儲存裝置的測試方法與電腦程式產品的製作方法
2023-06-02 14:00:16 2
儲存裝置的測試方法與電腦程式產品的製作方法
【專利摘要】一種儲存裝置的測試方法與電腦程式產品。該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合計算機裝置執行，儲存裝置包括第一、第二接口及至少一儲存模塊，儲存模塊包括第一、第二傳輸埠及存儲單元，計算機裝置包括運算單元及控制接口，測試方法包括：（A）運算單元令控制接口啟用第一接口與第一傳輸埠電性連接，並禁用第二接口與第二傳輸埠電性連接；（B）令控制接口通過第一接口、第一傳輸埠對存儲單元進行數據存取；（C）運算單元令控制接口啟用第二接口與第二傳輸埠電性連接，並禁用第一接口與第一傳輸埠電性連接；以及（D）令控制接口通過第二接口、第二傳輸埠對存儲單元進行數據存取。本發明可測得單一傳輸路徑的性能表現。
【專利說明】儲存裝置的測試方法與電腦程式產品
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測試方法與電腦程式產品，特別是指一種儲存裝置的測試方法與電腦程式產品。
【背景技術】
[0002]獨立磁碟冗餘陣列(redundantarray of independent disks, RAID)是一種常見的數據儲存技術，其將多個硬碟(hard disk)組合為一個邏輯扇區，而廣泛應用於伺服器等計算機系統的數據儲存介質。
[0003]舉例來說，伺服器計算機可通過其獨立磁碟冗餘陣列控制接口(RAIDcontroller)與集束磁碟(just a bunch of disks,JBOD)連接，以存取集束磁碟中的數據。每一集束磁碟各包含兩個串接式小型計算機系統接口(serial attached small computersystem interface, SAS)的擴展器(expander),以及多個SAS硬碟。每個SAS硬碟各有一個主傳輸埠(primary port)及一個次傳輸埠(secondary port)。
[0004]上述獨立磁碟冗餘陣列控制接口分別與集束磁碟的兩個SAS擴展器連接，其中一SAS擴展器連接於各個SAS硬碟的主傳輸埠，另一 SAS擴展器連接於各個SAS硬碟的次傳輸埠。
[0005]據此，通過上述伺服器計算機對集束磁碟進行性能測試(例如壓力測試)時，數據會分別從SAS硬碟的主傳輸埠與次傳輸埠經由對應的SAS擴展器傳輸至獨立磁碟冗餘陣列控制接口，亦即同一筆數據的部分信息經由主傳輸埠及其對應的SAS擴展器進行存取，另一部分信息經由次傳輸埠及其對應的SAS擴展器存取。但上述過程中，數據分散地經由兩條路徑進行傳輸，而無法測得單一路徑(單一傳輸埠)的數據傳輸特性(例如最大負載)。
[0006]因此，需要提供一種儲存裝置的測試方法與電腦程式產品來解決上述問題。
【發明內容】
[0007]因此，本發明的目的，即在於提供一種可對儲存裝置進行單一路徑測試的方法。
[0008]於是，本發明提供一種儲存裝置的測試方法，該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合一計算機裝置執行，該儲存裝置包含一第一接口、一第二接口及至少一個儲存模塊，該儲存模塊包括一第一傳輸埠、一第二傳輸埠及一存儲單元，該計算機裝置包含一運算單元及一控制接口，該測試方法包含以下步驟:(A)該計算機裝置的運算單元發出一第一控制指令至該控制接口，該控制接口依據該第一控制指令啟用(enable)該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸埠電性連接，並禁用(disable)該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸埠電性連接；(B)該運算單元發出一第一測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第一接口、該儲存模塊的第一傳輸埠對該儲存模塊的存儲單元進行數據存取；(C)該計算機裝置的運算單元發出一第二控制指令至該控制接口，該控制接口依據該第二控制指令啟用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸埠電性連接，並禁用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸埠電性連接；以及(D)該運算單元發出一第二測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第二接口、該儲存模塊的第二傳輸埠對該儲存模塊的存儲單元進行數據存取。
