製鞋用的鞋楦的製作方法
2023-04-28 10:27:46
專利名稱：製鞋用的鞋楦的製作方法
本申請是申請號為90104051.7，申請日為900531，發明名稱為測量足部尺寸的方法及其鞋楦的分案申請。
本發明涉及一種製鞋用的鞋楦，特別是一種利用一組精確的足部測量尺寸數據製成的鞋楦。
在測量足部尺寸和鞋業製造領域中，存在許多不精確的尺寸。綜觀鞋業製造史，在測量足部尺寸和鞋楦頭製造中，一般使用很少的實際測量尺寸。因此，制出的鞋楦和鞋能達到精確匹配的只佔很小一部分。由於尺寸上的問題造成大量存貨。
過去，測量足部尺寸普遍應用並為大部分鞋購買者熟知的標準是勃蘭諾克(Brannock)測量體系和裝置。勃蘭諾克體系和裝置僅給出足部長度和寬度的測量值。這種測量方法提供了很少的實際數據，而且這些數據與許多變量有關，只有對這些變量進行選定才能獲得精確的足部尺寸和鞋子。而且，用於製造鞋的楦頭都是根據勃蘭諾克體系測量的外表面尺寸製成的。
因此，本發明的目的是根據一組比較精確的足部測量尺寸提出一種製鞋用的鞋楦，其外表面形狀是根據一種改進的足部尺寸測量方法測得的數據確定的。
本發明提出的製鞋用的鞋楦具有一個外成形表面，該表面包括a)長度尺寸;
b)寬度尺寸;
和c)彎曲角度尺寸;
其特徵在於
所述外表面的長度尺寸、寬度尺寸和彎曲角度尺寸都是由被測量足部的測量值得出的;所述的長度尺寸對應於一個沿著足跟底部上的足跟點至第二趾的趾尖中點延伸的足部中心線測量的足部長度線，該足部長度線從足跟點延伸至與一條足部寬度線相交的交點;所述的寬度尺寸對應於一個沿著一條在第一蹠骨突出部分上足部最寬部位至第五蹠骨突出部分上足部的最寬部位之間的連線測量的足部寬度尺寸;所述彎曲角度尺寸對應於(1)一個在足部中心線和從足跟點到足部寬度線上第五蹠骨突出部分上的足部最寬部位的連線之間測量的足部外側彎曲角度，和(2)一個在足部中心線和從足跟點到足部寬度線上第一蹠骨突出部分上的足部最寬部分的連線之間測量的足部內側彎曲角度。
本發明的其他目的和優點在以下結合附圖所作的詳細說明中是很明顯的，其中所列舉的實施例的目的僅在於說明本發明，並非對發明範圍進行限定。
圖1是一隻足的底視圖，表示了足跟質量中心和一條足部中心線。
圖2是一隻足的底視圖，表示了一條寬度尺寸線。
圖3是一隻足的底視圖，表示一條寬度尺寸線與中心線的交點。
圖4a是一隻足的底視圖，表示從足部中心線延伸至弓形線的測量矢量。
圖4b是一隻足的底視圖，表示一個平足。
圖4c是一隻足的底視圖，表示一個標準的弓形足。
圖4d是一隻足的底視圖，表示一個大弓形足。
圖5是一隻足的底視圖，其上標有從足部中心線到曲線內側和曲線外側的角度。
圖6是一隻足的底視圖，表示一個足跟寬度尺寸。
圖7是一隻足的側視圖，表示一種從足跟外側向上延伸繞至足背並越過上足背的環周測量方法。
圖8是一種改進的測量足部尺寸方法的邏輯流程圖。
圖9是根據本發明的尺寸比例製成的鞋楦的透視圖。
下面按要求公開本發明的詳細實施例。不言而喻，這裡公開的實施例只是作為舉例說明，它可以有各種不同形式的體現。因此，這裡所公開的結構和功能上的詳細敘述並不認為具有限制性，而是作為一個基準藉以指導本行業內熟練人員以各種方式和任意適當的裝置來使用本發明。
