光譜測試治具的製作方法

2023-05-30 11:10:36

專利名稱:光譜測試治具的製作方法
【專利摘要】本實用新型涉及產品測試器具的【技術領域】，公開了一種光譜測試治具，包括一本體，本體上設有若干射入孔，各該射入孔用於導向射入光束投射到待測試物品上，在本體其中一面的射入孔下放設有擺放部，該擺放部用於放置待測試物品，該本體的另一面對應各射入孔的位置設有凹槽，該凹槽用於保證光束的有效投射，該本體的底面設有螺孔和定位孔，該螺孔和定位孔用於與光譜測試儀相連接，本實用新型能將待檢測產品快速定位，提高檢測效率，操作方便快捷，保證產品檢測結果的準確性，且其適用範圍廣泛。
【專利說明】光譜測試治具

【技術領域】
[0001]本實用新型涉及產品測試器具的【技術領域】，尤指一種能有效保證測試結果正確性的光譜測試治具。

【背景技術】
[0002]光譜分析儀，是一種用於測量發光體的輻射光譜，即發光體本身的指標參數的儀器。根據現代光譜儀器的工作原理，光譜儀可分為兩大類:經典光譜儀和新型光譜儀。
[0003]經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器:新型光譜儀器是建立在調製原理上的儀器。經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調製光譜儀器室非空間分光的，它採用圓孔進光根據色散組件的分光原理，光譜儀器可以分為稜鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和幹涉光譜儀。光學多道分析儀是近十幾年出現的採用光子探測器和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息採集、處理、儲存等功能於一體。由於ONA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之後的一些列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率，使用ONA分析光譜，測試準確迅速，方便且靈敏度高，相應時間快，光譜解析度高，測試結果可立即顯示屏上讀出或由印表機打出。目前，它已經被廣泛適用於幾乎所有的光譜測量，分析及研宄工作中，特別適應於對微弱信號，瞬變信號的檢測。
[0004]光譜測試儀的原理是:光線從設備內發射器一個小孔射出，穿過被測量的物體，然後回到檢測器中，檢測出被測試物體對光線的影響及物體本身的特性；常規檢測需要被測試物體表面與射入光線要呈90°角，一般需要在檢測前對物體位置進行擺放校正，操作較為繁瑣，且測試角度的準確性難以保證，以至於容易導致測試結果不拜訪準確。


【發明內容】

[0005]本實用新型的目的在於克服現有技術中的不足之處而提供一種光譜測試治具，該治具能將待檢測產品快速定位，提高檢測效率，操作方便快捷，保證產品檢測結果的準確性，且其適用範圍廣泛。
[0006]為實現上述目的，本實用新型採用如下的技術方案:
[0007]一種光譜測試治具，包括一本體，所述本體上設有若干射入孔，各該射入孔用於導向射入光束投射到待測試物品上，在本體其中一面的射入孔下放設有擺放部，該擺放部用於放置待測試物品，該本體的另一面對應各射入孔的位置設有凹槽，該凹槽用於保證光束的有效投射，該本體的底面設有螺孔和定位孔，該螺孔和定位孔用於與光譜測試儀相連接。
[0008]所述本體為一長方體，該本體底面包含有二螺孔和二定位孔，各該螺孔和定位孔分別對應設於本體底面的兩端。
[0009]所述本體對應各射入孔的位置形成若干擺放區域，各擺放區域中至少有二擺放區域形成有凸起，該凸起用於方便夾取測試物品。
[0010]所述擺放部凸設於本體，該擺放部上至少設有二定位槽，該定位槽用於放置外形規則的待測試物品，各該定位槽對應射入孔設置。
[0011]所述定位槽凹設於擺放部上，在各定位槽的底面兩邊凹設有弧形凹位，該弧形凹位用於對待測試物品避空。
[0012]所述射入孔垂直貫穿於本體兩面，與各射入孔位置對應設置的各凹槽等距設置，各該凹槽的大小、形狀相一致。
[0013]所述本體包含有四射入孔，其中三射入孔的位置設有凸起，該本體之擺放部上設有二定位槽，該二定位槽對應設與其中二具有凸起的射入孔下方。
[0014]所述本體的各角都是為90°的直角，在本體表面設有黑色層，該黑色層能用於避免測試結果受到幹擾。
[0015]本實用新型的有益效果在於:其在本體上的射入孔設計，能將光譜測試儀發射器射出的光線準確地導向待測試產品上，且保證光線與產品相互垂直，以確保產品檢測結果的準確性，射入孔下方的擺放部設置，方便了待檢測產品快速設置定位，在擺放部設置定位槽，以適用於外形規則的待測物品，未設置定位槽的區域，便於外形不規則的待測物品放置，使該治具可適用於不同規格的物品檢測，適用範圍廣，在射入孔處還設有凸起，以便於產品的夾取，各射入孔對應設置有凹槽，以縮短射入孔的長度，保證從射入孔導出的光線的有效性，進而確保了產品測試結果的準確性，且通過本實用新型，能將待檢測產品快速定位，提高檢測效率，操作方便快捷，於本體表面的發黑處理，形成黑色層，能吸收雜散光，以免反射光線對產品的測試結果造成幹擾，治具所有角都為90°的直角，能確保本實用新型各部分都是與入射角呈90°，以保證產品測試結果的準確性。

