用於使用臨時缺陷信息(tdfl)和臨時缺陷管理信息(tdds)來管理盤缺陷的方法和設備以...的製作方法
2023-08-04 05:27:06
專利名稱：用於使用臨時缺陷信息(tdfl)和臨時缺陷管理信息(tdds)來管理盤缺陷的方法和設備以 ...的製作方法
技術領域：
本發明涉及盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種用於使用臨時缺陷管理區(TDMA)管理其中的缺陷的方法和設備，以及一種具有用於管理其上的缺陷的TDMA的盤。
背景技術：
盤缺陷管理是將存儲在存在缺陷的盤的用戶數據區的數據重新寫入到該盤的數據區的新部分，由此補償否則由缺陷引起的數據損失。通常，使用線性替換方法或滑移替換方法來執行盤缺陷管理。在線性替換方法中，在其中存在缺陷的用戶數據區用無缺陷的備用數據區來替換。在滑移替換方法中，具有缺陷的用戶數據區被滑過並且下一個無缺陷的用戶數據區被使用。
然而，線性替換方法和滑移替換方法都只能應用於在其上數據可重複地被記錄並且可使用隨機訪問方法執行記錄的可重寫盤，如DVD-RAM/RW。換言之，難於將線性替換方法和滑移替換方法應用於在其上記錄只被允許一次的一次性寫入盤。
通常，通過在盤上記錄數據並確認數據是否已經正確地被記錄在盤上來檢測盤上缺陷的存在。然而，一旦數據被記錄在一次性寫入盤上，就不可能蓋寫新數據並管理其中的缺陷。
在開發了CD-R和DVD-R之後，引入了具有幾十個GB記錄容量的高密度一次性寫入盤。由於這種類型的盤便宜並且允許隨機訪問以實現快速記錄操作，所以它可以被用作備份盤。然而，由於盤缺陷管理對於一次性寫入盤是不可用的，所以當在備份操作期間檢測到缺陷區(即，存在缺陷的區)時，備份操作可中止。另外，由於當不頻繁地使用系統時(例如，在晚上當系統管理員不操作該系統時)，通常執行備份操作，所以很可能由於檢測到一次性寫入盤的缺陷區備份操作將被停止並保持中止。
發明內容
本發明提供了一種在其上管理缺陷的一次寫入性盤、以及可用於該一次寫入性盤的盤缺陷管理方法和設備。
本發明還提供了一種在其上管理缺陷的一次性寫入盤，以及一種即使當在記錄操作期間檢測到缺陷時，允許記錄操作無中斷執行的可以管理在盤上的盤缺陷的盤缺陷管理方法及設備。
將在接下來的描述中部分闡述本發明另外的方面和/或優點，還有一部分通過描述將是清楚的，或者可以經過本發明的實施而得知。
根據本發明的一方面，盤包括用戶數據區，用戶數據被記錄在其中；備用區，其包括在其中記錄用於記錄在存在於用戶數據區中的缺陷區中的用戶數據的部分的替換數據的替換區；和一個區，在其中記錄在用戶數據區中最後記錄的數據的地址和記錄在備用區中的替換數據的地址。
根據本發明的一方面，盤還包括臨時缺陷管理區，其包括對每個記錄操作記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息以被用於盤缺陷管理，其中，臨時缺陷管理區是包括在用戶數據區中最後記錄的數據的地址和在備用區中記錄的替換數據的地址的區。
根據本發明的另一發明，提供了一種管理在盤中的缺陷的方法，包括將用戶數據記錄在用戶數據區中；將被記錄在存在缺陷的用戶數據區的缺陷區中的用戶數據再次記錄在盤的備用區中，以產生用於記錄在缺陷區中的用戶數據的部分的替換數據；和將在用戶數據區中最後記錄的數據的地址和在備用區中記錄的替換數據的地址記錄在臨時缺陷管理區中，該臨時缺陷管理區被形成以執行盤缺陷管理。
根據本發明的另一方面，提供了一種記錄和/或再現設備，包括記錄/讀單元，其將數據記錄在盤上或從盤上讀取數據；和控制器，其控制記錄/讀單元以將用戶數據記錄在盤的用戶數據區中，控制記錄/讀單元以將記錄在用戶數據區的缺陷區中的用戶數據的部分作為替換數據再次記錄在備用區中，並且控制記錄/讀單元以將在用戶數據區中最後記錄的數據的地址和在備用區中最後記錄的替換數據的地址記錄在被形成以執行盤缺陷管理的臨時缺陷管理區中。
通過結合附圖對本發明的實施例進行詳細描述，本發明的以上和/或其它方面和優點將會變得更加清楚，其中圖1是根據本發明實施例的記錄設備的方框圖；圖2A和2B示出了根據本發明實施例的盤的結構；圖3A示出了根據本發明實施例的圖2A和2B中的盤的數據結構；圖3B示出了具有如圖3A所示的缺陷管理區(DMA)和臨時DMA(TDMA)的盤的數據結構；圖4A至4D示出了根據本發明實施例的TDMA的數據結構；圖5A示出了根據本發明實施例的臨時缺陷信息(TDFL)#i的數據結構；圖5B示出了根據本發明另一實施例的臨時缺陷信息(TDFL)#i的數據結構；圖6示出了根據本發明實施例的臨時缺陷管理信息(TDDS)#i的數據結構；圖7示出了解釋根據本發明實施例的在用戶數據區A和備用區B中的數據的記錄的示圖；圖8是示出根據本發明實施例的數據區的有效使用的示圖；圖9A和9B示出根據如圖7所示的數據的記錄記錄的TDFL#1和TDFL#2的數據結構；圖10示出關於缺陷#i的信息的數據結構；圖11是示出根據本發明實施例的盤缺陷管理方法的流程圖；和圖12是示出根據本發明另一實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。
具體實施例方式
現在將詳細地描述本發明的實施方式，其例子示出在附圖中，其中，相同的標號始終表示同一部件。以下，通過參考附圖來描述實施例以解釋本發明。
圖1是根據本發明實施例的記錄和/或再現設備的方框圖。參照圖1，記錄和/或再現設備包括記錄/讀單元1、控制器2和存儲器3。記錄/讀單元1將數據記錄在根據本發明實施例的信息存儲介質的盤100上，並從盤100讀回該數據以校驗記錄的數據的準確性。控制器2執行根據本發明的實施例的盤缺陷管理。
在示出的實施例中，控制器2使用寫入後校驗(verify-after-write)的方法，在該方法中，數據以數據的預定單元被記錄在盤100上，並且校驗記錄的數據的準確性以檢測盤100的區是否存在缺陷。換言之，控制器2以記錄操作為單位將用戶數據記錄在盤100上，並且校驗記錄的用戶數據以檢測存在缺陷的盤100的區。其後，控制器2創建指示具有缺陷的區的位置的信息並將該創建的信息存儲在存儲器3中。當存儲的信息的量達到預定水平或寫入後校驗操作被執行預定次數時，控制器2將存儲的信息作為臨時缺陷信息記錄在盤100上。
根據本發明的一方面，記錄操作是根據用戶的意圖確定的工作單位或將被執行的記錄工作。根據示出的實施例，記錄操作指示在其中盤100被載入記錄和/或再現設備，數據被記錄在盤100上，並且將盤100從記錄設備中取出的過程。然而，可以理解記錄操作也可被另外定義。
