零件高度尺寸測量方法及測量工裝的製作方法
2023-07-09 16:36:11
零件高度尺寸測量方法及測量工裝的製作方法
【專利摘要】本發明提供一種零件高度尺寸測量方法及測量工裝，將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上，記錄測量千分表的刻度值A，標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊，標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸；將測量千分表平移至其測量觸頭頂壓在待測零件的上基準面上，讀出測量千分表的刻度值B；將步驟二得到的測量千分表的刻度值B減去步驟一得到的測量千分表的刻度值A後得到的結果再與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。上述測量方法不需要任何制式量具即可對零件的上、下基準面之間的高度尺寸進行快速、高精度的測量，使用方便。
【專利說明】零件高度尺寸測量方法及測量工裝
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種零件高度尺寸測量方法及測量工裝。
【背景技術】
[0002]零件高度尺寸為零件上、下基準面之間的高度尺寸，測量時，選用不同精度規格的內徑千分表、外徑千分尺或者是遊標卡尺等量具對上、下基準面的間距進行測量，進而得到待測零件高度尺寸，判斷其是否合格。
[0003]但上述不同規格類型的內徑千分表、外徑千分尺或者是遊標卡尺等量具的通用性較差，每種規格類型的量具一般多是對應一種類型的零件尺寸，這就存在通用性較差的問題，當零件尺寸種類較多時，所需量具規格種類也較多，操作較為麻煩，並且還會經常出現因缺少某種規格類型的量具而導致對兩基準面間距的測量工作無法進行，影響測量工作的正常進行。
【發明內容】
[0004]本發明提供一種零件高度尺寸測量方法，以解決現有技術中測量零件尺寸所需量具規格種類較多的技術問題；同時，本發明還提供一種應用於上述測量方法中的測量工裝。
[0005]本發明所提供的零件高度尺寸測量方法的技術方案是:零件高度尺寸測量方法，包括如下步驟:
(1)將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上，記錄測量千分表的刻度值A，標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊，標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸；
(2)將測量千分表平移至其測量觸頭頂壓在待測零件的上基準面上，讀出測量千分表的刻度值B ；
(3)將步驟二得到的測量千分表的刻度值B減去步驟一得到的測量千分表的刻度值A後得到的結果再與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，即可得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。
[0006]上述步驟一中，在將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上時，將測量千分表調零，所述測量千分表的刻度值A為O。
[0007]所述的測量方法還包括在步驟一中將測量千分表頂壓在標準檢塊的上基準面之前，選用調平千分表將標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面進行調平，調平時先將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上，記錄調平千分表的刻度值C，將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上，調整標準檢塊的高度使得調平千分表顯示刻度值C即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
[0008]所述的調平千分表和測量千分表為同一個槓桿千分表，該槓桿千分表安裝在可沿上下方向調整槓桿千分表位置的千分表升降臺上。
[0009]在將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上時，將調平千分表調零，調平千分表的刻度值C為O，在將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上時，調整標準檢塊的高度使得調平千分表歸零即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
[0010]本發明所提供的零件高度尺寸測量工裝的技術方案是:零件高度尺寸測量工裝，包括標準檢塊，標準檢塊的上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸，測量工裝還包括用於在標準檢塊的下基準面與待測零件高度尺寸的下基準面平齊時在上基準面檢測位對標準檢塊上基準面進行檢測定位、在上基準面測量位對待測零件上基準面進行測量的測量千分表，測量千分表設置在可驅動測量千分表從上基準面檢測位平移至上基準面測量位的千分表安裝架上，測量千分表具有用於在測量千分表位於上基準面檢測位時頂壓在標準檢塊上基準面上、在測量千分表位於上基準面測量位時頂壓在待測零件上基準面上的測量觸頭。
