色度測試方法和色度測試設備的製作方法
2023-06-09 23:28:51 1
色度測試方法和色度測試設備的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種色度測試方法和色度測試設備。所述色度測試方法包括：S1.測量待測試產品的像素的尺寸；S2.根據步驟S1中測量得到的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑；S3.根據步驟S2中確定的孔徑選擇相應的透光孔對所述待測試產品進行色度測試。本發明在進行色度測試之前首先對待測試產品的像素的尺寸進行實時測量，然後根據實測信息選擇合適的透光孔進行測試，減少了因透光孔選擇不恰當而導致的時間的浪費，在保證測試準確性的同時提高了測試效率。
【專利說明】色度測試方法和色度測試設備
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示【技術領域】，尤其涉及一種色度測試方法和色度測試設備。
【背景技術】
[0002]顯示產品在製造過程中，通常需要對彩膜的色坐標進行測試。現有色坐標測試技術重點關注的是如何收集到準確的光線，以及如何減小測試光斑的直徑，以滿足窄線寬像素的測試，然而測試光斑越小，測試時間越長，如果用直徑2 μ m的光斑去測試線寬50 μ m的像素的色度，會造成時間的浪費。
[0003]色度測試設備中配備有透光孔，光束通過透光孔形成上述光斑。對於同一束光，通過改變透光孔的大小來改變測試光斑的大小。在現有技術中，往往根據產品包裝上描述的相關信息來準備相應的測試用透光孔，然而在實際測試過程中，可能會出現選擇不恰當，甚至錯誤的情況，既不能保證測試數據的準確性，又浪費了時間。
【發明內容】
[0004]本發明的目的在於提供一種色度測試方法和色度測試設備，在保證測試準確性的同時，提高測試效率。
[0005]為解決上述技術問題，作為本發明的第一個方面，提供一種利用色度測試設備進行色度測試的色度測試方法，所述色度測試設備包括色譜分析裝置和測試頭，所述測試頭包括透光孔，所述方法包括以下步驟:
[0006]S1、測量待測試產品的像素的尺寸；
[0007]S2、根據步驟SI中測量得到的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑；
[0008]S3、根據步驟S2中確定的孔徑選擇相應的透光孔對所述待測試產品進行色度測試。
[0009]優選地，步驟S3包括:
[0010]S31、判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求；
[0011]S32、如果當前使用的透光孔的孔徑滿足測試要求，則對所述待測試產品進行測試；
[0012]S33、如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，則根據步驟S2中確定的孔徑更換相應的透光孔進行測試；
[0013]其中，步驟S31包括:
[0014]判斷當前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
[0015]優選地，步驟SI包括:
[0016]S11、獲取待測試產品的像素的圖片；
[0017]S12、根據步驟Sll中獲取的像素的圖片計算出該像素的灰度值；
[0018]S13、根據步驟S12中計算出的灰度值計算出該像素的尺寸。
[0019]優選地，所述像素包括多個亞像素，所述尺寸包括所述像素的每個亞像素的寬度。
[0020]優選地，步驟S2還包括:
[0021]S21a、將待測試產品的像素的尺寸與預存的樣本像素的尺寸進行對比；
[0022]S22a、根據對比結果確定用於進行測試的透光孔的孔徑。
[0023]優選地，在步驟S22a中，當所述亞像素的寬度大於25 μ m時，選擇孔徑為20 μ m的透光孔；當所述亞像素的寬度小於25 μ m時，選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
[0024]作為本發明的第二個方面，還提供一種色度測試設備，包括色譜分析裝置和測試頭，所述色譜分析裝置包括:
[0025]測量模塊，用於測量待測試產品的像素的尺寸；
[0026]控制模塊，與所述測量模塊相連，用於根據測量得到的所述待測試產品的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑；
[0027]所述測試頭包括:
