一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置的製作方法
2023-06-16 08:58:02 6
本實用新型屬於固體粉末熱物性測試技術領域，具體涉及一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置。
背景技術：
粉末絕熱材料主要包括膨脹珍珠巖、氣凝膠和空心玻璃微珠等，具有密度小、導熱係數低、化學穩定性高、阻燃性好等優點，是一類重要的絕熱材料。若將粉末絕熱材料置於真空環境下，其絕熱性能可提升十倍，具有很大的應用價值。導熱係數是絕熱材料的重要熱物性參數，因此，測量粉末絕熱材料在一定溫度、一定真空度下的導熱係數對於探索粉末絕熱規律具有十分重要的意義。
導熱係數的測量方法一般分為穩態法和瞬態法，穩態法以傅立葉一維傳熱定律為理論依據，要求在待測樣品內部的熱傳遞達到穩定的狀態，即使待測樣品內部建立一個穩定的溫度分布，通過測定加熱功率、傳熱截面積以及溫度梯度來計算導熱係數。這種方法具有原理清晰，可準確測定待測樣品的導熱係數，適用於寬溫區測量等優點，但穩態法，測試時間長(根據待測樣品的導熱係數及測試環境的不同，測試時間一般在幾小時、十幾小時、幾十小時不等)，並對測量環境(如測量系統的絕熱條件、測量過程中的溫度控制、樣品的形狀尺寸等)的要求較為苛刻。瞬態法，又分為熱線法、熱帶法和熱盤法(即瞬態平面熱源法)，此種方法測量過程中樣品的溫度分布隨時間而變化，根據非穩態導熱微分方程，通過測量樣品上溫度隨時間的變化關係，便可以算出待測樣品的導熱係數。瞬態法耗時短，響應快，得到廣泛的應用。
1991年Gustafsson發明了瞬態平面熱源法(Transient Plane Source Method，TPS)測試材料的導熱係數，其測試方法發表在《科學儀器綜述》1991年62卷3期第797-804頁(Gustafsson S E.Transient plane source techniques for thermal conductivity and thermal diffusivity measurements of solid materials[J].Review of scientific instruments,1991,62(3):797-804.)。瞬態平面熱源法的核心部件是一種既能作為熱源，又能作為溫度傳感器的探頭，該探頭用一個10μm厚的具有連續雙螺旋結構的金屬鎳薄片製成，鎳薄片由兩片很薄的(每片為0.25μm厚)絕緣保護層(聚醯亞胺薄膜)保護，類似於三明治結構。測試時，首先，將探頭夾緊在兩塊相同材料的待測樣品中間。然後，根據待測樣品的大概傳熱性能，在一定的時間內向探頭輸入恆定的功率，隨著探頭溫度的增加，熱量向待測樣品傳遞，同時探頭阻值相應增加，探頭溫度增加的速率依賴於待測樣品的傳熱速率。在這段時間內，探頭兩端的電壓被記錄下來。由於功率恆定，通過探頭兩端的電壓變化就能推算出探頭電阻的變化。最後，已知電壓隨時間的變化、溫度隨時間的變化和熱流量，就能計算出待測材料的導熱係數和體積熱容。用瞬態平面熱源法測量粉末樣品的導熱係數所用時間一般在幾十秒到幾百秒範圍內，可快速獲得樣品的導熱係數，測量方便快捷。若用穩態法測量粉末絕熱材料的導熱係數，根據待測樣品的導熱係數及測試環境的不同，測試時間一般在幾小時、十幾小時甚至幾十小時不等。
技術實現要素：
為了解決穩態法測量粉末絕熱材料的導熱係數時間過長的問題，本實用新型提供一種基於瞬態平面熱源法的粉末導熱係數測量裝置，該裝置可快速測量粉末絕熱材料在一定溫度、一定真空度下的導熱係數。
為達到上述目的，本實用新型採用下述技術方案：
一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置，該裝置包括：真空容器和恆溫系統；所述恆溫系統內設置真空容器；