在記錄操作期間，至少一次記錄用戶數據並校驗。通常，儘管不必需，但數據被記錄並校驗幾次。使用寫入後校驗的方法獲得的缺陷信息作為臨時缺陷信息被臨時地存儲在存儲器3中。當在記錄數據後用戶按住記錄和/或再現設備的彈出按鈕(未示出)以將盤100移走時，控制器2預料記錄操作將被終止。控制器2從存儲器3讀取信息，將其提供至記錄/讀單元1，並控制記錄/讀單元1將其記錄在盤100上。
當數據的記錄完成(即，將不在盤100上記錄其它數據並且盤100需要被完成)時，控制器2控制記錄/讀單元1以將記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為缺陷管理信息重新寫入到盤100的缺陷管理區(DMA)。
在再現期間，記錄和/或再現設備利用在缺陷管理區和/或臨時缺陷管理區中的缺陷信息和缺陷管理信息以訪問記錄的用戶數據。儘管根據如圖1所示的記錄和/或再現設備描述，但可以理解該設備可以是單獨地記錄或再現設備，或記錄和再現設備。
圖2A和2B示出了根據本發明實施例的圖1中盤100的結構。圖2A詳細示出了具有記錄層L0的盤100的單記錄層盤代表。盤100包括導入區、數據區和導出區。導入區位於盤100的內側部分，導出區位於盤100的外側部分。數據區在導入區和導出區之間並且被劃分為用戶數據區和備用區。
用戶數據區是記錄用戶數據的區。備用區是具有缺陷的用戶數據區的替換區，用於補償由於缺陷引起的在記錄區中的損失。假定缺陷可能在盤100內發生，優選，但不是必需，備用區佔用大約為盤100的全部數據容量的5％，從而更大量的數據可被記錄在盤100上。
圖2B示出了具有兩個記錄層L0和L1的盤100的雙記錄層盤代表。從第一記錄層L0的內側部分到其外側部分順序地形成導入區、數據區和外側區。另外，從第二記錄層L1的外側部分到其內側部分順序地形成了外側區、數據區和導出區。與圖2A中的單記錄層盤不同，圖2B中的盤100的導出區在圖2B的盤100的第二記錄層L1的內側部分。即，圖2B中的盤100具有逆軌道路徑(OTP)，在其中數據被從第一記錄層L0的導入區開始向第一記錄層L0的外側區並從第二記錄層L1的外側區繼續至第二記錄層L1的導出區記錄。備用區被分配到根據示出的實施例的記錄層L0和L1中的每個，但在本發明的所有方面中，不需要如此分配備用區。
在示出的實施例中，備用區在用戶數據區和導出區之間以及在用戶數據區和外側區之間。如果必要，則用戶數據區的部分可用作另一備用區。即，可以理解在導入區和導出區之間可存在多於一個的備用區。
圖3A示出根據本發明實施例的圖2A和圖2B中的盤100的結構。參照圖3A，如果盤100是單記錄層盤，則至少一個DMA存在於盤100的導入區和導出區。另外，至少一個臨時缺陷管理區(TDMA)也存在於導入區和導出區。如果盤100是雙記錄層盤，則至少一個DMA存在於導入區、導出區和外側區，並且至少一個TDMA存在於導入區和導出區。對於圖2B所示的雙記錄層盤，DMA和TDMA優選地形成在分別位於盤100的內側部分的導入區和導出區。
通常，DMA包括關於管理在盤100中的盤缺陷的信息。這種信息包括用於盤缺陷管理的盤100的結構、缺陷信息的記錄位置、缺陷管理是否被執行、和備用區的位置及大小。對於一次性寫入盤，當以上信息改變時，在先前記錄的數據之後記錄了新數據。
此外，當盤100被載入如圖1所示的記錄/讀取設備時，該設備通常從盤100的導入區和導出區讀取數據以確定如何管理盤100以及如何在盤100上記錄數據和從盤100上讀取數據。然而，如果在導入區和/或導出區記錄的數據的量增加，則在盤100載入之後要花更長時間來準備數據的記錄或再現。
為了解決這個問題和其它原因，本發明的一方面使用在TDMA中記錄的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息。TDMA被分配到盤的導入區和/或導出區，與DMA分開。即，只有執行盤缺陷管理所需的最後記錄的缺陷信息和最後記錄的缺陷管理信息被記錄在DMA。這樣，對於記錄/再現操作記錄/讀單元所需的信息的量被減少。
在示出的實施例中，由於使用線性替換方法執行盤缺陷管理，所以臨時缺陷信息包括指示盤100中具有缺陷的區的位置的缺陷位置信息和指示在盤100上存儲替換數據的區的位置的替換位置信息。替換數據是替換在用戶數據區的缺陷區中記錄的用戶數據的部分的數據。儘管不是必需的，優選地臨時缺陷信息還包括指示具有缺陷的區是單個缺陷塊還是連續缺陷塊的信息。
臨時缺陷管理信息用於管理臨時缺陷信息並且包括指示臨時缺陷信息被記錄在盤100中的位置的信息。儘管不是必需的，優選地臨時缺陷管理信息還包括指示最後記錄在用戶數據區和最後形成在備用區中的替換區的用戶數據的位置的信息。以下將解釋臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的詳細數據結構。
在示出的實施例中，每當記錄操作結束時，記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。在TDMA中，關於在記錄操作#0期間記錄的數據中出現的缺陷的信息、和關於替換區的信息被記錄為臨時缺陷信息#0。關於在記錄操作#1期間記錄的數據中出現的缺陷的信息、和關於替換區的信息被記錄為臨時缺陷信息#1。另外，用於管理臨時缺陷信息#0、#1的信息作為臨時缺陷管理信息#0、#1被記錄在TDMA中。當其它用戶數據不可以被記錄在數據區中或用戶不希望在其上記錄其它數據(即，數據需要被完成)時，記錄在臨時缺陷信息區中的臨時缺陷信息和記錄在臨時缺陷管理信息區中的臨時缺陷管理信息被重新寫入DMA。
至少為了如下原因，臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被重新寫入DMA。當其它數據將不能記錄在盤100上(即，盤100需要被完成)時，僅僅已經被更新過幾次的最後記錄的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被重新記錄在DMA中。因此，記錄/讀單元1僅通過讀取最後記錄的缺陷管理信息就可以從盤100快速讀取缺陷管理信息，由此實現盤100的快速初始化。另外，在DMA中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的記錄增加了信息的可靠性。
在示出的實施例中，包含在先前記錄的臨時缺陷信息#0、#1、#2和#i-1中的缺陷信息還被包含在臨時缺陷信息#i中。因此，易於僅通過讀取包含在最後記錄的臨時缺陷信息#i中的缺陷信息並將讀取的缺陷信息重新寫入DMA中來完成盤100。
