一種led電性測試儀器的製作方法
2023-05-28 11:43:26
專利名稱：一種led電性測試儀器的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及ー種LED測試儀器，具體是指ー種LED電性測試儀器。
背景技術：
在LED的生產過程中，需要使用LED測試儀器對LED進行電性測試，以將LED分成各種等級。目前，LED測試儀器通常採用探針的形式進行LED電性測試，探針製作エ藝複雜，一般不容易自行加工製造，在使用中容易損耗損壞，經常需要拆卸裝配，影響生產效率，且時常更換探針會增加成本。另外，由於探針安裝節距和單針安裝的原因，某些LED產品在高速測試過程中容易在針腳間卡料，導致產品受損或探針打彎打斷，或者由於探針過細，所測試LED產品位置稍微偏差則接觸點對接不上而導致測試失敗，對於某些細小的SMD式LED電性測試不盡理想。*[0003]本實用新型的目的在於提供一種電性接觸面積大、不易損耗、維護簡單、成本低的LED電性測試儀器。為實現上述目的，本實用新型採用以下技術方案ー種LED電性測試儀器，包括相互分隔且絕緣設置的第一固定座和第二固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的內側中部的相鄰位置，分別設有兩個相鄰的電性接觸引腳，所述的電性接觸引腳為塊狀且間隙設置，每個所述的電性接觸引腳的底部連接有測試電源線。優選地，所述的第一固定座和所述的第二固定座設有與所述的電性接觸引腳相配合的引腳孔，所述的引腳孔內還設有與所述的電性接觸引腳相抵靠的弾性件，所述的電性接觸引腳活動卡置於所述的引腳孔中。優選地，所述的電性接觸引腳的頂端面具有向內傾斜的可放置LED組件的斜面。優選地，所述的電性接觸引腳的頂端面具有可放置LED組件的凸臺，所述的凸臺由大小均勻的凸起組成。採用上述技術方案後，本實用新型與現有的背景技術相比，具有如下優點I、本實用新型採用電性接觸引腳形式進行電性測試，電性接觸引腳為塊狀，與LED組件的電性接觸面積大，測試便捷、準確，而且電性接觸引腳耐用、不易損耗、維護簡單、使用成本低；2、電性接觸引腳的頂端面具有斜面或凸點式凸臺，將與LED組件底部接觸的部分從面接觸轉為線接觸或多點式接觸，克服了因LED組件底部的平整度問題而造成的與電性接觸引腳的頂端面接觸不良的缺陷，可提高測試接觸的穩定可靠性，使測試時的接觸可簡單達成，減少了 LED組件底部碰撞損壞的可能性；3、電性接觸弓丨腳的下端設有彈性件，LED組件放於電性接觸弓丨腳上時，弾性件可起到緩衝向下壓カ和向上回彈頂起，使電性接觸引腳與LED組件接觸緊密，達到良好的通電性能。
圖I為本實用新型實施例一的結構示意圖；圖2為圖I沿A-A剖視圖；圖3為本實用新型實施例一的工作狀態圖；圖4為本實用新型實施例ニ的結構示意圖。主要組件符號說明100 :第一固定座，110 :引腳孔，200 :第二固定座，300 :電性接觸引腳，310 :斜面，320 :凸臺，400 :絕緣片，500 :彈簧，600 :LED組件。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一歩詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，並不用於限定本實用新型。實施例一—種LED電性測試儀器,包括相互分隔的第一固定座100和第二固定座200,第一固定座100和第二固定座200之間設置有絕緣片400，在第一固定座100和第二固定座200的內側中部的相鄰位置，分別設有兩個相鄰的與電性接觸引腳300相配合的引腳孔110，引腳孔110內還設有與電性接觸引腳300相抵靠的彈簧500，電性接觸引腳300活動卡置於引腳孔110中，電性接觸引腳300為塊狀且間隙設置，電性接觸引腳300的頂端面具有向內傾斜的可放置LED組件600的斜面310，每個電性接觸引腳300的底部連接有測試電源線。請參閱圖3所示，由於電性接觸引腳300為塊狀，與LED組件600的接觸面積大，測試便捷、準確；請參閱圖I-圖3所示，本實用新型在工作時，LED組件600經過外置的轉盤真空吸嘴吸起，放置於四個電性接觸引腳300上，LED組件600接觸電性接觸引腳300產生通電，同時電性接觸弓I腳300下端的彈簧500起到緩衝向下壓カ和向上頂起的作用，使LED組件600與電性接觸引腳300的接觸更加緊密，達到良好的通電性能。由於電性接觸引腳300的頂端面具有向內傾斜的可放置LED組件600的斜面310，將與LED組件底部接觸的部分從面接觸轉為線接觸，克服了因LED組件底部的平整度問題而造成的與電性接觸引腳的頂端面接觸不良的缺陷，可提高測試接觸的穩定可靠性，減少了 LED組件底部碰撞損壞的可能性。實施例ニ 請參閱圖4所示，實施例ニ中的電性接觸引腳300的頂端面不具有向內傾斜的可放置LED組件600的斜面310，而是具有可放置LED組件600的凸臺320，凸臺320由大小均勻的凸起組成，將與LED組件底部接觸的部分從面接觸轉為多點式接觸，可提高測試接觸的穩定可靠性，減少了 LED組件底部碰撞損壞的可能性。其餘部分與實施例一相同。以上所述，僅為本實用新型較佳的具體實施方式
，但本實用新型的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術範圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護範圍之內。因此，本實用新型的保護範圍應該以權利要求的保護範圍為準。
權利要求1.ー種LED電性測試儀器，其特徵在於包括相互分隔且絕緣設置的第一固定座和第ニ固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的內側中部的相鄰位置，分別設有兩個相鄰的電性接觸引腳，所述的電性接觸引腳為塊狀且間隙設置，每個所述的電性接觸引腳的底部連接有測試電源線。
2.如權利要求I所述的ー種LED電性測試儀器，其特徵在於所述的第一固定座和所述的第二固定座設有與所述的電性接觸引腳相配合的引腳孔，所述的引腳孔內還設有與所述的電性接觸引腳相抵靠的弾性件，所述的電性接觸引腳活動卡置於所述的引腳孔中。
3.如權利要求I或2所述的ー種LED電性測試儀器，其特徵在於所述的電性接觸引腳的頂端面具有向內傾斜的可放置LED組件的斜面。
4.如權利要求I或2所述的ー種LED電性測試儀器，其特徵在於所述的電性接觸引腳的頂端面具有可放置LED組件的凸臺，所述的凸臺由大小均勻的凸起組成。
專利摘要本實用新型公開了一種LED電性測試儀器，包括相互分隔且絕緣設置的第一固定座和第二固定座，在所述的第一固定座和所述的第二固定座的內側中部的相鄰位置，分別設有兩個相鄰的電性接觸引腳，所述的電性接觸引腳為塊狀且間隙設置，每個所述的電性接觸引腳的底部連接有測試電源線。本實用新型採用電性接觸引腳形式進行電性測試，電性接觸引腳為塊狀，與LED組件的電性接觸面積大，測試便捷、準確，而且電性接觸引腳耐用、不易損耗、維護簡單、使用成本低。
文檔編號G01R31/26GK202433491SQ20122000481
公開日2012年9月12日 申請日期2012年1月5日 優先權日2012年1月5日
發明者林琛庭, 肖見兵 申請人:深圳市燦升半導體設備有限公司