所述恆溫系統為烘箱(RT-200℃)、水浴系統(0℃-100℃)、油浴系統(100℃-200℃)或其它低溫系統(如：液氮(77K)、液氮深冷箱(77K-RT)等)等；恆溫系統可根據測量需要，為待測樣品提供一定的環境溫度；恆溫系統內設置2支PT100鉑電阻溫度計，監測恆溫系統內部溫度恆定。
所述的真空容器為圓柱體結構，為待測粉末樣品提供一定的真空環境。
所述真空容器包括真空容器筒體、真空容器上法蘭和抽真空管；
所述真空容器筒體和真空容器上法蘭匹配固定；真空容器筒體和真空容器上法蘭之間採用銦密封，保證了裝置的氣密性；
所述抽真空管穿過真空容器上法蘭與真空容器筒體連通；
所述真空容器筒體內包括粉末樣品架、測試探頭、PT100鉑電阻溫度計和固定環；
所述真空容器筒體內設置3支PT100鉑電阻溫度計，監測真空容器筒體內部溫度恆定；
所述固定環為空心圓環結構，固定環包括固定環左半隻和固定環右半隻，該固定環右半隻和固定環左半隻連接固定；
所述固定環的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計。
所述固定環與真空容器筒體的底面連接固定；固定環內設置粉末樣品架下半隻；該粉末樣品架下半隻與粉末樣品架上半隻匹配固定；該粉末樣品架上半隻與粉末樣品架上蓋匹配固定；
所述粉末樣品架是具有空心圓柱腔的圓柱體結構；粉末樣品架包括粉末樣品架上蓋、粉末樣品架上半隻和粉末樣品架下半隻；
所述粉末樣品架下半隻、粉末樣品架上半隻、粉末樣品架上蓋表面分別設置1支PT100鉑電阻溫度計。
所述粉末樣品架下半隻、粉末樣品架上半隻、粉末樣品架上蓋連接處均塗抹薄層矽脂，利於粉末樣品架三部分之間的傳熱。
所述粉末樣品架上蓋設有溫度計孔和透氣孔；
所述測試探頭的一端設置在粉末樣品架下半隻與粉末樣品架上半隻之間，另一端與導線連接；
所述PT100鉑電阻溫度計一端穿過粉末樣品架上蓋的溫度計孔與測試探頭連接，另一端與導線連接；
所述導線設置在抽真空管內。
進一步，所述透氣孔上設有不鏽鋼網。以便在抽真空時待測粉末樣品不會被抽出，透氣孔的數量和大小視粉末樣品架的大小而定；
進一步，所述粉末樣品架和固定環的材質是採用紫銅材料。
進一步，所述真空容器的材質是採用304不鏽鋼材料。
進一步，所述PT100鉑電阻溫度計可根據測量需求和實際情況而增加或減少。
測量粉末樣品在一定溫度、一定真空度下的導熱係數，測試方法如下：
1)在計算機內安裝Hot Disk熱常數分析軟體。
2)待測樣品的安裝：首先將粉末樣品架下半隻的待測樣品區裝滿粉末樣品，放置測試探頭，將粉末樣品架上、下半隻連接固定(用粉末樣品架上、下半隻夾緊測試探頭)；將粉末樣品架上半隻的待測樣品區裝滿粉末樣品；在粉末樣品架上蓋的內表面粘上600-1000目的不鏽鋼網，將粉末樣品架上半隻與上蓋連接固定；將PT100鉑電阻溫度計的一端穿過粉末樣品架上蓋的溫度計孔與測試探頭連接；粉末樣品架下半隻、粉末樣品架上半隻、粉末樣品架上蓋連接處均塗抹薄層矽脂。
3)固定環的安裝
將安裝好待測樣品及測試探頭的粉末樣品架設置在固定環左半隻和固定環右半隻的中間，將固定環左半隻和固定環右半隻連接固定；在粉末樣品架的外表面設置3支PT100鉑電阻溫度計(粉末樣品架下半隻、粉末樣品架上半隻、粉末樣品架上蓋各1支)；在固定環的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計；將固定環的下表面與真空容器筒體的底面塗抹薄層矽脂，並連接固定。
4)真空環境的營造
將真空容器筒體的底板設置1支PT100鉑電阻溫度計，內壁設置2支PT100鉑電阻溫度計，監測真空容器筒體的溫度；將真空容器筒體與真空容器上法蘭用銦密封，連接固定；開啟機械泵，通過抽真空管為測試裝置抽真空，待真空度達到10-1Pa量級，開啟分子泵繼續抽至10-3Pa，關閉真空容器閥門、分子泵和機械泵；將少量氮氣充入真空容器，待真空容器中的真空度達到測試所需真空度時，關閉充氣閥門；若充入氮氣後，高於所需真空度，還需開啟機械泵將真空抽至所需真空度。