在具有幾十個GB的記錄容量的高密度盤的情況下，期望一個簇被分配到在其中記錄臨時缺陷管理信息#i的區，並且四到八個簇被分配到在其中記錄臨時缺陷信息#i的區。這是因為當記錄的最小物理單位是簇時，儘管臨時缺陷信息#i的量只有幾個KB，通常優選以簇為單元來記錄新信息以更新信息。在盤中允許的缺陷的總量優選地大約為盤記錄容量的百分之五。例如，考慮到關於缺陷的信息大約為8個字節長並且簇的大小為64KB長，需要大約四到八個簇來記錄臨時缺陷信息#i。
根據本發明的一方面，也可以對臨時缺陷信息#i和臨時缺陷管理信息#i執行寫入後校驗的方法。當檢測到缺陷時，記錄在盤中具有缺陷的區中的信息可被使用線性替換方法記錄在備用區中，或使用滑移替換方法記錄在與TDMA相鄰的區中。
圖3B示出了具有圖3A所示的TDMA和DMA的盤100的數據結構。如果盤100是如圖2A所示的單記錄層盤，則TDMA和DMA存在於盤100的導入區和導出區中的至少一個中。如果該盤是如圖2B所示的雙記錄層盤100，則TDMA和DMA存在於導入區、導出區和外側區中的至少一個中。儘管不是必需的，但是優選的TDMA和DMA分別存在於導入區和導出區中。
參照圖3B，形成了兩個DMA以增加缺陷管理信息和缺陷信息的健壯性。在圖3B中，盤100包括臨時缺陷管理區(TDMA)；測試區，在其中測量數據的記錄條件；驅動器和盤信息區，在其中記錄了關於在記錄和/或再現操作期間使用的驅動器的信息和指示盤是單記錄層盤或雙記錄層盤的盤信息；和作為指示各個區的邊界的緩衝器的緩衝器1、緩衝器2和緩衝器3區。
圖4A至圖4D示出了根據本發明實施例的TDMA的數據結構。參照圖4A，TDMA在邏輯上被劃分為臨時缺陷信息區和臨時缺陷管理信息區。在示出的臨時缺陷信息區的實施例中，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被從這個區的開始處開始向該區的結束處順序地記錄。該臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重複地記錄幾次以增加該信息的健壯性。具體地講，圖4A示出了P次臨時缺陷信息TDFL#0的記錄。
在臨時缺陷管理信息區中，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2從這個區的開始處開始被順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1和TDDS#2分別與臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1和TDFL#2對應。
參照如圖4B所示的實施例，與圖4A比較，DMA在邏輯上也被劃分為臨時缺陷信息區和臨時缺陷管理信息區，但是記錄信息的順序與如圖4A所示的順序不同。更具體地講，在臨時缺陷信息區中，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2從該區的結束處開始向該區的開始處被順序地記錄。同樣地，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重複地記錄幾次以增加信息的健壯性。
具體地講，圖4B示出了在其中臨時缺陷信息TDFL#0被記錄P次的實施例。在臨時缺陷管理信息區中，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2從該區的結束處開始被順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1和TDDS#2分別與缺陷信息TDFL#0、TDFL#1和TDFL#2對應。
參照圖4C，對應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為一對信息被記錄在TDMA中。更具體地講，臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1從TDMA的開始處開始被順序地記錄。臨時管理信息TDMA#0包含一對對應的臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0。臨時管理信息TDMA#1包含一對對應的臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1。臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重複地記錄幾次以增加該信息的健壯性。具體地講，圖4C示出了P次臨時缺陷信息TDFL#0的記錄。
參照圖4D，與圖4C中的TDMA相比，對應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為一對信息被記錄在TDMA中，但是記錄信息的順序不同。更具體地講，在TDMA中，臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1從TDMA的結束處開始被順序地記錄。臨時管理信息TDMA#0包含一對對應的臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0。臨時管理信息TDMA#1包含一對對應的臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1。同樣地，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被重複地記錄幾次以增加信息的健壯性。具體地講，圖4D示出P次臨時缺陷信息TDFL#0的記錄。
圖5A和5B示出了臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。具體地講，圖5A示出了記錄在如圖2A所示的單記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。臨時缺陷管理信息TDDS#i包含該臨時缺陷管理信息TDDS#i的標識符、和關於對應的臨時缺陷信息TDFL#i的位置的信息。
正如先前參照圖4A至4D的解釋，根據本發明的一方面，臨時缺陷信息TDFL#i被重複地記錄幾次。因此，關於臨時缺陷信息TDFL#i的位置的信息被記錄幾次並且包括對應於臨時缺陷信息TDFL#i的指針。每個指針指向臨時缺陷信息TDFL#i的對應副本的記錄位置。如圖5A所示的臨時缺陷管理信息TDDS#i包括記錄P次的臨時缺陷信息TDFL#i的P個指針。
