一種用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統的製作方法

2023-05-29 05:57:11

專利名稱：一種用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及電磁場的場均勻性的校準技術領域，特別涉及一種用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統。
背景技術：
對於射頻電磁場，IEC61000系列標準給出了兩種電磁場的場均勻性的校準方法，即恆定場強校準法和恆定功率校準法。恆定場強校準法是通過調整前向輸出功率建立一個場強恆定的均勻場，然後用一個經校準的場強探頭以指定的步長在每個頻段對待測區域內的各個點進行測量。恆定功率校準法與之不同的是測量時保持前向輸出功率恆定。對於瞬變電磁場，MIL-STD-461F標準採用了上述恆定場強校準法。但是，恆定場強校準法存在以下不足(I)瞬變電磁場由脈衝信號源觸發的單脈衝信號產生，為了獲得恆定的電磁場，需要反覆調節脈衝信號源的輸出功率，因此必須既可以準確監測所用脈衝信號源的輸出功率，又可以對所用脈衝信號源的輸出功率進行微調，對包括脈衝信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求高；(2)通常需要用高壓探頭監測脈衝信號源的輸出功率，在實際應用中有時很難實現；(3)校準時間較長，使用不方便。對於瞬變電磁場，如果採用恆定功率校準法，也存在以下問題(I)需要脈衝信號源多次觸發輸出多個單脈衝信號，各個單脈衝信號的幅度很難完全保持一致，即存在脈衝信號源輸出的各個單脈衝信號不穩定的問題，導致瞬變電磁場均勻性校準的準確度降低；(2)對脈衝信號源輸出穩定性的要求導致瞬變電磁場產生裝置的成本較高。用於校準瞬變電磁場的場均勻性的系統通常需要測試多個位置。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調節測試探頭的位置和角度。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調節支架來改變固定有探頭的測試杆的角度和長度，甚至需要通過調節支架實現測試杆繞固定軸的轉動。現有技術中的支架都不能直接實現上述功能，因此在用於校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便。目前，非常需要一種對包括脈衝信號源在內的瞬變電磁場產生裝置要求低、快速、準確且低成本的瞬變電磁場的場均勻性的校準系統。

發明內容
本發明的目的是提供一種用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統。 本發明提供的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統包括支架、示波器、第一探頭和第二探頭；所述支架包括底座、轉軸、圓拱形的第一拱襯、圓拱形的第二拱襯、第一測試杆、第二測試杆、第一旋鈕、第二旋鈕、第一探頭固定裝置和第二探頭固定裝置；所述第一探頭固定於所述第一測試杆上，所述第二探頭固定於所述第二測試杆上，且所述第一探頭和所述第二探頭與所述示波器電連接；所述底座的上表面設有凸起，所述轉軸固定於所述凸起上，所述第一拱襯和所述第二拱襯設於所述底座的上表面，且所述凸起和所述轉軸穿過所述第一拱襯和所述第二拱襯的中空部分，所述第一拱襯所在的平面和所述第二拱襯所在的平面分別與所述底座的上
表面垂直；所述第一測試杆和所述第二測試杆的底端分別呈「h」字形，所述第一測試杆和所述第二測試杆的底端分別與所述轉軸鉸接，且所述第一測試杆和所述第二測試杆分別能夠繞所述轉軸轉動，所述第一拱襯被設置為穿過所述第一測試杆的底端的缺口，所述第二拱 襯被設置為穿過所述第二測試杆的底端的缺口；所述第一拱襯上設有圓拱形的第一凹槽，所述第一旋鈕上設有螺紋，所述第一測試杆底端的第二側板上設有與所述第一旋鈕配合的螺紋，所述第一旋鈕穿過所述第一測試杆底端的第一側板和所述第一凹槽與所述第一測試杆底端的第二側板配合，通過旋緊所述第一旋鈕能夠使所述第一測試杆的位置固定；所述第二拱襯上設有圓拱形的第二凹槽，所述第二旋鈕上設有螺紋，所述第二測試杆底端的第四側板上設有與所述第二旋鈕配合的螺紋，所述第二旋鈕穿過所述第二測試杆底端的第三側板和所述第二凹槽與所述第二測試杆底端的第四側板配合，通過旋緊所述第二旋鈕能夠使所述第二測試杆的位置固定； 所述第一探頭固定裝置設於所述第一測試杆上；所述第二探頭固定裝置設於所述第二測試杆上，所述第一探頭固定裝置能夠沿所述第一測試杆自由滑動，所述第二探頭固定裝置能夠沿所述第二測試杆自由滑動，所述第一探頭固定裝置上設有第三旋鈕，所述第二探頭固定裝置上設有第四旋鈕，通過旋緊所述第三旋鈕能夠使所述第一探頭固定裝置的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕能夠使所述第二探頭固定裝置的位置固定。優選地，所述第一拱襯和所述第二拱襯上分別設有角度刻度。優選地，所述第一測試杆的底端設有第一角度觀察窗，所述第二測試杆的底端設有第二角度觀察窗。優選地，所述第一測試杆和所述第二測試杆上分別設有長度刻度。優選地，所述第一探頭固定裝置上設有第一長度觀察窗，所述第二探頭固定裝置上設有第二長度觀察窗。優選地，所述凸起呈圓拱形。本發明具有如下有益效果(I)所述系統對包括脈衝信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準；(2)所述系統的支架不僅能夠用於支撐和固定探頭，而且能夠用於調節探頭的位置和角度；(3)所述系統的支架對探頭的位置和角度的調節精度高；(4)所述系統製作成本低，使用方便。


