用於檢驗半導體封裝的標記的方法及設備的製作方法

2023-06-02 00:30:26 1

專利名稱：用於檢驗半導體封裝的標記的方法及設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種用於檢驗半導體封裝的標記的方法及設備，更特別地， 涉及一種能迅速執行半導體封裝的標記檢驗並提高檢驗精度的用於檢驗半 導體封裝的標記的方法及設備。
背景技術：
由現有技術所公知的，通過組裝多種半導體產品而製成的半導體集成電 路己被提供給在世界範圍的使用者。
通常，標記過程在封裝過程後被執行。所述標記過程在半導體封裝的表 面顯示相應的半導體封裝的種類、產品特性、或製造廠家信息，這樣使用者 通過參照印在半導體封裝上的標記能分辨所述半導體封裝的產品特性和用 途。
同時，多個半導體封裝產品在作為成品的半導體封裝的外觀上被組裝， 並且標記過程在該外觀上被執行，所述外觀首先被檢驗以確定外部接線端 (例如，外部引腳)和所述產品的標記是否有缺陷，這樣，所述半導體封裝 的質量控制過程被執行，符合質量要求的所述半導體封裝最終被投放市場。
上述提到的半導體封裝可能有多種有缺陷的標記。
例如，想要的字符可能沒有被印在半導體封裝上，想要的字符可能不連 續地被印在半導體封裝上，錯誤的字符可能被印在半導體封裝上，或者字符 的標記位置偏離了正常範圍，這樣，標記過程在所述半導體封裝上被異常地 執行。
此外，儘管標記過程在所述半導體封裝上被正常地執行，但是不同的產 品可能出乎意料地被相互混合。這樣的話，具有不同特性和用途的多種產品
被相互混合，導致出現嚴重的劣等(產品)。
因此，在所述半導體封裝最終進入市場前，需要對半導體封裝執行標記 檢驗，這樣以確定在一個批次中(例如， 一個發貨單位)有缺陷的標記產品 或不同產品的混合是否存在。
常規的標記檢驗方法通過使用CCD照相機檢測標記字符圖像來捕獲新 批次的第一個封裝的標記字符，設定檢測到的標記字符圖像為標準圖像，並 且將接下來的封裝的標記圖像的圖形與所述標準圖像進行匹配，以確定有缺 陷的標記是否存在。
但是，如果多個封裝中待被檢驗的第一個封裝有缺陷的標記，那麼上述 常規標記檢驗方法不精確地執行在所述第一個封裝之後的其餘封裝的標記 檢驗，這樣導致所述方法可能錯誤地將正常的封裝識別為有缺陷的封裝，或 者錯誤地將有缺陷的封裝識別為正常的封裝。
解決上述錯誤的標記檢驗問題的有代表性的實例已被註冊號為io—
0348102，標題為"METHOD FOR INSPECTING DEFECTIVE MARKING OF SEMICONDUCTOR PRODUCT BY RECOGNIZING OPTICAL CHARACTER"的韓國專利公開，在這裡，所述專利作為參考被結合。
根據所述註冊號為10—0348102的韓國專利，通過光學字符識別以檢驗 半導體產品缺陷標記的方法包括步驟a)通過輸入單元輸入標記字符作為 字符串；b)通過存儲單元存儲所述字符串作為參考檢驗值；c)提供批次單 位中的至少一個半導體產品給載入單元；d)使用照相機將提供給所述載入 單元的所述半導體產品的標記字符識別為字符圖像；e)通過光學字符識別 單元將所述被識別的標記字符識別為字符串；f)將所述字符串的識別結果 和字符串的參考值進行比較，確定所述標記字符是否有缺陷；g)在從控制 器接收控制信號時可選擇地將正常半導體產品或有缺陷的半導體產品提供 給載出單元。
但是，根據所述註冊號為10 — 0348102的韓國專利，上述通過光學字符 識別以檢驗半導體產品缺陷標記的方法必須首先使用光學字符識別單元識 別與標記檢驗有關的所有半導體封裝包的字符串，並且將被識別的字符串單 獨與存儲的參考字符串值進行比較，這樣會耗費長期的時間來識別所有所述 半導體封裝的單個字符，從而導致檢驗效率的減退。

發明內容
因此，考慮上述問題，作出本發明，且本發明的目的是提供一種用於檢 驗半導體封裝上的標記的方法及設備。所述方法及設備，根據光學字符識別 方法，只從被用作參考圖像信息的半導體封裝中獲取字符串信息，根據獲取 的字符串信息的對比結果確定有缺陷的標記是否存在，並且只比較在所述半 導體封裝之後的其它半導體封裝的圖像信息，這樣能迅速執行標記檢驗，提 高檢驗的精確性。