【附圖說明】

[0016]圖1是本實用新型的主視圖。
[0017]圖2是本實用新型的結構圖之一。
[0018]圖3是本實用新型的結構圖之二。

【具體實施方式】
[0019]以下結合說明書附圖對本實用新型作進一步說明:
[0020]如圖1-3所示，本實用新型關於一種光譜測試治具，包括一本體10，該本體10為一長方體，該本體10底面包含有二螺孔11和二定位孔12，各該螺孔11和定位孔12分別對應設於本體10底面的兩端，該螺孔11和定位孔12用於與光譜測試儀相連接。
[0021]如圖1-2所不，本體10上設有若干射入孔13，各該射入孔13用於導向射入光束投射到待測試物品上，射入孔13垂直貫穿於本體10兩面，各射入孔13均為一圓孔，本體10對應各射入孔13的位置形成若干擺放區域，各擺放區域中至少有二擺放區域形成有凸起14，該凸起14用於方便夾取測試物品。
[0022]如圖1-2所示，在本體10其中一面的射入孔13下放設有擺放部15，該擺放部15用於放置待測試物品，擺放部15凸設於本體10，該擺放部15上至少設有二定位槽151，該定位槽151用於放置外形規則的待測試物品，各該定位槽151對應射入孔13設置，需要說明的是，由於有些待測試物品外形不規則，不設置定位槽151部分的擺放部15，更便於這些不規則的待測試物品的放置，需要說明的是，該擺放部15的上表面與本體10的連接面相互垂直。
[0023]如圖1-2所示，進一步地，定位槽151凹設於擺放部15上，在各定位槽151的底面兩邊凹設有弧形凹位152，該弧形凹位152用於對待測試物品避空，由於待測試物品與本體10之間不需要緊配，為了減少待測試物品與本體10間幹涉，方便待測試物品的取放，因此，在定位槽151底面設置弧形凹位152。
[0024]進一步地，定位槽151的大小是根據產品的外徑大小設計，以方便產品能夠快捷地把放到定位槽151裡面，定位槽151上方的射入孔13和定位槽151的位置都是根據產品定製，能夠很精確的讓射入孔13對準放在槽裡產品的最中心點，以確保測試的精準性。
[0025]如圖3所示，本體10的另一面對應各射入孔13的位置設有凹槽16，該凹槽16用於保證光束的有效投射，各凹槽16等距設置，各該凹槽16的大小、形狀相一致，在本體10上對應各射入孔13的凹槽16設計，是因為在測試過程中，光線從射入孔13裡穿過，當射入孔13太長，如果射入孔13與光源射出方向不平行，光線穿過射入孔13的孔壁時，會產生反射/折射，以至於影響光線的導出，影響測試結果，所以，在對應的射入孔13處設置凹槽16，能縮短射入孔13的長度，保證從射入孔13導出的光線的有效性，進而確保了測試結果的準確性，即射入孔13長度是越短越有利於產品測試。
[0026]如圖1-2所示，本實用新型所揭示的光譜測試治具，優選地，其本體10包含有四射入孔13，其中三射入孔13的位置設有凸起14，該本體10之擺放部15上設有二定位槽151，該二定位槽151對應設與其中二具有凸起14的射入孔13下方，本體10所有角都是為90°的直角，能確保治具各方面都是與入射角呈90°，對本體10整體發黑處理，在本體10表面形成黑色層，該黑色層用於吸收雜散光，以免反射光線對測試結果造成幹擾，該實施方式僅為本實用新型的較佳選擇，本實用新型並不予以自限，採用該實施方式，可適用於多種外形的產品測試，應用較為廣泛。