圖I為本發明實施例提供的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統的示意圖；圖2為本發明實施例的支架I的第一拱襯的示意圖；圖3為本發明實施例的支架I的第二拱襯的示意圖；圖4為本發明實施例的支架I的第一測試杆的側視圖；圖5為本發明實施例的支架I的第一測試杆的正視圖；圖6為本發明實施例的支架I的第二測試杆的側視圖；
圖7為本發明實施例的支架I的第二測試杆的正視圖。
具體實施例方式下面結合附圖及實施例對本發明的發明內容作進一步的描述。本實施例提供的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統包括支架I、示波器2、第一探頭3和第二探頭4，如圖I所示。支架I包括底座11、轉軸12、圓拱形的第一拱襯131、圓拱形的第二拱襯132、第一測試杆141、第二測試杆142、第一旋鈕151、第二旋鈕152、第一探頭固定裝置161和第二探頭固定裝置162。第一探頭3固定於第一測試杆141上，第二探頭4固定於第二測試杆142上，且第一探頭3和第二探頭4與示波器2電連接，如圖I所示。底座11的上表面設有凸起17，轉軸12固定於凸起17上，如圖I所示。在本實施例中，凸起17呈例如圓拱形。第一拱襯131和第二拱襯132設於底座11的上表面，且凸起17和轉軸12穿過第一拱襯131和第二拱襯132的中空部分，第一拱襯131所在的平面和第二拱襯132所在的平面分別與底座11的上表面垂直。第一測試杆141和第二測試杆142的底端分別呈「h」字形，如圖4和圖6所示。第一測試杆141和第二測試杆142的底端分別與轉軸12鉸接，且第一測試杆141和第二測試杆142分別能夠繞轉軸12轉動。第一拱襯131被設置為穿過例如第一測試杆141的底端的缺口 1412 ;第二拱襯132被設置為穿過例如第二測試杆142的底端的缺口 1422。第一拱襯131上設有圓拱形的第一凹槽1311，如圖I和圖2所示。第一旋鈕151上設有螺紋，第一測試杆141底端的第二側板1414上設有與第一旋鈕151配合的螺紋。第一旋鈕151穿過第一測試杆141底端的第一側板1413和第一凹槽1311與第一測試杆41底端的第二側板414配合，通過旋緊第一旋鈕51能夠使第一測試杆41的位置固定。第二拱襯132上設有圓拱形的第二凹槽1321，如圖I和圖3所示。第二旋鈕152上設有螺紋，第二測試杆142底端的第四側板1424上設有與第二旋鈕152配合的螺紋。第二旋鈕152穿過第二測試杆142底端的第三側板1423和第二凹槽1321與第二測試杆142底端的第四側板1424配合，通過旋緊第二旋鈕152能夠使第二測試杆142的位置固定。第一探頭固定裝置161設於第一測試杆141上；第二探頭固定裝置162設於第二測試杆142上，如圖I所示。第一探頭固定裝置161能夠沿第一測試杆141自由滑動；第二探頭固定裝置162能夠沿第二測試杆142自由滑動。第一探頭固定裝置161上設有例如第三旋鈕1611 ;第二探頭固定裝置162上設有例如第四旋鈕1621，如圖5和圖7所示。通過旋緊第三旋鈕1611能夠使第一探頭固定裝置161的位置固定；通過旋緊第四旋鈕1621能夠使第二探頭固定裝置162的位置固定。在本實施例中，第一探頭固定裝置161用於固定例如測試探頭181，第二探頭固定裝置162用於固定例如參考探頭182。在本實施例中，第一拱襯131和第二拱襯132上分別設有角度刻度。如圖5和圖7所不，第一測試杆141的底端設有例如第一角度觀察窗1411,第二測試杆142的底端設有例如第二角度觀察窗1421，用於觀察角度刻度值。第一測試杆141和第二測試杆142上分別設有長度刻度。第一探頭固定裝置161上設有第一長度觀察窗1612，第二探頭固定裝置162上設有第二長度觀察窗1622，用於觀察長度刻度。 在本實施例中，第一探頭3和第二探頭4都通過例如光纖與示波器2電連接。第一探頭3和第二探頭4用於感測電磁場的場強。示波器2用於測量第一探頭3和/或第二探頭4的輸出以計算場強值。所述系統對包括脈衝信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準；所述系統的支架不僅能夠用於支撐和固定探頭，而且能夠用於調節探頭的位置和角度；所述系統的支架對探頭的位置和角度的調節精度高；所述系統製作成本低，使用方便。應當理解，以上藉助優選實施例對本發明的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人員在閱讀本發明說明書的基礎上可以對各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特徵進行等同替換；而這些修改或者替換，並不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的精神和範圍。
權利要求