根據本發明的一個方面，通過提供一種用於檢驗半導體封裝的標記的方 法，上述和其它目的能被實現，該方法包括步驟a)獲取待被檢驗的目標 批次中的半導體封裝的字符串信息，並且存儲所獲取的字符串信息作為參考 字符串信息；b)捕獲被印在引入的半導體封裝上的字符圖形，獲取所引入 的半導體封裝的圖像信息；c)顯示所獲取的圖像信息以允許使用者或操作 員在視覺上識別所獲取的圖像信息；d)根據設置信號從所顯示的圖像信息 中檢測字符串信息，將檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息進行比 較，並且當檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息相同時，確定所顯 示的半導體封裝圖像信息為相應批次的參考圖像信息；以及e)將已確定的 參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息進行比較，並且當已確定 的參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息不同時，將相應的半導 體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。優選地，用於確定所述參考圖像信息的步驟(d)包括步驟dl)確定 與待被檢驗的目標批次有關的參考圖像信息是否存在；d2)確定所述設置信 號是否被接收；d3)如果確定所述參考圖像信息不存在，那麼根據所述設置 信號從所獲取的圖像信息中獲取字符串信息；d4)確定所獲取的字符串信息 是否與預先存儲的參考字符串信息相同；d5)如果所獲取的字符串信息與預 先存儲的參考字符串信息相同，就確定相應的半導體封裝的圖像信息作為相 應批次的參考圖像信息；以及d6)如果所獲取的字符串信息與預先存儲的參 考字符串信息不同，就確定相應的半導體封裝有缺陷的標記，並將有缺陷的 半導體封裝分類。
優選地，所述方法進一步包括步驟在所述步驟(d)中將檢測到的字 符串信息與預先存儲的字符串信息進行比較後，如果檢測到的字符串信息與 預先存儲的字符串信息不同，就會產生報警驅動信號。
優選地，所述方法進一步包括步驟在所述步驟(e)中將已確定的參 考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息進行比較後，如果已確定的 參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息不同，就會產生報警驅動 信號。
優選地，與所述待被檢驗的目標批次的半導體封裝有關的字符串信息從 鍵盤處被獲取。
優選地，與所述待被檢驗的目標批次的半導體封裝有關的字符串信息從 讀取器中獲取，所述讀取器用於讀取記錄在相應批次卡中的字符串。
優選地，所述方法進一步包括步驟在接收到用於改變已確定的參考圖 像信息的命令信號時，從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息；並且如果檢 測到的字符串信息與所述參考字符串信息相同，就更新相應的圖像信息為預 先存儲的參考圖像信息，並存儲所更新的圖像信息。
根據本發明另一個方面， 一種用於檢驗半導體封裝的標記的設備被提
供，該設備包括照相機模塊，用於通過鏡頭捕獲半導體封裝的字符圖形；輸 入單元，用於輸入待被檢驗的目標批次的參考字符串信息和多種操作信號； 存儲器，用於存儲從所述輸入單元接收的所述參考字符串信息；顯示器，用 於顯示從所述照相機模塊獲取的被捕獲的圖像；控制器，用於在從所述輸入 單元接收到設置信號時從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息，確定檢測到 的字符串信息是否與預先存儲的參考字符串信息相同，在所述存儲器中存儲 相應的圖像信息作為參考圖像信息或根據被確定的結果產生報警驅動信號， 如果所述參考圖像信息被存儲在所述存儲器中，將所述參考圖像信息與從所 述照相機模塊中接收到的所述圖像信息進行比較，並且如果所述參考圖像信 息與所述照相機模塊中接收到的圖像信息不同，就產生報警驅動信號，並產 生用於將相應的半導體封裝歸類到有缺陷的封裝的缺陷封裝分類信號；報警 單元，該報警單元用於在從所述控制器接收到報警驅動信號時產生報警信 號；分類模塊，該模塊用於在從所述控制器接收到所述缺陷封裝分類控制信 號時將相應的半導體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
