有機el顯示裝置及其製造方法

2023-05-26 13:46:01

專利名稱：有機el 顯示裝置及其製造方法
技術領域：
本發明涉及有機EL顯示裝置及其製造方法，特別涉及有源矩陣型的有機EL顯示裝置及其製造方法。
背景技術：
作為使用了電流驅動型的發光元件的圖像顯示裝置，已知使用了有機EL元件的圖像顯示裝置(有機EL顯示器)。該有機EL顯示器因為具有視角特性優良且功耗低的優點，所以作為下一代的FPD(Flat PanelDisplay，平板顯示器)候選而受到關注。在有機EL顯示器中，通常將構成像素的有機EL元件配置為矩陣狀。將如下的有機EL顯示器稱為無源矩陣型的有機EL顯示器，即該有機EL顯示器在多個行電極(掃描線)與多個列電極(數據線)的交叉處設置有機EL元件，在所選擇的行電極與多個列電極間施加相當於數據信號的電壓而驅動有機EL元件。另一方面，將如下的有機EL顯示器稱為有源矩陣型的有機EL顯示器，即該有機EL顯示器在多條掃描線與多條數據線的交叉處設置薄膜電晶體(TFT:Thin Film Transistor)，在該TFT上連接驅動電晶體的柵極，通過所選擇的掃描線使該TFT導通而從數據線對驅動電晶體輸入數據信號，通過該驅動電晶體驅動有機EL元件。與僅在選擇各行電極(掃描線)的期間、與其連接的有機EL元件發光的無源矩陣型的有機EL顯示器不同，在有源矩陣型的有機EL顯示器中，由於可以使有機EL元件發光至下一次掃描(選擇)，所以即使佔空比上升也不會引起顯示器的輝度減小。因此，由於可以用低電壓驅動，所以可以實現低功耗化。然而，在有源矩陣型的有機EL顯示器中，有如下缺點因驅動電晶體和/或有機EL元件的特性的不均一，即使提供相同數據信號，各像素中有機EL元件的輝度也不同，會產生輝度不均。作為以往的有機EL顯示器中的、對由在製造工序產生的驅動電晶體和/或有機EL 元件的特性的不均一(以下，統稱為特性的不均等)引起的輝度不均進行補償的方法，代表性的有由複雜的像素電路進行的補償、用外部存儲器的補償等。但是，複雜的像素電路會降低成品率。另外，無法對各像素的有機EL元件的發光效率的不均等進行補償。由於上述原因，有人提出了幾個通過外部存儲器按每像素對特性的不均等進行補償的方法。例如，在專利文獻1所公開的電光裝置、電光裝置的驅動方法、電光裝置的製造方法以及電子設備中，在電流程序像素電路中，以最低1種輸入電流測定各像素的輝度，並將所測定的各像素的輝度比存儲於存儲電容，基於該輝度比對圖像數據進行校正，通過該校正後的圖像數據，進行電流程序像素電路的驅動。由此，可以抑制輝度不均，可以進行均勻的顯示。專利文獻1 特開2005-283816號公報

發明內容
然而，在該解決方案中，在使用外部存儲器的輝度不均的補償中，需要進行輝度或者電流的初始測定。在對電流進行初始測定而校正輝度不均的情況下，為了考慮電路整體的寄生電容和/或布線電阻而高精度地測定所希望的電流，必須延長初始測定的時間。由此，如果邊確保校正精度邊執行輝度不均的補償，則存在導致製造成本的增加的問題。特別是，存在如下課題面板越為大畫面，另外輸入灰度等級越增加，測定面板整面越耗費時間，對製造成本帶來越大負擔。另外，在不對各像素的電流進行初始測定而對於電壓輸入進行輝度的初始測定來校正輝度不均的情況下，變為一同測定驅動電晶體以及有機EL元件雙方的不均一，可以一同校正雙方的不均一。圖19是說明有機EL顯示器中的以往的校正方法的一例的圖。在校正前，有機EL 顯示器具有反映了因有機EL元件引起的輝度分布和因驅動電晶體引起的輝度分布雙方的輝度分布。相對於此，在對於電壓輸入測定輝度的以往的校正方法中，由於對有機EL元件的不均一以及驅動電晶體的不均一雙方進行校正，所以校正後的有機EL顯示器具有均勻的輝度分布。然而，為了得到上述均勻的輝度分布，使流動於有機EL元件的電流按每像素不同。在該情況下，存在如下課題對於有機EL元件施加的電流負荷按每像素不同，會助長因有機EL元件的壽命引起的輝度劣化的不均一，反而會誘發因歷時變化引起的輝度不均的產生。本發明鑑於上述的課題，目的在於提供一種降低用於生成輝度不均校正參數的製造成本且抑制了因歷時變化引起的輝度不均的有機EL顯示裝置及其製造方法。為了解決上述的課題，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置，包括第1步驟，獲得包含多個像素的顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性，所述像素包含發光元件和對向所述發光元件的電流的供給進行控制的電壓驅動的驅動元件；第2步驟，將所述顯示面板分割為多個分割區域，對各像素所包含的驅動元件施加電壓，測定流動於各分割區域的電流以及流動所述電流的情況下從各分割區域發出的光的輝度而求取各分割區域的電流-輝度特性，對於所述各分割區域求取發光效率以及偏移輝度值，所述發光效率是該電流-輝度特性的傾斜度，所述偏移輝度值是該電流-輝度特性的輝度軸截距；第3步驟，用預定的測定裝置測定從所述顯示面板所包含的多個像素的各個發出的光的輝度，求取各像素的輝度-電壓特性；第4步驟，將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以對所述各分割區域求取的所述發光效率，並將該相乘值與對所述各分割區域求取的所述偏移輝度值相加，由此對所述各分割區域求取輝度-電壓特性；以及第5步驟，對作為對象的像素求取校正參數，所述校正參數是使在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參數。根據本發明的有機EL顯示裝置及其製造方法，由於使壽命依賴於發光電流的有機EL元件的電流負荷在像素間相等，所以可以抑制因壽命引起的輝度劣化的不均一。另外，由於在生成校正參數時，不需要測定各像素的電流，所以可以縮短用於校正參數生成的測定時間，可以降低製造成本。


圖1是表示本發明的實施方式所涉及的有機EL顯示裝置的電結構的框圖。圖2是表示顯示部所具有的像素的電路結構的一例以及與其周邊電路的連接的圖。圖3是本發明的有機EL顯示裝置的製造方法中使用的製造系統的功能框圖。圖4是說明本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法的工作流程圖。圖5A是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中的第 1工序組得到的特性的圖。圖5B是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中的第 2工序組得到的特性的圖。圖6是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中的第 3工序組得到的特性的圖。圖7A是說明獲得代表I-V特性的第1具體方法的工作流程圖。圖7B是說明獲得代表I-V特性的第2具體方法的工作流程圖。圖8A是說明求取各分割區域的I-L變換式的係數的第1具體方法的工作流程圖。圖8B是說明求取各分割區域的I-L變換式的係數的第2具體方法的工作流程圖。圖9A是說明求取各像素的L-V特性的第1具體方法的工作流程圖。圖9B是說明求取各像素的L-V特性的情況下所拍攝的圖像的圖。圖IOA是說明求取各像素的L-V特性的第2具體方法的工作流程圖。圖IOB是說明求取各像素的L-V特性的情況下所拍攝的圖像的圖。圖IOC是所選擇的測定像素的狀態轉變圖。圖11是說明對存在於分割區域邊界部分的像素的係數進行加權的方法的圖。圖12A是表示本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中求取電壓增益以及電壓偏移的校正值的情況下的輝度-電壓特性的曲線圖。圖12B是表示本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中求取電流增益的校正值的情況下的輝度-電壓特性的曲線圖。圖13A是表示用以往的製造方法生成校正參數的情況下的偏移量以及偏移寬度的曲線圖。圖1 是表示用本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法生成校正參數的情況下的偏移量以及偏移寬度的曲線圖。圖14是說明用本發明的有機EL顯示裝置的製造方法校正後的有機EL顯示裝置的效果的圖。圖15A是表示通過蒸鍍形成了發光層的情況下的顯示面板上的輝度分布的圖。圖15B是表示通過噴墨印刷形成了發光層的情況下的顯示面板上的輝度分布的圖。圖16是說明本發明的實施方式2所涉及的有機EL顯示裝置的顯示工作時的電壓增益以及偏移的校正工作的圖。
