用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的光譜儀測量頭的製作方法

2023-05-31 12:19:36 1

專利名稱：用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的光譜儀測量頭的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的用於光譜儀系統的 光譜儀測量頭。
背景技術：
由文獻DE 10 2004 021 448 A1 (光譜儀的反射測量頭和其內部再校準的方法) 已知一個具有內部光源和校準裝置的光譜儀探針。為此在具有窗口的外殼裡面設有照明光 源、光學組件和至少兩個用於內部再校準的標準件。這些標準件可以有選擇地在測量頭的 光路中偏轉，由此使所有從照明光源發出的測量光線用於再校準。在此自動地按照確定的 時間間隔實現再校準。附加地通過文獻DE 10 2004 048 102 A1 (光譜儀的測量頭和其再校準方法)已 知一個光譜儀的測量頭，具有內部的處理器和與其相連的接口。在這些測量頭中自動地通過至少兩個標準件的偏轉實現再校準。在此必需保證， 沒有用於測量物質的標準件(這個標準件或另一標準件)位於測量頭的光路裡面。對於標 準件的定位還需要一個具有三個固定位置的驅動裝置或兩個驅動裝置。在使用一個驅動裝 置時還必需特殊的措施，用於使標準件可靠的且可重複的定位在光路以外或裡面。此外，驅 動裝置必需具有大的行程。兩個驅動裝置極大地增加了費用和測量頭的尺寸。

發明內容
在權利要求1中給出的發明的技術問題是實現一個長時間穩定的、少維護的且 簡單構成的用於光譜儀系統的光譜儀測量頭。這個技術問題通過在權利要求1中描述的特徵得以解決。用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的、用於光譜儀系統的光譜儀測量頭 的特徵尤其在於其長時間穩定的、少維護的且簡單的再校準。為此在外殼裡面設置可旋轉支承的鏡子和至少一個光輻射源或一個輸出耦合光 輻射的裝置使得光輻射通過可旋轉支承的鏡子的偏轉或者入射到外殼裡面的基準體上， 或者通過外殼的窗口入射到所述物質上。為此使鏡子機械地耦聯在驅動裝置或耦聯在外殼 中也作為彎曲振動器的彎曲梁上。此外在外殼裡面設置至少一個光導使得至少一部分由 基準體或物質表面反射或透射的光輻射耦合輸入到光導裡面。在光譜儀測量頭中有利地使光輻射源作為發光機構集成。由此能夠少損失地照射 物質或基準體。由此可以使該光輻射源比通過光導耦合輸入的光源更微小的功率運行。由 此提高光輻射源的使用壽命並且大幅減少維護費用。可以省去經常用於照明物質的光導
束o當然也可以設置輸出耦合光輻射的裝置來代替光輻射源。它是至少一個光導，其 端部也可以具有影響光輻射的裝置。
由此可經濟地使用光譜儀測量頭。另一主要優點在於鏡子在光譜儀測量頭裡面的布置。該鏡子只在兩個末端位置之 間運動，這兩個末端位置可以有利地通過止擋體確定。由此可以使鏡子簡單地耦聯在驅動 裝置或彎曲振動體上。無需用於定位鏡子的特殊措施。在此鏡子有利地在兩個末端位置之 間偏轉。所述鏡子本身是一個具有鏡面的平板形的物體，鏡面不僅用於從光輻射源而且用 於從基準體或要被分析的物質表面反射光輻射。該鏡子利用旋轉鉸鏈可偏轉地設置。由此 非常簡單且經濟地實現光譜儀測量頭。對於所述至少一個光導最好使用光波導尤其是多模-光波導，用於發送足夠的測 量信號到光譜儀。此外所述光譜儀測量頭是更不易于振蕩的。因此它適合於在活動也需要穩定定位 的應用場合。同時對鏡子的支承沒有特殊的要求，因此對於支承的實現無需小誤差的部件。在此，有利地選擇末端位置、基準體位置和窗口位置是使得光輻射源的光輻射或 者直接或者通過鏡子入射到所述物質上，或者通過鏡子或直接入射到基準體上。