5)溫度環境的營造
將恆溫系統內設置2支PT100鉑電阻溫度計，監測恆溫系統內部溫度恆定；將組裝好的真空容器置於恆溫系統中，恆溫系統可以是烘箱(RT-200℃)、水浴系統(0℃-100℃)、油浴系統(100℃-200℃)或其它低溫系統(如：液氦(4.2K)、液氮(77K)、液氮深冷箱(77K-RT)等)等，根據測量需要而選定；將恆溫系統的內部溫度設定在測量所需的溫度。
6)開始測試：待真空容器筒體、粉末樣品架、固定環和測試探頭處的PT100鉑電阻溫度計的讀數達到測量所需溫度時，開始測試；Hot Disk熱常數分析軟體通過計算機給測試探頭在一段時間內施加一定的功率(所施加的時間和功率均可通過待測樣品的導熱係數自行設定)，則測試探頭表面溫度升高，測試探頭升溫的同時向粉末內部傳輸熱量；測試探頭溫度增加的速率依賴於待測樣品的傳熱速率，基於測試探頭的材料電阻變化與溫升的對應關係，記錄加熱過程中測試探頭的溫度數據點，直到所設定的加熱時間為止，計算機將會自動記錄200個數據點，然後通過Hot Disk熱常數分析軟體對數據進行回歸、計算，從而得到粉末的導熱係數。
進一步，本實用新型使用了Hot Disk熱常數分析軟體進行數據的收集和處理，選擇分析軟體中的雙面法和各向同性模塊，設定特定的加熱功率和加熱時間。
進一步，本實用新型所選用的測試探頭為4922型。
本實用新型的有益效果如下：
1、與傳統測量粉末導熱係數的方法相比，本實用新型基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置，可快速獲得粉末絕熱材料的導熱係數。
2、本實用新型的裝置可以測量粉末絕熱材料在一定溫度、一定真空度下的導熱係數，測試溫度範圍在30K-473K，真空度範圍在10-3Pa-1atm。
附圖說明
下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細的說明。
圖1是本實用新型的裝置結構示意圖。
圖2是本實用新型粉末樣品架的剖面圖。
圖3是本實用新型固定環的結構示意圖。
圖中：1.測試探頭，2.PT100鉑電阻溫度計，3.導線，4.待測樣品區，5.粉末樣品架，6.固定環，7.真空容器，8.真空容器筒體，9.真空容器上法蘭，10.抽真空管，11.恆溫系統，12.粉末樣品架上蓋，13.粉末樣品架上半隻，14.粉末樣品架下半隻，15.溫度計孔，16.透氣孔，17.固定環左半隻，18.固定環右半隻，19.固定環與真空容器底板連接孔，20.固定環左右半隻連接孔。
具體實施方式
為了更清楚地說明本實用新型，下面結合優選實施例和附圖對本實用新型做進一步的說明。附圖中相似的部件以相同的附圖標記進行表示。本領域技術人員應當理解，下面所具體描述的內容是說明性的而非限制性的，不應以此限制本實用新型的保護範圍。
實施例1
一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置，該裝置包括：真空容器7和恆溫系統11；所述恆溫系統11內設置真空容器7；
所述恆溫系統11為烘箱(RT-200℃)、水浴系統(0℃-100℃)、油浴系統(100℃-200℃)或其它低溫系統(最低至30K)(如：液氮(77K)、液氮深冷箱(77K-RT)等)等；本瞬態平面熱源法導熱係數測試裝置可測溫度範圍為30K-473K，恆溫系統11為待測樣品提供一定的環境溫度；
所述恆溫系統11內設置2支PT100鉑電阻溫度計，監測恆溫系統11內部溫度恆定；
所述真空容器7包括真空容器筒體8、真空容器上法蘭9和抽真空管10；
所述真空容器筒體8和真空容器上法蘭9匹配固定；真空容器筒體8和真空容器上法蘭9之間採用銦密封；
所述抽真空管10穿過真空容器上法蘭9與真空容器筒體8連通；
所述真空容器筒體8內包括粉末樣品架5、測試探頭1、PT100鉑電阻溫度計2和固定環6；
所述真空容器筒體8內設置3支PT100鉑電阻溫度計2，監測真空容器筒體8內部溫度恆定；