圖17是說明本發明的實施方式2所涉及的有機EL顯示裝置的顯示工作時的電流增益的校正工作的圖。圖18是內置有本發明的有機EL顯示裝置的薄型平板TV的外觀圖。圖19是說明用以往的校正方法校正後的有機EL顯示裝置的效果的圖。符號說明1 有機EL顯示裝置，2 信息處理裝置，3 拍攝裝置，4 電流計，12、101 控制電路，21 運算部，22 存儲部，23 通信部，11 顯示面板，111 掃描線驅動電路，112 數據線驅動電路，113 顯示部，121、102 存儲器，200 掃描線，201 數據線，202 :電源線，203 選擇電晶體，204 驅動電晶體，205 有機EL元件，206 保持電容元件，207 共用電極，208 像素，601 校正塊，602 變換塊，611 像素位置檢測部，612 影像-輝度變換部，613 乘法部， 614 輝度-電壓變換部，615 驅動電路用定時控制器。
具體實施例方式本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法包括第1步驟，獲得包含多個像素的顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性，所述像素包含發光元件和對向所述發光元件的電流的供給進行控制的電壓驅動的驅動元件；第2步驟，將所述顯示面板分割為多個分割區域，對各像素所包含的驅動元件施加電壓，測定流動於各分割區域的電流以及流動所述電流的情況下從各分割區域發出的光的輝度而求取各分割區域的電流-輝度特性，對於所述各分割區域求取發光效率以及偏移輝度值，所述發光效率是該電流-輝度特性的傾斜度，所述偏移輝度值是該電流-輝度特性的輝度軸截距；第3步驟，用預定的測定裝置測定從所述顯示面板所包含的多個像素的各個發出的光的輝度，求取各像素的輝度-電壓特性；第4步驟，將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以對所述各分割區域求取的所述發光效率，並將該相乘值與對所述各分割區域求取的所述偏移輝度值相加，由此對所述各分割區域求取輝度-電壓特性；以及第5步驟，對作為對象的像素求取校正參數， 所述校正參數是使在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參數。在測定從顯示面板所包含的各像素髮出的光的輝度而求取各像素的輝度-電壓特性的情況下，各像素的輝度-電壓特性反映各像素所包含的發光元件的不均一以及作為驅動元件的TFT的不均一雙方，所述驅動元件對該發光元件進行驅動。在求取對這些發光元件的不均一以及上述TFT的不均一雙方進行校正的校正參數、使用該校正參數對來自外部的影像信號進行校正的情況下，該校正為包含了各發光元件的不均一的校正。因此，根據該校正，顯示面板整體對於同一灰度等級的影像信號從各發光元件發出的光的輝度變得均等。但是，由於各發光元件的特性不均一，流動同一電流的情況下的輝度在各發光元件間不同，所以在進行了對於顯示面板整體、將各發光元件的輝度對於同一灰度等級的影像信號設定為均等的校正的情況下，流動於各發光元件的電流量會變化。因此，在該情況下，從發光元件的壽命依賴於電流量的觀點來看，隨著時間經過，各發光元件的壽命會變得不均一。該各發光元件的壽命的不均一結果作為輝度不均而表現在畫面上。因此，在本方式中，僅主要對TFT的不均一進行校正，對於顯示面板整體，將對於同一灰度等級的影像信號而流動於各發光元件的電流量設定為均等。這是因為，TFT的不均一在各TFT間較大，但發光元件的不均一在各發光元件間非常小，只要可以僅對TFT的不均一進行校正，即使不校正發光元件的不均一，也可以顯示對於人眼而言均勻的圖像。在本方式中，首先，設定顯示面板的全部像素所共同的代表電流-電壓特性。接下來，對各分割區域測定使電流流動於各分割區域的情況下的輝度，求取各分割區域的發光效率以及偏移輝度值。在這裡，所謂偏移輝度值，為具有上述發光效率的傾斜度的電流-輝度直線與電流值為0的輝度軸交叉的輝度值。即，根據各分割區域的發光效率以及偏移輝度值的不同掌握分割區域間的發光元件的不均一。接下來，用預定的測定裝置測定從顯示面板所包含的各像素的發光輝度，求取各像素的輝度-電壓特性。然後，將所測定的各分割區域的發光效率與所述代表電流-電壓特性的電流值相乘，並將該相乘值與所測定的各分割區域的偏移輝度值相加，由此求取各分割區域的輝度-電壓特性。在此基礎上，求取使各像素的輝度-電壓特性成為該各分割區域的輝度-電壓特性的校正參數。由此，各分割區域的電流-電壓特性成為上述顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性。S卩，包含作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性為包含所測定的發光元件的不均一的特性。因此，所謂求取使作為對象的像素的輝度-電壓特性成為包含作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參數，指的是求取主要對基本上不包含所述發光元件的不均一的所述TFT的不均一進行校正的校正參數。換而言之，指的是求取對除了發光元件的不均一以外的TFT的不均一進行校正的校正參數。由此，由於可以將對於指定的同一灰度等級而流動於各發光元件的電流設定為一定，所以可以將在多個發光元件間施加的電流負荷設定為一定。因此，可以將流動於各發光元件的電流設定為均等，可以抑制各發光元件的壽命隨著時間經過而變得不均一。結果，可以防止在畫面上顯示由各發光元件的壽命的不均一引起的輝度不均。另外，在本方式中，為了得到用於對TFT的不均一進行校正的校正參數，不是測定各像素中的TFT的不均一本身，而是測定各像素中的包含發光元件的不均一以及TFT的不均一雙方的輝度-電壓特性和各分割區域的發光元件的發光效率以及偏移輝度值。即，各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，可以通過將顯示面板分割為多個分割區域並對各分割區域測定流動於各分割區域的電流以及該電流流動時的輝度而求取。換而言之，通過求取各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，可以掌握各分割區域間的發光元件的不均一。 這是因為，發光元件與其說按每像素不如說按每某一定的區域變得不均一。另外，各像素的電壓-輝度特性，通過使用C⑶照相機等，可以同時測定多個像素。由此，與對各像素施加電壓、通過測定流動於各像素的電流而測定TFT的不均一的情況相比，可以大幅度縮短校正參數的測定時間。另外，通過不強制校正無需關注的程度的輝度傾斜度，也可以期待電力削減。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，優選在所述第3步驟，通過對所述顯示面板所包含的多個像素施加預定的電壓，使所述多個像素同時發光；用預定的測定裝置拍攝從所述多個像素同時發出的光；獲得所述拍攝而得到的圖像；根據所述獲得的圖像確定所述多個像素的各個的輝度；以及使用所述預定的電壓以及所確定的所述多個像素的各個的輝度，求取所述多個像素的各個的輝度-電壓特性。根據本方式，不是每當獲得每個像素的輝度-電壓特性時施加預定的電壓而拍攝每個像素的發光，而是一次拍攝發光面板的全部像素的一齊發光。然後，根據所拍攝的圖像，利用將各像素的發光分離的圖像處理確定各像素的發光輝度。因此，由於可以大幅度縮短拍攝時間，所以可以將在上述第3步驟規定的獲得每個像素的輝度-電壓特性的工序大幅度簡略化。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，優選所述預定的測定裝置為圖像傳感器。根據本方式，由於可以以低噪音、高靈敏度以及高解析度獲得從全部像素的發光圖像，所以可以利用將各像素的發光分離的圖像處理獲得高精度的各像素的輝度-電壓特性。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第 4步驟，判斷所述作為對象的像素在顯示面板上的位置，在所述作為對象的像素存在於與不包含該像素的其他周邊分割區域的邊界位置附近的情況下，用包含所述作為對象的像素的分割區域的發光效率以及偏移輝度值和所述其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值進行加權而求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值；以及將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以所述作為對象的像素的發光效率，並將該相乘值與所述作為對象的像素的偏移輝度值相加，由此對所述作為對象的像素求取作為目標的輝度-電壓特性，所述作為目標的輝度-電壓特性是求取所述作為對象的像素的校正參數時的目標；在所述第5步驟，對所述作為對象的像素求取校正參數，所述校正參數是使在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為在所述第4步驟求取的所述作為對象的像素的目標輝度-電壓特性的校正參數。