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半導體器件在位檢測裝置的製作方法

2023-05-10 03:55:36 3

專利名稱:半導體器件在位檢測裝置的製作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種半導體器件測試領域,尤其涉及一種半導體器件在位檢測裝置。
背景技術:
在半導體器件自動燒錄機或測試分選機中,通過半導體器件在位檢測裝置對晶片在位檢測,目前採用對射式紅外檢測。如

圖1-2所示,紅外發射(或接收)器件2』固定在PCB1』上,紅外接收(或發射)器件4』固定在PCB3』上,當半導體器件6』不在位時,紅外發射器件2』發射的光線會到達紅外接收器件4』 ;當半導體器件在位時會擋住紅外光線,紅外接收器件4』接收不到光線。這樣會存在以下2個問題1、外部光線會對接收產生影響,嚴重情況下,可能產生誤檢;2、由於測試環境中的灰塵或晶片本身脫落的雜屑會覆蓋在傳感器上,導致傳感器失效。

實用新型內容本實用新型的目的在於,提供一種半導體器件在位檢測裝置,可以防止外部光線和灰塵、雜屑對傳感器的影響。為了實現上述目的,本實用新型提供一種半導體器件在位檢測裝置,其包括本體、反射器、紅外接收器、及紅外發射器,該紅外接收器及紅外發射器設於一 PCB上而形成一傳感器,該本體包括半導體器件,該傳感器及反射器分別設於本體上半導體器件的相對兩側,且紅外接收器與紅外發射器分別與反射器相對設置。其中,所述本體還包括軌道蓋板、及與軌道蓋板相對的軌道,該傳感器設於軌道蓋板上,反射器設於軌道上。其中,所述本體還包括與半導體器件連接的擋料器。本實用新型的有益效果本實用新型杜絕了半導體器件自動燒錄機或測試分選機在工作中因環境中的灰塵或晶片本身脫落的雜屑導致傳感器失效問題。為了能更進一步了解本實用新型的特徵以及技術內容,請參閱以下有關本實用新型的詳細說明與附圖,然而附圖僅提供參考與說明用,並非用來對本實用新型加以限制。
以下結合附圖,通過對本實用新型的具體實施方式
詳細描述,將使本實用新型的技術方案及其它有益效果顯而易見。附圖中,圖1為現有的半導體器件在位檢測裝置的結構示意圖;圖2為圖1的A-A向視圖;圖3為本實用新型的半導體器件在位檢測裝置的結構示意圖;[0015]圖4為圖3的A-A向視圖。
具體實施方式
為更進一步闡述本實用新型所採取的技術手段及其效果,以下結合本實用新型的優選實施例及其附圖進行詳細描述。如圖3-4所示,本實用新型的半導體器件在位檢測裝置包括本體10、反射器4、紅外接收器3、及紅外發射器2,該紅外接收器3及紅外發射器2設於一 PCBl上而形成一傳感器,該本體包括半導體器件6,該傳感器及反射器4分別設於本體上半導體器件6的相對兩偵牝且紅外接收器3與紅外發射器2分別與反射器4相對設置。該本體10包括軌道蓋板7、與軌道蓋板7相對的軌道5、與半導體器件6連接的擋料器8。由焊接在PCBl上的紅外發射器2和紅外接收器3以及反射器4組成,因為發射和接收在軌道5的上部,所以灰塵和雜屑不會對傳感器造成任何影響。而反射器4和水平面的角度大於50度,灰塵和雜屑也不會停留在反射器上。在PCBl上焊接紅外發射器2和紅外接收器3,將其固定在軌道蓋板7上;在軌道5上固定反射器4。當沒有半導體器件6在工位時,紅外發射器2發出的紅外線被反射器4反射後被紅外接收器件3接收;當半導體器件6被擋料器8擋在工位時,紅外發射器件2發出的紅外線被半導體器件6吸收,而不被反射。所以紅外接收器件3不能接收到。以上所述,對於本領域的普通技術人員來說,可以根據本實用新型的技術方案和技術構思作出其他各種相應的改變和變形,而所有這些改變和變形都應屬於本實用新型權利要求的保護範圍。
權利要求1.一種半導體器件在位檢測裝置,其特徵在於,包括:本體、反射器、紅外接收器、及紅外發射器,該紅外接收器及紅外發射器設於一 PCB上而形成一傳感器,該本體包括半導體器件,該傳感器及反射器分別設於本體上半導體器件的相對兩側,且紅外接收器與紅外發射器分別與反射器相對設置。
2.如權利要求1所述的半導體器件在位檢測裝置,其特徵在於,所述本體還包括軌道蓋板、及與軌道蓋板相對的軌道,該傳感器設於軌道蓋板上,反射器設於軌道上。
3.如權利要求1所述的半導體器件在位檢測裝置,其特徵在於,所述本體還包括與半導體器件連接的擋料器。`
專利摘要本實用新型提供一種半導體器件在位檢測裝置,其包括本體、反射器、紅外接收器、及紅外發射器,該紅外接收器及紅外發射器設於一PCB上而形成一傳感器,該本體包括半導體器件,該傳感器及反射器分別設於本體上半導體器件的相對兩側,且紅外接收器與紅外發射器分別與反射器相對設置。本實用新型杜絕了半導體器件自動燒錄機或測試分選機在工作中因環境中的灰塵或晶片本身脫落的雜屑導致傳感器失效問題。
文檔編號G01V8/14GK202916452SQ20122058759
公開日2013年5月1日 申請日期2012年11月8日 優先權日2012年11月8日
發明者王煥平 申請人:王煥平

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