圖1中的足部10表示一隻有代表性的人足。大足趾12伴隨著帶趾尖15的第二趾14，第三趾16，第四趾18和第五趾20。絕大部分人類的大足趾12都越出其它足趾尖。但是，也有一些人，他們的第二趾14超出其它足趾尖，還有大約5%的人，他們的第三趾是最長的趾，超出任何其他趾尖。因此，以最長趾長度作為足形的決定的因素的現行足部測量體系，由於最長趾長度與經精確測量足部的其它測量值之間的不對稱關係，結果滲入了許多不希望有的變數。常用的現有足部測量體系包括測量足部的最長趾長度並利用這一測量值與足寬值配合，得出最佳的鞋尺寸和寬度。由本發明敘述的這種方法可知現有體系具有很多的缺點，例如，現有足部測量體系一般包含一些關聯的參數。這些關聯的參數沒有提供出精確的足部尺寸。這點可以從足部測量的一般情況中看出，一個鞋型選配人員將測量穿鞋者腳形的長度和寬度，然後，他回到鞋儲藏室內找出一系列與測量者腳形相近似的鞋;接著，開始實際的鞋的「選配工作」，實際上這種選配無非是更換鞋的長度或者寬度，讓穿帶者在腳上試穿，直至穿著者感到舒服時為止。這樣一種程序是效率非常低並且帶有許多缺點。例如，這種程序不能考慮穿著者腳與鞋的伏貼可能性。事實上，由於一般的穿著者在做出購買決定之前在鞋店內只能有極短的時間試穿該對鞋，這就使問題變得複雜化。雖然鞋的長度和寬度的綜合有可能使穿著者感到舒適，但這只是在一兩處部位提供滿意的支撐，而不是在整個足部。由於試穿的時間太短或其他理由選購者不能選出帶有合適弓形支承的鞋。
現有技術中足部測量相關問題的另一例子可以將一隻標準的9D號鞋表面與一隻標準10C號鞋的表面面積作比較看出。如果使用勃蘭諾克式測量體系，兩種鞋表面的大小實際上幾乎完全相同。顧客理應相信10D號鞋和9D號鞋的寬度基本上是相同的，但實際上它們是不同的。根據勃蘭諾克體系製成的這兩種鞋在寬度上的差異可以是數毫米。
本發明測量足部尺寸的方法包括實際測量一隻腳或多隻腳，以獲得更精確的實際測」量值或設計鞋楦頭的形狀用的標定器，由此制出的鞋能精確地支撐和保護所測量的整個足部。另一方面，測量足部的這種方法對存貨的選配是非常有用的。這一用途在製造、銷售和選配方面都帶來了亟需的效應。
標號10表示一隻待測量的足部。人足部10包括一個帶有質量中心30的足跟區26。質量中心30一般對應於足跟區26的中心，但是在個別情況下也可能有稍微的偏差。一條足部中心線，如圖中所示的Ⅰ-Ⅰ線，從第二趾的中央延伸通過足跟區26的質量中心30。足部中心線Ⅰ-Ⅰ的延長線與足跟尖34相交。正如這裡將要進一步討論的，越過足跟(穿過質量中心30)量得的足跟寬度和中心線Ⅰ-Ⅰ是確定本發明的長度和寬度尺寸所必不可少的。
參考圖2，在足部10的前掌球狀突出部分的最寬部位的內側部40和最寬部位的外側部42之間有一條Ⅱ-Ⅱ線。更加具體地說，Ⅱ-Ⅱ線是一條行走的寬度線，該寬度線位於接近足的最寬外側邊的彎曲點和接近足的最寬內側邊的彎曲點之間延伸的彎曲區域內。應當指出，過去常用的測量足部的方法僅包括足部一側對一側的足部寬度測量。這種足部寬度測量值在確定足部的實際動態特性和需要方面是不合適的。上面所指的彎曲區域包含足上五個蹠骨中的若干蹠骨頭部。因此，常常稱為「蹠骨窩」的這一彎曲部位是人足測量方法論者最感興趣的部位。可以意識到，足部最寬部位之間的線與第一個蹠骨突出部和第五個蹠骨突出部之間的連線，如Ⅱ-Ⅱ線，有很大的差異。這在鞋舒適性設計中是非常重要的考慮因素，其原因是由於人足的高度敏感性，來自於彎曲區域的平衡矢量以及從這些測量數值得出的鞋的長期支承特性所造成的。因此，應當認識到，寬度尺寸線Ⅱ-Ⅱ應位於足部10前掌球狀突出部分的內彎曲點和外側部分彎曲點之間延伸。
