一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構的製作方法

2023-07-26 23:39:26 2

專利名稱：一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構的製作方法
技術領域：
本發明涉及檢測儀器的微調機構，特別是一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的 微調機構。
背景技術：
望遠鏡、經緯儀由方位軸、水平軸兩個機械軸和一個光軸組成，三軸在理論上應該是垂直的，但是由於加工裝配誤差，三軸是不垂直的，水平軸與方位軸的不垂直度誤差為水 平軸傾斜誤差，光軸與水平軸的垂直度誤差稱為視軸照準差。望遠鏡、經緯儀在裝配完成後 需對這兩項誤差進行檢驗修正，以滿足技術指標要求。在檢測過程中，需將望遠鏡、經緯儀 的視軸與平行光管的光軸對齊，這就需要微量調整望遠鏡、經緯儀的水平軸的旋轉角度。目 前水平軸微調大多採用兩種方法，一種是採用可脫開式的蝸輪蝸杆微調機構，此機構存在 結構複雜，零部件較多，對蝸輪蝸杆精度要求高，成本高，微調精度低等缺點；第二種是採用 兩個頂尖前後兩側支撐四通的方法，此方法需要兩個人前後配合，並且要有能夠放置頂尖 的支撐平面，當水平軸的高度較高或沒有支撐平面時，此種方法的使用受到限制，因此，研 制一種結構簡單、微調精度高、拆卸方便的望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構勢在 必行。

發明內容
針對上述情況，為克服現有技術的缺陷，本發明的內容就在於提供一種望遠鏡、經 緯儀水平軸檢測標校的微調機構，結構簡單，成本低，適用範圍廣泛，微調精度高，操作容 易，拆卸方便。本發明解決技術問題採用的技術方案是，一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的 微調機構包括整圈滑軌裝置、微調螺釘、微調滑塊、微調座、頂針、彈簧和彈簧套筒，所述的 整圈滑軌裝置固定在望遠鏡或經緯儀的四通上，微調滑塊固定在整圈滑軌裝置上，微調螺 釘穿過微調座的上板頂住微調滑塊，微調座的下板上裝有彈簧套筒，彈簧套筒上裝有頂針， 頂針的下端穿過彈簧套筒的上端與其內的彈簧相連，頂針的上端頂住微調滑塊，微調座固 定在望遠鏡或經緯儀的立柱上。本發明結構簡單，操作方便，成本低，微調精度高，拆卸方便，適用範圍廣泛。