[0011 ] 所述的標準檢塊沿上下方向高度可調的設置在檢塊調整架上。
[0012]所述的測量千分表沿上下方向高度可調的安裝在所述千分表安裝架上，所述測量千分表為用於在下基準面檢測位對待測零件下基準面進行檢測定位、在下基準面調平位對標準檢塊下基準面進行測量調平的調平千分表，所述千分表安裝架可驅動調平千分表從所述下基準面檢測位平移至下基準面調平位。
[0013]所述的千分表安裝架和檢塊調整架均為數顯高度尺。
[0014]所述的測量千分表為槓桿千分表。
[0015]本發明的有益效果是:採用本發明所提供的測量工裝及測量方法對零件高度尺寸進行測量時，在標準檢塊的下基準面與待測零件高度尺寸的下基準面平齊時，通過測量千分表對標準檢塊的上基準面進行檢測定位，再將測量千分表平移對待測零件的上基準面進行測量，因為標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸等於待測零件上、下基準面的理論高度尺寸，通過計算測量千分表兩次兩側讀數做差再與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，即可快速得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。這種測量方法不需要任何制式量具即可對零件的上、下基準面之間的高度尺寸進行快速、高精度的測量，操作過程簡單、使用方便、測量成本低，通用性強。
[0016]進一步的，在測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上時，將測量千分表調零，這樣一來，在步驟三中，可直接將當測量千分表的測量觸頭在步驟二中頂壓在待測零件的上基準面上時得到的測量千分表的讀數與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和即可得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸，計算方便。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0017]圖1是本發明所提供的零件高度尺寸測量工裝一種實施例的結構示意圖(測量千分表處於下基準面檢測位);
圖2是圖1所示測量工裝在對標準檢塊的下基準面進行調平時的結構示意圖(測量千分表處於下基準面調平位，千分表調整架未顯示)；
圖3是圖1所示測量工裝在對標準檢塊的上基準面進行檢測定位時的結構示意圖(測量千分表處於上基準面檢測位，千分表調整架未顯示)；
圖4是圖1所示測量工裝在對待測零件的上基準面進行測量時的結構示意圖(測量千分表處於上基準面測量位，千分表調整架未顯示);
圖5是如圖1所示測量工裝對零件內徑的高度尺寸進行測量的示意圖；
圖6是一種實例零件的結構示意圖；
圖7是對如圖6所示零件進行高度尺寸測量的測量工裝的結構示意圖(調平千分表處於下基準面檢測位);
圖8是圖7所示測量工裝在對標準檢塊的下基準面進行調平時的結構示意圖(調平千分表處於下基準面調平位，千分表調整架未顯示)；
圖9是圖7所示測量工裝在對標準檢塊的上基準面進行檢測定位時的結構示意圖(測量千分表處於上基準面檢測位，千分表調整架未顯示)；
圖10是圖7所示測量工裝在對待測零件的上基準面進行測量時的結構示意圖(測量千分表處於上基準面測量位，千分表調整架未顯示)。
【具體實施方式】
[0018]本發明所提供的零件高度尺寸測量方法的實施例，該實施例中的測量方法包括如下步驟:
(1)將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上，將測量千分表調零，測量千分表的刻度值A為0，標準檢塊的下基準面與待測零件高度尺寸的下基準面平齊，標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸；
(2)將測量千分表平移至其測量觸頭頂壓在待測零件的上基準面上，讀出測量千分表的刻度值B ；
(3)將步驟二得到的測量千分表的刻度值B減去步驟一得到的測量千分表的刻度值A後得到的結果再與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，即可得到待測零件的上、下基準面之間的實際高度尺寸。
[0019]上述的測量方法還包括在步驟一中將測量千分表頂壓在標準檢塊的上基準面之前，選用調平千分表將標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面進行調平，調平時先將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上，記錄調平千分表的刻度值C，將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上，調整標準檢塊的高度使得調平千分表顯示刻度值C即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
[0020]在將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上時，將調平千分表調零，調平千分表的刻度值C為0，在將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上時，調整標準檢塊的高度使得調平千分表歸零即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
