一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統的製作方法
2023-07-16 01:33:06
專利名稱：一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及光模塊領域，特指一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統。
背景技術：
隨著高質量通信服務的需求急劇增多，光通信系統中的光模塊需求也急劇增大，因此，光模塊生產廠商需增加生產能力才能滿足市場的需求。 而光模塊生產過程中需要用到一些昂貴的儀器，如圖I所示，一種現有的光模塊測試系統的示意圖包括測試機臺01，光模塊測試儀器02，待測光模塊03設置於測試機臺01上，測試機臺01通過GPIB連接線分別與一系列光模塊測試儀器02相連，待測光模塊03通過光分路器04與光模塊測試儀器02連接。光模塊測試儀器02用來測試光模塊的各項性能參數，所述的光模塊測試儀器02通過計算機(未在圖上標出)控制。上述系統結構簡單，且易連接，但是在測試過程中，單個光模塊某個性能的測試時間只佔整個測試過程的很小一部分，導致其餘測試儀器處於長時間的閒置狀態。由此可見，上述現有的測試系統及方法在結構、方法和使用上，雖然使用方便，但是儀器使用率不高，存在儀器使用浪費嚴重，顯然仍存在不便與缺陷，而亟待加以進一步改進。因此，本發明人對此做進一步研究，研發出一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統，本案由此產生。
發明內容
本發明的目的在於提供一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統，提高了光模塊測試時系統的利用效率。為了實現上述目的，本發明的技術方案如下
一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法，包括如下步驟
①設置若干測試機臺，待測光模塊，光模塊測試儀器，伺服器，交換機，光開關；所述測試機臺與交換機連接，交換機與伺服器連接，伺服器與所有的光模塊測試儀器連接，光模塊測試儀器通過光開關與設置在測試機臺上的待測光模塊連接；
②系統初始化，啟動光模塊測試；
③根據光模塊參數向伺服器申請相關光模塊測試儀器的資源；
④如申請成功，則測試機臺發命令給伺服器，控制光開關，把光信號切換到該儀器，完成模塊該參數的測試，然後測試程序釋放該測試資源，申請其它未測試過的光模塊測試儀器使用；
⑤若此時該測試儀器被另一測試機臺佔用，該申請失敗，則程序將將申請其他儀器資源使用，測試其他參數；
⑥最後判斷待測光模塊的所有參數是否測試完畢，若所有參數測試未完成，則繼續返回進行申請儀器資源測試，若測試已完成，則更換模塊，測試一下模塊。—種光模塊自動測試系統，包括若干測試機臺、待測光模塊、光模塊測試儀器，伺服器，交換機，光開關；所述測試機臺與交換機連接，交換機與伺服器連接，伺服器與所有的光模塊測試儀器連接，光模塊測試儀器通過光開關與設置在測試機臺上的待測光模塊連接。進一步，所述的測試機臺為兩臺。進一步，所述測試機臺通過網線與交換機連接，所述交換機通過網線與伺服器連 接。進一步，所述伺服器通過GPIB線與光模塊測試儀器連接。進一步，所述光模塊測試儀器通過光纖跳線與光開關連接，光開關通過光纖跳線與待測光模塊連接。採用上述方案後，本發明與現有技術相比，具有以下優點
本發明克服現有的測試系統存在的缺陷，而提供一種全新的測試儀器共享使用控制方法，解決了儀器使用率不高的問題，由伺服器協調測試資源，以達到節約測試時間及增加儀器使用率，所能夠達到的功效是能夠避免昂貴儀器閒置的無形成本的浪費，從而更加適於實用。本發明中光路完全獨立切換，在測試過程中不會因為設備共享而造成等待的現象，由伺服器協調測試資源，能同時對多個光模塊進行檢測，提高了儀器的利用效率。
圖I是現有光模塊測試系統的示意 圖2是本發明的結構示意圖。標號說明
測試機臺01，光模塊測試儀器02，待測光模塊03，光分路器04，
測試機臺I，待測光模塊11，光模塊測試儀器2,伺服器3,交換機4,光開關5。
具體實施例方式下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步的說明。如圖2所示，本發明揭示的一種光模塊自動測試系統，包括兩臺測試機臺1，待測光模塊11，光模塊測試儀器2，伺服器3，交換機4，光開關5 ;測試機臺I通過網線與交換機4連接，交換機4通過網線與伺服器3連接，伺服器3通過GPIB線與所有的光模塊測試儀器2連接，光模塊測試儀器2通過光纖跳線與光開關5連接，光開關5通過光纖跳線與待測光模塊11連接。本發明的工作過程為首先，系統初始化，測試機臺I通過網絡訪問伺服器3，檢查測試所需要的儀器設備及光開關5是否 連接正常，若失敗，程序告知失敗原因並退出，相關人員檢測儀器及接線，排查問題。系統啟動後，對儀器和程序變量等進行初始化工作。初始化工作完成後，開始測試光模塊，將待測光模塊11在測試機臺I上正確連接。接著系統就對待測模塊進行自動化測試，測試程序需要測試模塊某參數時，會向伺服器3申請相對應的光模塊測試儀器2資源的使用，當該儀器資源空閒時，該申請成功，此時測試機臺I發命令給伺服器3，控制光開關5，把光信號切換到該儀器，完成模塊該參數的測試，然後測試程序釋放該測試資源，申請其它未測試過的光模塊測試儀器2使用。若此時該測試儀器被另一測試機臺I佔用，該申請失敗，則程序將將申請其他儀器資源使用，測試其他參數。程序最後判斷待測光模塊11的所有參數是否測試完畢，若所有參數測試未完成，則繼續返回進行申請儀器資源測試，若測試已完成，則更換模塊，測試一下模塊。本發明的工作原理如下