[0028]透光孔切換器，所述透光孔切換器上設置有多個具有不同孔徑的透光孔，所述透光孔切換器與所述控制模塊相連，用於根據所述控制模塊確定的孔徑選取相應的透光孔進行測試。
[0029]優選地，所述控制模塊能夠判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求，如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，所述控制模塊控制所述透光孔切換器切換至相應的透光孔進行測試。
[0030]優選地，所述測量模塊包括圖像採集子模塊，用於獲取待測試產品的像素的圖片。
[0031]優選地，所述圖像採集子模塊包括電荷耦合元件。
[0032]優選地，所述測量模塊還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據所述待測試產品的像素的圖片計算出該像素的灰度值，並根據該像素的灰度值計算出該像素的尺寸。
[0033]優選地，所述色譜分析裝置還包括對比模塊，所述對比模塊內預存有樣本像素的尺寸，所述對比模塊與所述測量模塊相連，用於將所述待測試產品的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進行對比，並將對比結果反饋給所述控制模塊，所述控制模塊根據對比結果來確定用於測試的透光孔的孔徑。
[0034]本發明在進行色度測試之前首先對待測試產品的像素的尺寸進行實時測量，然後根據實測信息選擇合適的透光孔進行測試，減少了因透光孔選擇不恰當而導致的時間的浪費，在保證測試準確性的同時提高了測試效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0035]附圖是用來提供對本發明的進一步理解，並且構成說明書的一部分，與下面的【具體實施方式】一起用於解釋本發明，但並不構成對本發明的限制。
[0036]圖1是本發明實施例提供的色度測試方法的流程圖；
[0037]圖2是本發明實施例提供的色度測試設備的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0038]以下結合附圖對本發明的【具體實施方式】進行詳細說明。應當理解的是，此處所描述的【具體實施方式】僅用於說明和解釋本發明，並不用於限制本發明。
[0039]本發明首先提供一種利用色度測試設備進行色度測試的色度測試方法，該方法尤其適合於測試顯示產品的色坐標。
[0040]圖1是所述方法的流程圖，包括以下步驟:
[0041]S1、測量待測試產品的像素的尺寸；
[0042]S2、根據步驟SI中測量得到的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑；
[0043]S3、根據步驟S2中確定的孔徑選擇相應的透光孔對所述待測試產品進行色度測試。
[0044]在色度測試過程中，通常需要使測試光斑的大小與待測試產品的像素的尺寸相匹配，以保證測試的準確性，並節約測試時間。對於同一束光來說，通過改變色度測試設備中的透光孔的大小就可以改變測試光斑的大小。
[0045]本發明在進行色度測試之前首先對待測試產品的像素的尺寸進行實時測量，獲得待測試產品的像素的實際尺寸信息，然後根據實測信息選擇合適的透光孔進行準確的色度測試。因此，本發明方法減少了因透光孔選擇不恰當而導致的時間的浪費，在保證測試準確性的同時提高了測試效率。
[0046]進一步地,步驟S3包括:
[0047]S31、判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求；
[0048]S32、如果當前使用的透光孔的孔徑滿足測試要求，則對所述待測試產品進行測試；
[0049]S33、如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，則根據步驟S2中確定的孔徑更換相應的透光孔進行測試；
[0050]其中，步驟S31包括:
[0051]判斷當前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
[0052]本發明方法根據像素的實測信息來選擇具有合適孔徑的透光孔進行測試，使透光孔的測試範圍與像素的尺寸相匹配，能夠提高相應的測試設備的稼動率，進而提高產能，節約成本。
[0053]本發明中，可以採用多種方法來獲取待測試產品的像素的尺寸。例如，步驟SI可以包括以下步驟:
[0054]S11、獲取待測試產品的像素的圖片；
[0055]S12、根據步驟Sll中獲取的像素的圖片計算出該像素的灰度值；