另外，記錄在如2A所示的單記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i還描述了在記錄層L0的用戶數據區中最後記錄的最後記錄的用戶數據的地址、和在記錄層L0的備用區中最後記錄的最後記錄的替換數據的地址。因此，用戶僅通過參考最後記錄的用戶數據和替換數據就可以輕鬆地使用盤100。
圖5B示出了記錄在如圖2B所示的雙記錄層盤100的臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。臨時缺陷管理信息TDDS#i包含該臨時缺陷管理信息TDDS#i的標識符、和關於對應的臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息。正如先前參照圖4A至4D所提及的，根據本發明的一方面，臨時缺陷信息TDFL#i被重複地記錄幾次。因此，關於包含指向各個臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的指針的臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息也被記錄幾次。具體地講，如圖5B所示的臨時缺陷管理信息TDDS#i包含P個指針。每個指針指向臨時缺陷信息TDFL#i對應的副本。
另外，記錄在如圖2B所示的雙記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i還描述了在第一記錄層L0的用戶數據區中最後記錄的最後記錄的用戶數據的地址、在第一記錄層L0的備用區中最後記錄的最後記錄的替換數據的地址、在第二記錄層L1的用戶數據區中最後記錄的最後記錄的用戶數據的地址、和在第二記錄層L1的備用區中最後記錄的最後記錄的替換數據的地址。因此，用戶僅通過參考最後記錄的用戶數據和最後記錄的替換就可以輕鬆地使用盤100。
圖6示出了根據本發明一方面的臨時缺陷信息TDFL#i的數據結構。參照圖6，臨時缺陷信息TDFL#i包含該臨時缺陷信息TDFL#i的標識符、和關於缺陷#1、#2和#K的信息。關於缺陷#1、#2和#K的信息包括指示缺陷和替換的位置、和缺陷區是單個缺陷塊還是連續缺陷塊的狀態信息。
通常，可以以扇區或簇為單位來處理數據。扇區表示在計算機的文件系統中或在應用程式中可被管理的數據的最小單位。簇表示可一次被物理地記錄在盤100上的數據的最小單位。通常，一個或多個扇區組成簇。
存在兩種類型的扇區物理扇區和邏輯扇區。物理扇區是一個扇區的數據將被存儲在盤100上的區。用於檢測物理扇區的地址被稱作物理扇區號(PSN)。邏輯扇區是以其可以在文件系統或應用程式中管理數據的單位。用於檢測邏輯扇區的地址被稱作邏輯扇區號(LSN)。如圖1所示的盤記錄/讀取設備使用PSN檢測在盤上的數據的記錄位置。在計算機或與數據相關的應用程式中，以LSN為單位管理全部數據並且使用LSN檢測數據的位置。基於盤100是否包含缺陷和記錄數據的初始位置，LSN和PSN之間的關係通過記錄/讀取設備的控制器2被改變。
參照圖7，根據本發明的一方面，盤100包括在其中PSN被順序地分配到多個扇區(未顯示)的用戶數據區A和備用區B。通常，每個LSN對應至少一個PSN。然而，由於LSN被分配到包括記錄在備用區B的替換的非缺陷區，所以當盤100具有缺陷區時，即使物理扇區的大小與邏輯扇區的大小相同，也不能保持PSN和LSN之間的對應。
在用戶數據區A中，以連續記錄模式或隨機記錄模式記錄用戶數據。在連續記錄模式下，用戶數據被順序地並連續地記錄。在隨機記錄模式下，用戶數據被隨機地記錄。在數據區A中，區段1001至1007表示在其中執行了寫入後校驗方法的預定的數據單位。如圖1所示的記錄和/或再現設備將用戶數據記錄在區段1001中，返回至區段1001的開始處，並且檢查用戶數據是否被正確地記錄或在區段1001中是否存在缺陷。如果在區段1001的部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數據還被記錄在備用區B的一部分上以對記錄在缺陷#1區中的用戶數據的部分提供替換數據。這裡，在其中記錄在缺陷#1中的數據被重寫的備用區的部分被稱作替換#1。接下來，記錄設備將用戶數據記錄在區段1002中，返回區段1002的開始處，並檢測數據是否被正確地記錄或在區段1002中是否存在缺陷。如果在區段1002的部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。同樣地，對應於缺陷#2的替換#2形成在備用區B中。另外，在用戶數據區A的區段1003和備用區B中分別指定缺陷#3和替換#3。在區段1004中，不存在缺陷並且沒有指定缺陷區。
當在對於區段1004的數據記錄和校驗之後，記錄操作#0預期結束(即，當用戶按下記錄設備的彈出按鈕或分配到記錄操作中的用戶數據的記錄完成時)時，記錄和/或再現設備將關於在區段1001至1003中出現的缺陷#1、#2和#3的信息作為臨時缺陷信息TDFL#0記錄在TDMA中。另外，用於管理臨時缺陷信息TDFL#0的管理信息被作為臨時缺陷管理信息TDDS#0記錄在TDMA中。
當記錄操作#1開始時，如在區段1001至1004中的解釋，數據被記錄在區段1005至1007中，缺陷#4和#5及替換#4和#5分別形成在用戶數據區A和備用區B中。缺陷#1、#2、#3和#4在單個塊中出現，然而缺陷#5在連續缺陷塊中出現。替換#5是作為記錄在缺陷#5中的用戶數據的替換數據的連續替換塊。根據本發明的一方面，塊指的是物理或邏輯記錄單位，單位塊的範圍並沒有被限制。如果第二記錄操作期望結束，則記錄設備將關於缺陷#4和#5的信息作為臨時缺陷信息TDFL#1記錄，並且再次記錄包含在缺陷信息DFL#1中的信息。其後，用於管理臨時缺陷信息TDFL#1的管理信息被作為臨時缺陷管理信息#1記錄在TDMA中。
圖8是示出根據本發明一方面的用戶數據區的有效使用的示圖。圖8顯示了採用在用戶數據區A中最後記錄的用戶數據的地址和在備用區B中最後記錄的替換的地址可容易地檢測到用戶數據區的可用部分。具體地講，當分別地用戶數據從用戶數據區A的內側部分/外側部分向其外側部分/內側部分被記錄，並且作為出現在用戶數據區A中的缺陷的替換數據的數據從備用區B的外側部分/內側部分向其內側部分/外側部分被記錄時，可以更容易地檢測到可用部分。換言之，根據本發明的一方面，用戶數據和替換數據優選地以相反的記錄方向被記錄。