優選地，所述控制器可以包括字符串檢測器，該檢測器用於根據所述 設置信號從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息；字符串處理器，該處理器 用於將檢測到的字符串信息與存儲在所述存儲器中的參考字符串信息進行 比較，如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信息相同，則在存儲器中 存儲所顯示的圖像信息作為所述參考圖像信息，並且如果檢測到的字符串信 息與所述參考字符串信息不同，則產生字符串錯誤信號；圖像處理器，該處 理器用於將存儲在所述存儲器中的所述參考圖像信息與從所述照相機模塊 接收到的圖像信息進行比較，如果所述參考圖像信息與接收到的圖像信息不 同，該處理器則產生圖像錯誤信號，並且在接收到用於改變所述參考圖像信 息的信號時更新存儲在所述存儲器中的參考圖像信息；報警驅動控制器，該 控制器用於根據所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號產生所述報警驅
動信號到所述報警單元或顯示器；以及分類驅動控制器，該控制器用於根據 所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號，來向所述分類模塊輸出能將相應 半導體封裝歸類到有缺陷的半導體封裝的缺陷封裝分類控制信號。


從下面結合附圖的詳細描述中可以更清楚地理解本發明的上述及其它 目的、特徵和其它優點，其中
圖1為說明根據本發明的用於檢驗半導體封裝的標記的設備的框圖2為說明根據本發明的用於檢驗半導體封裝的標記的方法的流程圖。
具體實施方式
現在，參照附圖對本發明優選的實施方式作詳細的描述。在附圖中，相 同的參考數字表示相同或相似的元件，即使所述元件在不同的附圖中被描 述。在下面的描述中，當合併的已知功能和配置的詳細描述可能使本發明的 主題對象更不清晰時，所述描述將被省略。
圖1為說明根據本發明的用於檢驗半導體封裝的標記的設備(也可以叫 做標記檢驗裝置)的框圖。
參照圖1，上述根據本發明的用於檢驗半導體封裝的標記的裝置包括照
相機模塊10、輸入單元20、存儲器30、顯示器40、控制器50、報警單元 60和分類模塊70。
所述照相機模塊10通過鏡頭捕獲半導體封裝的字符圖形。所述輸入單 元20輸入待被檢驗的目標批次的參考字符串信息和多種操作信號。所述存 儲器30存儲從所述輸入單元20接收的所述參考字符串信息。所述顯示器40 顯示從所述照相機模塊IO接收的所捕獲的圖像。
所述控制器50在接收到來自所述輸入單元20的設置信號時從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息。所述控制器50確定檢測到的字符串信息與所
述參考字符串信息是否相同，這樣，根據已確定的結果在所述存儲器30中
存儲相應的圖像信息作為參考圖像信息或產生報警驅動信號。如果所述參考
圖像信息在存儲器30中被存儲，所述控制器50就將所述參考圖像信息與從 所述照相機模塊10接收到的圖像信息進行比較。如果所述參考圖像信息與 從所述照相機模塊10接收到的圖像信息不同，控制器50就會輸出所述報警 驅動信號，並輸出用於將相應半導體封裝歸類到有缺陷的封裝的缺陷封裝分 類控制信號。
所述報警單元60在接收到來自所述控制器50的報警驅動信號時輸出報 警信號。所述分類模塊70在接收到來自所述控制器50的所述缺陷封裝分類 控制信號時將相應的半導體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
為了在所述半導體封裝上捕獲字符並獲取所捕獲的字符的圖像信息，所 述照相機模塊10照射光在待被檢驗的目標對象上，並在鏡頭上聚集從目標 對象上反射回來的光，這樣就能獲得想要得到的圖像信息。
所述輸入單元20可以包括鍵盤，該鍵盤允許使用者直接輸入所述參考 字符串信息；批次卡讀取器，所述批次卡讀取器中記錄有與所述目標對象的 批次半導體封裝有關的字符串信息；鍵輸入單元，用於輸入多種操作信號。
所述存儲器單元30存儲從所述輸入單元20接收的所述參考字符串信息 和從所述控制器50接收的所述參考圖像信息。
所述顯示器40顯示通過所述照相機模塊10連續拍攝操作獲取的半導體 封裝圖像信息，根據字符串錯誤信號或圖像信息錯誤信號給使用者或者操作 員提供缺陷標記信息。
所述控制器50包括字符串檢測器51、字符串處理器52、圖像處理器53、 報警驅動控制器54和分類驅動控制器55。
所述字符串檢測器51根據所述設置信號從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息。