[0056]S13、根據步驟S12中計算出的灰度值計算出該像素的尺寸。
[0057]使用圖像處理軟體對獲取的像素的圖片進行分析計算，得到所述像素的灰度值。然後，通過分析上述灰度值所表示的「黑」、「白」區域的邊界，計算出所述像素的尺寸。所述像素包括多個亞像素，這裡的尺寸主要指亞像素的線寬，具體地，指紅、綠、藍亞像素中較短的邊的寬度。
[0058]在本發明中，可以通過獲取的像素的尺寸直接進行透光孔的選擇，也可以將獲取的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進行比較，通過判斷後選擇相應的透光孔進行色度測試。
[0059]例如，步驟S2可以包括以下步驟:
[0060]S21a、將待測試產品的像素的尺寸與預存的樣本像素的尺寸進行對比；
[0061]S22a、根據對比結果確定用於進行測試的透光孔的孔徑。
[0062]例如，有兩種待選擇的透光孔，分別是孔徑為10 μ m的透光孔和孔徑為20 μ m的透光孔。其中，孔徑為10 μ m的透光孔適用於測試線寬小於25 μ m的像素，孔徑為20 μ m的透光孔適用於測試線寬大於25 μ m的像素。
[0063]那麼，可以設定當測量出的待測試產品的像素的線寬大於25 μ m時，反饋選擇孔徑為20 μ m的透光孔，當測量出的待測試產品的像素的線寬小於25 μ m時，反饋選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
[0064]此外，還可以將待測試產品的圖片與預存的樣本像素的圖片進行對比。進行圖片對比的本質其實也是進行尺寸對比，在此不再贅述。
[0065]本發明的重點在於提前獲取待測試產品的像素的實際尺寸信息，根據像素的尺寸信息選擇孔徑相匹配的透光孔進行色度測試，不僅保證了色度測試的準確性，而且減少了因透光孔不合適頻繁調試而導致的時間浪費，提高了測試效率。
[0066]本發明還提供了一種色度測試設備，如圖2中所示。所述色度測試設備I包括色譜分析裝置11和測試頭12，色譜分析裝置11包括:
[0067]測量模塊101，用於測量待測試產品2的像素的尺寸；
[0068]控制模塊102，與測量模塊101相連，用於根據測量得到的待測試產品2的像素的尺寸來確定用於進行測試的透光孔的孔徑；
[0069]測試頭12包括:
[0070]透光孔切換器201，透光孔切換器201上設置有多個具有不同孔徑的透光孔，透光孔切換器201與控制模塊102相連，用於根據控制模塊102確定的孔徑選取相應的透光孔進行測試。
[0071]控制模塊102還能夠判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求，如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，控制模塊102控制透光孔切換器201切換至相應的透光孔進行測試。
[0072]與現有色度測試設備相比，本發明所提供的色度測試設備能夠實時測量出待測試產品的像素的實際尺寸信息，然後再根據實測信息選擇孔徑合適的透光孔進行色度測試。因此，本發明所提供的色度測試設備不僅提高了測試的準確性，還避免了因透光孔選擇不恰當而導致的時間的浪費，提高了測試效率。
[0073]具體地，測量模塊101包括圖像採集子模塊，用於獲取待測試產品2的像素的圖片。所述圖像採集子模塊包括電荷稱合元件(Charge-Coupled Device,CCD)或者其它形式的圖像傳感器。
[0074]此外，測量模塊101還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據所述圖像採集子模塊獲取的待測試產品2的像素的圖片計算出該像素的灰度值，並根據該像素的灰度值計算出該像素的尺寸，具體計算方法如上文所述。
[0075]在本發明所提供的色度測試設備中，可以將測量模塊101獲得的待測試產品2的像素的尺寸直接反饋給控制模塊102，由控制模塊102控制透光孔切換器201轉換到相應地透光孔進行測試。或者，色譜分析裝置11中還包括對比模塊103，對比模塊103內預存有樣本像素的尺寸，對比模塊103與測量模塊101相連，用於將待測試產品2的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進行對比，並將對比結果反饋給控制模塊102，控制模塊102根據對比結果來確定用於測試的透光孔的孔徑。
[0076]此外，還可以在對比模塊103內預存樣本像素的圖片，然後將待測試產品2的像素的圖片與樣本像素的圖片進行對比，根據對比結果進行透光孔的選擇。
