一種基於H橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法及裝置與流程
2023-05-26 22:46:18
本發明涉及絕緣電阻測量領域，尤其涉及一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法及裝置。
背景技術：
絕緣電阻是絕緣物在規定條件下的直流電阻。
絕緣電阻是電氣設備和電氣線路最基本的絕緣指標。對於低壓電氣裝置的交接試驗，常溫下電動機、配電設備和配電線路的絕緣電阻不應低於0.5mω(對於運行中的設備和線路，絕緣電阻不應低於1mω/kv)。低壓電器及其連接電纜和二次迴路的絕緣電阻一般不應低於1mω；在比較潮溼的環境不應低於0.5mω；二次迴路小母線的絕緣電阻不應低於10mω。i類手持電動工具的絕緣電阻不應低於2mω。
現有的電阻測量大多採用平衡橋原理進行測量。這種測量電路能夠通過測量電壓並計算電阻比值從而計算出電阻。
然而這種測量電路在被測對象dc+、dc-對pe之間存在y電容c1、c2的時候，存在許多問題。1、每次計算需要閉合斷開不同的開關多次，由於該過程會對c1、c2進行充放電，故計算的周期會大大加長；2、對於被測端存在電容，傳統測量方案測量的錯誤率高，計算精度很低(由於該過程存在電容c1、c2進行充放電，故ux測量值可能並不是穩定值或者預期值，且電容充放電的過程，進行電阻的測量，將會影響最終測量值)；3、故障率高，每一個計算周期，需要閉合斷開不同的開關多次對於元器件的壽命，以及誤控有一定影響。4、閉合開關k4、k5會接入r11、r12電阻，這對這兩個電阻的精度要求較高(電阻精度越高，工藝要求高，造價越高)，否則，同時採用這兩個電阻參與計算，將會增大其測量誤差；5、關於校準ux對應到u-和u+，傳統做法都是直接在dc+、dc-之間加入電壓進行校準，這種做法並不能夠準確的得出u-和u+的實際電壓，所以會一定程度的造成校準係數不對。並且，在計算的過程中，由於受溫度的影響，電阻阻值會變化，故利用理論的電阻值參與計算，將會增大其測量誤差。
因此，現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高是本領域技術人員需要解決的技術問題。
技術實現要素：
本發明實施例提供了一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法及裝置，用於解決現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高的技術問題。
本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法，包括：
接通與pe端和dc-端對應的平衡支路，斷開其他支路，根據第一初始化指令在pe端和dc-端接入標準電壓源；
調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；
接通與dc+端和dc-端的總迴路，斷開pe支路，根據第二初始化指令在dc+端和dc-端接入標準電壓源；
調節所述標準電壓源的電壓u大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux的測量值；
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的測量值進行線性擬合，在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；
根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路。
優選地，所述在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數具體包括：
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u_＝(ux-/r5)*(r4+r5)*k_+b_
其中，u-為所述標準電壓源的電壓，ux-為所述測試電阻兩端的電壓，r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k-為斜率，b-為偏移值；
根據所述實際關係公式獲得斜率k-和偏移值b-。
優選地，所述在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數具體包括：
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u＝(ux/r5)*(r2+r3+r4+r5)*k+b
其中，u為所述標準電壓源的電壓，ux為所述測試電阻兩端的電壓，r2、r3和r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k為斜率，b為偏移值；
根據所述實際關係公式獲得斜率k和偏移值b。
優選地，所述根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路具體包括：
確定當前測試環境溫度，獲取對應的線性參數；
根據所述線性參數調節直流母線間電壓、母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式。
優選地，所述根據所述線性參數調節直流母線間電壓、母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式之後還包括：
根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值。
優選地，所述根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值具體包括：
斷開上、下非平衡支路，測量對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第一關係公式；
接通其中一個直流母線對地電壓較大的對應的非平衡支路，測量對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第二關係公式；
根據所述第一關係公式和所述第二關係公式計算獲得正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻。
本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準裝置，包括：
初始化模塊，用於根據初始化指令在pe端和dc-端之間接入標準電壓源，僅接通與pe端和dc-端對應的平衡支路，斷開其他支路；
第一溫度電壓調節模塊，用於調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；
總電壓調節模塊，用於根據指令在dc+端和dc-端接入標準電壓源，接通與dc+端和dc-端的總迴路，斷開pe支路；
第二溫度電壓調節模塊，調節所述標準電壓源的電壓u大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux的測量值；
線性擬合模塊，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的測量值進行線性擬合，在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；
校準模塊，用於根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路。
優選地，所述線性擬合模塊具體包括：
關係公式獲取單元一，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-和ux進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u_＝(ux-/r5)*(r4+r5)*k_+b_
其中，u-為所述標準電壓源的電壓，ux-為所述測試電阻兩端的電壓，r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k-為斜率，b-為偏移值；
關係公式獲取單元二，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u＝(ux/r5)*(r2+r3+r4+r5)*k+b