因此各反 射的光輻射由各物體直接或通過用於耦合輸入的鏡子入射到光導的端面上。無需小誤差地 布置這些部件，因此簡單地實現光譜儀測量頭。另一優點在於，只有微小的質量以微小的行程運動。所述鏡子可以靠近光輻射源 設置並且以輕的部件實現。由此也可以使光譜儀測量頭微型化並且以與光纖維測量頭相同 的通常尺寸製成。另一優點在於，可以使用驅動裝置，它們保證只在末端位置之間運動。另一優點在於，所述光譜儀測量頭可以以小的結構組件實現，由此使它們易於集 成到各種設備裡面或者能夠匹配於特殊的分析任務。通過小的結構也能夠易於手動地操作 光譜儀測量頭，例如在移動測量器裡面。所述用於光譜儀系統的光譜儀測量頭在集成到該系統裡面時是光譜儀裝置的組 成部分。從所述物質或基準體反射的光輻射耦合輸入到光導裡面並繼續傳導。在光譜儀中 輻射被分解成光譜，並且要評價物質或基準體的反射或吸收狀況。在此反射的輻射以通過 物質或基準體的反射、漫反射(Remission)或吸收為基礎。為了運行還只需用於光源和驅 動裝置的饋電線。它在集成的控制中是電源和控制連接。當然多個光譜儀測量頭也可以是光譜儀系統的組成部分，其中使光輻射在分解前 通過已知的乘法器從光譜儀測量頭進入到光譜儀輸入。在此也可以有利地使用簡單的通道 變換器，它們例如通過壓電機構接通不同光導。通過簡單地實現用於使鏡子運動的機構也可以使光譜儀測量頭在測量側承受直 到150-200°C的溫度。通過基準體在光譜儀測量頭裡面的位置幾乎使整個測量路徑與溫度 影響和長時間的影響無關，由此實現特別高的長時間穩定性和精度。有利地，如果遵守相應準則的話，也可以在爆炸危險的部位中使用光譜儀測量頭。本發明的有利的結構在權利要求2至18中給出。按照權利要求2的改進方案，所述鏡子有利地是搖板機構的第一臂。此外在搖板 機構的第二臂上耦聯驅動裝置或彎曲梁。這種布置能夠簡單地實現可偏轉的鏡子。
按照權利要求3改進方案，所述鏡子的樞轉鉸鏈耦聯在驅動裝置上。此外在外殼 裡面設置用於鏡子的並位於其背面上的滑塊或滾動體和至少一個作用於鏡子上的彈性部 件使得彈性力在滑塊或滾動體方向上起作用。此外使旋轉鉸鏈與滑塊間隔地、直線導引地 活動，由此使鏡子在相對於導向體進行活動時偏轉。按照權利要求4的改進方案，一個用於旋轉鉸鏈或具有可旋轉支承的鏡子的旋轉 鉸鏈的基體配有一個用於窗口的加熱元件。因此在一些使用場合避免在窗口上附著物質。按照權利要求5的改進方案，在外殼裡面設置可旋轉支承的鏡子和兩個光輻射源 使得至少一個光輻射源的光輻射分別或者入射到外殼裡面的基準體上或者通過外殼的窗 口入射到物質上。此外在外殼裡面設置光導的端面使得至少一部分由基準體或物質的表 面反射的或透射的光輻射耦合輸入光導中。第二光輻射源例如作為冗餘的光輻射源對稱地 設置在光譜儀測量頭中。在此所述光導有利地形成用於至少一部分從基準體或從要被分析 的物質引起的光輻射的光軸。在第一光輻射源失效以後放棄添加冗餘光輻射源時也能夠使光譜儀探針的無維 護運行延長到一個光輻射源的使用壽命的兩倍。按照權利要求6的改進方案，一個基體、搖板機構、搖板機構的旋轉鉸鏈、基準體、 驅動裝置和光輻射源和驅動裝置是一個組件的組成部分。由此使部件相互間持久可靠地固 定和易於裝配到外殼裡面。該外殼例如是具有窗口的單側封閉的套。按照權利要求7的改進方案，所述窗口是外殼的端壁或側壁的組成部分。由此極 大地提高光譜儀探針的可使用性。由此例如一個具有帶有側面窗口的光譜儀測量頭的插入探針能夠實現粉末物質 的測量，同時無需壓縮它們。對於在原料監控或最終產品監控中的應用由此得到的結果是， 它們更不取決於在分析時所使用的壓緊力。按照權利要求8的改進方案，一個有利的驅動裝置是移動作用的、具有用於活動 部件的復位簧的電磁驅動裝置，移動作用的壓電驅動裝置，具有螺杆/螺母系統的旋轉驅 動裝置或彎曲梁、最好是壓電的彎曲振動器。