如圖3所示，足部中心線Ⅰ-Ⅰ和足部寬度尺寸線Ⅱ-Ⅱ相交於點44處，以外稱為T點。這樣，從足跟尖34沿著足部中心線Ⅰ-Ⅰ至T點44的一段距離稱作T距離，如圖3中標明的那樣。T點44並不總是對應於足部側邊對側邊之間寬度測量線的中心點上，但卻總是代表這裡所描述的足部中心線Ⅰ-Ⅰ和寬度尺寸線Ⅱ-Ⅱ之間的交叉點。圖9最好地說明了寬度尺寸線Ⅱ-Ⅱ與現有技術體系通常測量出的側邊對側邊足部寬度線Ⅲ-Ⅲ之間的不同。
圖4a，4b，4c和4d各表示一種足部形狀的底部表面。這些圖形中的每個圖形表示具有代表性的足部10接觸在步行表面上時其底部的各種不同平面形狀，或者，更加具體地說，這些圖形表示出當一塊平面形的測量面輕輕地壓在足部10的底部時，留在該測量面的上足部的壓印。因此，在圖4a中顯示的是足部10的一個底部表面，該表面具有添加在其上的足部中心線Ⅰ-Ⅰ和若干垂直於足部中心線Ⅰ-Ⅰ延伸的表示足部10弓形拱線的矢量48。也就是說，弓形線50包括描述大致與步行表面或足部10底部的其餘部分共面的一個表面的輪廓線。在足部中心線Ⅰ-Ⅰ至弓形線50之間延伸的垂直矢量的長度確定足部10是屬於平直弓形，標準弓形，或是一高度弓形。應當理解，足部中心線Ⅰ-Ⅰ與弓形線50之間的距離值與一系列作為樣板的距離，面積，或弓形狀作比較時，可以包含一組複合值或是給定值。圖4b表示的是一隻具有代表性的足部10，它沒有明顯的弓形線50，因此可以被認為是一隻平足。然而，如圖4c所示，由矢量58表示的足部中心線Ⅰ-Ⅰ和弓形線50之間的距離表示出一種為大部分足部10所共有的標準弓形線。而圖4d所顯示的是由矢量64所代表的一種非常高的弓形線。除了用矢量分析來確定弓形線的型式是屬於Ⅰ型(大拱型)，還是2型(標準弓型)，或是3型(平弓型)之外，也可以用面積分析法，例如，確定包含在足部中心線Ⅰ-Ⅰ和弓形線50所形成的線內的面積也可以用作這類分析。將實際的面積大小與樣板面積大小作比較也屬於本發明的範圍之內，以確定弓形線的型式。
在獲得長度尺寸數據和弓形數據之外，確定經每隻被測量腳的彎曲特性也是很重要的。圖5表示了分析足部10的足部彎曲度的方法。如前所述，足部中心線Ⅰ-Ⅰ與足跟相交於足跟點34處。下一步要做的是確定相對於足部中心線Ⅰ-Ⅰ的足部10的彎曲度。一種較好的方法是確定從足跟點34至外側點42的連線和從足跟點34至內側點40的連線分別對中心線的角度然後，一系列三角關係可以用來確定足部的彎曲度。一種較好的確定這種曲度值的方法是測量足部中心線Ⅰ-Ⅰ和上面所敘述的足跟點34至內側點40的矢量和足跟點34至外側點42的矢量與中心線之間形成的角度。因此，所提供的就是一對如圖5所示分別以M和L標示的角度。角度M代表足的內側彎曲的度數，而角度L則代表足的外側彎曲的度數。另一種表達這些角度值的方法是將M角稱為CMD而將L角稱為CLD。