假定在僅使用各分割區域的發光效率求取分割區域內所包含的各像素的校正參數、對各像素的影像信號進行校正的情況下，由於目標輝度-電壓特性按每分割區域不同， 所以反映了該目標輝度-電壓特性的不同的各分割區域的邊界會顯現在畫面上，無法顯示平滑的圖像。根據本方式，判斷對象像素的位置，在該像素存在於與其他周邊分割區域的邊界位置附近的情況下，基於包含該像素的分割區域的發光效率以及偏移輝度值和相鄰的其他分割區域的發光效率以及偏移輝度值而求取該像素的發光效率以及偏移輝度值。然後，將顯示面板整體所共同的代表電壓-電流特性的各電流值乘以上述對象像素的發光效率，並將該相乘值與對象像素的偏移輝度值相加，由此對所述作為對象的像素求取作為求取對象像素的校正參數時的目標的輝度-電壓特性，求取使對象像素的輝度-電壓特性成為上述作為目標的輝度-電壓特性的校正參數。由此，由於將存在於與其他周邊分割區域的邊界位置附近的像素的發光效率以及偏移輝度值，不是設定為各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，而是設定為基於包含該像素的分割區域的發光效率以及偏移輝度值和相鄰的其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值而求取的發光效率以及偏移輝度值，所以可以使配置於分割區域的邊界附近的像素間的不均一平緩。因此，可以防止在畫面上顯現出分割區域的邊界，可以顯示平滑的圖像。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第4 步驟，在求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值時，所述作為對象的像素越接近於與所述其他周邊分割區域的邊界位置，越多考慮所述其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值而進行加權。根據本方式，在求取對象像素的發光效率以及偏移輝度值時，該像素越接近於與相鄰的其他周邊分割區域的邊界位置，越多考慮所述其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值而進行加權。因此，可以顯示更平滑的圖像。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第4 步驟，在求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值時，根據從所述作為對象的像素到包含所述作為對象的像素的分割區域的中心位置的距離與從所述作為對象的像素到所述其他周邊分割區域的中心位置的距離之比，求取所述作為對象的像素的發光效率以及所述偏移輝度值。根據本方式，在求取作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值時，根據從該像素到該像素所屬的分割區域的中心位置的距離與從該像素到相鄰的其他周邊分割區域的中心位置的距離之比，求取該像素的發光效率以及偏移輝度值。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第2 步驟，作為所述各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，利用在以同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中獲得的所述發光效率以及偏移輝度值。根據本方式，由於將用某一有機EL顯示裝置的製造方法求取的各分割區域的發光效率以及偏移輝度值用在以與該裝置同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中，所以可以節省在每次測定多個顯示面板的校正參數時都對各顯示面板求取各分割區域的發光效率以及偏移輝度值的時間和勞力。結果，可以縮短本裝置的製造過程。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第1 步驟，作為所述代表電流-電壓特性，利用在以同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中獲得的代表電流-電壓特性。根據本方式，由於將用一有機EL顯示裝置的製造方法求取的代表電流-電壓特性用在以與所述一有機EL顯示裝置同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中，所以可以節省在每次測定多個顯示面板的校正參數時都設定代表電流-電壓特性的時間和勞力。結果，可以縮短本裝置的製造過程。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，還包括第6步驟， 將在所述第5步驟求取的各像素的所述校正參數寫入所述顯示面板所使用的預定的存儲
ο根據本方式，將各像素的校正參數寫入顯示面板所使用的預定的存儲器。如上所述，將顯示面板分割為多個分割區域，將表示在各分割區域內所共同的特性的發光效率乘以代表電流-電壓特性的各電流值，並將該相乘值與偏移輝度值相加而求取各分割區域的輝度-電壓特性。因此，與使用顯示面板整體所共同的代表電壓-輝度特性求取校正參數的情況相比，基於各像素的校正參數的校正量變小。因此，各像素的校正參數的值所表示的範圍變小，可以減少對校正參數的值分配的存儲器的位數。結果，可以減小存儲器的容量，可以降低製造成本。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第1 步驟，對多個測定用像素施加多個電壓而使電流流動於各測定用像素；對於所述多個電壓的各個測定流動於所述各測定用像素的電流；以及通過將所述各測定用像素的電流-電壓特性平均化而求取所述代表電流-電壓特性。根據本方式，施加多個電壓而使電流流動於多個測定用像素，通過將對於該多個測定用像素得到的電流-電壓特性平均化而求取代表電流-電壓特性。由此，由於不是測定顯示面板所包含的全部像素的電流，而是僅對多個測定用像素測定電流，所以可以大幅度縮短直至設定顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性為止的時間。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，也可以在所述第1 步驟，對多個測定用像素同時施加多個共同電壓而使電流流動於各測定用像素；對於所述多個共同電壓的各個測定流動於所述各測定用像素的電流的合計值；以及通過將流動於所述各測定用像素的電流的合計值除以所述測定用像素的數量而求取所述代表電流-電壓特性。根據本方式，也可以對多個測定用像素一齊施加多個共同電壓，測定流動於各測定用像素的電流的合計值，並將所測定的電流的合計值除以測定用像素的數量，由此求取顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數也可以包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的電壓與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的電壓之比的參數。根據本方式，將校正參數設定為增益，所述增益表示在所述第3步驟求取的作為對象的像素的輝度-電壓特性的、與在所述第4步驟求取的包含作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性相對的電壓放大率。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數也可以包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的輝度與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的輝度之比的參數。根據本方式，將校正參數設定為增益，所述增益表示在所述第3步驟求取的作為對象的像素的輝度-電壓特性的、與在所述第4步驟求取的包含作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性相對的輝度放大率。另外，本發明的一方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數也可以包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的電壓與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的電壓之差的參數。根據本方式，將校正參數設定為偏移，所述偏移表示在所述第3步驟求取的作為對象的像素的輝度-電壓特性的、與在所述第4步驟求取的包含作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性相對的電壓的偏移量。另外，本發明不僅可以作為包含這樣的特徵性步驟的有機EL顯示裝置的製造方法而實現，作為具有以該製造方法所包含的特徵性步驟為手段而生成的校正參數的有機EL 顯示裝置，也可產生與上述同樣的效果。(實施方式1)在本實施方式中，說明生成用於對本發明所涉及的有機EL顯示裝置所具有的顯示面板的輝度不均一進行校正的校正參數、將該校正參數存儲於有機EL顯示裝置內的製造工序。上述所存儲的校正參數在該有機EL顯示裝置出廠後的顯示工作中使用。以下說明的製造工序包括(1)第1步驟，獲得顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性；⑵第2步驟，將顯示面板分割為多個分割區域，對各像素所包含的驅動元件施加電壓，通過測定流動於各分割區域的電流以及從該分割區域的發光輝度而求取各分割區域的電流-輝度特性，對於各分割區域根據該電流-輝度特性求取電流-輝度變換式；