對於如圖2B所示的盤100，當用戶數據的物理地址從第一記錄層L0的內側部分向其外側部分增加，並從第二記錄層L1的外側部分向內側部分增加時，在記錄層L0和L1的對應的用戶數據區A中最後記錄的最後數據的物理地址具有最大號。另外，當替換的物理地址從在第一記錄層L0的備用區B中的外側部分向內側部分減少，並且從在第二記錄層L1的備用區B中的內側部分向外側部分增加時，最後記錄的替換數據具有最小號的物理地址。因此，如前所述，如果最後記錄的數據和最後記錄的替換數據的地址被包括在臨時缺陷管理信息TDDS#i中，則能夠無需完全地讀取臨時缺陷信息TDFL#i和估計缺陷和替換數據的位置來檢測將被新記錄的數據和替換數據的位置。另外，用戶數據區A和備用區B的可用部分被連續地布置，從而有效使用用戶數據區A。
圖9A和9B示出如關於圖7解釋的記錄的臨時缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數據結構。圖10示出關於如關於圖7的解釋記錄的缺陷#i的信息的數據結構。
參照圖9A和9B，臨時缺陷信息TDFL#0包含關於缺陷#1、#2和#3的信息。關於缺陷#1的信息指示在其中存在缺陷#1的區的位置和在其中記錄替換#1的區的位置。關於缺陷#1的信息還可包括指示缺陷#1是連續缺陷塊還是單個缺陷塊的信息。同樣地，關於缺陷#2的信息指示缺陷#2是連續缺陷塊還是單個缺陷塊，在其中存在缺陷#2的區的位置和在其中記錄替換#2的區的位置。關於缺陷#3的信息指示缺陷#3是連續缺陷塊還是單個缺陷塊，在其中存在缺陷#3的區的位置和在其中記錄替換#3的區的位置。
臨時缺陷信息TDFL#1除了包含在臨時缺陷信息TDFL#0中的信息之外還包含關於缺陷#4和#5的信息。更具體地講，臨時缺陷信息TDFL#1包括關於缺陷#1的信息、關於缺陷#2的信息、關於缺陷#3的信息、關於缺陷#4的信息和關於缺陷#5的信息。
參照圖10，關於缺陷#i的信息包括指示缺陷#i是連續缺陷塊還是單個缺陷塊的狀態信息、指向缺陷#i的指針和指向對應的替換#i的指針。當確定缺陷#i在連續缺陷塊中時，狀態信息還表示用於缺陷#i的指針是指向連續缺陷塊的開始處還是結束處，和用於替換#i的指針是指向替換缺陷#i的替換塊的開始處還是結束處。當狀態信息指示用於缺陷#i的指針作為連續缺陷塊的開始並且用於替換#i的指針作為替換塊的開始時，用於缺陷#i的指針表示連續缺陷塊的開始物理扇區號並且用於替換#i的指針表示替換#i的開始物理扇區號。
相反，當狀態信息指示用於缺陷#i的指針作為連續缺陷塊的結束並且用於替換#i的指針作為替換塊的結束時，用於缺陷#i的指針表示連續缺陷塊的結束物理扇區號並且用於替換#i的指針表示替換#i的結束物理扇區號。即使關於缺陷的信息不以塊為單位來記錄，使用狀態信息的連續缺陷塊的限定也能有效地記錄信息和節省記錄的空間。
用於缺陷#i的指針指定缺陷#i的開始點和/或結束點。根據本發明的一方面，用於缺陷#i的指針可包括缺陷#i的開始PSN。用於替換#i的指針指定替換#i的開始和/或結束點。根據本發明的一方面，用於替換#i的指針還可包括替換#i的開始PSN。
以下，將參照附11和圖12來描述根據本發明實施例的盤缺陷管理方法。
圖11是示出根據本發明實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。在步驟1101中，記錄設備將關於根據第一記錄操作記錄的數據的缺陷信息作為第一臨時缺陷信息記錄在盤的TDMA中。這個過程的作用是管理盤缺陷。在步驟1102中，記錄設備將用於管理第一臨時缺陷信息的管理信息作為第一臨時缺陷管理信息記錄在TDMA中。
在步驟1103中，檢查盤是否需要完成。在步驟1104，如果在步驟1103中確定不需要完成盤，則重複步驟1101和1102，同時對每個記錄操作、臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的索引增加1。然而，應該理解其它數字可用於該索引到該數字用於區分記錄的數據集的程度。
如果在步驟1103確定需要完成盤，則最後記錄的臨時缺陷管理信息和最後記錄的臨時缺陷信息被記錄在DMA中(步驟1105)。即，最後記錄的臨時缺陷管理信息和最後記錄的臨時缺陷信息作為最終缺陷管理信息和缺陷信息被分別記錄在DMA中。最終缺陷信息和缺陷管理信息可被重複地記錄以增加數據檢測的可靠性。
另外，根據本發明的一方面，可對最終臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息執行寫入後校驗的方法。如果從這個信息中檢測到缺陷，則盤中具有缺陷的區和包含數據的下一個區可被認為不可用(即，它們被指定為缺陷區)，並且最終臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息可被再次記錄在該缺陷區之後。
圖12是示出根據本發明另一實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。在步驟1201中，記錄設備以數據的單位將用戶數據記錄在盤的數據區中以便於寫入後校驗的方法。在步驟1202，在步驟1201記錄的數據被校驗以檢測盤中具有缺陷的區。在步驟1203，圖1中的控制器2指定具有缺陷的區為缺陷區，控制記錄/讀單元1將記錄在缺陷區中的數據重新寫入到備用區以創建替換區，並且創建指定缺陷區是單個缺陷塊還是連續缺陷塊的狀態信息、和指向缺陷區和替換區的位置的指針信息。在步驟1204，狀態信息和指針信息作為第一臨時缺陷信息被存儲。
在步驟1205，檢查第一記錄操作是否期望被結束。如果在步驟1205確定第一記錄操作不期望被結束，則重複步驟1201至1204。在步驟1206，如果在步驟1205確定第一記錄操作希望被結束(即，當通過用戶輸入或根據第一記錄操作用戶數據的記錄被完成時)，存儲的臨時缺陷信息被讀取並且作為第一臨時缺陷信息TDFL#0被重複幾次記錄在TDMA中。在操作1207，用於管理第一臨時缺陷信息TDFL#0的管理信息作為第一臨時缺陷管理信息TDDS#0被記錄在TDMA中。
在步驟1208，檢查數據是否需要被完成。如果在步驟1208確定不需要完成該盤，則重複步驟1201和1207。在步驟1209，每當步驟1201至1207被重複時，對對應的記錄操作、臨時缺陷信息TDFL、和臨時缺陷管理信息TDDS的索引增加1。然而，應該理解其它數字可用於該索引到該數字用於區分記錄的數據集的程度。