[0021]上述的調平千分表和測量千分表為同一個槓桿千分表，該槓桿千分表安裝在可沿上下方向調整槓桿千分表位置的千分表升降臺上。在其他實施例中，調平千分表和測量千分表也可以分別採用不同的槓桿千分表。
[0022]上述測量方法的實施例中，在將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上，將測量千分表調零，測量千分表的刻度值A為0，這樣可以根據在步驟二中讀取的刻度值B直接與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，迅速得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。在其他實施例中，也可以不進行調零操作，此時就需要將在步驟一中所得到的刻度值A和在步驟二中所得到的刻度值B做差，最終也可以得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。
[0023]上述測量方法的實施例中，測量千分表和調平千分表均採用槓桿千分表，在其他實施例中，也可以採用現有技術中常用的千分表。
[0024]如圖1至圖5所示，本發明所提供的零件高度尺寸測量工裝的實施例，該實施例中的測量工裝包括標準檢塊6，標準檢塊6的上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件I的上、下基準面之間的理論高度尺寸，本實施例中的標準檢塊6具體可由預製的高精度尺寸量塊疊合構成，將多個量塊疊合的放置在安裝架4中以形成標準檢塊6，測量工裝還包括用於在標準檢塊6下基準面與待測零件I下基準面平齊時在上基準面檢測位對標準檢塊6的上基準面進行檢測定位、在上基準面測量位對待測零件I的上基準面進行測量的測量千分表2，該測量千分表為槓桿千分表，測量千分表2具有用於在測量千分表2位於上基準面檢測位時頂壓在標準檢塊6的上基準面上、在測量千分表2位於上基準面測量位時頂壓在待測零件I的上基準面上的測量觸頭。
[0025]本實施例中的測量工裝還包括工作檯10，工作檯10上放置有用於支撐待測零件I的支撐塊11，工作檯10上還依次布置有千分表調整架3和檢塊調整架5，此處的千分表調整架3和標準檢塊調整架5均為數顯高度尺，測量千分表2沿上下方向高度可調的安裝在千分表調整架3上，標準檢塊6通過安裝架4沿上下方向高度可調的安裝在檢塊調整架5上，千分表安裝架3可驅動測量千分表2從與待測零件下基準面頂壓的下基準面檢測位平移至與標準檢塊6的下基準面頂壓的下基準面調平位，還可以在測量千分表2沿千分表調整架3上調後驅動測量千分表2從與標準檢塊6的上基準面頂壓的上基準面檢測位平移至於待測零件I的上基準面頂壓的上基準面測量位。
[0026]利用測量千分表2作為調平千分表對待測零件I的下基準面進行檢測定位、對標準檢塊6的下基準面進行檢測調平時，測量千分表處於下基準面檢測位時對待測零件I的下基準面檢測定位，測量千分表在處於下基準面調平位時對標準檢塊的下基準面進行調平。
[0027]如圖1至圖4所示，採用零件高度尺寸測量工裝對零件外徑高度尺寸進行測量； 如圖1所示，首先將測量千分表2調整至處於下基準面檢測位，此時，測量千分表2的測量觸頭頂壓在待測零件I的下基準面a，並將測量千分表調零，然後如圖2所示，移動千分表調整架3驅動測量千分表2移動至下基準面調平位，測量千分表2的測量觸頭頂壓在標準檢塊6的下基準面c上，通過檢塊調整架5調整標準檢塊6的高度，使得測量千分表5讀數歸零，完成調平操作，標準檢塊6的下基準面與待測零件I的下基準面平齊，然後如圖3所示，將測量千分表2向上移動至上基準面檢測位，測量千分表2的測量觸頭頂壓在標準檢塊6的上基準面d上，並測量千分表調零，對標準檢塊6的上基準面d進行檢測定位，然後如圖4所示，移動千分表調整架3驅動測量千分表2移動至上基準面測量位，測量千分表2的測量觸頭頂壓在待測零件I的上基準面b上，讀取測量千分表2上的刻度值B，該刻度值B與標準檢塊6的上、下基準面之間的高度尺寸做和即可得到待測零件的上、下基準面之間的實際高度尺寸。
[0028]上述實施例中，測量千分表2作為調平千分表對標準檢測的下基準面進行測量調平，在其他實施例中，也可以僅使用測量千分表對標準檢塊的上基準面進行檢測定位、對待測零件的上基準面進行測量，而另外選取調平千分表對待測零件的下基準面進行檢測定位，對標準檢塊的下基準面進行測量調平。
[0029]上述實施例中，為便於對零件外徑尺寸的下基準面進行測量，在工作檯上設有支撐塊，在其他實施例中，如果零件本身具有支撐部的話，也可以省去支撐塊，只要能夠保證對待測零件的下基準面的檢測定位即可。
[0030]上述實施例中，千分表調整架和檢塊調整架均採用數顯高度尺，這樣可以保證標準檢塊和測量千分尺的調整精度，在其他實施例中，也可以選取其他的高度調整結構。
[0031]上述實施例中，可利用測量工裝對零件外徑的上、下基準面之間的高度尺寸進行測量，如圖5所示，也可以利用測量工裝對零件內徑的上、下基準面之間的高度尺寸進行測量，測量方法與圖1至圖4中的測量方法相同，區別在於根據實際需要選取不同的便於測量的槓桿千分表。