所述字符串處理器52將檢測到的字符串信息與存儲在所述存儲器30中 的參考字符串信息進行比較，如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信 息相同，就在存儲器30中存儲所顯示的圖像信息作為參考圖像信息，並且 如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信息不同，所述處理器52就輸 出字符串錯誤信號。
所述圖像處理器53將存儲在存儲器30中的參考圖像信息與從所述照相 機模塊10接收的圖像信息進行比較，如果所述參考圖像信息與接收到的圖 像信息不同，所述處理器53輸出圖像錯誤信號，並在接收到用於改變參考 圖像信息的信號時更新存儲在存儲器30中的參考圖像信息。
所述報警驅動控制器54根據所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號 輸出報警驅動信號給所述報警單元60或顯示器40。
所述分類驅動控制器55根據所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號 來向所述分類模塊70輸出將相應的半導體封裝歸類到有缺陷的封裝的缺陷 封裝分類信號。
所述報警單元60接收來自所述報警驅動控制器54的報警驅動信號，這 樣能在聽覺上將所述報警驅動信號通知給所述使用者或操作員。
所述分類模塊70接收來自所述分類驅動控制器55的控制信號，將有缺 陷標記的半導體封裝歸類到所述缺陷封裝存儲單元。
參照圖2，根據本發明的一種半導體封裝的標記的檢驗方法在下文中將 被描述。
圖2為說明根據本發明的半導體封裝的標記的檢驗方法的流程圖。 參照圖2，為了建立待被檢驗的目標對象的參考值，所述標記檢驗方法 在步驟S100獲取與被標記在待被檢驗的目標批次的半導體封裝上的字符圖 形有關的字符串信息，並在所述存儲器30中存儲所述獲取的字符串信息作
為參考字符串信息。
上述參考字符串信息可以通過所述使用者或操作員從所述鍵盤中輸入 而被獲取，或者也可以從讀取器中讀取含有所述目標批次的參考字符串信息 的批次卡而被獲取。
此後，在步驟S200，上述標記檢驗方法通過使用所述照相機模塊IO獲
取印在半導體封裝上的字符圖形的圖像信息，這樣，所述字符圖形的圖像信 息被獲取。
至於上述圖像信息，如果照射在所述半導體封裝上的光從待被檢驗的目
標對象被反射回來，並在所述照相機模塊10的鏡頭上被聚集，那麼上述圖
像信息從聚集的光中獲取。
在步驟S300，所獲取的圖像信息被提供給所述顯示器40，這樣使用者 或操作員能在視覺上識別所述圖像信息。
此後，在步驟S400，確定相應批次的半導體封裝的參考圖像信息是否 存儲在所述存儲器30。
如果確定相應批次的參考圖像信息沒有被記錄在所述存儲器30，並且在 步驟S500使用者或操作員通過所述輸入單元20輸入設置信號，則在步驟 S510，上述標記檢驗方法通過使用所述字符串檢測器52從所顯示的相應半 導體封裝的圖像信息中檢測字符串信息。
在步驟S520，上述標記檢驗方法確定檢測到的字符串信息與預先存儲 的參考字符串信息是否相同。
在步驟S520，如果檢測到的字符串信息與預先存儲的參考字符串信息 相同，那麼在步驟S530，所述相應半導體封裝的圖像信息被確定為參考圖 像信息，並且己確定的參考圖像信息被存儲在所述存儲器30中。
否則，在步驟S520，如果檢測到的字符串信息與預先存儲的參考字符 串信息不同，那麼在步驟S540，所述報警驅動控制器54輸出控制信號驅動
所述報警單元60和所述顯示器40，這樣能通知使用者或操作員上述報警狀 態。在步驟S550，所述分類驅動控制器55輸出缺陷封裝分類信號給所述分 類模塊70，這樣相應的半導體封裝被歸類到缺陷封裝存儲單元。
在將所述半導體封裝歸類到所述缺陷封裝存儲單元後，上述標記檢驗方 法確定相應的半導體封裝是否能表示相應批次的最後的對象。如果確定相應 的半導體封裝是相應批次的最後的對象，所述標記檢驗方法就終止標記檢 驗。否則，如果確定所述相應的半導體封裝不能表示相應批次的最後的對象， 所述標記檢驗方法返回到上述圖像獲取步驟S200。
如果所述參考圖像信息被存儲在所述存儲器30中，則從而在步驟S700 所述標記檢驗方法將從所述照相機模塊10連續接收的半導體封裝圖像信息 與存儲在所述存儲器30的參考圖像信息進行比較，並且在步驟S710，確定 所述半導體封裝圖像信息是否與所述參考圖像信息相同。
