可調節ccd光學檢驗裝置的製作方法

2023-04-30 15:11:36 1

專利名稱：可調節ccd光學檢驗裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種檢驗儀器，特別是一種可調節CXD光學檢驗裝置。
背景技術：
就目前技術而言，對複雜產品表面的圖案和文字的檢查校驗工作主要依靠兩種方式，一種是依靠人工檢查的方法，靠人工檢查，在處理大批量產品或產品需檢查要素太多時一來容易造成視覺疲勞，二來工作強度大，由此極易造成錯檢漏檢，檢查時間長，耗費大量人力物力，檢驗效率低下；另一種是藉助光學檢驗設備進行檢查，效率高，錯誤率低，節省人力物力，但是傳統的光學檢驗設備的裝配位置都是固定的，無法調節檢測設備的工作位置， 因此對物件的定位精度要求較高。
發明內容本實用新型所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種可以調節CCD 攝像頭工作位置的結構簡單的C⑶光學檢驗裝置。為解決上述技術問題，本實用新型提供一種可調節CXD光學檢驗裝置，包括CXD攝像機，其特徵在於，所述CCD攝像機與調節裝置相連，所述調節裝置包括固定導軌，活動導軌和滑塊，所述活動導軌與固定導軌相連，所述滑塊與活動導軌相連，所述CCD攝像機與滑塊相連。調節裝置用於調節CCD攝像機的空間位置，結構簡單。所述固定導軌上設有輔助光源，所述輔助光源為環形輔助光源。環形輔助光源可以更好的為CCD攝像機提供輔助照明。所述活動導軌有兩個，第一活動導軌和固定導軌連接，第二活動導軌和第一固定導軌連接，滑塊與第二活動導軌連接。兩個活動導軌的結構可以使C⑶攝像機在空間內上下左右任意調節。本實用新型所達到的有益效果是可以任意調節工作位置，結構簡單。

圖1為本實用新型的正面結構示意圖；圖2為本實用新型的側面結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型作進一步的說明。如圖1、圖2所示，CXD攝像機1與調節裝置相連，調節裝置包括固定導軌2，活動導軌和滑塊3，活動導軌有兩個，第一活動導軌4與固定導軌2相連，可以沿固定導軌2在水平方向前後移動，第二活動導軌5與第一活動導軌4相連，可以沿第一活動4導軌在垂直方向上下移動，滑塊3與第二活動導軌5相連，可以沿第二活動導軌5在水平方向左右移動，CXD攝像機1與滑塊3通過緊固件相連。環形輔助光源6設置在固定導軌2外側，通過連接件與固定導軌2相連，為CCD攝像機1提供輔助光源，以確保拍攝效果。本實用新型的位置調節過程如下1、先調節第二活動導軌，在垂直方向上調節CXD攝像機位置，確定CXD攝像機高度；2、分別調節第一活動導軌和滑塊，在水平方向調節CCD攝像機位置，使其可以準確拍攝到待測物件；3、使用CXD攝像機進行拍攝檢驗。本實用新型主要用於對物件表面的文字或圖案進行檢驗，可以根據需要調節CCD 攝像頭工作位置，結構簡單。以上實施例不以任何方式限定本實用新型，凡是對以上實施例以等效變換方式做出的其它改進與應用，都屬於本實用新型的保護範圍。
權利要求1.可調節CXD光學檢驗裝置，包括CXD攝像機(1)，其特徵在於所述CXD攝像機(1)與調節裝置相連，所述調節裝置包括固定導軌(2)，活動導軌和滑塊(3)，所述活動導軌與固定導軌(2)相連，所述滑塊(3)與活動導軌相連，所述CXD攝像機(1)與滑塊(3)相連。
2.根據權利要求1所述的可調節CCD光學檢驗裝置，其特徵在於，所述固定導軌(2)上設有輔助光源(6)，所述輔助光源(6)為環形輔助光源。
3.根據權利要求2所述的可調節CCD光學檢驗裝置，其特徵在於，所述活動導軌有兩個，第一活動導軌(4)和固定導軌(2)連接，第二活動導軌(5)和第一固定導軌(4)連接，滑塊(3)與第二活動導軌(5)連接。
專利摘要本實用新型公開了一種可調節CCD光學檢驗裝置，包括CCD攝像機，其特徵在於，CCD攝像機與調節裝置相連，調節裝置包括固定導軌，活動導軌和滑塊，活動導軌與固定導軌相連，滑塊與活動導軌相連，CCD攝像機與滑塊相連。本實用新型可以根據實際情況的需要調節CCD攝像頭工作位置且結構簡單。
文檔編號G01N21/956GK202101947SQ20112013432
公開日2012年1月4日 申請日期2011年5月2日 優先權日2011年5月2日
發明者沈皓然 申請人:蘇州工業園區高登威科技有限公司