[0009]較佳地，該儲存裝置包含多個儲存模塊，各該儲存模塊的第一傳輸埠電連接於該儲存裝置的第一接口，且各該儲存模塊的第二傳輸埠電連接於該儲存裝置的第二接□。
[0010]較佳地，該第一測試信號、該第二控制指令涉及該儲存裝置的效能測試、負載測試或壓力測試。
[0011]較佳地，該儲存裝置的數量為多個，且該等儲存裝置的第一接口與一第二接口分別電連接於該儲存裝置的控制接口。
[0012]較佳地，該儲存裝置的數量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接於該第一接口的第一串接埠及一電連接於該第二接口的第二串接埠，各該儲存裝置的第一串接埠供另一儲存裝置的第一接口電性連接，且各該儲存裝置的第二串接埠供另一儲存裝置的第二接口電性連接；在步驟(B)中該控制接口還通過各該第一串接埠對該等儲存模塊的存儲單元進行數據存取；在步驟(D)中該控制接口還通過各該第二串接埠對該等儲存模塊的存儲單元進行數據存取。
[0013]較佳地，該控制接口是一獨立磁碟冗餘陣列控制接口，該儲存裝置是一集束磁碟，該第一接口與該第二接口分別是一串接式小型計算機系統接口擴展器，該儲存模塊是一串接式小型計算機系統接口硬碟。
[0014]本發明還提供一種電腦程式產品，該電腦程式產品由一計算機裝置載入並執行後，可執行上述任一所述測試方法。
[0015]本發明的功效在於:通過計算機裝置的控制接口對儲存裝置的第一接口、第二接口發出指令，使兩者分別啟用或禁用與第一傳輸埠、第二傳輸埠的電性連接，而能單就第一接口、第一傳輸埠的數據傳輸路徑或第二接口、第二傳輸埠的數據傳輸路徑進行測試，以測得單一傳輸路徑的性能表現。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]本發明的其他的特徵及功效，將在參照附圖的較佳實施例詳細說明中清楚地呈現，其中:
[0017]圖1是一系統架構圖，說明本發明儲存裝置的測試方法的第一較佳實施例；
[0018]圖2是該第一較佳實施例的流程圖；
[0019]圖3是一系統架構圖，說明本發明儲存裝置的測試方法的第二較佳實施例；以及
[0020]圖4是該第二較佳實施例的流程圖。
[0021]主要組件符號說明:
[0022]1計算機系統331第'-…傳輸埠
2計算機裝置332第二傳輸埠
21運算單元333存儲單元
22控制接口34第-』串接埠
3儲存裝置35第二串接埠
31第1--接口S1-S6流程步驟
32第二接口Fl~F6流程步驟
33儲存模塊
【具體實施方式】
[0023]有關本發明的前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考附圖的兩個較佳實施例的詳細說明中，將可清楚地呈現。
[0024]在本發明被詳細描述之前，應當注意在以下的說明內容中，類似的組件是以相同的編號來表不。
[0025]參閱圖1、圖2，本發明的測試方法，應用於一計算機系統1，該計算機系統I包含一計算機裝置2及一儲存裝置3。
[0026]計算機裝置2包括一運算單元21及一電連接於運算單元21的控制接口 22。本實施例中，計算機裝置2以一伺服器計算機為例，運算單元21是該伺服器計算機的中央處理器(central processing unit, CPU),控制接口 22是一獨立磁碟冗餘陣列控制接口，但計算機裝置2、運算單元21與控制接口 22的實施方式可視需要而調整，不以上述內容為限。
[0027]儲存裝置3包括一第一接口 31、一第二接口 32及多個(此處以兩個為例)儲存模塊33。儲存模塊33各具有一第一傳輸埠 331、一第二傳輸埠 332及一存儲單元333。該儲存裝置3的第一接口 31通過一連接線(圖中未繪製)電連接於計算機裝置2的控制接口 22，並分別電連接於該等儲存模塊33的第一傳輸埠 331，且其第二接口 32通過另一條連接線(圖中未繪製)電連接於計算機裝置2的控制接口 22，並分別電連接於該等儲存模塊33的第二傳輸埠 332。據此，控制接口 22可分別通過第一接口 31、第一傳輸埠 331對存儲單元333進行數據存取，或通過第二接口 32、第二傳輸埠 332對存儲單元333進行數據存取。
[0028]本實施例中，儲存裝置3是一集束磁碟，第一接口 31、第二接口 32分別為一串接式小型計算機系統接口擴展器(SAS expander),儲存模塊33分別為一串接式小型計算機系統接口硬碟(SAS hard disk)，第一傳輸埠 331、第二傳輸埠 332則分別是串接式小型計算機系統接口硬碟的主傳輸埠、次傳輸埠其中之一。但視應用狀況，上述構件可依需要而調整，不以此處公開的內容為限。
[0029]以下參照圖1、圖2，圖1、圖2說明本發明提出的儲存裝置3的測試方法。