如果在步驟S710，所述半導體封裝圖像信息被確定與所述參考圖像信 息不同(例如，出現缺陷標記)，則在步驟S720，所述標記檢驗方法輸出報 警信號給所述報警單元60和所述顯示器40，這樣可以在聽覺上和視覺上通 知使用者或操作員關於有缺陷標記的信息。之後，在步驟S730，所述標記 檢驗方法輸出缺陷封裝控制信號給所述分類模塊70以將有缺陷標記的半導 體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
在步驟S600，在接下來的半導體封裝圖像信息的比較期間接收用於改 變參考信息的命令信號後，所述標記檢驗方法重新從所顯示的圖像信息中獲 取字符串信息，將所獲取的字符串信息與存儲在所述存儲器30中的所述參 考字符串信息進行比較。因此，如果所獲取的字符串信息與存儲在所述存儲 器30中的所述參考字符串信息相同，所述標記檢驗方法就會更新所述相應 半導體封裝的圖像信息為存儲在所述存儲器30中的參考圖像信息。
在執行上述檢驗過程後，在步驟S800，所述標記檢驗方法確定相應的
半導體IC是否是最後的檢驗對象。如果在步驟S800相應的半導體IC被確 定是最後的檢驗對象，標記檢驗方法就終止標記檢驗。否則，如果在步驟 S800相應的半導體IC被確定不能表示最後的檢驗對象，所述標記檢驗方法 返回到上述圖像獲取步驟S200，這樣從S200重複上述檢驗步驟。
從上述描述中易看出，根據本發明的用於檢驗半導體封裝的標記的方法 及設備根據光學字符識別方法，只從被用來作為參考圖像信息的半導體封裝 獲取字符串信息；根據所獲取的字符串信息的比較結果確定所述半導體封裝 中的缺陷標記是否存在，並且只比較在所述半導體封裝之後的其它半導體封 裝的圖像信息，這樣能快速地執行標記檢驗並提高所述檢驗的精確性。
雖然出於舉例說明的目的已經公開了本發明優選的實施方式，但是本領 域技術人員應當意識到可能有不同的修改、添加和替換，這些沒有離開所附 權利要求中公開的本發明的範圍和實質。
權利要求
1、一種用於檢驗半導體封裝的標記的方法，該方法包括以下步驟a)獲取待被檢驗的目標批次中的半導體封裝的字符串信息，並且存儲所獲取的字符串信息作為參考字符串信息；b)捕獲被印在引入的半導體封裝上的字符圖形，並且獲取所引入的半導體封裝的圖像信息；c)顯示所獲取的圖像信息以允許使用者或操作員在視覺上識別所獲取的圖像信息；d)根據設置信號從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息，將檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息進行比較，並且當檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息相同時，確定所顯示的半導體封裝圖像信息為相應批次的參考圖像信息；以及e)將已確定的參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息進行比較，並且當已確定的參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息不同時，將相應的半導體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
2、 根據權利要求1所述的方法，其中，用於確定所述參考圖像信息的 步驟(d)包括以下步驟dl)確定與所述待被檢驗的目標批次有關的參考圖像信息是否存在； d2)確定所述設置信號是否被接收；d3)如果確定所述參考圖像信息不存在，那麼根據所述設置信號從所獲 取的圖像信息中獲取字符串信息；d4)確定所獲取的字符串信息是否與預先存儲的參考字符串信息相同；d5)如果所獲取的字符串信息與預先存儲的參考字符串信息相同，則確 定相應的半導體封裝的圖像信息作為相應批次的參考圖像信息；以及d6)如果所獲取的字符串信息與預先存儲的參考字符串信息不同，則確定相應的半導體封裝有缺陷的標記，並將有缺陷的半導體封裝分類。
3、 根據權利要求1所述的方法，該方法進一步包括以下步驟 在所述步驟(d)中將檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息進行比較後，如果檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息不同，則產生 報警驅動信號。
4、 根據權利要求1所述的方法，該方法進一步包括以下步驟 在所述步驟(e)中將已確定的參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息進行比較後，如果己確定的參考圖像信息與繼續引入的半導體封 裝的圖像信息不同，則產生報警驅動信號。