然後比較CMD和CLD值，就可以得出一個彎曲度值，用這種較好的測量尺寸並進行編號體系。例如，這種較佳的編號分析包括比較CMD和CLD，如果CMD大於CLD就編為1號，同樣情況，如果CMD等於CLD就編為2號。如CMD小於CLD則有三種選擇存在。第一種選擇是當CMD和CLD之間的差值小於0.5°，則編為3號。第二種選擇是當CMD和CLD值的差值在0.5°和1.5°之間，在這種情況則編為4號。最後，當CMD和CLD值相差大於1.5°(CMD小於CLD)則編號為5。
參看圖6，圖中顯示了足部10和足部中心線Ⅰ-Ⅰ。圖中還顯示了足跟寬度尺寸線Ⅳ-Ⅳ，該線基本上垂直於足部中心線Ⅰ-Ⅰ並穿過質量中心30。圖6中以長度70顯示的足跟寬度尺寸線Ⅳ-Ⅳ的長度提供了一個用於上述測量足部尺寸方法的附加測量尺寸。對於各種足跟寬度可以用一個足跟寬度值或者若干個足跟寬度值表示。
為了更精確地確定足背的形狀和每個足部的總體體積，最好提供體積測量值。參看圖7，它以側視圖表示了足部10的側面。為了克服現有技術中缺少體積測量值的缺點，一種較佳的體積測量方法是測量從足跟區26向上繞過足背區76，然後向下回至足部10另一邊的周圈距離，形成一個與體積相關的測量值。便為具體地說，一種測量工具，例如一條軟的帶尺80，從足跟點34沿著外側足踝區84向上延伸，繞過上足背區76，然後沿著足部10的內側向下直至足跟點34。這個周圈測量的總長度提供了一個與提供人足體積值或定等級有關的數值。這個體積測量值對確立足部10的足背部位的足踝大小具有關鍵性意義，並對利用這些測量值製造出精確尺寸的鞋大有幫助。
本發明所提供的測量足部10尺寸的方法包括幾個步驟。如圖8所示，該方法包括沿著一條與足跟區26底部的足跟點34至第二趾14的頂部15延伸的足部中心線Ⅰ-Ⅰ對準的軸向長度測量尺寸。這種軸向的測量線最好從足跟點34延伸與一條足部寬度測量線如足部寬度線Ⅱ-Ⅱ相交，如圖3所示。這個軸向的測量值最好以毫米表示。下一步計算足部10最寬部位之間的寬度線是必要的，該寬度線延伸於兩個彎曲點之間，也就是在足部10最寬部位的內側前掌球部40和外側點42之間。
然後就需要從許多弓形線型式中確定具體的弓形線型式並確定足的彎曲度。弓形線型式的測量最好通過測量足部中心線至足部弓形線之間的距離來完成，然後將這一距離與一樣板距離基本數據相比較，以確定足部弓形線型式的數值。足部10的彎曲度可以通過將足跟部位的足跟點34至足部10最寬部位的內側邊連線與中心線形成的彎曲角度與從足跟點34至足部10最寬部位的外側邊連線與中心線形成的角度相比較來確定。實際上，足部10的足跟寬度測量步驟最好由確定側壁接觸點，如圖6中的點82和點83來完成。換名話說，側壁接觸點82，83之間的距離就是足跟寬度尺寸70。為了在測量足部10的尺寸中能獲得更高的精確度，一個最好的步驟包括從足部10的足跟點34向上至上足背區76並繞過上足背區76再向下回至足跟點34的周圈距離來獲得足部體積的測量值。因此這項足部體積的測量包括測量經足部10的內側及外側兩邊衡量從足跟點34至上足背區76的距離。