(3)第3步驟，用預定的測定裝置測定從各像素的發光輝度，求取各像素的輝度-電壓特性；
(4)第4步驟，根據上述代表電流-電壓特性和各分割區域的電流-輝度變換式求取各分割區域的輝度-電壓特性；( 第5步驟，對對象像素求取校正參數，所述校正參數是使在第 3步驟求取的所述對象像素的輝度-電壓特性成為在第4步驟求取的包含該像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參數；(6)第6步驟，將在第5步驟求取的各像素的校正參數寫入預定的存儲器。由此，由於可以對於指定的同一灰度等級將流動於各發光元件的電流設定為一定，所以可以在發光元件間將電流負荷設定為一定。因此，可以抑制顯示面板所具有的發光元件的歷時不均。以下，參照

本發明的實施方式所涉及的有機EL顯示裝置及其製造方法。圖1是表示本發明的實施方式所涉及的有機EL顯示裝置1的電結構的框圖。該圖中的有機EL顯示裝置1具備控制電路12和顯示面板11。控制電路12具有存儲器121。 顯示面板11具備掃描線驅動電路111、數據線驅動電路112和顯示部113。另外，存儲器 121也可以配置在有機EL顯示裝置1內、控制電路12的外部。控制電路12具有進行存儲器121、掃描線驅動電路111以及數據線驅動電路112 的控制的功能。在存儲器121，在由本實施方式中說明的製造方法實現的製造工序的完成後，存儲利用本發明的有機EL顯示裝置的製造方法生成的校正參數。控制電路12在顯示工作時，讀取寫入到了存儲器121的校正參數，基於該校正參數對從外部輸入的影像(圖像、 視頻)信號數據進行校正，向數據線驅動電路112輸出。另外，控制電路12具有在製造工序中通過與外部的信息處理裝置進行通信而按照該信息處理裝置的指示驅動顯示面板11的功能。顯示部113具備多個像素，基於從外部向有機EL顯示裝置1輸入的影像信號而顯示圖像。圖2是表示顯示部所具有的像素的電路結構的一例以及與其周邊電路的連接的圖。該圖中的像素208具備掃描線200、數據線201、電源線202、選擇電晶體203、驅動電晶體204、有機EL元件205、保持電容元件206、共用電極207。另外，周邊電路具備掃描線驅動電路111、數據線驅動電路112。掃描線驅動電路111連接於掃描線200，具有控制像素208的選擇電晶體203的導通以及非導通的功能。數據線驅動電路112連接於數據線201，具有輸出數據電壓而確定流動於驅動電晶體204的信號電流的功能。選擇電晶體203其柵極連接於掃描線200，具有對將數據線201的數據電壓供給於驅動電晶體204的柵極的定時進行控制的功能。驅動電晶體204作為驅動元件起作用，驅動電晶體204的柵極經由選擇電晶體203 連接於數據線201，源極連接於有機EL元件205的陽極，漏極連接於電源線202。由此，驅動電晶體204將供給於柵極的數據電壓變換為與該數據電壓對應的信號電流，將變換後的信號電流供給於有機EL元件205。有機EL元件205作為發光元件起作用，有機EL元件205的陰極連接於共用電極 207。保持電容元件206連接於電源線202與驅動電晶體204的柵極端子之間。保持電容元件206具有例如在選擇電晶體203變為截止狀態之後也維持之前的柵電壓並繼續使驅動電流從驅動電晶體204向有機EL元件205進行供給的功能。另外，在圖1、圖2中沒有記載，但電源線202連接於電源。另外，共用電極207也連接於另外的電源。從數據線驅動電路112供給的數據電壓經由選擇電晶體203向驅動電晶體204的柵極端子施加。驅動電晶體204使與該數據電壓相應的電流流動於源極-漏極端子之間。通過該電流向有機EL元件205流動，有機EL元件205以與該電流相應的發光輝度發光。接下來，說明實現本發明的有機EL顯示裝置的製造方法的製造系統。圖3是本發明的有機EL顯示裝置的製造方法中使用的製造系統的功能框圖。該圖所記載的製造系統具備信息處理裝置2、拍攝裝置3、電流計4、顯示面板11和控制電路 12。信息處理裝置2具備運算部21、存儲部22、通信部23，具有對直到生成校正參數為止的工序進行控制的功能。作為信息處理裝置2，可應用例如個人計算機。拍攝裝置3根據來自信息處理裝置2的通信部23的控制信號，對顯示面板11進行拍攝，將所拍攝的圖像數據向通信部23輸出。作為拍攝裝置3，可應用例如CCD照相機和 /或輝度計。電流計4根據來自信息處理裝置2的通信部23以及控制電路12的控制信號，測定在各像素的驅動電晶體204以及有機EL元件205中流動的電流，將所測定的電流值數據向通信部23輸出。信息處理裝置2經由通信部23向有機EL顯示裝置1內的控制電路12、拍攝裝置 3以及電流計4輸出控制信號，從控制電路12、拍攝裝置3以及電流計4獲得測定數據而將該測定數據存儲於存儲部22，基於所存儲的測定數據通過運算部21進行運算而計算各種特性值和/或參數。另外，控制電路12也可以使用不內置於有機EL顯示裝置1的控制電路。具體地，在後述的代表電流-電壓特性(以下記作代表I-V特性)的設定時，信息處理裝置2進行向測定像素提供的電壓值的控制以及對在測定像素中流動的電流進行測定的電流計4的控制，接收測定電流值。另外，此時，也可以不設置拍攝裝置3。另外，在後述的有機EL元件的電流-輝度特性(以下記作I-L特性)的設定時，信息處理裝置2進行向測定像素提供的電壓值的控制、拍攝裝置3的控制以及電流計4的控制，接收測定輝度值
14和測定電流值。另外，在各像素的輝度-電壓特性(以下記作L-V特性)的設定時，信息處理裝置2進行向測定像素提供的電壓值的控制、拍攝裝置3的控制，接收測定輝度值。控制電路12根據來自信息處理裝置2的控制信號，對向顯示面板11所具有的像素208提供的電壓值進行控制。另外，控制電路12具有將由信息處理裝置2生成的校正參數向存儲器121寫入的功能。接下來，說明本發明的有機EL顯示裝置的製造方法。圖4是說明本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法的工作流程圖。另外，圖5A是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中的第1工序組得到的特性的圖。另外，圖5B是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL 顯示裝置的製造方法中的第2工序組得到的特性的圖。另外，圖6是說明由本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中的第3工序組得到的特性的圖。在圖4中，記載了直到生成用於對有機EL顯示裝置1所具有的顯示面板的輝度不均一進行校正的有效的校正參數、將該校正參數存儲於有機EL顯示裝置1內為止的工序。 上述有效的校正參數，是為了抑制有機EL元件205的歷時劣化而主要對驅動電晶體204的不均一進行校正的參數，但也是不按每像素208進行電流測定而生成的參數。為了生成上述校正參數，在本製造方法中，將顯示部113分割為具有多個像素208的分割區域，確定每個該分割區域的I-L特性。另外，該分割區域基於因有機EL元件205的形成工序而產生的顯示面板11上的緩慢的輝度傾斜度而進行分割。而且，最終，通過對根據每個分割區域的 I-L特性導出的每個分割區域的L-V特性與各像素的L-V特性進行比較，生成主要因驅動電晶體204的不均一引起的校正參數。以下，按照圖4，對製造工序進行說明。首先，信息處理裝置2獲得並設定包含多個像素的顯示部113整體所共同的代表 I-V特性(SOl)，所述像素包含有機EL元件205和驅動電晶體204，所述有機EL元件205是發光元件，所述驅動電晶體204是對向該有機EL元件的電流的供給進行控制的電壓驅動的驅動元件。步驟SOl相當於第1步驟。在圖5A中，表示顯示部113整體所共同的代表I-V 特性。該代表I-V特性是與向驅動電晶體204的柵極施加的電壓相對的漏電流的特性，為非線性的特性。圖7A是說明獲得代表I-V特性的第1具體方法的工作流程圖。在本方法中，從顯示部113所具有的多個像素抽出用於確定代表I-V特性的測定用像素。該測定用像素可以是1個，也可以是按照規則性或者隨機地選擇的多個像素。首先，信息處理裝置2使控制電路12向測定用像素施加數據電壓而使電流流動於該像素，使該像素的有機EL元件205發光(Sll)。接下來，信息處理裝置2使電流計4測定步驟Sll的電流(S12)。使上述步驟Sll 以及S12在不同的數據電壓下執行多次。另外，可以使上述步驟Sll以及S12在多個測定用像素中一齊執行，也可以按每個測定用像素反覆執行。接下來，信息處理裝置2根據在上述步驟Sll以及S12得到的數據電壓以及對應的電流，通過運算部21求取每個測定用像素的I-V特性(S13)。接下來，信息處理裝置2通過將對多個測定用像素的各個得到的I-V特性平均化而求取代表I-V特性(S14)。
