像攝像設備，用於基於將參考光與來自被測量光照射的被檢體的返回光進行合成而獲得的光，來創建所述被檢體的斷層圖像，所述光學斷層圖像攝像設備包括 測量光光路長度改變部件，用於改變所述測量光的光路長度； 參考光光路長度改變部件，用於改變所述參考光的光路長度； 指示部件，用於指示所述斷層圖像的攝像區域的大小；以及 控制部件，用於響應於所述指示部件的指示來控制所述測量光光路長度改變部件和所述參考光光路長度改變部件。
2.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，所述控制部件用於控制所述測量光光路長度改變部件，以響應於來自所述指示部件的指示來改變所述測量光的光路長度，並且所述控制部件用於控制所述參考光光路長度改變部件，以與所述測量光的光路長度的改變相關聯地改變所述參考光的光路長度。
3.根據權利要求I所 述的光學斷層圖像攝像設備，其中，所述控制部件用於控制所述參考光光路長度改變部件，從而使其將所述參考光的光路長度改變與所述測量光的光路長度的改變相對應的長度。
4.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，所述控制部件用於使所述測量光光路長度改變部件將所述測量光的光路長度改變與所指示的所述斷層圖像的攝像區域的大小的改變相對應的長度。
5.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，還包括顯示控制部件，用於使顯示部件顯示示出所述斷層圖像的攝像區域的大小的改變的顯示形式。
6.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中， 所述被檢體包括被檢眼；以及 所述控制部件用於在要創建所述被檢眼的眼底的斷層圖像並且此後要創建所述被檢眼的前眼部的斷層圖像的情況下，使所述測量光光路改變部件將所述測量光的光路長度改變預定長度。
7.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，還包括圖像校正部件，用於根據由所述測量光光路長度改變部件所確定的所述測量光的光路長度來校正所述斷層圖像。
8.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中， 所述被檢體包括被檢眼； 所述光學斷層圖像攝像設備還包括前眼部觀察部件，其包括用於使光聚焦於所述被檢眼的前眼部以使得能夠進行前眼部的觀察的調焦透鏡；以及 所述控制部件用於使所述前眼部觀察部件與所述測量光光路長度改變部件所進行的所述測量光的光路長度的改變相關聯地使光聚焦於所述前眼部。
9.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，所述測量光光路長度改變部件包括用於相對於所述被檢體移動包括所述測量光的光路和所述參考光的光路的光學系統的機構。
10.根據權利要求I所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，還包括移動部件，用於沿著光路移動用於使所述測量光聚焦至所述被檢體的調焦透鏡， 其中，所述控制部件用於控制所述移動部件以與所述測量光的光路長度的改變相關聯地移動所述調焦透鏡。
11.根據權利要求10所述的光學斷層圖像攝像設備，其中，所述控制部件用於使所述移動部件將所述調焦透鏡移動與所述測量光的光路長度的改變相對應的長度。
12.一種光學斷層圖像攝像設備的控制方法，用於通過以測量光照射被檢體、並將來自所照射的被檢體的返回光與參考光進行合成來獲得幹涉光，來獲取所述被檢體的斷層圖像，所述控制方法包括以下步驟 在要改變所述斷層圖像的攝像區域的大小的情況下，改變所述測量光的光路長度；以及 與所述測量光的光路長度的改變相關聯地改變所述參考光的光路長度。
13.根據權利要求12所述的光學斷層圖像攝像設備的控制方法，其中，改變所述參考光的光路長度包括將所述參考光的光路長度改變與所述測量光的光路長度的改變相對應的長度。
14.根據權利要求12所述的光學斷層圖像攝像設備的控制方法，其中，改變所述測量光的光路長度包括將所述測量光的光路長度改變與所指示的所述斷層圖像的攝像區域的大小的改變相對應的長度。
全文摘要
本發明提供了一種用於獲取被檢體的斷層圖像的光學斷層圖像攝像設備及其控制方法，以容易地改變被檢體的斷層圖像攝像區域的大小，所述光學斷層圖像設備包括部件(900)，用於改變測量光光路長度；部件(119)，用於改變參考光光路長度；用於指示所述斷層圖像攝像區域大小的部件；以及控制部件，用於響應於所述指示部件的指示來控制所述測量光光路長度改變部件(900)和所述參考光光路長度改變部件(119)。
文檔編號A61B3/14GK103251380SQ20131003300
公開日2013年8月21日 申請日期2013年1月28日 優先權日2012年1月26日
發明者青木博, 吉田拓史, 坂川幸雄 申請人:佳能株式會社