1.用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於， 該系統包括支架(I)、示波器(2)、第一探頭(3)和第二探頭(4)； 所述支架(I)包括底座(11)、轉軸(12)、圓拱形的第一拱襯(131)、圓拱形的第二拱襯(132)、第一測試杆(141)、第二測試杆(142)、第一旋鈕(151)、第二旋鈕(152)、第一探頭固定裝置(161)和第二探頭固定裝置(162)； 所述第一探頭(3)固定於所述第一測試杆(141)上，所述第二探頭(4)固定於所述第二測試杆(142)上，且所述第一探頭(3)和所述第二探頭(4)與所述示波器(2)電連接； 所述底座(11)的上表面設有凸起(17)，所述轉軸(12)固定於所述凸起(17)上，所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)設於所述底座(11)的上表面，且所述凸起(17)和所述轉軸(12)穿過所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)的中空部分，所述第一拱襯(131)所在的平面和所述第二拱襯(132)所在的平面分別與所述底座(11)的上表面垂直； 所述第一測試杆(141)和所述第二測試杆(142)的底端分別呈「h」字形，所述第一測試杆(141)和所述第二測試杆(142)的底端分別與所述轉軸(12)鉸接，且所述第一測試杆(141)和所述第二測試杆(142)分別能夠繞所述轉軸(12)轉動，所述第一拱襯(131)被設置為穿過所述第一測試杆(141)的底端的缺口(1412)，所述第二拱襯(132)被設置為穿過所述第二測試杆(142)的底端的缺口(1422)； 所述第一拱襯(131)上設有圓拱形的第一凹槽(1311)，所述第一旋鈕(151)上設有螺紋，所述第一測試杆(141)底端的第二側板(1414)上設有與所述第一旋鈕(151)配合的螺紋，所述第一旋鈕(151)穿過所述第一測試杆(141)底端的第一側板(1413)和所述第一凹槽(1311)與所述第一測試杆(141)底端的第二側板(1414)配合，通過旋緊所述第一旋鈕(151)能夠使所述第一測試杆(141)的位置固定； 所述第二拱襯(132)上設有圓拱形的第二凹槽(1321)，所述第二旋鈕(152)上設有螺紋，所述第二測試杆(142)底端的第四側板(1424)上設有與所述第二旋鈕(152)配合的螺紋，所述第二旋鈕(152)穿過所述第二測試杆(142)底端的第三側板(1423)和所述第二凹槽(1321)與所述第二測試杆(142)底端的第四側板(1424)配合，通過旋緊所述第二旋鈕(152)能夠使所述第二測試杆(142)的位置固定； 所述第一探頭固定裝置(161)設於所述第一測試杆(141)上；所述第二探頭固定裝置(162)設於所述第二測試杆(142)上，所述第一探頭固定裝置(161)能夠沿所述第一測試杆(141)自由滑動，所述第二探頭固定裝置(162)能夠沿所述第二測試杆(142)自由滑動，所述第一探頭固定裝置(161)上設有第三旋鈕(1611)，所述第二探頭固定裝置(162)上設有第四旋鈕(1621)，通過旋緊所述第三旋鈕(1611)能夠使所述第一探頭固定裝置(161)的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕(1621)能夠使所述第二探頭固定裝置(162)的位置固定。
2.根據權利要求I所述的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於，所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)上分別設有角度刻度。
3.根據權利要求I所述的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於，所述第一測試杆(141)的底端設有第一角度觀察窗(1411)，所述第二測試杆(142)的底端設有第二角度觀察窗(1421)。
4.根據權利要求I所述的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於，所述第一測試杆(141)和所述第二測試杆(142)上分別設有長度刻度。
5.根據權利要求I所述的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於，所述第一探頭固定裝置(161)上設有第一長度觀察窗(1612)，所述第二探頭固定裝置(162)上設有第二長度觀察窗(1622)。
6.根據權利要求I所述的用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，其特徵在於，所述凸起(17)呈圓拱形。
全文摘要
本發明公開了一種用於校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統，該系統包括支架(1)、示波器(2)、第一探頭(3)和第二探頭(4)；支架(1)包括底座(11)、轉軸(12)、圓拱形的第一拱襯(131)、圓拱形的第二拱襯(132)、第一測試杆(141)、第二測試杆(142)、第一旋鈕(151)、第二旋鈕(152)、第一探頭固定裝置(161)和第二探頭固定裝置(162)；第一探頭(3)固定於第一測試杆(141)上，第二探頭(4)固定於第二測試杆(142)上，且第一探頭(3)和第二探頭(4)與示波器(2)電連接。所述系統對包括脈衝信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準。所述系統的支架既能用於支撐和固定探頭，又能用於調節探頭的位置和角度。所述系統的支架對探頭位置和角度的調節精度高。
文檔編號G01R29/08GK102830290SQ20121030904
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月27日 優先權日2012年8月27日
發明者姚利軍, 沈濤, 黃建領 申請人:北京無線電計量測試研究所