因此，這裡提供的方法是從僅僅極少量的測量點產生出一個三維面。雖然勃蘭諾克體系和其他的現有技術衡量足部的體系曾企圖獲得這一體系，其結果不是不精確就是相對性的，而不是實際的。實際上，本申請人已給出很多可以非常精確地確定被測量的足部形狀和體積的標定關係。雖然在本發明的範圍內可以設想出其他的定標關係，但是這裡公開的測量體系精確確定的足部關係遠遠超過本行業中所已知的。例如，體積的測量就非常精確地提供了一個從足跟點延伸至足背區的包括的面積。在足背區76上的體積測量位置交點提供了一個朝著前面所述的T點。傾斜向下的位置。確實，這種關係提供了許多基本上是三角形的平面區域，使足部在鞋內的適應較之通常的以長度和寬度的測量更加精確。然而，這種另加的測量足跟寬度和相對足中心線的足部彎曲度的綜合對過去的測量體系提出了實質性的改進。將這個有價值的數據與線Ⅱ-Ⅱ相結合，則足部彎曲動態特性也被計算出，以提供另一主要的標定或測量值。這樣，就提出一種基本上互不牽連的標定或測量值，以制出一個三維平面，從而使足部能夠被實際測量，而不是象現有技術測量體系中的相對地測量。例如，在現有技術中，長度的任何改變可能會影響其寬度的測量值。相形之下，本發明的測量體系保持一個T點長度值為一數字，而改變任何幾個其它因素都與這個數字無關。
因此，本發明提出測量足部尺寸的方法包括以下步驟軸向地測量長度尺寸，計算出一條足部寬度線，和比較由足部彎曲形成的角。更加具體地說，軸向測量一個長度尺寸的步驟包括沿著足部中心線長度軸向地衡量足部的一個長度尺寸，足部中心線與足跟底部足跟點與第二趾趾尖的連線成一條線，測量從足跟點延伸直至與足部寬度測量線相交的交叉點。下一步是計算出一條在第一蹠骨突出部分區的足部最寬部分與第五蹠骨突出部分區的足部最寬部分之間的足部寬度線。最後，將從第一蹠骨突出部分至足跟底部足跟點連線與中心線形成的足部內側邊彎曲角度與從第五蹠骨突出部分至足跟底部足跟點連線與中心線形成的足部外側邊彎曲角度作比較。此外，可以確定被測足的特有弓形線，並從許多弓形線型式中對該弓形線編號。
根據本發明，還提供一種利用若干快速確定足部標定值精確測量足部尺寸的方法。其步驟包括測量足部長度標定值，確定足跟寬度標定值，和確定足部彎曲標定值。更加具體的是，足部長度標定值是以從足跟點至與足部寬度線交叉點的距離來確定的。足部長度標定值是沿著在足跟點經足跟的質量中心，和第二趾頂尖的中心點之間延伸的一條直線測量的。相交的足部寬度線一條基本上在足部第一蹠骨突出部分與足部第五蹠骨突出部分區之間延伸的直線。這條足部寬度線本身可以是一個標定值。足跟寬度標定值的確定是通過確定平常步行與平面相接觸的腳跟兩側邊之間延伸的直線矢量的大小來實現的。還有，足部彎曲度標定值是通過將從第一蹠骨突出部分至足跟底部足跟點連線與中心線形成的足部內側邊彎曲角度與從第五蹠骨突出部分至足跟底部足跟點連線與中心線形成的足部外側邊彎曲角度作比較來實現的。還可以提供一個足部體積標定值，進一步增加上述標定值的數量。足部體積標定值是通過周向地測量從足跟點開始向上繞過上足背部位，然後向下沿著足部對面一側直至足跟點的周圈距離。供選擇，也可提供一頂部距離標定值，其方法是測量從所述足部寬度線至一個預先選定的足趾點的距離。例如，可以選擇這樣一個足趾距離標定值，它包括沿著足部中心線上的T點至第二趾趾尖末端的距離。這個一般被認為是一種供選擇的標定值，因為一般鞋或鞋楦的頭部通常都是根據鞋的款式設計的，而不是根據足趾中特殊長的或特殊形狀的足趾設計的。