一種雷射機光路檢測裝置製造方法
2023-06-05 05:35:06 1
一種雷射機光路檢測裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型初稿涉及雷射加工，尤其涉及了一種雷射機光路檢測裝置，所述雷射機主要由光具座、指示紅光裝置、全反射鏡、聲光Q開關、聚光腔、部分反射鏡、擴束鏡、YAG調光光軸位置檢測裝置、掃描系統、工作檯和控制箱組合而成，所述光具座置於所述控制箱上端，所述指示紅光裝置、所述全反射鏡、所述聲光Q開關、所述聚光腔、所述部分反射鏡、所述擴束鏡按此順序依次設置在所述光具座上，所述YAG調光光軸位置檢測裝置、所述掃描系統按此順序依次設置在所述光具座延長上並與所述光具座側壁固定連接，所述工作檯與所述控制箱側壁面連接，此裝置可對入射光位置進行檢測，便於校正，降低後端器件損壞的風險及安全風險。
【專利說明】一種雷射機光路檢測裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型初稿屬於雷射領域，尤其屬於一種雷射機光路檢測裝置。
【背景技術】
[0002]目前市場上銷售的雷射機，無法對雷射是否在光軸上、是否偏離、如果偏離又偏離多少、光斑大小如何、光斑質量如何等進行準確地判斷，只能靠操作者的經驗，或者藉助倍頻片進行粗略地估計，這樣對設備的使用壽命和使用效率有較大的影響，同時工作間隙存在很大的安全隱患。
【發明內容】
[0003]本實用新型初稿的目的在於提供一種雷射機光路檢測裝置，旨在解決雷射偏離的同時提聞雷射光路質量。
[0004]本實用新型初稿是這樣實現的，本發明是這樣實現的，一種雷射機光路檢測裝置，所述雷射機主要由光具座、指示紅光裝置、全反射鏡、聲光Q開關、聚光腔、部分反射鏡、擴束鏡、YAG調光光軸位置檢測裝置、掃描系統、工作檯和控制箱組合而成，所述光具座置於所述控制箱上端，所述指示紅光裝置、所述全反射鏡、所述聲光Q開關、所述聚光腔、所述部分反射鏡、所述擴束鏡依次放置在所述光具座上，所述YAG調光光軸位置檢測裝置和所述掃描系統依次放置在所述光具座延長線上並與所述光具座側壁固定連接，所述工作檯與所述控制箱側壁面連接。所述YAG調光光軸位置檢測裝置可延長掃描系統、聚焦鏡等元器件的使用壽命，同時規避工作間隙存在的安全隱患。
[0005]本實用新型初稿的進一步技術方案是:所述YAG調光光軸位置檢測裝置分為入射光YAG調光光軸位置檢測裝置和出射光YAG調光光軸位置檢測裝置，所述入射光YAG調光光軸位置檢測裝置設有光敏傳感器，當入射光與入射端檢測裝置垂直並完全通過光敏傳感器中心孔時，傳感器不被雷射照射，傳感器無報警信號輸出，說明調試入射光同軸，調試效果符合要求；當入射光不與入射端檢測裝置垂直或部分通過光敏傳感器中心孔時，入射端傳感器被雷射照射，傳感器輸出報警信號，說明調試入射光偏離光軸，需要重新調整。所述出射光YAG調光光軸位置檢測裝置也設有光敏傳感器，當出射光與出射端檢測裝置垂直並完全通過光敏傳感器中心孔時，傳感器不被雷射照射，傳感器無報警信號輸出，說明調試出射光同軸，調試效果符合要求；當出射光不與出射端檢測裝置垂直或部分通過光敏傳感器中心孔時，出射端傳感器被雷射照射，傳感器輸出報警信號，說明調試出射光偏離光軸，需要重新調整。該裝置利用兩個光纖傳感器，將傳感器探測截面分為四個象限，獨立顯示光斑偏移位置。