[0030]步驟S1、S2:使用者操作計算機裝置2，讓計算機裝置2的運算單元21發出一第一控制指令至控制接口 22。控制接口 22依據第一控制指令，令儲存裝置啟動第一接口 31對該等儲存模塊33的第一傳輸埠 331的實體(PHY)連結，啟用第一接口 31與第一傳輸埠 331形成電性連接，而能進行數據傳輸。此外，控制接口 22還依據該第一控制指令，令儲存裝置切斷第二接口 32對該等儲存模塊33的第二傳輸埠 332的實體連結，禁用第二接口 32與第二傳輸埠 332之間進行數據傳輸。因此，經過此設定程序後，儲存模塊33隻能通過其第一傳輸埠 331進行數據傳輸。
[0031]步驟S3:運算單元21依據使用者的設定，發出一關於效能測試、負載測試或壓力測試等測試方式的第一測試信號。根據測試類型，控制接口 22通過儲存裝置3的第一接口31、該等儲存模塊33的第一傳輸埠 331，對該等儲存模塊33的存儲單元333進行數據存取，例如以100%的數據傳輸率進行完全負載測試，以測得該數據傳輸路徑的性能表現。
[0032]步驟S4、S5:完成步驟SI?S3後，繼續進行另一數據傳輸路徑的性能測試。具體來說，計算機裝置2的運算單元21發出一第二控制指令，啟用第二接口 32與第二傳輸埠332電性連接，並禁用該第一接口 31與第一傳輸埠 331電性連接。
[0033]步驟S6:接著，運算單元21發出一第二測試信號，令該控制接口 22通過儲存裝置3的第二接口 32、該等儲存模塊33的第二傳輸埠 332，對該等儲存模塊33的存儲單元333進行數據存取，而執行藉由第二接口 32、第二傳輸埠 332進行的數據傳輸測試。
[0034]根據上述步驟，使用者通過計算機裝置2對儲存裝置3發出啟用、禁用指令，而能分別就儲存裝置3的兩條數據傳輸路徑進行測試，以測得單一數據傳輸路徑的性能表現。
[0035]要特別說明的是，本實施例中，步驟SI?S6雖設定為連續執行，但視需要，也可以僅執行步驟SI?S3或步驟S4?S6，也就是一次只測試一條數據傳輸路徑。
[0036]此外，本實施例中，儲存裝置3雖是以「一個」為例進行說明，但本方法也可以用於多個儲存裝置3的測試。具體來說，多個儲存裝置3分別通過其第一接口 31、第二接口 32連接於控制接口 22，使用者在計算機裝置2完成測試設定後，計算機裝置2可自動執行各個儲存裝置3的性能測試。因此，上述儲存裝置3的數量可視需要而靈活調整，不以特定數量為限。
[0037]參閱圖3、圖4，圖3、圖4為本發明儲存裝置3的測試方法的第二較佳實施例。該第二較佳實施例中，計算機裝置2是對多個(此處以兩個為例)儲存裝置3進行單一數據傳輸路徑的測試，但與第一較佳實施例的差別在於:每一儲存裝置3還包含一電連接於第一接口 31的第一串接埠 34，以及一電連接於第二接口 32的第二串接埠 35。第一串接埠 34供另一儲存裝置3的第一接口 31電性連接，且第二串接埠 35則供另一儲存裝置3的第二接口 32電性連接。也就是說,本實施例中該等儲存裝置3以串接(serial cascade)的方式與計算機裝置2形成電連接。
[0038]具體來說，圖3中的一儲存裝置3的第一接口 31、第二接口 32分別通過兩條連接線(圖中未繪製)連接於計算機裝置2的控制接口 22，且該儲存裝置3的第一串接埠 34、第二串接埠 35亦分別通過兩條連接線(圖中未繪製)連接於另一儲存裝置3的第一接口31、第二接口 32。據此，控制接口 22可通過該等串接的儲存裝置3的第一接口 31、第一傳輸埠 331、第一串接埠 34，而從該等儲存模塊33的第一傳輸埠 331存取存儲單元333中的數據，或是通過第二接口 32、第二傳輸埠 332、第二串接埠 35，而從儲存模塊33的第二傳輸埠 332存取存儲單元333中的數據。
[0039]據此，本發明儲存裝置3的測試方法的第二實施例，由下列步驟執行:
[0040]步驟F1、F2:計算機裝置2的運算單元21發出一第一控制指令至其控制接口 22，控制接口 22令各個儲存裝置3啟用其第一接口 31與其儲存模塊33的第一傳輸埠 331形成電性連接，並禁用其第二接口 32與其儲存模塊33的第二傳輸埠 332形成電性連接。也就是說，經由此設定步驟後，各個儲存裝置3內的儲存模塊33必須藉由其第一傳輸埠331進行數據存取，第二傳輸埠 332的數據傳輸功能已被關閉。
[0041]步驟F3:計算機裝置2的運算單元21發出第一測試信號後，控制接口 22依據該第一測試信號，從各個儲存裝置3的第一接口 31、第一傳輸埠 331存取數據，且各個儲存裝置3之間由第一串接埠 34、第一接口 31進行數據傳輸。據此，計算機裝置2可對串接的儲存裝置3進行單一數據傳輸路徑進行性能測試。