所述固定環6的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計2；固定環6的底面設有固定環與真空容器筒體底面的連接孔19；固定環6上設有固定環左右半隻連接孔20；
所述固定環6為空心圓環結構，固定環6包括固定環左半隻17和固定環右半隻18，該固定環右半隻18和固定環左半隻17通過螺栓連接固定；
所述固定環6與真空容器筒體8的底面通過螺紋連接固定；固定環6內設置粉末樣品架下半隻14；該粉末樣品架下半隻14與粉末樣品架上半隻13匹配固定；該粉末樣品架上半隻13與粉末樣品架上蓋12匹配固定；
所述粉末樣品架5是內腔為直徑60mm、高60mm的空心圓柱腔，外表面為直徑80mm、高80mm的圓柱體結構；粉末樣品架5包括粉末樣品架上蓋12、粉末樣品架上半隻13和粉末樣品架下半隻14；
粉末樣品架下半隻14與粉末樣品架上半隻13將測試探頭2夾緊；
所述粉末樣品架下半隻14、上半隻13、蓋子12表面分別設置1支PT100鉑電阻溫度計2。
所述粉末樣品架下半隻14、上半隻13、蓋子12連接處均塗抹薄層矽脂，利於粉末樣品架5三部分之間的傳熱。
所述粉末樣品架上蓋12設有溫度計孔15和透氣孔16；
所述測試探頭2的一端設置在粉末樣品架下半隻14與粉末樣品架上半隻13之間，另一端與導線3連接；
所述PT100鉑電阻溫度計2一端穿過粉末樣品架上蓋12的溫度計孔15與測試探頭1連接，另一端與導線3連接；
所述導線3設置在抽真空管10內。
所述粉末樣品架上蓋12上設有12個直徑為5mm的透氣孔16，該透氣孔上設有1000目不鏽鋼網。
所述粉末樣品架5和固定環6的材質是採用紫銅材料。
所述真空容器7的材質是採用304不鏽鋼材料。
所述PT100鉑電阻溫度2計可根據測量需求和實際情況而增加或減少。
測量粉末在293K、10-3Pa下的導熱係數，步驟如下：
1)在計算機內安裝Hot Disk熱常數分析軟體；
2)待測樣品的安裝：首先將粉末樣品架下半隻14的待測樣品區4裝滿粉末樣品，放置測試探頭1，將粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架下半隻14連接固定(用粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架下半隻14夾緊測試探頭)；將粉末樣品架上半隻13的待測樣品區4裝滿粉末樣品；在粉末樣品架上蓋12的內表面粘上1000目的不鏽鋼網，將粉末樣品架上半隻13與上蓋12連接固定；將PT100鉑電阻溫度計2的一端穿過粉末樣品架上蓋12的溫度計孔15與測試探頭1連接；粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12連接處均塗抹薄層矽脂。
3)固定環的安裝
將安裝好待測樣品及測試探頭1的粉末樣品架5設置在固定環左半隻17和固定環右半隻18的中間，將固定環左半隻17和固定環右半隻18連接固定；在粉末樣品架5的外表面設置3支PT100鉑電阻溫度計2(粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12各1支)；在固定環6的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計2；將固定環6的下表面與真空容器筒體8的底面塗抹薄層矽脂，並連接固定。
4)真空環境的營造
將真空容器筒體8的底板設置1支PT100鉑電阻溫度計2，內壁設置2支PT100鉑電阻溫度計2，監測真空容器筒體8的溫度；將真空容器筒體8與真空容器上法蘭9用銦密封，連接固定；開啟機械泵，通過抽真空管10為測試裝置抽真空，待真空度達到10-1Pa量級，開啟分子泵繼續抽至10-3Pa，關閉真空容器閥門、分子泵和機械泵。
5)溫度環境的營造
由於測量溫度就在室溫，故將真空容器7置於室內即可。