通過電磁驅動裝置簡單地實現了移動。有利地，通過特殊構成的連杆實現驅動裝 置與鏡子之間的耦聯。通過復位簧可以使這個驅動裝置在兩個位置中的一個位置、最好測 量位置中無應力地運行。壓電驅動裝置是移動作用的驅動裝置或作為彎曲振動器的彎曲梁。在彎曲梁/彎 曲振動器中其彎曲運動轉換成鏡子的旋轉運動。由此有利地在兩個終端止擋中以相對微小 的損失功率實現高的夾持力。但是由電動機構成的旋轉驅動裝置也可以與螺杆/螺母系統一起使用。在此螺母 是運動螺母，在其上通過機構耦聯鏡子。鏡子的各末端位置可以有利地通過螺杆的螺紋長 度確定。在此通過由於止擋而增加的電動機電流需求可以有利地用於其控制。按照權利要求9的改進方案，所述基準體有利地由用於強度標準的材料或由不僅 用於強度標準也用于波長標準的材料組合製成。按照權利要求10的改進方案，所述用於強度標準的基準體有利地由低密度的燒 結的聚四氟乙烯製成。按照權利要求11的改進方案，所述用於組合的強度標準和波長標準的基準體具有以稀土元素填充的成份，其中這些稀土元素適合於光譜儀系統的波長校準。按照權利要求12的改進方案，所述驅動裝置和光輻射源與外殼裡面的控制裝置 連接。在此例如一個可編程的控制裝置也作為數據處理系統。此外具有校準數據的數據存 儲器有利地是控制裝置的組成部分。由此也可以實現沒有基準的物質分析。按照權利要求13的改進方案，在光譜儀測量頭外設置擴散或定向反射器使 得要被分析的物質位於光譜儀測量頭與反射器之間並由此也可以以透射或透-反射 (Transflexion)方法分析透明或半透明的物質。由此能夠使該結構也用於透射測量，否則 在透射測量過程中就不能如此簡單地實現對非常接近試樣的基準的測量。按照權利要求14的改進方案，設置成像光路使得位於與光譜儀測量頭間隔中的 物質通過光輻射源以光輻射加載並且將從該物質反射的光輻射耦合輸入到光導裡面。按照權利要求15的改進方案，所述光輻射源和光導有利地設置使得其輻射軸平 行或幾乎平行地延伸。由此可以實現，要被分析的物質還在與窗口間隔時也反射足夠的光 輻射。此外也可以實現光輻射進入到該物質裡更深的深度。在此進入深度取決於物質的密 度。按照權利要求16的改進方案，所述光輻射源和光導有利地以這個角度相對於窗 口設置使得窗口的直接反射不耦合輸入到光導裡面。避免由於在窗口上反射引起的分析誤差。按照權利要求17的改進方案，所述光輻射源配有用於使光輻射成束的透鏡。通過 靠近光輻射源設置的或集成到這種光輻射源裡面的聚集透鏡可以有利地改善照射物質的 效應。


在附圖中分別概略性地示出本發明的實施例並且在下面詳細描述。附圖中圖la和lb示出一個光譜儀測量頭，具有移動作用的驅動裝置和光輻射的端面出
n,圖2a和2b示出一個光譜儀測量頭，具有移動作用的驅動裝置和光輻射的側面出
n,圖3示出一個光譜儀測量頭，具有彎曲振動器和光輻射的端面出口，圖4示出一個光譜儀系統，具有光譜儀測量頭。
具體實施例方式第一實施例在第一實施例中，一種用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的、用於光譜儀 系統的光譜儀測量頭主要具有在設有窗口 7的外殼6裡面的可旋轉支承的鏡子1、光輻射源 2、基準體3、驅動裝置4和光導5的至少一個端部部位。圖1以原理圖示出一個光譜儀測量頭，具有移動作用的驅動裝置和光輻射的端面 出口。窗口 7位於由套構成的外殼6的端面上。設置可旋轉支承的鏡子1和光輻射源2使得光輻射源的光輻射或者入射到基準體3上(圖la中的視圖)，或者通過窗口 7入射到要被分析的物質上(圖lb中的視圖)。可旋轉支承的鏡子1是搖板機構9的第一臂。在搖板機構9的第二臂上耦聯驅動 裝置4。這個驅動裝置由移動作用的驅動裝置、最好由帶有用於活動部件復位簧的電磁驅動 裝置構成。