其中，u為所述標準電壓源的電壓，ux為所述測試電阻兩端的電壓，r2、r3和r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k為斜率，b為偏移值；
線性參數獲取單元，用於根據所述實際關係公式獲得斜率k-、k和偏移值b-、b。
優選地，所述校準模塊具體包括：
溫度確定單元，用於確定當前測試環境溫度，獲取對應的線性參數；
測量關係公式調節單元，用於根據所述線性參數調節直流母線間電壓、直流母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式。
優選地，還包括絕緣電阻測量模塊，用於根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值；
所述絕緣電阻測量模塊具體包括：
第一關係公式計算單元，用於斷開上、下非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第一關係公式；
第二關係公式計算單元，用於接通其中一個直流母線對地電壓較大的對應的非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第二關係公式；
絕緣電阻計算單元，用於根據所述第一關係公式和所述第二關係公式計算獲得正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻。
從以上技術方案可以看出，本發明實施例具有以下優點：
本發明實施例通過調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；在不同溫度下分別對所述標準電壓源的電壓u-、u和所述測試電阻兩端的電壓ux-和ux進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路中的直流母線間電壓、直流母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式，實現了溫度補償，使得對絕緣電阻的測量更加接近真實值，測量結果更加精確，解決了現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高的技術問題。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。
圖1為本發明實施例用於說明現有的一種絕緣電阻測量電路的示意圖；
圖2為本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的一個實施例的示意圖。
具體實施方式
本發明實施例提供了一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法及裝置，用於解決現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高的技術問題。
為使得本發明的發明目的、特徵、優點能夠更加的明顯和易懂，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，下面所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而非全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬於本發明保護的範圍。
首先對現有的基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路進行詳細的描述。
請參閱圖1，現有的一種絕緣電阻測量電路通常由上平衡支路、下平衡支路、上非平衡支路和下非平衡支路組成，其中，上平衡支路和下平衡支路串聯，並連接在正負直流母線之間；上平衡支路並聯上非平衡支路，下平衡支路並聯下非平衡支路。上、下平衡支路均由一個測試電阻和至少一個分壓電阻串聯構成；上、下非平衡支路均由至少一個電阻與開關串聯構成；上平衡支路與下平衡支路之間的連接點接地。
現有的絕緣電阻測量電路的測量方法是：
1)、斷開上、下非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的關係。
可通過以下公式進行計算：
u+1＝u-u-1
其中，u+1為正直流母線對地電壓，u-1為負直流母線對地電壓，u為正負直流母線間電壓，ux1為第一步測量的測試電阻r5兩端的電壓。
2)、斷開其中一個非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的關係。
可通過以下公式進行計算：
u+2＝u-u-2
或
根據本電路的特徵，r2+r3＝r4+r5且r11＝r12。
3)、求取正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻。
具體地，根據兩個關係公式計算絕緣電阻r+和r-。
以下將對本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的一個實施例進行詳細的描述。
請參閱圖2，本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的一個實施例，包括：
101、接通與pe端和dc-端對應的平衡支路，斷開其他支路，根據第一初始化指令在pe端和dc-端接入標準電壓源；
即閉合k2、k3，其他開關斷開，在pe端和dc-端之間接入標準電壓源，標準電壓源的電壓已知並可調。
102、調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；
103、接通與dc+端和dc-端的總迴路，斷開pe支路，根據第二初始化指令在dc+端和dc-端接入標準電壓源；
即閉合k1、k3，其它開關斷開，在dc+端和dc-端之間接入標準電源源，標準電壓源的電壓已知並可調。
104、調節所述標準電壓源的電壓u大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux的測量值；
105、在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的測量值進行線性擬合，在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；
106、根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路。
本發明實施例通過調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-、u和所述測試電阻兩端的電壓ux-和ux進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路中的直流母線間電壓、直流母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式，實現了溫度補償，使得對絕緣電阻的測量更加接近真實值，測量結果更加精確，解決了現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高的技術問題。
具體地，獲取到不同溫度的斜率k-、k和偏移值b-、b之後，分別在對應的不同溫度根據對應的斜率k-、k和偏移值b-、b對電阻測量電路進行調整校準，調節直流母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式，即上述的公式：
此公式並沒有考慮到溫度、電阻變化對測量的影響。
採用本發明實施例的方法進行校準後，這個測量關係公式變成：
u_1＝(ux1/r5)*(r4+r5)*k_+b_
同樣的，直流母線間測量關係公式變成：
u＝(ux/r5)*(r2+r3+r4+r5)*k+b
因而本發明實施例對測量關係公式進行了調節修正，考慮了溫度、電阻變化對測量的影響，進而使得測量電路在測量的時候能夠更加精確，解決了現有的絕緣電阻測量方法受電阻阻值變化的影響導致測量精度不高的技術問題。
並且，本發明實施例還通過在不同溫度下對測量電路進行分段校準，使得測量電路在不同溫度下都能實現溫度補償。
以上是對本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的一個實施例進行詳細的描述，以下將對本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的另一個實施例進行詳細的描述。