6)開始測試：待真空容器筒體、粉末樣品架、固定環和測試探頭處的PT100鉑電阻溫度計2的讀數達到測試所需溫度時，開始測試；本實用新型使用了Hot Disk熱常數分析軟體進行數據的收集和處理，選擇分析軟體中的雙面法和各向同性模塊，設定特定的加熱功率和加熱時間；Hot Disk熱常數分析軟體通過計算機給測試探頭1施加所設定的額定電功率，測試探頭表面溫度升高，所述測試探頭1為4922型；測試探頭1升溫的同時向粉末內部傳輸熱量，同時測試探頭1溫度發生改變，測試探頭1溫度增加的速率依賴於待測樣品的傳熱速率，基於測試探頭1的材料電阻變化與溫升的對應關係，記錄加熱過程中測試探頭1的溫度數據點，直到所設定的加熱時間，計算機會自動記錄200個數據點，然後通過Hot Disk熱常數分析軟體對數據進行回歸、計算，從而得到粉末的導熱係數。
實施例2
一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置，如實施例1所述。
測量粉末在100℃、10Pa下的導熱係數，步驟如下：
1)在計算機內安裝Hot Disk熱常數分析軟體；
2)待測樣品的安裝：首先將粉末樣品架下半隻14的待測樣品區4裝滿粉末樣品，放置測試探頭1，將粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架下半隻14連接固定(用粉末樣品架上半隻13、下半隻14夾緊測試探頭)；將粉末樣品架上半隻13的待測樣品區4裝滿粉末樣品；在粉末樣品架上蓋12的內表面粘上1000目的不鏽鋼網，將粉末樣品架上半隻13與上蓋12連接固定；將PT100鉑電阻溫度計2的一端穿過粉末樣品架上蓋12的溫度計孔15與測試探頭1連接；粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12連接處均塗抹薄層矽脂。
3)固定環的安裝
將安裝好待測樣品及測試探頭1的粉末樣品架5設置在固定環左半隻17和固定環右半隻18的中間，將固定環左半隻17和固定環右半隻18連接固定；在粉末樣品架5的外表面設置3支PT100鉑電阻溫度計2(粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12各1支)；在固定環6的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計2；將固定環6的下表面與真空容器筒體8的底面塗抹薄層矽脂，並連接固定。
4)真空環境的營造
將真空容器筒體8的底板設置1支PT100鉑電阻溫度計2，內壁設置2支PT100鉑電阻溫度計2，監測真空容器筒體8的溫度；將真空容器筒體8與真空容器上法蘭9用銦密封，連接固定；開啟機械泵，通過抽真空管10為測試裝置抽真空，待真空度達到10-1Pa量級，開啟分子泵繼續抽至10-3Pa，關閉真空容器閥門、分子泵和機械泵；將少量氮氣充入真空容器7，待真空容器7中的真空度達到10Pa時，關閉充氣閥門。若充入氮氣後，高於所需真空度，還需開啟機械泵將真空抽至10Pa。
5)溫度環境的營造
將恆溫系統11內設置2支PT100鉑電阻溫度計2，監測恆溫系統11內部溫度恆定；將組裝好的真空容器7置於恆溫系統11中，此時恆溫系統11為烘箱(RT-200℃)或者水浴系統(0℃-100℃)均可；將恆溫系統11的內部溫度設定在100℃。
6)開始測試：待真空容器筒體、粉末樣品架、固定環和測試探頭處的PT100鉑電阻溫度計2的讀數達到測試所需溫度時，開始測試；本實用新型使用了Hot Disk熱常數分析軟體進行數據的收集和處理，選擇分析軟體中的雙面法和各向同性模塊，設定特定的加熱功率和加熱時間；Hot Disk熱常數分析軟體通過計算機給測試探頭1施加所設定的額定電功率，測試探頭表面溫度升高，所述測試探頭1為4922型；測試探頭1升溫的同時向粉末內部傳輸熱量，同時測試探頭1溫度發生改變，測試探頭1溫度增加的速率依賴於待測樣品的傳熱速率，基於測試探頭1的材料電阻變化與溫升的對應關係，記錄加熱過程中測試探頭1的溫度數據點，直到所設定的加熱時間，計算機會自動記錄200個數據點，然後通過Hot Disk熱常數分析軟體對數據進行回歸、計算，從而得到粉末的導熱係數。