這個驅動裝置的活動部件通過連杆8耦聯在搖板機構9上。在外殼6裡面還設置光導5使得至少一部分由基準體或要被分析的物質的表面 反射的光輻射耦合輸入到光導5裡面。為此光導5的末端部位位於光輻射源2上或與其間 隔開。搖板機構9的旋轉鉸鏈10設置在窗口 7與基準體3之間。由此保證，光輻射源2 的光輻射在鏡子1處於最終位置時能夠進入到基準體3上並且由此所得到的來自基準體3 表面的光輻射至少部分地進入到光導5的端面(圖la中的視圖)。基準體3由用于波長標準的材料、尤其是稀土元素製成，和/或由用於強度標準的 材料、尤其是燒結的低密度聚四氟乙烯的材料製成。在鏡子1的另一最終位置，光輻射直接從光輻射源2通過窗口 7進入到要被分析 的物質，並且由此所得到的要被分析物質的光輻射至少部分地進入光導5的端面(圖lb中 的視圖)。在第一實施例的一個示例中窗口 7也可以是外殼6側壁的組成部分。為此基準體 3的定位方向和窗口 7的定位方向與該實施例相比被調換了。第二實施例在第二實施例中一種用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的、用於光譜儀 系統的光譜儀測量頭主要具有在側壁中設有窗口 7的外殼6裡面的可旋轉支承的鏡子1、光 輻射源2、基準體3、驅動裝置4和光導5的至少一個端部部位。圖2以原理圖示出一個光譜儀測量頭，具有移動作用的驅動裝置和光輻射的側面 出口。用於鏡子1的旋轉鉸鏈10、基準體3和用於固定光導5的保持架相互間隔地設置， 並且不僅相對於光輻射源2而且相對於光導5的端部部位間隔地設置。在此旋轉鉸鏈10、 基準體3和保持架可以通過固定部件相互連接。設置可旋轉支承的鏡子1和光輻射源2使得光輻射或者入射到基準體3上(圖 2a中的視圖)或者通過窗口 7入射到要被分析的物質上(圖2b中的視圖)。可旋轉支承的鏡子1是搖板機構9的第一臂。在搖板機構9的第二臂上耦聯驅動 裝置4。這個驅動裝置由移動作用的驅動裝置、最好由帶有用於活動部件復位簧的電磁驅動 裝置構成。在外殼6裡面還這樣設置光導5，使至少一部分由基準體3或要被分析的物質的表 面反射的光輻射耦合輸入到光導5裡面。為此光導5的末端部位在保持架中位於光輻射源 2處或與其間隔開。設置旋轉鉸鏈10使得來自光輻射源2的光輻射在鏡子1的一個末端位置通過窗 口 7入射到要被分析的物質，並且由此所得到的來自要被分析的物質表面的光輻射至少部 分地通過窗口 7、鏡子1入射到光導5的端面(圖2b中的視圖)。在這種情況下不控制驅
動裝置。在鏡子1的另一個末端位置光輻射直接從光輻射源2進入到基準體3，並且由此所
8得到來自基準體3的光輻射至少部分地進入光導5的端面(圖2a中的視圖)。基準體由波 長標準的材料、尤其是稀土元素製成，和/或由強度標準的材料、尤其是燒結的低密度聚四 氟乙烯的材料製成。在本實施例的示例中可以設置兩個光輻射源2。在此這樣設置這些光輻射源2，使 至少一個光輻射源2的光輻射或者入射到外殼6裡面的基準體3上，或者通過外殼6的窗 口 7入射到要被分析的物質上。在此光導5位於這些光輻射源2之間，由此使至少一部分 由基準體3或要被分析的物質的表面反射或透射的光輻射耦合輸入到光導5裡面。在本實施例的另一示例中搖板機構9、搖板機構9的旋轉鉸鏈10、基準體3、光輻射 源2和驅動裝置4位於由基體構成的基板上，由此實現一個結構組件。為此基板在第一實施例中設置在窗口 7上，或者在第二實施例中設置在外殼6的 底部上。在第一種情況下基板在窗口 7和相關的要被分析的物質的方向上具有通過光輻 射源2的光輻射的穿孔。在本實施例的另一示例中可以設置作為彎曲振動器11的彎曲梁代替電磁驅動裝 置。它例如是壓電的彎曲振動器，尤其是雙壓電致動器或三壓電致動器，由此可以實現足夠 大的彎曲。為此使彎曲梁11耦聯在搖板機構9的第二臂上。圖3概略性地示出了一個光譜儀測量頭，具有彎曲致動器和光輻射的端面出口。