在步驟1210，如果在步驟1208確定需要完成該盤，則最後記錄的臨時缺陷信息TDFL#i和最後記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i作為最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS被記錄在DMA中。最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS的記錄可被重複幾次以增加數據檢測的可靠性。同樣地，可對最終缺陷信息和缺陷管理信息執行寫入後校驗的方法。如果在這個信息中檢測到缺陷，則盤中具有缺陷的區和包含數據的下一個區可被認為不可用(即，它們被指定為缺陷區)，並且最終臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息可被再次記錄在該缺陷區之後。
以上提及的缺陷管理可被實現為可由計算機運行的電腦程式，該計算機可是通用或特殊的計算機。因此，可以理解控制器2可以是這種計算機。組成電腦程式的代碼和代碼段可以被本領域的電腦程式員輕鬆地推導出。該程序存儲在由計算機可讀的計算機可讀介質中。當該程序被讀取並由計算機運行時，執行該缺陷管理。這裡，計算機讀介質可以是磁記錄介質、光記錄介質、載波、固件或其它可記錄介質。
另外，可以理解為了實現幾百億字節的記錄容量，記錄和/或再現單元1可包括用於在盤100上記錄幾百億字節數據的短波長、高數值孔徑型單元。這種單元的例子包括但並不限於此的使用405nm光波長並且具有0.85數值孔徑的那些單元，與藍光碟兼容的那些單元、和/或與先進的光碟(AOD)兼容的那些單元。
產業上的可利用性如上所述，本發明提供了一種可應用於一次性寫入盤的盤缺陷管理方法。根據本發明，在盤的導入區和/或導出區中存在至少一個臨時缺陷信息區，從而關於在盤中存在的缺陷的信息可被累積地記錄。另外，易於通過從臨時缺陷信息區只讀取最後記錄的臨時缺陷信息並將讀取的信息記錄在缺陷管理區中來完成盤，由此能夠有效使用DMA。因此，用戶數據可被記錄在一次性寫入盤同時執行盤缺陷管理，由此無中斷地更穩定地執行備份操作。
儘管根據一次性寫入盤的使用來描述，但是應該理解本發明可以被用於其它可寫盤，包括可反覆擦寫記錄介質。
儘管參照本發明的優選實施例已經具體地示出和描述了本發明，但是本領域的技術人員應該可以理解在不脫離由所附權利要求及其等同物所限定的本發明的精神和範圍的情況下，可以對其作出形式和細節的改變。
權利要求
1.一種用於記錄和/或再現設備的盤，該盤包括用戶數據區，用戶數據被記錄在其中；備用區，在用戶數據區之外並且包括用於存在於用戶數據區中的缺陷區的替換區；和地址區，包括作為在用戶數據區中最後記錄的最後數據的地址和在備用區中記錄的替換數據的地址，並且其通過記錄和/或再現設備被訪問。
2.根據權利要求1所述的盤，還包括臨時缺陷管理區，其包括用於通過記錄和/或再現設備使用以執行盤缺陷管理的多個記錄操作中的每個記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，其中，臨時缺陷管理信息區包括地址區。
3.根據權利要求1所述的盤，還包括記錄層，其中，數據的地址和替換區的地址被彼此對應的記錄在記錄層中。
4.根據權利要求2所述的盤，其中，臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息中的至少一個被重複地記錄在盤上。
5.根據權利要求2所述的盤，除了用戶數據區和備用區之外還包括導入區和導出區中的至少一個，其中，在導入區和導出區中的至少一個中形成了臨時缺陷管理區。
6.根據權利要求2所述的盤，其中，臨時缺陷管理區還包括臨時缺陷信息的記錄位置的指針。
7.根據權利要求2所述的盤，其中，臨時缺陷管理信息對應於臨時缺陷信息被記錄在臨時缺陷管理區中，在其中用戶數據被記錄在用戶數據區中的多個記錄操作中的每個記錄臨時缺陷信息。
8.根據權利要求2所述的盤，其中，臨時缺陷信息包括缺陷位置指針，其指向在用戶數據區中的缺陷區的位置；和替換位置指針，其指向替換在缺陷區中記錄的用戶數據的部分的替換數據的位置。
9.根據權利要求8所述的盤，其中，臨時缺陷信息還包括指定缺陷區的狀態的狀態信息。
10.根據權利要求9所述的盤，其中，狀態信息指定該缺陷是延伸超過一個塊的連續缺陷塊還是單個缺陷塊。
11.根據權利要求9所述的盤，其中，狀態信息指定缺陷區在超過一個塊的連續缺陷塊中，並且對應的缺陷位置指針和替換位置指針分別指示缺陷區的開始位置和替換數據的開始位置。
12.根據權利要求9所述的盤，其中，狀態信息指定缺陷區在超過一個塊的連續缺陷塊中，並且對應的缺陷位置指針和替換位置指針分別指示缺陷區的結束位置和替換數據的結束位置。
13.根據權利要求1所述的盤，還包括缺陷管理區，其形成在導入區和導出區的至少一個中，其中，缺陷管理區還包括在盤的完成期間，分別作為缺陷信息和缺陷管理信息記錄的最後記錄的臨時缺陷信息和最後記錄的臨時缺陷管理信息，並且最後記錄的臨時缺陷信息和最後記錄的臨時缺陷管理信息包括在臨時缺陷管理區中最後記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
14.根據權利要求13所述的盤，還包括多個缺陷管理區。
15.一種管理在盤中的缺陷的方法，該盤包括用戶數據區和除了用戶數據區之外的備用區，該方法包括將用戶數據記錄在用戶數據區中；將記錄在存在缺陷的用戶數據區的缺陷區中的用戶數據再次記錄在備用區中以產生在缺陷區記錄的用戶數據的替換數據；和將在用戶數據區中最後記錄的最後用戶數據的地址和在備用區中記錄的最後替換數據的地址記錄在在盤上的臨時缺陷管理區中以執行盤缺陷管理。
16.根據權利要求15所述的方法，其中，記錄地址還包括將最後記錄的數據的地址和最後記錄的替換數據的地址彼此對應的記錄在盤的記錄層中。
17.根據權利要求15所述的方法，其中，記錄地址還包括將最後記錄的數據的地址和最後記錄的替換數據的地址作為臨時缺陷信息記錄在臨時缺陷管理區中。
18.根據權利要求17所述的方法，其中，記錄地址還包括重複地記錄臨時缺陷信息。
19.根據權利要求17所述的方法，其中，記錄地址還包括將指向缺陷區的缺陷位置指針和指向替換數據的位置的替換位置指針記錄在臨時缺陷信息中。
20.根據權利要求17所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區的狀態的狀態信息記錄在臨時缺陷信息中。
