一種數字電路板自動生成向量的測試方法
2023-06-03 13:50:16
專利名稱：一種數字電路板自動生成向量的測試方法
技術領域：
本發明涉及電子測試系統領域，主要用於數字電路板的測試與故障診 斷需要，具體涉及一種數字電路板自動生成向量的測試方法。
背景技術：
隨著裝備信息化程度的不斷加強，數字電路已經成為電子裝備的重要 組成部分。其質量直接影響到裝備整機的質量，其生產、維修和檢驗周期， 直接影響到整機的研製速度和綜合指標。因此，對數字電路的測試和故障 診斷技術進行研究已經成為現代測試技術研究的重要領域。但是，大多數 的測試系統都是針對整臺設備或系統設計的，針對電路板進行測試的自動 測試方法還不多見。
許多測試系統中的測試向量生成主要依靠工程測試人員憑藉自己的豐 富經驗和理論知識完成，這不僅對測試人員的素質要求較高，而且測試速 度慢、可信度低，尤其是隨著系統的日趨複雜，測試周期長，無法排除測 試結果中的人為因素，無法實現集成電路大批量自動測試。基於計算機自
動測試生成方法是從Eldred於1959年提議採用推導測試的技術開始，目前 國際上已經在數字電路測試生成方面提出了許多算法。其中，有代表的主 要有 一維敏化法、布爾差分法、D算法、九值D算法、PODEM和FAN 算法。上述方法都是建立在SSA模型基礎上的，而且都沿用了通路敏化的 思想。而且對於時序電路來說，其主要由存儲元件(如觸發器)和組合邏輯電路(如組合邏輯門)組成，電路的輸出不僅與當前的輸入有關，還與 電路的歷史狀態有關，因此其測試生成遠比組合電路的測試生成複雜。目 前對時序電路而言，比較有效的測試生成方法主要有擴展的向後驅趕
(Extended Back-Trace, EBT)算法、FASTEST算 去、CONTEST算法等。 不過，這些算法實現起來較困難，很多都是停留在理論研究層面，實際系 統並沒有得到應用。
發明內容
為解決對任意數字電路板都可以測試、提高測試的可靠性與效率的技 術問題，本發明設計了一種數字電路板自動生成向量的測試方法，可以根 據被測電路的不同自動生成向量進行測量，可以十分方便地實現測試埠 方向的任意配置，滿足不同類型電路板的測試需求。
本發明實現發明目的採用的技術方案是， 一種數字電路板自動生成向 量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統的 上位機中實現的，測試方法首先對被測電路進行自動測試生成並得到相應 測試向量表，其次根據所生成的向量表編寫測試程序、並按此程序的時序 關係執行測試過程，最後讀取被測電路的響應信息並與標準向量信息比較， 判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成並得到相
應測試向量表的具體過程是
A) 、將被測電路的數據信息文件以編碼形式存入指定的系統資料庫中；
B) 、根據編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑， 並將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端
口地址；C) 、對找出的D通路進行一致性檢査，刪除錯誤向量和冗餘向量的真 值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統資料庫中；
D) 、重複步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值 表的個數；
E) 、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關係存入系 統資料庫，等待下位機執行測試程序。
本發明的有益效果是測試能力強、測試生成系統得到的測試向量可以 自動轉化為被測電路的測試程序，提高了系統的執行效率，使系統可以十 分方便地應用於新型電路板的試驗測試。
下面結合附圖對本發明進行詳細說明。
圖l是本發明的方法流程圖。
具體實施例方式
參看圖l， 一種數字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安 裝有配套測試程序和自動測試生成系統的上位機中實現的，上述的測試方 法首先對被測電路進行自動測試生成並得到相應測試向量表，其次根據所 生成的向量表編寫測試程序、並按此程序的時序關係執行測試過程，最後 讀取被測電路的響應信息並與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障， 其中所說的對被測電路進行自動測試生成並得到相應測試向量表的具體過 程是
A) 、將被測電路的數據信息文件以編碼形式存入指定的系統資料庫中;
B) 、根據編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，並將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端
口地址；
C) 、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗餘向量的真 值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統資料庫中；
D) 、重複步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值 表的個數；
E) 、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關係存入系 統資料庫，等待下位機編寫並執行測試程序。