第一實施例的至少一個光譜儀測量頭12或第二實施例的至少一個光譜儀測量頭 12與光譜儀13連接，並因此形成一個用於待分析的物質所組成的測量體14的光譜儀系統。圖4概略性地示出了一個光譜儀系統，具有光譜儀測量頭。光譜儀測量頭與相關的光譜儀形成一個公知的光譜儀系統。通過光譜儀系統可以 檢測吸收光譜。分光計本身是公知的稜鏡光譜儀、光柵光譜儀或FTIR光譜儀。在稜鏡光譜儀中使用作為色散元件的稜鏡。在此入射的光輻射分解成其各個波 長。通過獲得的光譜分量可以推斷物質的組分。此外，如果已知所使用的光輻射波長的話， 稜鏡光譜儀也可以用於測量物質的折射率、反射率或透射率如果由衍射光柵代替稜鏡，則構成光柵光譜儀。在此在光柵上的光衍射用於光輻 射的色散。光輻射進入到至少一個縫隙形的輻射入口。縫隙的方向對應於衍射光柵的條紋 /線的方向。衍射/幹涉產生光譜，它利用半導體檢測器檢測。另一形式是傅立葉變換紅外線光譜儀，其中在調整幹涉儀時通過傅立葉變換計算光譜。
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權利要求
一種用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的、用於光譜儀系統的光譜儀測量頭，其特徵在於，在外殼(6)中設置可旋轉支承的鏡子(1)和至少一個光輻射源(2)或一個輸出耦合光輻射的裝置使得光輻射通過可旋轉支承的鏡子(1)的偏轉，或者入射到外殼(6)中的基準體(3)上或者通過外殼(6)的窗口(7)入射到所述物質上，為了偏轉，該可旋轉支承的鏡子(1)機械地耦聯在驅動裝置(4)或外殼(6)裡面的彎曲梁(11)上，在外殼(6)中設置至少一個光導(5)使得至少一部分由基準體(3)或物質表面反射或者透射的光輻射耦合輸入到光導(5)裡面。
2.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述可旋轉地支承的鏡子(1)是搖 板機構(9)的第一臂並且在該搖板機構(9)的第二臂上耦聯驅動裝置(4)或彎曲梁(11)。
3.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述可旋轉支承的鏡子(1)的旋轉 鉸鏈耦聯在驅動裝置(4)上，在外殼(6)中設置用於該可旋轉地支承的鏡子(1)的、並位於 其背面上的滑塊或滾動體和至少一個作用於該可旋轉地支承的鏡子(1)上的彈性部件使 得彈性力在滑塊或滾動體方向上起作用並且使旋轉鉸鏈與滑塊間隔地、直線導引地活動， 由此使該可旋轉支承的鏡子(1)在相對於導向體進行活動時偏轉。
4.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，一個至少用於旋轉鉸鏈(10)或具 有可旋轉支承的鏡子⑴的旋轉鉸鏈(10)的基體配有一個用於窗口(7)的加熱元件。
5.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，在外殼(6)中設置可旋轉支承的 鏡子(1)和兩個光輻射源(2)使得至少一個光輻射源(2)的光輻射分別或者入射到外殼 (6)裡面的基準體(3)上或者通過外殼(6)的窗口(7)入射到所述物質上，並且在外殼(6) 中設置光導(5)的端面，使得至少一部分由基準體(3)或所述物質的表面反射的或透射的 光輻射耦合輸入到光導(5)裡面。
6.如權利要求1或2所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，一個基體、搖板機構(9)、搖板 機構(9)的旋轉鉸鏈、基準體(3)、驅動裝置(4)和光輻射源(2)或輸出耦合光輻射的裝置 是一個組件的組成部分。