當然，如果願意也可以允許應用按一定標準頭部型式設計的鞋楦。因此，可以看出本發明可用描繪三維足面的少量標定值基本上描繪出在T點或共後部位或朝著足跟點方向的整個足面。因此，可以再一次看出幾乎完全依靠從足跟點至足趾的足部長度測量體系具有的固有謬誤。本申請人認為確定一隻足部需有許多變數，而基本上所有這些變數都可以從T點朝著足跟點的測量標定值來確定。還有，如前所述，這裡提到的標定值或測量值可以單獨改變而不會影響到與其相關的標定值或測量值。這是與現有技術測量體系根本上的不同。
在各種型號的鞋製造過程中，總是應用一種鞋楦來為所制的鞋成形。因此，藉助改進的測量足部尺寸的精確度和效應，根據前面所討論的改進的測量方法和數據製成的鞋楦就可能提高製鞋的能力。因而，如圖9所示，一個用於為鞋類成形的鞋楦100包括一個外表面，其形狀是根據本發明的測量方法對足部實際測量得出的。從所述測量足部製成的鞋楦包括一個軸向測量的長度尺寸，這是從足部沿著一條從足跟底部處足跟點34至第二趾趾尖延伸的足部中心線Ⅰ-Ⅰ上的長度軸測量得出的。該長度尺寸的測量從足跟點延伸至與一條足部寬度測量線Ⅱ-Ⅱ的交叉點為止。鞋楦的寬度將由足部寬度尺寸或寬度線形成。足部寬度尺寸可以從一組足部寬度線中選出，該寬度尺寸線包括一條在足部前掌內側球狀突出部分處足部的最寬部位與足部最寬的外側部位之間延伸的線，一條在足部內側彎曲點處的足部最寬部位與在外側彎曲點處的足部最寬外側部位之間延伸的足部寬度線，和一條在足部第一蹠骨突出部分區與足部第五蹠骨突出部分區之間延伸的足部寬度線。還有，一個足部彎曲度尺寸可以從將足部最寬部分的內側邊至足眼底部處足跟點連線與中心線形成的彎曲度角和足部最寬部位的外側邊至足跟點尖連線與中心線形成的彎曲度角作比較而得出。這個足部彎曲度尺寸將對鞋楦製做提供適當的數據，以使製造出的鞋適合於測量的足。
鞋製造業中鞋楦外表面定形用的另外的實際數值包括一個足跟寬度值和一個內容積值。鞋楦足跟寬度值不是與被測量足跟寬度的測量值匹配，就是與實際測量的模型匹配。內容積值即鞋楦外表面內的容量是沿著一條從足部足跟尖由外側向上至足部的上足背區76，然後再由內側向下至足部足跟點的線測量其周圈的距離而得出的。這周圈距離是一個與得出的足部體積數值相聯繫的數字。
雖然本發明較佳實施例已在這裡說明和描述，但是業內的一般技術人員都能夠意識到凡能達到同一目的其他裝置和安排也可以用來替代上述的具體構形。因此，雖然本發明已結合其較佳實施例予以描述，但是顯然業內的一般技術人員都能立即連想到許多其他的改進型式，因此，應將這些各種變化或變異體包括在本發明的權利要求之內。
權利要求
1.一種製鞋用的鞋楦，它具有一個與被測足部相配的外成形表面，該表面包括a)長度尺寸；b)寬度尺寸；和c)彎曲角度尺寸；其特徵在於所述外表面的長度尺寸、寬度尺寸和彎曲角度尺寸都是由被測量足部的測量值得出的；所述的長度尺寸對應於一個沿著足跟底部上的足跟點至第二趾的趾尖中點延伸的足部中心線測量的足部長度線，該足部長度線從足跟點延伸至與一條足部寬度線相交的交點；所述的寬度尺寸對應於一個沿著一條在第一蹠骨突出部分上足部最寬部位至第五蹠骨突出部分上足部的最寬部位之間的連線測量的足部寬度尺寸；所述彎曲角度尺寸對應於(1)一個在足部中心線和從足跟點到足部寬度線上第五蹠骨突出部分上的足部最寬部位的連線之間測量的足部外側彎曲角度，和(2)一個在足部中心線和從足跟點到足部寬度線上第一蹠骨突出部分上的足部最寬部分的連線之間測量的足部內側彎曲角度。