21.根據權利要求20所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區是延伸超過一個塊的連續缺陷塊還是單個缺陷塊的塊信息記錄在狀態信息中。
22.根據權利要求21所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區是連續缺陷塊的塊信息、和分別指示缺陷區的開始位置和替換數據的開始位置的對應的缺陷位置指針和替換位置指針記錄。
23.根據權利要求21所述的方法，其中，記錄地址還包括將指定缺陷區是連續缺陷塊的塊信息、和分別指示缺陷區的結束位置和替換數據的結束位置的對應的缺陷位置指針和替換位置指針記錄。
24.一種使用具有用戶數據區、和除了用戶數據區之外的臨時缺陷管理區和備用區的盤的記錄和/或再現設備，該設備包括記錄/讀單元，其將數據記錄在盤上或從盤上讀取數據；和控制器，其控制記錄/讀單元將用戶數據記錄在盤的用戶數據區中，將記錄在用戶數據區的缺陷區中的用戶數據再次記錄在備用區中以產生記錄在缺陷區中的用戶數據的替換數據，和將在用戶數據區中最後記錄的最後數據的地址、和在備用區中最後記錄的最後替換數據的地址記錄在臨時缺陷管理區中，該臨時缺陷管理區由該設備使用以針對該盤執行盤缺陷管理。
25.根據權利要求24所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將在盤的記錄層中的最後記錄的數據的地址和最後記錄的替換數據的地址記錄，從而該地址彼此對應。
26.根據權利要求24所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將在盤的記錄層中的最後記錄的數據的地址和最後記錄的替換數據的地址作為臨時缺陷信息記錄在臨時缺陷管理區中。
27.根據權利要求26所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將臨時缺陷信息重複地記錄在盤上。
28.根據權利要求26所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將指向缺陷區的缺陷位置指針和指向替換數據的位置的替換位置指針記錄在臨時缺陷信息中。
29.根據權利要求26所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將指定缺陷區的狀態的狀態信息記錄在臨時缺陷信息中。
30.根據權利要求29所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將指定缺陷區是延伸超過一個塊的連續缺陷塊還是單個缺陷塊的塊信息記錄在狀態信息中。
31.根據權利要求29所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將指定缺陷區是延伸超過一個塊的連續缺陷塊的塊信息、和分別指示缺陷區的開始位置和替換數據的開始位置的對應的缺陷位置指針和替換位置指針記錄在狀態信息中。
32.根據權利要求29所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制記錄/讀單元以將指定缺陷區是延伸超過一個塊的連續缺陷塊的塊信息、和分別指示缺陷區的結束位置和替換數據的結束位置的對應的缺陷位置指針和替換位置指針記錄在狀態信息中。
33.根據權利要求1所述的盤，其中，盤是具有在數據被記錄在盤的區上之後防止新數據被寫入該盤的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
34.根據權利要求15所述的方法，其中，盤是具有在數據被記錄在盤的區上之後防止新數據被寫入該盤的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
35.根據權利要求24所述的記錄和/或再現設備，其中，盤是具有在數據被記錄在盤的區上之後防止新數據被寫入該盤的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
36.一種用於記錄和/或再現設備的存儲介質，該存儲介質包括用戶數據區，用戶數據被記錄在其中，該用戶數據區包括第一缺陷區；和管理區，在用戶數據區之外並且包括第一臨時缺陷信息區，該第一臨時缺陷信息區對應於第一缺陷區並且包括關於第一缺陷區的第一臨時缺陷信息和包括第一臨時缺陷信息的第一臨時缺陷信息副本，其中，管理區通過記錄和/或再現設備訪問以執行缺陷管理。
37.根據權利要求36所述的存儲介質，其中用戶數據區還包括第二缺陷區，管理區還包括第二臨時缺陷信息區，該第二臨時缺陷信息區對應於第二缺陷區並且包括關於第二缺陷區的第二臨時缺陷信息和包括第二臨時缺陷信息的第二臨時缺陷信息副本。
38.根據權利要求37所述的存儲介質，其中第二臨時缺陷信息包括第一臨時缺陷信息和關於第二缺陷區的信息，並且第一臨時缺陷信息不包括關於第二缺陷區的信息。
39.根據權利要求38所述的存儲介質，還包括除了用戶數據區之外的缺陷管理區，該缺陷管理區包括第二臨時缺陷信息。
40.根據權利要求36所述的存儲介質，其中，管理區還包括第一臨時缺陷管理信息區，該第一臨時缺陷管理信息區對應於第一臨時缺陷信息區並且包括關於第一臨時缺陷信息的第一臨時缺陷管理信息和包括第一臨時缺陷管理信息的第一臨時缺陷管理信息副本。
41.根據權利要求40所述的存儲介質，其中第一臨時缺陷管理信息包括第一臨時缺陷信息的位置的指針，並且第一臨時缺陷信息包括第一臨時缺陷的位置的指針。
42.根據權利要求41所述的存儲介質，還包括除了用戶數據區之外的備用區，該備用區包括替換記錄在第一缺陷區中的用戶數據的部分的第一替換數據，其中，第一臨時缺陷信息還包括第一替換數據的位置的指針。
43.根據權利要求42所述的存儲介質，其中，第一臨時缺陷管理信息還包括第一替換數據的地址、和先於第一臨時缺陷管理信息的記錄將被記錄的用戶數據的最後部分的地址。
44.根據權利要求36所述的存儲介質，其中，該存儲介質是具有在數據被記錄在存儲介質的區上之後防止新數據被寫入該存儲介質的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