[0032]利用如圖1所示的零件工裝除了可以對零件的標準外徑或內徑尺寸進行測量，還可以根據實際需要對零件上選取的上、下基準面之間的高度尺寸進行測量，如圖6所示，需要對零件21的上基準面f和下基準面e之間的高度尺寸進行測量，在使用本發明所提供的測量工裝進行測量時，首先選取合適的標準檢塊6，該標準檢塊的上基準面k、下基準j之間的高度尺寸與零件21的上基準面f、下基準面e之間的理論高度尺寸相同，並調平千分表22及測量千分表23安裝在千分表調整架上，將標準檢塊6通過安裝架安裝在檢塊調整架上，另外，本實施例中在具體使用時，分別選取調平千分表22和測量千分表23。
[0033]具體測量時，如圖7所示，將調平千分表22調整至處於下基準面檢測位，此時，調平千分表22的測量觸頭頂壓在待測零件I的下基準面a，並將調平千分表調零，然後如圖8所示，移動千分表調整架驅動調平千分表22移動至下基準面調平位，調平千分表22的測量觸頭頂壓在標準檢塊6的下基準面j上，通過檢塊調整架調整標準檢塊6的高度，使得調平千分表22讀數歸零，完成調平操作，標準檢塊6的下基準面j與零件21的下基準面e平齊，然後如圖9所示，將測量千分表23向上移動至上基準面檢測位，測量千分表23的測量觸頭頂壓在標準檢塊6的上基準面k上，並將測量千分表23調零，對標準檢塊6的上基準面k進行檢測定位，然後如圖10所示，移動千分表調整架驅動測量千分表23移動至上基準面測量位，測量千分表23的測量觸頭頂壓在零件的上基準面f上，讀取測量千分表23上的刻度值，該刻度值與標準檢塊6的上、下基準面之間的高度尺寸做和即可得到零件21的上、下基準面之間的實際高度尺寸，然後根據的實際高度尺寸判斷零件是否合格。
【權利要求】
1.零件高度尺寸測量方法，其特徵在於:包括如下步驟: (1)將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上，記錄測量千分表的刻度值A，標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊，標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸； (2)將測量千分表平移至其測量觸頭頂壓在待測零件的上基準面上，讀出測量千分表的刻度值B ； (3)將步驟二得到的測量千分表的刻度值B減去步驟一得到的測量千分表的刻度值A後得到的結果再與標準檢塊上、下基準面之間的高度尺寸做和，即可得到待測零件上、下基準面之間的實際高度尺寸。
2.根據權利要求1所述的零件高度尺寸測量方法，其特徵在於:上述步驟一中，在將測量千分表的測量觸頭頂壓在標準檢塊的上基準面上時，將測量千分表調零，所述測量千分表的刻度值A為O。
3.根據權利要求1或2所述的零件高度尺寸測量方法，其特徵在於:所述的測量方法還包括在步驟一中將測量千分表頂壓在標準檢塊的上基準面之前，選用調平千分表將標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面進行調平，調平時先將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上，記錄調平千分表的刻度值C，將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上，調整標準檢塊的高度使得調平千分表顯示刻度值C即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
4.根據權利要求3所述的零件高度尺寸測量方法，其特徵在於:所述的調平千分表和測量千分表為同一個槓桿千分表，該槓桿千分表安裝在可沿上下方向調整槓桿千分表位置的千分表升降臺上。
5.根據權利要求3所述的零件高度尺寸測量方法，其特徵在於:在將調平千分表的測量觸頭頂壓在待測零件的下基準面上時，將調平千分表調零，調平千分表的刻度值C為O，在將調平千分表平移至其測量觸頭頂壓在標準檢塊的下基準面上時，調整標準檢塊的高度使得調平千分表歸零即可保證標準檢塊的下基準面與待測零件的下基準面平齊。
6.零件高度尺寸測量工裝，其特徵在於:包括標準檢塊，標準檢塊的上、下基準面之間的高度尺寸為待測零件上、下基準面之間的理論高度尺寸，測量工裝還包括用於在標準檢塊的下基準面與待測零件高度尺寸的下基準面平齊時在上基準面檢測位對標準檢塊上基準面進行檢測定位、在上基準面測量位對待測零件上基準面進行測量的測量千分表，測量千分表設置在可驅動測量千分表從上基準面檢測位平移至上基準面測量位的千分表安裝架上，測量千分表具有用於在測量千分表位於上基準面檢測位時頂壓在標準檢塊上基準面上、在測量千分表位於上基準面測量位時頂壓在待測零件上基準面上的測量觸頭。
7.根據權利要求6所述的零件高度尺寸測量工裝，其特徵在於:所述的標準檢塊沿上下方向高度可調的設置在檢塊調整架上。
8.根據權利要求7所述的零件高度尺寸測量工裝，其特徵在於:所述的測量千分表沿上下方向高度可調的安裝在所述千分表安裝架上，所述測量千分表為用於在下基準面檢測位對待測零件下基準面進行檢測定位、在下基準面調平位對標準檢塊下基準面進行測量調平的調平千分表，所述千分表安裝架可驅動調平千分表從所述下基準面檢測位平移至下基準面調平位。
9.根據權利要求7所述的零件高度尺寸測量工裝，其特徵在於:所述的千分表安裝架和檢塊調整架均為數顯高度尺。
10.根據權利要求6至9中任一項所述的零件高度尺寸測量工裝，其特徵在於:所述的測量千分表為槓桿千分表。
【文檔編號】G01B5/02GK104330009SQ201410552059
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年10月17日 優先權日:2014年10月17日
【發明者】耿全堂 申請人:中國航空工業集團公司洛陽電光設備研究所