[0042]步驟F4?F6:此等步驟類似步驟Fl?F3，計算機裝置2令各個儲存裝置3開啟第二接口 32、第二傳輸埠 332之間的連結，並關閉第一接口 31、第一傳輸埠 331之間的連接後，可就第二接口 32、第二傳輸埠 332、第二串接埠 35所界定的數據傳輸路徑，對各個存儲單元333進行數據存取。
[0043]如上述說明，使用者可通過計算機裝置2對多個串接的儲存裝置3進行單一數據傳輸路徑的測試，而達到本發明的功效。但要特別說明的是，本實施例雖以兩個儲存裝置3為例進行說明，但儲存裝置3的數量可視需要而調整，如多於兩個可再以類似的方式繼續串接與設定。因此上述內容僅用於說明本發明的實施方式，不應以此限制本發明的實施範圍。
[0044]綜上所述，通過本發明的兩個較佳實施例，使用者可分別對一個或多個設置方式不同的儲存裝置3進行測試，以測得單一數據傳輸路徑的性能表現。此外，使用者在計算機裝置2完成組態設定後，計算機裝置2可全自動地對儲存裝置3進行測試流程，而大幅提升測試程序的便利程度。故本發明儲存裝置3的測試方法，確實能達到本發明的目的。
[0045]惟以上所述者，僅為本發明的較佳實施例而已，應當不能以此限定本發明實施的範圍，即凡是根據本發明權利要求書的範圍及專利說明書內容所作的簡單的等同變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋的範圍內。
【權利要求】
1.一種儲存裝置的測試方法，該儲存裝置的測試方法由至少一儲存裝置配合一計算機裝置執行，該儲存裝置包括一第一接口、一第二接口及至少一個儲存模塊，該儲存模塊包括一第一傳輸埠、一第二傳輸埠及一存儲單兀，該計算機裝置包括一運算單兀及一控制接口，該測試方法包括以下步驟: (A)該計算機裝置的運算單元發出一第一控制指令至該控制接口，該控制接口依據該第一控制指令啟用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸埠電性連接，並禁用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸埠電性連接； (B)該運算單元發出一第一測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第一接口、該儲存模塊的第一傳輸埠對該儲存模塊的存儲單元進行數據存取； (C)該計算機裝置的運算單元發出一第二控制指令至該控制接口，該控制接口依據該第二控制指令啟用該儲存裝置的第二接口與該儲存模塊的第二傳輸埠電性連接，並禁用該儲存裝置的第一接口與該儲存模塊的第一傳輸埠電性連接；以及 (D)該運算單元發出一第二測試信號至該控制接口，令該控制接口通過該儲存裝置的第二接口、該儲存模塊的第二傳輸埠對該儲存模塊的存儲單元進行數據存取。
2.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置包括多個儲存模塊，各該儲存模塊的第一傳輸埠電連接於該儲存裝置的第一接口，且各該儲存模塊的第二傳輸埠電連接於該儲存裝置的第二接口。
3.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該第一測試信號、該第二控制指令涉及該儲存裝置的效能測試、負載測試或壓力測試。
4.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數量為多個，且該等儲存裝置的第一接口與一第二接口分別電連接於該儲存裝置的控制接口。
5.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該儲存裝置的數量為多個，該等儲存裝置還各包括一電連接於該第一接口的第一串接埠及一電連接於該第二接口的第二串接埠，各該儲存裝置的第一串接埠供另一儲存裝置的第一接口電性連接，且各該儲存裝置的第二串接埠供另一儲存裝置的第二接口電性連接；在步驟(B)中該控制接口還通過各該第一串接埠對該等儲存模塊的存儲單元進行數據存取；在步驟(D)中該控制接口還通過各該第二串接埠對該等儲存模塊的存儲單元進行數據存取。
6.如權利要求1所述的儲存裝置的測試方法，其中，該控制接口是一獨立磁碟冗餘陣列控制接口，該儲存裝置是一集束磁碟，該第一接口與該第二接口分別是一串接式小型計算機系統接口擴展器，該儲存模塊是一串接式小型計算機系統接口硬碟。
7.一種電腦程式產品，該電腦程式產品由一計算機裝置載入並執行後，可執行權利要求I至6中任一項所述的測試方法。
【文檔編號】G06F11/267GK104035851SQ201310095210
【公開日】2014年9月10日 申請日期:2013年3月22日 優先權日:2013年3月5日
【發明者】洪志遠 申請人:緯創資通股份有限公司