45.一種用於記錄和/或再現設備的存儲介質，該存儲介質包括用戶數據區，以塊將用戶數據記錄在其中，該用戶數據區包括第一缺陷區；和管理區，在用戶數據區之外並且包括第一臨時缺陷信息區，該第一臨時缺陷信息區對應於第一缺陷區並且包括關於第一缺陷區的第一臨時缺陷信息，該第一臨時缺陷信息可由記錄和/或再現設備使用以執行缺陷管理，其中，第一臨時缺陷信息包括第一狀態信息，其區分並指示第一缺陷區是包括第一數量的塊的第一塊類型還是包括少於第一數量的塊的第二塊類型。
46.根據權利要求45所述的存儲介質，其中，管理區還包括第一臨時缺陷管理信息，該第一臨時缺陷管理信息包括第一臨時缺陷信息的位置的指針，並且第一臨時缺陷信息還包括第一臨時缺陷的位置的指針。
47.根據權利要求46所述的存儲介質，還包括除了用戶數據區之外的備用區，該備用區包括替換記錄在第一缺陷區中的用戶數據的部分的第一替換數據，其中，第一臨時缺陷信息還包括第一替換數據的位置的指針。
48.根據權利要求47所述的存儲介質，其中，第一臨時缺陷管理信息還包括第一替換數據的地址、和先於第一臨時缺陷管理信息的記錄將被記錄的用戶數據的最後部分的地址。
49.根據權利要求48所述的存儲介質，其中用戶數據區還包括除了第一缺陷區之外的第二缺陷區，備用區還包括替換記錄在第二缺陷區中的用戶數據的部分的第二替換數據，管理區還包括第二臨時缺陷信息區，該第二臨時缺陷信息區對應於第二缺陷區並且包括關於第二缺陷區的第二臨時缺陷信息和關於第二臨時缺陷信息的第二臨時缺陷管理信息，並且第二臨時缺陷信息包括第一臨時缺陷信息、第二狀態信息、第二缺陷區的指針和第二替換數據的指針，該第二狀態信息區分並指示第二缺陷區是第一類型塊還是第二類型塊。
50.根據權利要求49所述的存儲介質，其中，第一狀態信息是第一類型塊和第二類型塊之一，並且第二狀態信息是第一類型塊和第二類型塊中的另一個。
51.根據權利要求45所述的存儲介質，其中，該存儲介質是具有在數據被記錄在存儲介質的區上之後防止新數據被寫入該存儲介質的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
52.一種採用用於實現由計算機執行的管理存儲介質中的缺陷的方法的處理指令編碼的計算機可讀介質，該方法包括針對存儲介質的用戶數據區傳送用戶數據，該用戶數據區包括第一缺陷區，針對該第一缺陷區來傳送用戶數據的第一部分；針對存儲介質中除了用戶數據區之外的備用區傳送包括用戶數據的第一部分的第一替換數據；和針對存儲介質的管理區傳送第一管理信息以管理用戶數據和第一替換數據，第一管理信息包括第一替換數據的地址和先於第一管理信息的創建將被記錄在存儲介質上的用戶數據的最後部分的地址。
53.根據權利要求52所述的計算機可讀介質，其中，第一管理信息還包括第一缺陷信息，包括第一缺陷區的指針和第一替換數據的指針，和第一缺陷管理信息，包括第一缺陷信息的指針、用戶數據的最後部分的地址和第一替換數據的地址。
54.根據權利要求52所述的計算機可讀介質，其中如果存儲介質不將被完成，則傳送第一管理信息包括針對臨時缺陷管理區傳送第一管理信息，如果存儲介質將被完成，則傳送第一管理信息包括針對缺陷管理區傳送第一管理信息，並且缺陷管理區是在臨時缺陷管理區之外。
55.根據權利要求52所述的計算機可讀介質，其中以塊記錄用戶數據，第一缺陷信息還包括在第一類型塊和第二類型塊之間指示和區分的狀態信息，並且傳送第一管理信息還包括，如果狀態信息指示第一塊類型，則確定第一缺陷區包括第一數量的連續塊，並且如果狀態信息指示第二塊類型，則確定第一缺陷區由少於第一數量的塊的第二數量的塊組成。
56.根據權利要求52所述的計算機可讀介質，其中，傳送第一管理信息包括將第一管理信息和包括第一管理信息的第一管理信息副本記錄在第一臨時管理區中。
57.根據權利要求52所述的計算機可讀介質，其中，該存儲介質是具有在數據被記錄在存儲介質的區上之後防止新數據被寫入該存儲介質的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
58.一種使用具有用戶數據區、和除了用戶數據區之外的臨時缺陷管理區和備用區的存儲介質的記錄和/或再現設備，該設備包括拾取單元，針對用戶數據區傳送用戶數據，該用戶數據區包括第一缺陷區；和控制器，其使用第一地址和第二地址確定用戶數據區和備用區的可用部分並控制拾取單元以針對用戶數據區傳送用戶數據，針對備用區傳送第一替換數據，該第一替換數據包括被記錄在第一缺陷區中的用戶數據的部分，並且針對管理區傳送第一管理信息，第一管理信息由控制器使用以管理用戶數據和第一替換數據並且包括包括第一替換數據的地址的第一地址和包括先於第一缺陷信息的創建將被記錄在用戶數據區的用戶數據的最後部分的地址的第二地址。
59.根據權利要求58所述的記錄和/或再現設備，其中，第一管理信息還包括第一缺陷信息，包括第一缺陷區的指針和第一替換數據的指針；和第一缺陷管理信息，包括第一缺陷信息的指針、用戶數據的最後部分的地址和第一替換數據的地址。
60.根據權利要求58所述的記錄和/或再現設備，其中如果存儲介質不將被完成，則控制器控制拾取單元以針對管理區的臨時缺陷管理區傳送第一管理信息，如果存儲介質將被完成，則控制器控制拾取單元以針對管理區的缺陷管理區傳送第一管理信息，並且缺陷管理區是在臨時缺陷管理區之外。
61.根據權利要求58所述的記錄和/或再現設備，其中以塊記錄用戶數據，第一缺陷信息還包括在第一塊類型和第二塊類型之間指示和區分的狀態信息，並且控制器還，如果狀態信息指示第一塊類型，則確定第一缺陷區包括第一數量的連續塊，並且如果狀態信息指示第二塊類型，則確定第一缺陷區包括少於第一數量的塊的第二數量的塊。
62.根據權利要求58所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器還控制拾取單元以將第一管理信息和包括第一管理信息的第一管理信息副本記錄在第一臨時管理區中。
63.根據權利要求58所述的記錄和/或再現設備，其中，該存儲介質是具有在數據被記錄在存儲介質的區上之後防止新數據被寫入該存儲介質的該區的屬性的一次性寫入存儲介質。
全文摘要
提供了一種具有由用於管理在盤上的缺陷的設備使用的可更新的缺陷管理區的盤，該盤包括用戶數據區，其包括用戶數據；備用區，其是用於在用戶數據區中存在的缺陷的替換數據；和一個區，在其中記錄了在用戶數據區中最後記錄的數據的地址和在備用區中記錄的替換數據的地址。因此，該盤缺陷管理方法和設備可應用於如一次性寫入盤的可記錄盤，同時有效地使用該盤的缺陷管理區。
文檔編號G11B20/18GK1689082SQ03824368
公開日2005年10月26日 申請日期2003年9月22日 優先權日2002年10月18日
發明者黃盛凞, 高禎完, 李坰根 申請人:三星電子株式會社