圖1是本發明望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構的主視圖。圖2是本發明望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構的側視圖。圖3是本發明的微調座、鎖緊螺釘、彈簧套筒和彈簧整體結構的主視圖。圖4是本發明的微調座、鎖緊螺釘、彈簧套筒和彈簧整體結構的俯視圖。圖中，1、整圈滑軌裝置，2、四通，3、微調螺釘，4、鎖緊螺釘，5、上板，6、微調座，7、微 調滑塊，8、頂針，9、彈簧套筒，10、彈簧，11、下板，12、立柱，13、半圈，14、半圈連接板，15、安裝角鐵，16、滑塊座，17、滑塊板。
具體實施例方式以下結合附圖對本發明的具體實施方式
做詳細介紹。由圖1-2所示，本發明整圈滑軌裝置1、微調螺釘3、微調滑塊7、微調座6、頂針8、彈簧10和彈簧套筒9，整圈滑軌裝置1固定在望遠鏡或經緯儀的四通2上，微調滑塊7固定 在整圈滑軌裝置1上，微調螺釘3穿過微調座6的上板5頂住微調滑塊7，微調座6的下板 11上裝有彈簧套筒9，彈簧套筒9內裝有頂針8，頂針8的下端穿過彈簧套筒9的上端與其 內的彈簧10相連，頂針8的上端頂住微調滑塊7，微調座6固定在望遠鏡或經緯儀的立柱 12上。由圖2所示，所說的整圈滑軌裝置1包括半圈13、半圈連接板14和安裝角鐵15， 半圈13通過安裝角鐵15固定在望遠鏡或經緯儀的四通2上，兩個半圈13通過半圈連接板 14彼此相連形成一個整圓，通過鎖緊螺釘4將微調滑塊7固定在半圈13上。由圖3-4所示，所說的微調座6整體呈「凹」字形，微調座6的上板5上開有對應 於微調螺釘3的細牙螺紋孔。所說的微調滑塊3包括滑塊座16和滑塊板17，滑塊板17的一端與滑塊座16相 連，滑塊板跟滑塊座為一體式結構，整體呈T字形，滑塊座16固定在半圈13上，滑塊板17 被微調螺釘2和頂針5頂住。通過安裝角鐵15和調整安裝角鐵連接螺釘的位置將半圈13固定在望遠鏡、經緯 儀的四通2上，安裝半圈連接板14使兩個半圈13形成一個整圈，通過微調座固定螺釘將微 調座6固定在望遠鏡、經緯儀立柱12上，將微調螺釘3調整至微調行程中間位置，目視大致 將望遠鏡、經緯儀視軸與平行光管光軸對齊，通過滑塊鎖緊螺釘4將微調滑塊7固定在半圈 13上，使微調滑塊7置於微調螺釘3與頂針8之間，微調螺釘3與頂針8的前端均為球頭， 微調螺釘3採用細牙螺紋，微調螺釘3旋入時，頂著微調滑塊4向下移動，實現望遠鏡、經緯 儀水平軸一個方向的微量轉動，微調螺釘3旋出時，微調滑塊4通過頂針8在彈簧10的作 用下向上移動，實現望遠鏡、經緯儀水平軸另一個方向的微量轉動。本發明結構簡單，操作方便，成本低，微調精度高，拆卸方便，適用範圍廣泛。
權利要求
一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構，其特徵在於，該微調機構包括整圈滑軌裝置(1)、微調螺釘(3)、微調滑塊(7)、微調座(6)、頂針(8)、彈簧(10)和彈簧套筒(9)，整圈滑軌裝置(1)固定在望遠鏡或經緯儀的四通(2)上，微調滑塊(7)固定在整圈滑軌裝置(1)上，微調螺釘(3)穿過微調座(6)的上板(5)頂住微調滑塊(7)，微調座(6)的下板(11)上裝有彈簧套筒(9)，彈簧套筒(9)內裝有頂針(8)，頂針(8)的下端穿過彈簧套筒(9)的上端與其內的彈簧(10)相連，頂針(8)的上端頂住微調滑塊(7)，微調座(6)固定在望遠鏡或經緯儀的立柱(12)上。
2.根據權利要求1所述的望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構，其特徵在於，所 說的整圈滑軌裝置(1)包括半圈(13)、半圈連接板(14)和安裝角鐵(15)，半圈(13)通過 安裝角鐵(15)固定在望遠鏡或經緯儀的四通(2)上，兩個半圈(13)通過半圈連接板(14) 彼此相連形成一個整圓，通過鎖緊螺釘(4)將微調滑塊(7)固定在半圈(13)上。
3.根據權利要求1所述的望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構，其特徵在於，所 說的微調座(6)整體呈「凹」字形，微調座(6)的上板(5)上開有對應於微調螺釘(3)的細 牙螺紋孔。
4.根據權利要求1所述的望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構，其特徵在於，所 說的微調滑塊(3)包括滑塊座(16)和滑塊板(17)，滑塊板(17)的一端與滑塊座(16)相 連，滑塊板跟滑塊座為一體式結構，整體呈T字形，滑塊座(16)固定在半圈(12)上，滑塊板 (17)被微調螺釘(2)和頂針(5)頂住。
全文摘要
本發明的一種望遠鏡、經緯儀水平軸檢測標校的微調機構涉及檢測儀器的微調機構，包括整圈滑軌裝置、微調螺釘、微調滑塊、微調座、頂針、彈簧和彈簧套筒，整圈滑軌裝置固定在望遠鏡或經緯儀的四通上，微調滑塊固定在整圈滑軌裝置上，微調螺釘穿過微調座的上板頂住微調滑塊，微調座的下板上裝有彈簧套筒，彈簧套筒內裝有頂針，頂針的下端穿過彈簧套筒的上端與其內的彈簧相連，頂針的上端頂住微調滑塊，微調座固定在望遠鏡或經緯儀的立柱上。本發明結構簡單，操作方便，成本低，微調精度高，拆卸方便，適用範圍廣泛。
文檔編號G01C25/00GK101825474SQ201010172839
公開日2010年9月8日 申請日期2010年5月17日 優先權日2010年5月17日
發明者宋雲奪, 王志, 王志臣, 王槐, 趙勇志 申請人:中國科學院長春光學精密機械與物理研究所