圖7B是說明獲得代表I-V特性的第2具體方法的工作流程圖。在本方法中，也從顯示部113所具有的多個像素抽出用於確定代表I-V特性的測定用像素。該測定用像素可以是1個，也可以是按照規則性或者隨機地選擇的多個像素。首先，信息處理裝置2使控制電路12向多個測定用像素同時施加共同的數據電壓而使電流一齊流動於該多個像素，使該多個像素的有機EL元件205同時發光(S15)。接下來，信息處理裝置2使電流計4測定步驟S15中的各測定用像素的合計電流 (S16)。使上述步驟S15以及S16在不同的數據電壓下執行多次。接下來，信息處理裝置2通過運算部21將在上述步驟S15以及S16得到的合計電流值除以多個測定用像素數(S17)。接下來，通過使步驟S17按每個數據電壓執行，而求取代表I-V特性(S18)。通過用圖7A以及圖7B所記載的方法求取代表I-V特性，由於不是測定顯示部113 所包含的全部像素的電流，而是僅對多個測定用像素測定電流，所以可以大幅度縮短直至設定顯示部113整體所共同的代表I-V特性為止的時間。另外，獲得代表I-V特性的第1以及第2具體方法也可以不按每個本發明的有機 EL顯示裝置而進行。例如，作為代表I-V特性，也可以將在以同一條件製造的其他有機EL 顯示裝置的製造方法中獲得的代表I-V特性直接用作為自身的有機EL顯示裝置的代表I-V 特性。由此，由於將用某一有機EL顯示裝置的製造方法求取的代表I-V特性用在以與該裝置同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中，所以可以節省在每次測定多個顯示面板的校正參數時都設定代表I-V特性的時間和勞力。結果，可以縮短本裝置的製造過程。再次返回到圖4，對製造工序進行說明。接下來，信息處理裝置2將顯示面板分割為多個分割區域，使電壓施加於各像素所包含的驅動電晶體204，對流動於各分割區域的電流以及此時的從該分割區域的發光輝度進行測定由此求取各分割區域的I-L特性，根據該I-L特性對各分割區域求取I-L變換式(S(^)。步驟S02相當於第2步驟。通過執行步驟S02，得到圖5A的(b)所記載的各分割區域的I-L特性。該I-L特性以一次函數近似，所述一次函數使用作為發光效率而定義的傾斜度P以及作為該I-L特性的輝度軸截距的偏移輝度值q，以下式表示I = ρ * I+q (式 1)圖5A的(c)所記載的矩陣是以式1近似上述的各分割區域的I-L特性而計算的各分割區域的I-L變換式的係數(p，q)。圖8A是說明求取各分割區域的I-L變換式的係數的第1具體方法的工作流程圖。 在本方法中，從分割區域所具有的多個像素抽出用於確定該分割區域的I-L特性的測定用像素。該測定用像素可以是1個，也可以是按照規則性或者隨機地選擇的多個像素。另外， 也可以是該分割區域所具有的全部像素。首先，信息處理裝置2使控制電路12向上述測定用像素一齊施加數據電壓而使電流流動於該像素，使該像素的有機EL元件205發光(S21)。接下來，信息處理裝置2使電流計4測定步驟S21的電流(S2》。此時，在測定用像素為分割區域的全部像素的情況下和/或是所選擇的多個像素的情況下，測定合計電流值。使上述步驟S21以及S22在不同的數據電壓下執行多次。
接下來，信息處理裝置2使拍攝裝置3拍攝步驟S21的發光(S2!3)。使上述步驟 S21 S23在不同的數據電壓下執行多次。接下來，信息處理裝置2根據在上述步驟S22以及S23得到的電流以及對應的輝度，通過運算部21求取每個分割區域的I-L特性，按每個分割區域求取上述的I-L變換式的係數(P，q)(S24)。另外，在分割區域所具有的測定用像素為分割區域的全部像素的情況下和/或是所選擇的多個像素的情況下，將合計電流值除以測定用像素數而得到的平均電流值作為I而求取每個分割區域的I-L特性。圖8B是說明求取各分割區域的I-L變換式的係數的第2具體方法的工作流程圖。 圖8B所記載的方法與圖8A所記載的方法相比較，僅進行1次步驟S21 S23，僅這一點不同。應用本方法的是假設I-L特性為通過原點的一次式即偏移輝度值q為0的情況。另外， 在本方法中，也從分割區域所具有的多個像素抽出用於確定該分割區域的I-L特性的測定用像素。該測定用像素可以是1個，也可以是按照規則性或者隨機地選擇的多個像素。另外，也可以是該分割區域所具有的全部像素。另外，求取各分割區域的I-L變換式的係數的第1以及第2具體方法也可以不按每個本發明的有機EL顯示裝置而進行。例如，作為上述係數，也可以將在以同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中獲得的各分割區域的I-L變換式的係數直接用作為自身的有機EL顯示裝置的係數。由此，由於將用某一有機EL顯示裝置的製造方法求取的各分割區域的發光效率以及偏移輝度值用在以與該有機EL顯示裝置同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中，所以可以節省在每次測定多個顯示面板的校正參數時都對各顯示面板求取各分割區域的發光效率以及偏移輝度值的時間和勞力。結果，可以縮短本裝置的製造過程。再次返回到圖4，對製造工序進行說明。接下來，信息處理裝置2通過拍攝裝置3測定從顯示部113所具有的各像素髮出的光的輝度，求取各像素的L-V特性(S03)。步驟S03相當於第3步驟。此時，對於各像素的L-V特性，在對每個像素施加電壓而測定此時的輝度時，需要像素數的量的測定次數，測定時間以及製造成本大。在本實施方式中，不需要像素數的量的測定次數，可以通過對全部像素一併測定而確定各像素的L-V特性。圖9A是說明求取各像素的L-V特性的第1具體方法的工作流程圖。另外，圖9B 是說明求取各像素的L-V特性的情況下所拍攝的圖像的圖。首先，信息處理裝置2選擇要測定的顏色(S31)。在本實施方式中，假定包括像素 208的顯示部113，所述像素208包括R (紅色)、G (綠色)以及B (藍色)的子像素。接下來，信息處理裝置2選擇要測定的灰度等級(S32)。接下來，信息處理裝置2通過對所選擇的顏色的全部子像素施加與所選擇的灰度等級相應的電壓，使該全部子像素同時發光(S33)。接下來，信息處理裝置2通過拍攝裝置3拍攝從上述全部子像素同時發出的光 (S36)。在圖9B中，示出選擇了紅色的情況下拍攝裝置3對某灰度等級下的顯示部113的發光狀態進行拍攝而得到的圖像。附圖整體所表示的格子圖案表示拍攝裝置3的受光部的單位像素。由於拍攝裝置3的受光部的單位像素相對於所拍攝的R子像素充分小，所以可以根據本圖像確定各R子像素的輝度。
接下來，信息處理裝置2改變測定灰度等級(S38中否)，執行上述步驟S33以及步驟 S36。另外，當在全部需要的測定灰度等級下結束了上述步驟S33以及步驟S36的情況下(S38中是)，改變測定對象的顏色(S39中否)，執行步驟S32 步驟S38。另外，當在全部顏色下結束了上述步驟S32 步驟S38的情況下(S39中是)，信息處理裝置2獲得在上述步驟S31 步驟S39得到的圖像，根據所獲得的圖像確定各像素的輝度(S40)。在本步驟，例如區域0，1)的像素的輝度值作為屬於區域0，1)的拍攝元件的像素的輸出值的平均值而計算出。根據本方法，不是每當獲得每個像素的L-V特性時施加預定的電壓而拍攝每個像素的發光，而是一次拍攝發光面板的全部子像素的一齊發光。然後，根據所拍攝的圖像，利用將各像素的發光分離的圖像處理確定各子像素的發光輝度。因此，由於可以大幅度縮短拍攝時間，所以可以將獲得每個像素的L-V特性的工序大幅度簡略化。圖IOA是說明求取各像素的L-V特性的第2具體方法的工作流程圖。另外，圖IOB 是說明求取各像素的L-V特性的情況下所拍攝的圖像的圖。另外，圖IOC是所選擇的測定像素的狀態轉變圖。圖IOA所記載的方法與圖9A所記載的方法相比較，僅附加了步驟S34 以及步驟S37這一點不同。