本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的一個實施例，包括：
接通與pe端和dc-端對應的平衡支路，斷開其他支路，根據第一初始化指令在pe端和dc-端接入標準電壓源；
調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；
接通與dc+端和dc-端的總迴路，斷開pe支路，根據第二初始化指令在dc+端和dc-端接入標準電壓源；
調節所述標準電壓源的電壓u大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux的測量值；
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-、u和所述測試電阻兩端的電壓ux-和ux進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；
根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路。
其中，所述在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數具體包括：
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u_＝(ux-/r5)*(r4+r5)*k_+b_
其中，u-為所述標準電壓源的電壓，ux為所述測試電阻兩端的電壓，r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k-為斜率，b-為偏移值；
根據所述實際關係公式獲得斜率k-和偏移值b-。
其中，所述在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數具體包括：
在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u＝(ux/r5)*(r2+r3+r4+r5)*k+b
其中，u為所述標準電壓源的電壓，ux為所述測試電阻兩端的電壓，r2、r3和r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k為斜率，b為偏移值；
根據所述實際關係公式獲得斜率k和偏移值b。
其中，所述根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路具體包括：
確定當前測試環境溫度，獲取對應的線性參數；
根據所述線性參數調節直流母線間電壓、母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式。
其中，所述根據所述線性參數調節所述標準電壓源的電壓u-、u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量關係公式之後還包括：
根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值。
其中，所述根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值具體包括：
斷開上、下非平衡支路，測量對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第一關係公式；
接通其中一個直流母線對地電壓較大的對應的非平衡支路，測量對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第二關係公式；
根據所述第一關係公式和所述第二關係公式計算獲得正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻。
以上是對本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準方法的另一個實施例進行詳細的描述，以下將對本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準裝置的一個實施例進行詳細的描述。
本發明實施例提供的一種基於h橋電阻的絕緣電阻測量電路的校準裝置，包括：
初始化模塊，用於根據初始化指令在pe端和dc-端之間接入標準電壓源，僅接通與pe端和dc-端對應的平衡支路，斷開其他支路；
第一溫度電壓調節模塊，用於調節所述標準電壓源的電壓u-大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux-的測量值；
總電壓調節模塊，用於根據指令在dc+端和dc-端接入標準電壓源，接通與dc+端和dc-端的總迴路，斷開pe支路；
第二溫度電壓調節模塊，調節所述標準電壓源的電壓u大小和測量環境溫度大小並獲取測試電阻兩端的電壓ux的測量值；
線性擬合模塊，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的測量值進行線性擬合，在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得不同溫度下的線性參數，所述線性參數包括斜率k-、k和偏移值b-、b；
校準模塊，用於根據不同溫度值對應的線性參數進行分段計算並分別校準不同溫度下的電阻測量電路。
線性擬合模塊具體包括：
關係公式獲取單元一，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u-和所述測試電阻兩端的電壓ux-的實際關係公式：
u_＝(ux-/r5)*(r4+r5)*k_+b_
其中，u-為所述標準電壓源的電壓，ux-為所述測試電阻兩端的電壓，r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k-為斜率，b-為偏移值；
關係公式獲取單元二，用於在不同溫度下對所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的測量值進行線性擬合，獲得所述標準電壓源的電壓u和所述測試電阻兩端的電壓ux的實際關係公式：
u＝(ux/r5)*(r2+r3+r4+r5)*k+b
其中，u為所述標準電壓源的電壓，ux為所述測試電阻兩端的電壓，r2、r3和r4為平衡支路上的分壓電阻的阻值，r5為平衡支路上的測試電阻的阻值，k為斜率，b為偏移值；
線性參數獲取單元，用於根據所述實際關係公式獲得斜率k-、k和偏移值b-、b。
校準模塊具體包括：
溫度確定單元，用於確定當前測試環境溫度，獲取對應的線性參數；
測量關係公式調節單元，用於根據所述線性參數調節直流母線間電壓、直流母線對地電壓和所述測試電阻兩端的電壓的測量關係公式。
本發明實施例還包括：
絕緣電阻測量模塊，用於根據所述測量關係公式計算需要測量的絕緣電阻的阻值。
絕緣電阻測量模塊具體包括：
第一關係公式計算單元，用於斷開上、下非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第一關係公式；
第二關係公式計算單元，用於接通其中一個直流母線對地電壓較大的對應的非平衡支路，測量上、下平衡支路上對應測試電阻的電壓，根據調節後的測量關係公式計算獲得正直流母線對地電壓與負直流母線對地電壓，進而得出正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻之間的第二關係公式；
絕緣電阻計算單元，用於根據所述第一關係公式和所述第二關係公式計算獲得正直流母線對地等效絕緣電阻與負直流母線對地等效絕緣電阻。
所屬領域的技術人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統，裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。
以上所述，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對其限制；儘管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特徵進行等同替換；而這些修改或者替換，並不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的精神和範圍。