測試系統採用先申請先使用的原則，當測試機臺I需要使用某光模塊測試儀器2時，測試機臺I向伺服器3申請該儀器的資源，當該儀器為空閒時，伺服器3把該儀器的資源分配給測試機臺1，同時標識該儀器被佔用，直至測試機臺I釋放該儀器的使用。如果一個儀器被其中一臺測試機臺I佔用，另一測試機臺I可以申請其他儀器的使用。保證在測試過程中不會因為設備共享而造成等待的現象。前述的光模塊測試儀器2的控制以及光開關5的控制，都通過伺服器3控制，由伺服器3協調測試資源，不會造成共享衝突。上述僅為本發明的具體實施例，但本發明的設計構思並不局限於兩臺測試機臺1，凡利用此構思對本發明進行非實質性的改動，均應屬於侵犯本發明保護範圍的行為。
權利要求
1.一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法，包括如下步驟 ①設置若干測試機臺，待測光模塊，光模塊測試儀器，伺服器，交換機，光開關；所述測試機臺與交換機連接，交換機與伺服器連接，伺服器與所有的光模塊測試儀器連接，光模塊測試儀器通過光開關與設置在測試機臺上的待測光模塊連接； ②系統初始化，啟動光模塊測試； ③根據光模塊參數向伺服器申請相關光模塊測試儀器的資源； ④如申請成功，則測試機臺發命令給伺服器，控制光開關，把光信號切換到該儀器，完成模塊該參數的測試，然後測試程序釋放該測試資源，申請其它未測試過的光模塊測試儀器使用； ⑤若此時該測試儀器被另一測試機臺佔用，該申請失敗，則程序將將申請其他儀器資源使用，測試其他參數； ⑥最後判斷待測光模塊的所有參數是否測試完畢，若所有參數測試未完成，則繼續返回進行申請儀器資源測試，若測試已完成，則更換模塊，測試一下模塊。
2.根據權利要求I所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述的測試機臺為兩臺。
3.根據權利要求I所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述測試機臺通過網線與交換機連接，所述交換機通過網線與伺服器連接。
4.根據權利要求3所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述伺服器通過GPIB線與光模塊測試儀器連接。
5.根據權利要求4所述的一種光模塊自動測試系統,其特徵在於所述光模塊測試儀器通過光纖跳線與光開關連接，光開關通過光纖跳線與待測光模塊連接。
6.一種光模塊自動測試系統，包括若干測試機臺、待測光模塊、光模塊測試儀器，伺服器，交換機，光開關；所述測試機臺與交換機連接，交換機與伺服器連接，伺服器與所有的光模塊測試儀器連接，光模塊測試儀器通過光開關與設置在測試機臺上的待測光模塊連接。
7.根據權利要求6所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述的測試機臺為兩臺。
8.根據權利要求6所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述測試機臺通過網線與交換機連接，所述交換機通過網線與伺服器連接。
9.根據權利要求8所述的一種光模塊自動測試系統，其特徵在於所述伺服器通過GPIB線與光模塊測試儀器連接。
10.根據權利要求9所述的一種光模塊自動測試系統,其特徵在於所述光模塊測試儀器通過光纖跳線與光開關連接，光開關通過光纖跳線與待測光模塊連接。
全文摘要
本發明公開一種光模塊自動測試中測試儀器共享使用方法及測試系統，包括若干測試機臺，待測光模塊，光模塊測試儀器，伺服器，交換機，光開關；所述測試機臺與交換機連接，交換機與伺服器連接，伺服器與所有的光模塊測試儀器連接，光模塊測試儀器通過光開關與設置在測試機臺上的待測光模塊連接。通過伺服器控制，當測試機臺需要使用某光模塊測試儀器，測試機臺向伺服器申請該儀器的資源，當儀器空閒時，伺服器把該儀器的資源分配給測試機臺，同時標識該儀器被佔用，直至測試機臺釋放該儀器的使用，如果一個儀器被其中一臺測試機臺佔用，另一測試機臺可以申請其他儀器的使用。本發明由伺服器協調測試資源，能對多個光模塊檢測，提高儀器的利用效率。
文檔編號H04B10/073GK102932058SQ20121044283
公開日2013年2月13日 申請日期2012年11月8日 優先權日2012年11月8日
發明者吳劍鋒, 凌波 申請人:紹興飛泰光電技術有限公司