即，圖IOA所記載的方法不是在所選擇的顏色以及所選擇的灰度等級下使對應的全部子像素一齊發光而獲得拍攝圖像，而是使該全部子像素的發光分割為多次發光而得到多張拍攝圖像。根據本方法，可以避免相鄰像素的發光的幹擾而計算各像素的高精度的輝度值。另外，在圖9A以及圖IOA所示的各像素的L-V特性的計算方法中使用的拍攝裝置 3優選為圖像傳感器，進而更優選為CCD照相機。由此，由於可以以低噪音、高靈敏度以及高解析度獲得從全部像素的發光圖像，所以可以利用將各像素的發光分離的圖像處理獲得高精度的各像素的L-V特性。再次返回到圖4，對製造工序進行說明。接下來，信息處理裝置2在作為應該生成校正參數的對象的像素不位於與該像素所不屬於的其他分割區域的邊界的情況下(步驟S04中是)，根據在步驟SOl設定的代表 I-V特性和在步驟S02求取的對象像素所屬的分割區域的I-L變換式，求取該分割區域的 L-V特性。即，使用代表顯示部113的代表I-V特性，將各分割區域的I-L特性的I參數變換為V，獲得該分割區域的L-V特性。使用圖5B的(d)，對上述參數轉換進行具體說明。例如，在圖5A的(c)所記載的係數(P，q)的分割區域矩陣中，左上方的分割區域(係數(10，-2))的L-V特性如下那樣計算出。首先，將代表I-V特性的參數I乘以傾斜度ρ。然後，將相乘後的值與偏移輝度值q 相加。由此，代表I-V特性的參數I被參數變換為各分割區域的L。通過以上，計算出各分割區域的L-V特性(S05)。步驟S05相當於第4步驟。然後，信息處理裝置2通過運算部21對各像素計算使在步驟S03求取的各像素的 L-V特性成為在步驟S05求取的各像素所屬的分割區域的L-V特性的校正參數(S06)。步驟S06相當於第5步驟。另一方面，信息處理裝置2在作為應該生成校正參數的對象的像素位於與該像素所不屬於的其他分割區域的邊界附近的情況下(步驟S04中否)，根據在步驟SOl設定的代表I-V特性、在步驟S02求取的對象像素所屬的分割區域的I-L轉換式和上述其他分割區域的I-L變換式，求取作為求取該像素的校正參數時的目標的L-V特性。使用圖11，對上述參數變換進行具體說明。圖11是說明對存在於分割區域邊界部分的像素的係數進行加權的方法的圖。如該圖所示，在像素ι存在於分割區域1 4的邊界區域的情況下，在使用上述步驟S05以及 S06生成校正參數時，有可能在校正後的圖像中識別出分割區域的邊界附近的輝度差。在本方法中，在像素1的校正參數的生成時，不將像素1所屬的分割區域1的L-V特性設定為作為校正目標的L-V特性，而是將根據在相鄰的分割區域間進行了傾斜度ρ以及偏移輝度值q的加權後的I-L特性導出的L-V特性設定為作為校正目標的L-V特性。具體地，使用加權後的I-L變換式的係數(pl，ql)計算像素1的作為校正目標的L-V特性(S07)。在圖 11中，例如，使用相鄰的分割區域1 4的係數(p，q)，加權後的I-L變換式的係數pi為pi = {(10+8)/2+(14+2)/2}/2 = 8. 5 (式 2)另外，加權後的I-L變換式的係數ql為ql = {((-2) + (_5)/2+ ((_3) + (_4))/2}/2 = -3.5 (式 3)接下來，信息處理裝置2根據在步驟SOl設定的代表I-V特性和在步驟S07加權後的I-L變換式的係數(pl，ql)，求取作為目標的L-V特性。即，使用代表顯示部113的代表I-V特性，將加權後的I-L特性的I參數轉換為V，獲得作為校正目標的L-V特性。在該情況下，在係數(Pl，ql)的分割區域矩陣中，將代表I-V特性的參數I乘以傾斜度pi。然後，將相乘後的值與偏移輝度值ql相加。由此，代表I-V特性的參數I被參數變換為校正目標的L。通過以上，計算出作為校正目標的L-V特性(S08)。步驟S04、S07以及S08相當於第4步驟。然後，信息處理裝置2通過運算部21對各像素計算使在步驟S03求取的各像素的 L-V特性成為在步驟S08求取的作為校正目標的L-V特性的校正參數(S09)。步驟S09相當於第5步驟。通過步驟S07 S09，可以使配置於分割區域的邊界附近的像素間的不均一變得緩和。因此，可以防止在畫面上顯現出分割區域的邊界，可以顯示平滑的圖像。另外，在步驟S07，在求取作為校正對象的像素的傾斜度pl以及偏移輝度值ql時， 優選地，該像素越接近於與其他周邊分割區域的邊界位置，越多考慮該其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值而進行加權。另外，在步驟S07，在求取作為校正對象的像素的傾斜度pl以及偏移輝度值ql時， 也可以根據從該像素到包含該像素的分割區域的中心位置的距離與從該像素到其他周邊分割區域的中心位置的距離之比，求取該像素的發光效率以及偏移輝度值。通過這些加權， 可以顯示更平滑的圖像。在這裡，對在步驟S06以及步驟S09計算出的校正參數進行說明。圖12A是表示本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中求取電壓增益以及電壓偏移的校正值的情況下的輝度-電壓特性的曲線圖。在該圖中，校正參數包含電壓增益，該電壓增益表示在上述步驟S03求取的作為校正對象的像素的L-V特性的電壓值與在步驟S05或者步驟S08求取的分割區域或者作為校正目標的L-V特性的電壓值之比。進而，圖12A所記載的校正參數包含電壓偏移，該電壓偏移表示在上述步驟S05求取的作為校正對象的像素的L-V特性的電壓值與在步驟S05或者步驟S08求取的分割區域或者作為校正目標的L-V特性的電壓值之差。圖12B是表示本發明的實施方式1所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法中求取輝度增益的校正值的情況下的輝度-電壓特性的曲線圖。在該圖中，校正參數包含輝度增益，該輝度增益表示在上述步驟S03求取的作為校正對象的像素的L-V特性的輝度值與在步驟S05或者步驟S08求取的分割區域或者作為校正目標的L-V特性的輝度值之比。另外，上述校正參數並不限定於圖12A以及圖12B所記載的組合，而只要是包含電壓增益、電壓偏移以及輝度增益這3種之中的至少1種的構成即可。再次返回到圖4，對製造工序進行說明。最後，信息處理裝置2將在上述步驟S06以及S09求取的各像素的校正參數寫入有機EL顯示裝置1的存儲器121 (SlO)。步驟SlO相當於第6步驟。具體地，如圖6的⑴ 所記載，在存儲器121中，與顯示部113(M行XN列)的矩陣對應地存儲例如按每個像素包括(電壓增益、電壓偏移)的校正參數。圖13A是表示用以往的製造方法生成校正參數的情況下的偏移量以及偏移寬度的曲線圖。另外，圖13B是表示用本發明的實施方式所涉及的有機EL顯示裝置的製造方法生成校正參數的情況下的偏移量以及偏移寬度的曲線圖。在本發明的有機EL裝置的製造方法中，將表示在各分割區域內共同的特性的發光效率乘以代表電流-電壓特性的各電流值，並將該相乘值與偏移輝度值相加而求取各分割區域的輝度-電壓特性。因此，與圖 13A所記載的將代表電壓-輝度特性作為校正目標而求取校正參數的情況相比，圖1 所記載的由各像素的校正參數產生的校正量變小。因此，各像素的校正參數的值所表示的範圍 (圖中偏移寬度)變小，可以減少對校正參數的值分配的存儲器的位數。結果，可以減小存儲器121的容量，可以降低製造成本。在以往的校正參數的生成方法中，測定從顯示面板所包含的各像素髮出的光的輝度而求取的各像素的輝度-電壓特性反映有機EL元件的不均一以及驅動電晶體的不均一雙方。在求取對於這雙方的不均一進行校正的校正參數、使用該校正參數對來自外部的影像信號進行校正的情況下，該校正為包含了有機EL元件的不均一的校正。因此，根據該校正，顯示面板整體對於同一灰度等級的影像信號從有機EL元件發出的光的輝度變得均等。但是，由於有機EL元件的特性不均一，流動同一電流的情況下的輝度在有機EL元件間不同，所以流動於有機EL元件的電流量會變化。因此，在該情況下，從有機EL元件的壽命依賴於電流量的觀點來看，隨著時間經過，各發光元件的壽命會變得不均一。該壽命的不均一結果作為輝度不均而表現在畫面上。因此，在本方式中，僅對驅動電晶體的不均一進行校正，將對於同一灰度等級的影像信號而流動於各有機EL元件的電流量設定為均等。這是因為，驅動電晶體的不均一在各元件間較大，但有機EL元件的不均一在各元件間非常小，只要可以僅對驅動電晶體的不均一進行校正，即使不校正有機EL元件的不均一，也可以顯示對於人眼而言均勻的圖像。根據本實施方式，包含作為校正對象的像素的分割區域的L-V特性是包含有機EL 元件的不均一的特性。因此，求取使作為校正對象的像素的L-V特性成為包含該像素的分割區域的L-V特性的校正參數，指的是求取主要對驅動電晶體的不均一進行校正的校正參數。圖14是說明用本發明的有機EL顯示裝置的製造方法校正後的有機EL顯示裝置的效果的圖。在校正前，有機EL顯示裝置的顯示面板具有反映了因有機EL元件引起的輝度分布和因驅動電晶體引起的輝度分布雙方的輝度分布。