實施例3
一種基於瞬態平面熱源法測量粉末導熱係數的裝置，如實施例1所述。
測量粉末在77K、10-3Pa下的導熱係數，步驟如下：
1)在計算機內安裝Hot Disk熱常數分析軟體；
2)待測樣品的安裝：首先將粉末樣品架下半隻14的待測樣品區4裝滿粉末樣品，放置測試探頭1，將粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架下半隻14連接固定(用粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架下半隻14夾緊測試探頭)；將粉末樣品架上半隻13的待測樣品區4裝滿粉末樣品；在粉末樣品架上蓋12的內表面粘上1000目的不鏽鋼網，將粉末樣品架上半隻13與粉末樣品架上蓋12連接固定；將PT100鉑電阻溫度計2的一端穿過粉末樣品架上蓋12的溫度計孔15與測試探頭1連接；粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12連接處均塗抹薄層矽脂。
3)固定環的安裝
將安裝好待測樣品及測試探頭1的粉末樣品架5設置在固定環左半隻17和固定環右半隻18的中間，將固定環左半隻17和固定環右半隻18連接固定；在粉末樣品架5的外表面設置3支PT100鉑電阻溫度計2(粉末樣品架下半隻14、粉末樣品架上半隻13、粉末樣品架上蓋12各1支)；在固定環6的上表面設置1支PT100鉑電阻溫度計2；將固定環6的下表面與真空容器筒體8的底面塗抹薄層矽脂，並連接固定。
4)真空環境的營造
將真空容器筒體8的底板設置1支PT100鉑電阻溫度計2，內壁設置2支PT100鉑電阻溫度計2，監測真空容器筒體8的溫度；將真空容器筒體8與真空容器上法蘭9用銦密封，連接固定；開啟機械泵，通過抽真空管10為測試裝置抽真空，待真空度達到10-1Pa量級，開啟分子泵繼續抽至10-3Pa，關閉真空容器閥門、分子泵和機械泵。
5)溫度環境的營造
將恆溫系統11內設置2支PT100鉑電阻溫度計2，監測恆溫系統11內部溫度恆定；將組裝好的真空容器7置於恆溫系統11中，此時，恆溫系統11是盛有液氮的液氮杜瓦。
6)開始測試：待真空容器筒體、粉末樣品架、固定環和測試探頭處的PT100鉑電阻溫度計2的讀數達到測試所需溫度時，開始測試；本實用新型使用了Hot Disk熱常數分析軟體進行數據的收集和處理，選擇分析軟體中的雙面法和各向同性模塊，設定特定的加熱功率和加熱時間；Hot Disk熱常數分析軟體通過計算機給測試探頭1施加所設定的額定電功率，測試探頭表面溫度升高，所述測試探頭1為4922型；測試探頭1升溫的同時向粉末內部傳輸熱量，同時測試探頭1溫度發生改變，測試探頭1溫度增加的速率依賴於待測樣品的傳熱速率，基於測試探頭1的材料電阻變化與溫升的對應關係，記錄加熱過程中測試探頭1的溫度數據點，直到所設定的加熱時間，計算機會自動記錄200個數據點，然後通過Hot Disk熱常數分析軟體對數據進行回歸、計算，從而得到粉末的導熱係數。
本文中所採用的描述方位的詞語「上」、「下」、「左」、「右」等均是為了說明的方便基於附圖中圖面所示的方位而言的，在實際裝置中這些方位可能由於裝置的擺放方式而有所不同。
顯然，本實用新型的上述實施例僅僅是為清楚地說明本實用新型所作的舉例，而並非是對本實用新型的實施方式的限定，對於所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動，這裡無法對所有的實施方式予以窮舉，凡是屬於本實用新型的技術方案所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處於本實用新型的保護範圍之列。