[0077]本發明提供的色度測試設備根據待測試產品像素的實測信息來選擇具有合適孔徑的透光孔進行測試，使透光孔的測試範圍與像素的尺寸相匹配，提高了測試設備的稼動率，減少了因頻繁調試更換透光孔而導致的時間浪費，有利於提高生產效率，節約成本。
[0078]可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發明的原理而採用的示例性實施方式，然而本發明並不局限於此。對於本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發明的保護範圍。
【權利要求】
1.一種利用色度測試設備進行色度測試的色度測試方法，所述色度測試設備包括色譜分析裝置和測試頭，所述測試頭包括透光孔，其特徵在於，所述方法包括以下步驟: 51、測量待測試產品的像素的尺寸； 52、根據步驟SI中測量得到的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑； 53、根據步驟S2中確定的孔徑選擇相應的透光孔對所述待測試產品進行色度測試。
2.根據權利要求1所述的色度測試方法，其特徵在於，步驟S3包括: 531、判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求； 532、如果當前使用的透光孔的孔徑滿足測試要求，則對所述待測試產品進行測試； 533、如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，則根據步驟S2中確定的孔徑更換相應的透光孔進行測試； 其中，步驟S31包括: 判斷當前使用的透光孔的孔徑與步驟S2中確定的孔徑是否一致。
3.根據權利要求1或2所述的色度測試方法，其特徵在於，步驟SI包括: 511、獲取待測試產品的像素的圖片； 512、根據步驟Sll中獲取的像素的圖片計算出該像素的灰度值； 513、根據步驟S12中計算出的灰度值計算出該像素的尺寸。
4.根據權利要求3所述的色度測試方法，其特徵在於，所述像素包括多個亞像素，所述尺寸包括所述像素的每個亞像素的寬度。
5.根據權利要求4所述的色度測試方法，其特徵在於，步驟S2還包括: S21a、將待測試產品的像素的尺寸與預存的樣本像素的尺寸進行對比； S22a、根據對比結果確定用於進行測試的透光孔的孔徑。
6.根據權利要求5所述的色度測試方法，其特徵在於，在步驟S22a中，當所述亞像素的寬度大於25 μ m時，選擇孔徑為20 μ m的透光孔；當所述亞像素的寬度小於25 μ m時，選擇孔徑為10 μ m的透光孔。
7.一種色度測試設備，包括色譜分析裝置和測試頭，其特徵在於，所述色譜分析裝置包括: 測量模塊，用於測量待測試產品的像素的尺寸； 控制模塊，與所述測量模塊相連，用於根據測量得到的所述待測試產品的像素的尺寸確定用於進行測試的透光孔的孔徑； 所述測試頭包括: 透光孔切換器，所述透光孔切換器上設置有多個具有不同孔徑的透光孔，所述透光孔切換器與所述控制模塊相連，用於根據所述控制模塊確定的孔徑選取相應的透光孔進行測試。
8.根據權利要求7所述的色度測試設備，其特徵在於，所述控制模塊能夠判斷當前使用的透光孔的孔徑是否滿足測試要求，如果當前使用的透光孔的孔徑不滿足測試要求，所述控制模塊控制所述透光孔切換器切換至相應的透光孔進行測試。
9.根據權利要求8所述的色度測試設備，其特徵在於，所述測量模塊包括圖像採集子模塊，用於獲取待測試產品的像素的圖片。
10.根據權利要求9所述的色度測試設備，其特徵在於，所述圖像採集子模塊包括電荷率禹合元件。
11.根據權利要求9所述的色度測試設備，其特徵在於，所述測量模塊還包括圖像處理子模塊，所述圖像處理子模塊能夠根據所述待測試產品的像素的圖片計算出該像素的灰度值，並根據該像素的灰度值計算出該像素的尺寸。
12.根據權利要求7至11中任意一項所述的色度測試設備，其特徵在於，所述色譜分析裝置還包括對比模塊，所述對比模塊內預存有樣本像素的尺寸，所述對比模塊與所述測量模塊相連，用於將所述待測試產品的像素的尺寸與樣本像素的尺寸進行對比，並將對比結果反饋給所述控制模塊，所述控制模塊根據對比結果來確定用於測試的透光孔的孔徑。
【文檔編號】G01J3/46GK104316191SQ201410643707
【公開日】2015年1月28日 申請日期:2014年11月7日 優先權日:2014年11月7日
【發明者】周麗佳 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 成都京東方光電科技有限公司