與此相對，在本發明的有機EL顯示裝置的製造方法中，由於主要對驅動電晶體的不均一進行校正，所以校正後的顯示面板雖然還殘留由有機EL元件的特性不均一引起的輝度傾斜度，但可以對於指定的同一灰度等級將流動於各有機EL元件的電流設定為一定，所以可以將在有機EL元件間施加的電流負荷設定為一定。因此，可以將流動於各有機EL元件的電流設定為均等，可以抑制所述顯示面板所包含的各發光元件的壽命隨著時間經過而變得不均一。結果，可以防止在畫面上顯示因各發光元件的壽命的不均一引起的輝度不均。另外，在校正後的顯示面板殘存的、由有機EL元件的特性不均一引起的輝度傾斜度為人的視覺不會識別出的輝度傾斜度。另外，在本方式中，為了得到用於對驅動電晶體的不均一進行校正的校正參數，不是測定各像素中的驅動電晶體的不均一本身，而是測定各像素的包含有機EL元件的不均一以及驅動電晶體的不均一雙方的L-V特性和各分割區域的有機EL元件的發光效率以及偏移輝度值。即，各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，通過將顯示面板分割為多個分割區域並對各分割區域測定流動於各分割區域的電流以及流動該電流時的輝度而求取。換而言之，通過求取各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，可以掌握各分割區域間的發光元件的不均一。這是因為，有機EL元件與其說按每像素不如說按每某一定的區域變得不均一。另外，各像素的L-V特性，通過使用C⑶照相機等，可以同時測定多個像素。由此，與對各像素施加電壓、通過測定流動於各像素的電流而測定驅動電晶體的不均一的情況相比， 可以大幅度縮短校正參數的測定時間。另外，在本發明的有機EL顯示裝置的製造方法中，將顯示面板分割為分割區域， 但該分割優選為反映了由有機EL元件的特性不均一引起的輝度傾斜度的分割。圖15A是表示通過蒸鍍形成了發光層的情況下的顯示面板上的輝度分布的圖。在通過蒸鍍形成了發光層的情況下，顯示部113的中央部的發光層膜厚變厚，產生同心圓狀的膜厚分布。因此，有機EL元件的發光效率以及偏移輝度值具有同心圓狀的分布。在該情況下，通過將分割區域分割為圖15A所示的同心圓狀，結果，可以高精度地得到用於主要對驅動電晶體204的不均一進行校正的校正參數。另一方面，圖15B是表示通過噴墨印刷形成了發光層的情況下的顯示面板上的輝度分布的圖。在掃描噴墨頭、對顯示部113印刷發光層的情況下，因墨乾燥時的環境的不同等，在掃描方向發光效率發生變化。另外，各噴墨頭的噴嘴的射出量在噴墨頭的長軸方向緩慢地變得不均一，由此在與掃描方向垂直的方向，發光效率也發生變化。在這樣的發光效率分布不單調的情況下，優選對分割區域細緻地進行分割。由此，結果，可以高精度地得到用於主要對驅動電晶體的不均一進行校正的校正參數。(實施方式2)在本實施方式中，對於有機EL顯示裝置使用利用本發明的有機EL顯示裝置的製造方法生成的校正參數使顯示面板進行顯示工作的情況進行說明。圖16是說明本發明的實施方式2所涉及的有機EL顯示裝置的顯示工作時的電壓增益以及電壓偏移的校正工作的圖。控制電路12從存儲器121讀取例如在實施方式1存儲的校正參數(電壓增益、電壓偏移)，將與影像信號對應的數據電壓乘以電壓增益，然後將相乘值與電壓偏移相加，向數據線驅動電路112輸出。由此，由於可以對於指定的同一灰度等級將流動於多個有機EL 元件的各個的電流設定為一定，所以可以將在有機EL元件間施加的電流負荷設定為一定。 因此，可以將流動於各有機EL元件的電流設定為均等，可以抑制顯示面板所包含的各有機 EL元件的壽命隨著時間經過而變得不均一。結果，可以防止在畫面上顯示因各有機EL元件的壽命的不均一引起的輝度不均。圖17是說明本發明的實施方式2所涉及的有機EL顯示裝置的顯示工作時的輝度增益的校正工作的圖。控制電路101將從外部輸入的影像信號校正變換為與各像素對應的電壓信號。存儲器102存儲與各像素部對應的輝度增益以及代表LUT。該圖中的控制電路101具備校正塊601和變換塊602。校正塊601在影像信號從外部輸入時，對於所輸入的a行b列的像素的輝度信號從存儲器102讀取a行b列的輝度增益而進行運算，對該輝度信號進行校正。變換塊602基於存儲於存儲器102的代表變換曲線，將上述校正後的輝度信號變換為與該影像信號對應的a行b列的電壓信號。校正塊601 具備像素位置檢測部611、影像-輝度變換部612和乘法部613，變換塊602具備輝度-電壓變換部614和驅動電路用定時控制器615。像素位置檢測部611根據與從外部輸入的影像信號同時輸入的同步信號，檢測該影像信號的像素位置信息。在這裡，假定所檢測出的像素位置為a行b列。影像-輝度變換部612從存儲於存儲器102的影像-輝度變換LUT，讀取與該影像信號對應的輝度信號。乘法部613通過將在實施方式1存儲於存儲器102的與各像素部對應的輝度增益與該輝度信號相乘，而對該輝度信號進行校正。具體地，將a行b列的輝度增益與a行b列的輝度信號值相乘，生成校正後的a行b列的輝度信號。另外，乘法部613也可以通過將在實施方式1存儲於存儲器102的與各像素部對應的輝度增益與對從外部輸入的影像信號進行變換而成的輝度信號相除等乘法以外的運算，對該輝度信號進行校正。輝度-電壓變換部614從基於存儲於存儲器102的代表變換曲線導出的代表LUT， 讀取與從乘法部613輸出的校正後的a行b列的輝度信號對應的a行b列的電壓信號。最後，控制電路101將該變換後的a行b列的電壓信號經由驅動電路用定時控制器615，向數據線驅動電路112輸出。該電壓信號被變換為模擬電壓而向數據線驅動電路輸入，或者在數據線驅動電路內被變換為模擬電壓。然後，從數據線驅動電路112，作為數據電壓向各像素供給。根據本方式，利用校正塊601以及變換塊602，按每像素部將從外部輸入的影像信號變換為輝度信號，將每像素部的輝度信號校正為預定的基準輝度。在此基礎上，將校正後的各像素部的輝度信號變換為電壓信號，將該變換後的電壓信號向數據線的驅動電路輸
出ο由此，按每像素部存儲的數據為與各像素部對應的輝度增益並且是用於將與各像素部對應的影像信號的輝度設定為預定的基準輝度的輝度增益。因此，不需要按每像素部準備以往那樣的將與影像信號對應的輝度信號變換為電壓信號的輝度信號-電壓信號變換表，可以大幅度削減按每像素部準備的數據量。而且，使與代表變換曲線對應的預定的信
22息為所述多個像素部所共有，所述代表變換曲線表示所述多個像素部所共同的電壓-輝度特性。這也可以使數據量為很少。因此，可以使校正所需要的數據的量大幅度減少，所述校正是用於按顯示面板的每像素部對不均一的輝度進行校正而得到在整個畫面所共同的輝度的影像信號的校正。由此，可以大幅度削減製造成本。結果，可以降低製造成本以及驅動時的處理負擔，遍及畫面整體實現均勻的顯示。另外，由於表示與多個像素部所共同的電壓-輝度特性對應的代表變換曲線的預定的信息對於多個像素部相同而為一個，所以可以將存儲器容量削減到必要的最小限度。在這裡，在上述校正塊601中使用的輝度增益是用本發明的有機EL顯示裝置的製造方法生成、存儲於存儲器的校正參數。另外，代表變換曲線也可以是在本發明的有機EL 顯示裝置的製造方法中的步驟SOl設定的代表I-V特性。在圖17所記載的將輝度增益作為校正參數的情況下，由於也可以將對於指定的同一灰度等級而流動於多個有機EL元件的各個的電流設定為一定，所以可以將在有機EL 元件間施加的電流負荷設定為一定。因此，可以將流動於各有機EL元件的電流設定為均等，可以抑制顯示面板所包含的各有機EL元件的壽命隨著時間經過而變得不均一。結果， 可以防止在畫面上顯示因各有機EL元件的壽命的不均一引起的輝度不均。以上對於實施方式1以及2進行了描述，但本發明所涉及的有機EL顯示裝置及其製造方法並不限定於上述實施方式。對上述的實施方式在不脫離本發明的主旨的範圍內實施本領域技術人員所想出的各種變形而得到的變形例和/或內置有本發明所涉及的有機 EL顯示裝置的各種設備也包含於本發明。例如，本發明所涉及的有機EL顯示裝置及其製造方法可內置於圖18所記載那樣的薄型平板TV。利用本發明所涉及的有機EL顯示裝置及其製造方法，可以實現具備抑制了輝度不均的長壽命顯示器的低成本薄型平板TV。本發明對於內置有機EL顯示裝置的有機EL平板顯示器特別有用，最適於用作為要求畫質的均勻性的顯示器的顯示裝置及其製造方法。
權利要求