7.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述窗口(7)是外殼(6)的端壁或 側壁的組成部分。
8.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述驅動裝置(4)是移動作用的、 具有用於活動部件的復位簧的電磁驅動裝置，移動作用的壓電驅動裝置，具有螺杆/螺母 系統的旋轉驅動裝置，或彎曲梁(11)、最好是壓電的彎曲振動器。
9.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述基準體(3)由強度標準的材料 或由不僅強度標準也波長標準的材料組合製成。
10.如權利要求9所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述用於強度標準的基準體(3) 由低密度的燒結的聚四氟乙烯製成。
11.如權利要求9所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述組合的強度標準和波長標準 的基準體(3)具有以稀土元素填充的成份，其中這些稀土元素適合於光譜儀系統的波長校 準。
12.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述驅動裝置(4)和光輻射源 (2)與外殼(6)裡面的控制裝置連接，並且尤其具有校準數據的數據存儲器是控制裝置的 組成部分。
13.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，在光譜儀測量頭(12)以外設置一 個漫反射的或定向反射的反射器使得要被分析的物質位於光譜儀測量頭與反射器之間並 由此也可以以透射或透-反射方式分析透明或半透明的物質。
14.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，設置成像光學系統使得由光輻 射源(2)將光輻射加到與光譜儀測量頭間隔布置的物質上，並且將從該物質反射的光輻射 耦合輸入到光導(5)裡面。
15.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，設置所述光輻射源(2)和光導 (5)使得各輻射軸平行或幾乎平行地延伸。
16.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，設置所述光輻射源(2)和光導 (5)相對於窗口(7)使得窗口(7)的直接反射不由光導(5)吸收。
17.如權利要求1所述的光譜儀測量頭，其特徵在於，所述光輻射源(2)配有用於使光 輻射會聚的透鏡。
全文摘要
本發明涉及一個用於分析流體、膏狀或固體物質的特性參數的、用於光譜儀系統的光譜儀測量頭(12)。其特徵尤其在於擁有一個長時間穩定的、少維護的且簡單構成的光譜儀測量頭。為此在外殼(6)裡面設置可旋轉支承的鏡子(1)和至少一個光輻射源(2)或一個輸出耦合光輻射的裝置使得光輻射通過可旋轉支承的鏡子的偏轉，或者入射到外殼裡面的基準體(3)上或者通過外殼的窗口(7)入射到要被分析的物質(14)上。為此使鏡子(1)機械地耦聯在驅動裝置(4)或耦聯在外殼中也作為彎曲振動器的彎曲梁上。此外在外殼裡面設置至少一個光導(5)使得至少一部分由基準體或要被分析的物質表面反射或透射的光輻射耦合輸入到光導裡面。在光譜儀測量頭中有利地將光輻射源與發光機構結合成整體，由此能夠低損耗地照射物質或基準體。
文檔編號G01N21/27GK101981435SQ200880118506
公開日2011年2月23日 申請日期2008年11月28日 優先權日2007年11月30日
發明者M·勞, U·基爾申奈爾 申請人:光學測量系統協會森創尼克有限公司;布勒股份公司