上述的步驟B中將故障響應信息以測試向量表的形式存儲到電路埠 地址的過程是從輸出端向輸入端進行信息傳輸的。
上述的步驟A中的數據信息文件可以來自計算機輔助設計軟體生成的 文件，也可以根據定義好的數據格式進行手動輸入。
上述的步驟D中重複步驟B和步驟C的次數是根據被測電路D通路故 障的數目和實際電路中邏輯門的數量共同決定的。
本發明的測試方法的完整過程是首先對被測電路進行自動測試並生 成，根據得到的測試向量自動編寫測試程序。根據測試程序，上位機首先 對測試埠進行方向配置，然後按照時序關係執行測試，並讀取來自被測 電路的響應信息，通過與標準向量信息進行對比，判斷被測電路的故障。
其中數字電路板自動測試向量生成方法主要表現在首先對被測電路 進行D路通路敏化，找到電路的D通路，然後對D通路進行一致性檢査， 刪除錯誤向量和冗餘向量，最後得到被測電路的測試向量，並存入系統模 型資料庫，經過格式轉換後送到自動測試系統用以執行測試任務。如果按照傳統D算法思想，先敏化路徑然後再統一進行一致性檢查的 話，產生的敏化路徑的數量將達到天文數字，測試向量生成將變成一個"不 可能完成"的任務。因此必須在每一步回溯時，進行一致性檢查，及時刪 除不符合要求的D立方(D立方是一個壓縮的真值表，可以作為電路的測 試向量)，減少計算機的計算量，加快測試向量生成的速度。
本發明的測試方法的可測對象包含多時鐘、含有複雜功能的時序電路。 本測試方法的算法思想在傳統D算法的基礎上進行很大的改進。主要表現 在以下四個方面
(1) 、 D通路不再是從輸入端開始向輸出端敏化，而是從輸出端向輸 入端進行回溯敏化。生成的敏化通路較長，測試向量覆蓋的測試路徑多， 可以在滿足同樣故障覆蓋率的要求下，儘量減少測試中間節點的個數。
(2) 、採用每完成一步敏化，立即進行一致性檢査的策略。另外，在 每一步敏化後，進行一致性檢查過程中添加選擇策略，控制每次生成的D 立方的個數，降低敏化路徑的計算量，提高測試向量生成速度。
(3) 、為了實現時序電路測試生成，讓D立方攜帶時序信息。在每次 路徑敏化時，只要將D方程中的延時信息與本次敏化所需的D立方中的延 時信息疊加即可。
(4) 、採用多個時鐘棧，解決電路的多時鐘問題。
權利要求
1、一種數字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統的上位機與執行測試程序的下位機的配合下實現的，其特徵在於所述的測試方法首先對被測電路進行自動測試生成並得到相應測試向量表，其次根據所生成的向量表編寫測試程序、並按此程序的時序關係執行測試過程，最後讀取被測電路的響應信息並與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成並得到相應測試向量表的具體過程是A)、將被測電路的數據信息文件以編碼形式存入指定的系統資料庫中；B)、根據編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，並將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路埠地址；C)、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗餘向量的真值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統資料庫中；D)、重複步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值表的個數；E)、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關係存入系統資料庫，等待下位機編寫並執行測試程序。
2、 根據權利要求1所述的一種數字電路板自動生成向量的測試方法， 其特徵在於所述的步驟B中將故障響應信息以測試向量表的形式存儲到 電路埠地址的過程是從輸出端向輸入端進行信息傳輸的。
3、 根據權利要求1所述的一種數字電路板自動生成向量的測試方法， 其特徵在於所述的步驟A中的數據信息文件可以來自計算機輔助設計軟 件生成的文件，也可以根據定義好的數據格式進行手動輸入。
4、 根據權利要求1所述的一種數字電路板自動生成向量的測試方法， 其特徵在於所述的步驟D中重複步驟B和步驟C的次數是根據被測電路 D通路故障的數目和實際電路中邏輯門的數量共同決定的。
全文摘要
一種數字電路板自動生成向量的測試方法，解決對任意數字電路板都可以測試、提高測試的可靠性與效率的技術問題，採用的技術方案是，本方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統的上位機與執行測試程序的下位機的配合下實現的，以上測試方法首先對被測電路進行自動測試並生成得到相應測試向量表，其次根據所生成的向量表編寫測試程序、並按此程序的時序關係執行測試過程，最後讀取被測電路的響應信息並與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障。本發明的優點是測試能力強、測試生成系統得到的測試向量可以自動轉化為被測電路的測試程序，提高了系統的執行效率，使系統可以十分方便地應用於新型電路板的試驗測試。
文檔編號G01R31/28GK101614788SQ20091007489
公開日2009年12月30日 申請日期2009年7月17日 優先權日2009年7月17日
發明者呂曉明, 王振生, 連光耀, 鄧大權, 星 陳, 黃考利 申請人:中國人民解放軍63908部隊