1.一種有機EL顯示裝置的製造方法，包括第1步驟，獲得包含多個像素的顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性，所述像素包含發光元件和對向所述發光元件的電流的供給進行控制的電壓驅動的驅動元件；第2步驟，將所述顯示面板分割為多個分割區域，對各像素所包含的驅動元件施加電壓，測定流動於各分割區域的電流以及流動所述電流的情況下從各分割區域發出的光的輝度而求取各分割區域的電流-輝度特性，對於所述各分割區域求取發光效率以及偏移輝度值，所述發光效率是該電流-輝度特性的傾斜度，所述偏移輝度值是該電流-輝度特性的輝度軸截距；第3步驟，用預定的測定裝置測定從所述顯示面板所包含的多個像素的各個發出的光的輝度，求取各像素的輝度-電壓特性；第4步驟，將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以對所述各分割區域求取的所述發光效率，並將該相乘值與對所述各分割區域求取的所述偏移輝度值相加，由此對所述各分割區域求取輝度-電壓特性；以及第5步驟，對作為對象的像素求取校正參數，所述校正參數是使在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參數。
2.如權利要求1所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第3步驟，通過對所述顯示面板所包含的多個像素施加預定的電壓，使所述多個像素同時發光； 用預定的測定裝置拍攝從所述多個像素同時發出的光； 獲得所述拍攝而得到的圖像；根據所述獲得的圖像確定所述多個像素的各個的輝度；以及使用所述預定的電壓以及所確定的所述多個像素的各個的輝度，求取所述多個像素的各個的輝度-電壓特性。
3.如權利要求2所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 所述預定的測定裝置為圖像傳感器。
4.如權利要求2或3所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第4步驟，判斷所述作為對象的像素在顯示面板上的位置，在所述作為對象的像素存在於與不包含該像素的其他周邊分割區域的邊界位置附近的情況下，用包含所述作為對象的像素的分割區域的發光效率以及偏移輝度值和所述其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值進行加權而求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值；以及將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以所述作為對象的像素的發光效率，並將該相乘值與所述作為對象的像素的偏移輝度值相加，由此對所述作為對象的像素求取作為目標的輝度-電壓特性，所述作為目標的輝度-電壓特性是求取所述作為對象的像素的校正參數時的目標；在所述第5步驟，對所述作為對象的像素求取校正參數，所述校正參數是使在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為在所述第4步驟求取的所述作為對象的像素的目標輝度-電壓特性的校正參數。
5.如權利要求4所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第4步驟，在求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值時，所述作為對象的像素越接近於與所述其他周邊分割區域的邊界位置，越多考慮所述其他周邊分割區域的發光效率以及偏移輝度值而進行加權。
6.如權利要求5所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第4步驟，在求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值時，根據從所述作為對象的像素到包含所述作為對象的像素的分割區域的中心位置的距離與從所述作為對象的像素到所述其他周邊分割區域的中心位置的距離之比，求取所述作為對象的像素的發光效率以及偏移輝度值。
7.如權利要求1 6中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第2步驟，作為所述各分割區域的發光效率以及偏移輝度值，利用在以同一條件製造的其他有機 EL顯示裝置的製造方法中求取的所述發光效率以及所述偏移輝度值。
8.如權利要求1 7中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第1步驟，作為所述代表電流-電壓特性，利用在以同一條件製造的其他有機EL顯示裝置的製造方法中獲得的代表電流-電壓特性。
9.如權利要求1 8中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法，還包括第6步驟，將在所述第5步驟求取的各像素的所述校正參數寫入所述顯示面板所使用的預定的存儲器。
10.如權利要求1 9中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第1步驟，對多個測定用像素施加多個電壓而使電流流動於各測定用像素；對於所述多個電壓的各個測定流動於所述各測定用像素的電流；以及通過將所述各測定用像素的電流-電壓特性平均化而求取所述代表電流-電壓特性。
11.如權利要求1 10中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法， 在所述第1步驟，對多個測定用像素同時施加多個共同電壓而使電流流動於各測定用像素； 對於所述多個共同電壓的各個測定流動於所述各測定用像素的電流的合計值；以及通過將流動於所述各測定用像素的電流的合計值除以所述測定用像素的數量而求取所述代表電流-電壓特性。
12.如權利要求1 11中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的電壓與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的電壓之比的參數。
13.如權利要求1 11中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的輝度與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的輝度之比的參數。
14.如權利要求1 13中的任意一項所述的有機EL顯示裝置的製造方法，所述校正參數包含表示在所述第3步驟求取的所述作為對象的像素的輝度-電壓特性的電壓與在所述第4步驟求取的包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的電壓之差的參數。
15.一種有機EL顯示裝置，具備多個像素，該多個像素包含發光元件和對向所述發光元件的電流的供給進行控制的驅動元件；多條數據線，其用於對所述多個像素的各個供給信號電壓； 多條掃描線，其用於對所述多個像素的各個供給掃描信號； 數據線驅動電路，其對所述多條數據線供給所述信號電壓； 掃描線驅動電路，其對所述多條掃描線供給所述掃描信號； 存儲部，其按所述多個像素的每個存儲預定的校正參數；以及校正部，其對從外部輸入的影像信號從所述存儲部讀取與所述多個像素的各個對應的所述預定的校正參數，對與所述多個像素的各個對應的影像信號進行校正； 所述預定的校正參數通過如下步驟生成第1步驟，設定包含所述多個像素的顯示面板整體所共同的代表電流-電壓特性； 第2步驟，將所述顯示面板分割為多個分割區域，對各像素所包含的所述驅動元件施加電壓，測定流動於各分割區域的電流以及流動所述電流的情況下從各分割區域發出的光的輝度，求取各分割區域的電流-輝度特性，對於所述各分割區域求取發光效率以及偏移輝度值，所述發光效率是該電流-輝度特性的傾斜度，所述偏移輝度值是該電流-輝度特性的輝度軸截距；第3步驟，用預定的測定裝置測定從所述顯示面板所包含的多個像素的各個發出的光的輝度，求取各像素的輝度-電壓特性；第4步驟，將所述代表電流-電壓特性的各電流值乘以對所述各分割區域求取的所述發光效率，並將該相乘值與對所述各分割區域求取的所述偏移輝度值相加，由此對所述各分割區域求取輝度-電壓特性；以及第5步驟，對作為對象的像素求取校正參數，所述校正參數是使所述作為對象的像素的輝度-電壓特性成為包含所述作為對象的像素的分割區域的輝度-電壓特性的校正參
全文摘要
有機EL顯示裝置的製造方法包括獲得具有多個像素的顯示面板的代表電流(I)-電壓(V)特性的步驟S01，所述多個像素包含有機EL元件和驅動電晶體；將顯示面板分割為多個分割區域，對於每分割區域求取根據各分割區域的輝度I-輝度(L)特性計算的發光效率以及偏移輝度值的步驟S02；測定各像素的發光輝度而求取各像素的L-V特性的步驟S03；通過將所述代表I-V特性的各電流值乘以發光效率並與偏移輝度值相加，而求取各分割區域的L-V特性的步驟S05；以及對各像素求取使各像素的L-V特性成為包含該像素的分割區域的L-V特性的校正參數的步驟S06。
文檔編號H01L51/50GK102428510SQ20118000181
公開日2012年4月25日 申請日期2011年2月16日 優先權日2010年3月25日
發明者小田原理惠, 瀨川泰生 申請人:松下電器產業株式會社