5、 根據權利要求1所述的方法，其中，與所述待被檢驗的目標批次的半導體封裝有關的字符串信息從鍵盤處被獲取。
6、 根據權利要求1所述的方法，其中，與所述待被檢驗的目標批次的半導體封裝有關的字符串信息從讀取器中獲取，所述讀取器用於讀取記錄在 相應批次卡中的字符串。
7、 根據權利要求1-6中任意一項權利要求所述的方法，該方法進一步包括以下步驟在接收到用於改變已確定的參考圖像信息的命令信號時，從所顯示的圖 像信息中檢測字符串信息；以及如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信息相同，則更新相應的圖 像信息為預先存儲的參考圖像信息，並存儲所更新的圖像信息。
8、 一種用於檢驗半導體封裝的標記的設備，該設備包括 照相機模塊，該照相機模塊用於通過鏡頭捕獲半導體封裝的字符圖形； 輸入單元，該輸入單元用於輸入待被檢驗的目標批次的參考字符串信息和多種操作信號；存儲器，該存儲器用於存儲從所述輸入單元接收的所述參考字符串信息；顯示器，該顯示器用於顯示從所述照相機模塊獲取的被捕獲的圖像；控制器，該控制器用於在從所述輸入單元接收到設置信號吋從所顯示的 圖像信息中檢測字符串信息；確定檢測到的字符串信息是否與預先存儲的參 考字符串信息相同，在所述存儲器中存儲相應的圖像信息作為參考圖像信息 或根據所確定的結果產生報警驅動信號；如果所述參考圖像信息被存儲在所 述存儲器中，則將所述參考圖像信息與從所述照相機模塊中接收到的圖像信 息進行比較；以及，如果所述參考圖像信息與從所述照相機模塊中接收到的 圖像信息不同，則產生報警驅動信號，並產生用於將相應的半導體封裝歸類 到有缺陷的封裝的缺陷封裝分類控制信號；報警單元，該報警單元用於在從所述控制器接收到所述報警驅動信號時 產生報警信號；以及分類模塊，該分類模塊用於在從所述控制器接收到所述缺陷封裝分類控 制信號時將相應的半導體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
9、 根據權利要求8所述的設備，其中，所述控制器包括 字符串檢測器，該字符串檢測器用於根據所述設置信號從所顯示的圖像信息中檢測字符串信息；字符串處理器，該字符串處理器用於將檢測到的字符串信息與存儲在所 述存儲器中的參考字符串信息進行比較，如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信息相同，則在存儲器中存儲所顯示的圖像信息作為所述參考圖像 一言息，並且如果檢測到的字符串信息與所述參考字符串信息不同，則產生字 ^f串錯誤信號；圖像處理器，該圖像處理器用於將存儲在所述存儲器中的所述參考圖像 —言息與從所述照相機模塊接收到的圖像信息進行比較，如果所述參考圖像信 息與所述接收到的圖像信息不同，則產生圖像錯誤信號，並且在接收到用於改變所述參考圖像信息的信號時更新存儲在所述存儲器中的參考圖像信息； 報警驅動控制器，該報警驅動控制器用於根據所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號產生所述報警驅動信號到所述報警單元或顯示器；以及分類驅動控制器，該分類驅動控制器用於根據所述字符串錯誤信號或所述圖像錯誤信號來向所述分類模塊輸出能將相應半導體封裝歸類到有缺陷的半導體封裝的缺陷封裝分類控制信號。
全文摘要
公開了一種用於檢驗半導體封裝的標記的方法和設備，可以迅速執行半導體封裝的標記檢驗並提高檢驗精確度。所述方法包括a)獲取待檢驗目標批次的半導體封裝的字符串信息，並存儲該字符串信息作為參考字符串信息；b)捕獲被印在引入的半導體封裝上的字符圖形並獲取所引入的半導體封裝的圖像信息；c)顯示所獲取的圖像信息以允許使用者視覺上識別所獲取的圖像信息；d)根據設置信號從顯示的圖像信息中檢測字符串信息，比較檢測到的字符串信息與預先存儲的字符串信息，兩者相同時確定所顯示的半導體封裝圖像信息為相應批次的參考圖像信息；e)比較已確定的參考圖像信息與繼續引入的半導體封裝的圖像信息，兩者不同時將相應半導體封裝歸類到缺陷封裝存儲單元。
文檔編號H01L21/66GK101189712SQ200680019808
公開日2008年5月28日 申請日期2006年6月5日 優先權日2005年6月7日
發明者俞昇奉, 姜珉求, 李孝重, 林雙根 申請人:英泰克普拉斯有限公司