2.如權利要求1所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括一個弓形線尺寸，該弓形線尺寸是由被測足部的測量值得出的，並對應於相對足部中心線測量的足部弓形線。
3.如權利要求2所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括，一個足跟寬度尺寸，該足跟寬度尺寸是由被測足部的測量值得出的，並對應於足跟與平地面的側邊接觸點之間的距離。
4.如權利要求3所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括一個足部體積尺寸，該足部體積尺寸是由被測足部的測量值得出的，並且對應於從足部的足跟點向上延伸繞過足部的上腳背部再向下回到足跟點測量的周圈距離。
5.一種製造與具有一組已知尺寸的腳相配合的鞋用的鞋楦，所述的已知尺寸包括沿足部底面的足跟點至第二趾的趾尖中點延伸的足部中心線測量的足部長度，從足跟點至與一個足部寬度相交的交點延伸的足部長度，沿從第一蹠骨突出部分上的足部最寬部份至第五蹠骨突出部分上的足部最寬部分延伸的線測量的足部寬度，在足部中心線和從足跟點至足部寬度上第五蹠骨突出部分上的足部最寬部分的連線之間測量的外側彎曲角度，和在足部中心線和從足跟點至足部寬度上第一蹠骨突出部分上的最寬部位的連線之間測量的內側彎曲角度;其特徵在於所述鞋楦的外成形表面具有下列一組尺寸a)對應於足部的所述足部長度的長度尺寸;b)對應於足部的所述足部寬度的寬度尺寸;c)對應於足部的所述外側彎曲角度的外側彎曲角度尺寸;以及d)對應於足部的所述內側彎曲角度的內側彎曲角度尺寸。
6.如權利要求5所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括一個對應於足部弓形線的弓形線尺寸，該足部弓形線尺寸相對於足部中心線測量。
7.如權利要求6所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括一個對應於足跟與平地面的兩個側邊接觸點之間測量距離的足跟寬度尺寸。
8.如權利要求7所述的鞋楦，其特徵在於所述鞋楦的外成形表面還包括一個對應於從足部的足跟點向上繞過足部的足背再向下回到足跟點測量周圈距離的足部體積尺寸。
全文摘要
本發明提出一種製鞋用的鞋楦，該鞋楦具有一個與被測足部相配的外成型表面，該表面包括長度尺寸、寬度尺寸和彎曲角度尺寸。其特徵在於所述的長度尺寸、寬度尺寸和彎曲角度尺寸都是由被測足部的測量值得出的。由於本發明中的鞋楦是根據一組精確測量的數據製得的，可使制出的鞋更適合於被測量的足。
文檔編號A43D1/04GK1081343SQ9310772
公開日1994年2月2日 申請日期1993年6月19日 優先權日1989年10月3日
發明者傑伊·P·懷特, 瑪格麗特·J·科爾布 申請人:足部形像技術有限公司