[0027]本實用新型所揭示的光譜測試治具，其本體10通過定位孔12與光譜測試儀的底座上的定位杆上連接，並配合螺孔，將本體10固定在光譜測試儀的底座上，使用時，僅需將待測試物品對應射入孔13放置在擺放部15表面或擺放部15之定位槽151中，再啟動光譜測試儀，移動本體10，使光譜測試儀的發射器射出的光線經射入孔13投射到待測試物品上並回到檢測器中，進而對物品品質進行檢測，通過本實用新型，能將待檢測產品快速定位，提高檢測效率，操作方便快捷，保證了測試結果的準確性。
[0028]以上所述僅是對本實用新型的較佳實施例，並非對本實用新型的範圍進行限定，故在不脫離本實用新型設計精神的前提下，本領域普通工程技術人員對本實用新型所述的構造、特徵及原理所做的等效變化或裝飾，均應落入本實用新型申請專利的保護範圍內。
【權利要求】
1.一種光譜測試治具，包括一本體，其特徵在於:所述本體上設有若干射入孔，各該射入孔用於導向射入光束投射到待測試物品上，在本體其中一面的射入孔下放設有擺放部，該擺放部用於放置待測試物品，該本體的另一面對應各射入孔的位置設有凹槽，該凹槽用於保證光束的有效投射，該本體的底面設有螺孔和定位孔，該螺孔和定位孔用於與光譜測試儀相連接。2.根據權利要求1所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述本體為一長方體，該本體底面包含有二螺孔和二定位孔，各該螺孔和定位孔分別對應設於本體底面的兩端。3.根據權利要求1所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述本體對應各射入孔的位置形成若干擺放區域，各擺放區域中至少有二擺放區域形成有凸起，該凸起用於方便夾取測試物品。4.根據權利要求1所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述擺放部凸設於本體，該擺放部上至少設有二定位槽，該定位槽用於放置外形規則的待測試物品，各該定位槽對應射入孔設置。5.根據權利要求4所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述定位槽凹設於擺放部上，在各定位槽的底面兩邊凹設有弧形凹位，該弧形凹位用於對待測試物品避空。6.根據權利要求1所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述射入孔垂直貫穿於本體兩面，與各射入孔位置對應設置的各凹槽等距設置，各該凹槽的大小、形狀相一致。7.根據權利要求1-6任一項所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述本體包含有四射入孔，其中三射入孔的位置設有凸起，該本體之擺放部上設有二定位槽，該二定位槽對應設與其中二具有凸起的射入孔下方。8.根據權利要求1-6任一項所述的光譜測試治具，其特徵在於:所述本體的各角都是為90°的直角，在本體表面設有黑色層，該黑色層能用於避免測試結果受到幹擾。
【文檔編號】G01J3-28GK204286596SQ201420696026
【發明者】南洪燮 [申請人]東莞市中光光電科技有限公司