[0006]本實用新型初稿的進一步技術方案是:指示紅光裝置、全反射鏡、聲光Q開關、聚光腔、部分反射鏡、擴束鏡，按此順序依次設置在光具座上，所述YAG調光光軸位置檢測裝置連接在所述擴束鏡之後並延伸出所述雷射機以外，所述掃描系統連接在所述YAG調光光軸位置檢測裝置之後並且延伸出所述雷射機以外，所述指示紅光裝置、全反射鏡、聲光Q開關、聚光腔、部分反射鏡、擴束鏡、YAG調光光軸位置檢測裝置，中心同軸並與光具座垂直，指示紅光裝置發出普通光束，用來作為一個基準，方便安裝及調整其他光學器件。聚光腔產生雷射，產生的雷射在由全反射鏡和部分反射鏡組成的諧振腔內部來回振蕩，聲光Q開關對連續雷射進行調Q，經部分反射鏡調整後進入擴束鏡，擴束鏡可改變雷射光束的直徑尺寸和發散角度，從擴束鏡出來的雷射經過所述YAG調光光軸位置檢測裝置後射入所述掃描系統，將雷射光路改變到工作檯上。
[0007]本實用新型初稿的進一步技術方案是:所述掃描系統位於所述控制箱側壁面以外且位於所述工作檯正上方，當所述掃描系統位於光具座延長線上且位於所述工作檯正上方時經過掃描系統改變光路後的雷射才能順利到達所述工作檯上。
[0008]本實用新型初稿的進一步技術方案是:所述控制箱設有報警面板、控制面板和觸控電腦，當入射光或出射光與傳感器不同軸時，入射光或出射光傳感器被雷射照射，傳感器輸出報警信號，所述報警面板工作，控制面板控制所述光具座上各器件，從探頭採集到的數據將傳輸至傳感器驅動器，通過觸控電腦直觀地顯示出來。
[0009]本實用新型初稿的有益效果是:該裝置採用光電控制系統分離的方式，從探頭採集到的數據將傳輸至傳感器驅動器，通過觸控電腦直觀地顯示出來，該裝置利用兩個光敏傳感器，將傳感器探測截面分為四個象限，獨立顯示光斑偏移位置，掃描系統入射口採用光斑檢測裝置，可對入射光位置進行檢測，便於校正，降低後端器件損壞的風險及安全風險。
[0010]【【專利附圖】
【附圖說明】】
[0011]圖1是本實用新型初稿實施例提供的一種雷射機光路檢測裝置整體結構示意圖；
[0012]圖2-圖4是本實用新型初稿實施例提供的一種雷射機光路檢測裝置的YAG調光光軸位置檢測裝置的示意圖和工作原理圖。
[0013]附圖標記:0、光具座1、指不紅光裝置2、全反射鏡3、聲光Q開關4、聚光腔5、部分反射鏡6、擴束鏡7、YAG調光光軸位置檢測裝置8、掃描系統9、工作檯10、控制箱11、報警面板12、控制面板13、觸控電腦14、雷射71、入射光YAG調光光軸位置檢測裝置72、出射光YAG調光光軸位置檢測裝置。
[0014]【【具體實施方式】】
[0015]圖1示出了本實用新型初稿提供的一種雷射機光路檢測裝置，所述雷射機主要由光具座O、指示紅光裝置1、全反射鏡2、聲光Q開關3、聚光腔4、部分反射鏡5、擴束鏡6、YAG調光光軸位置檢測裝置7、掃描系統8、工作檯9和控制箱10組合而成，所述光具座O置於所述控制箱10上端，所述指示紅光裝置1、所述全反射鏡2、所述聲光Q開關3、所述聚光腔4、所述部分反射鏡5、所述擴束鏡6、按此順序依次設置在所述光具座0，所述YAG調光光軸位置檢測裝置7、所述掃描系統8按此順序依次設置在所述光具座O延長線上並與所述光具座O側壁固定連接，所述工作檯9與所述控制箱10側壁面連接，該裝置採用光電控制系統分離的方式，從探頭採集到的數據將傳輸至傳感器驅動器，通過觸控電腦直觀地顯示出來，該裝置利用兩個光纖傳感器，將傳感器探測截面分為四個象限，獨立顯示光斑偏移位置，振鏡入射口採用光斑檢測裝置，可對入射光位置進行檢測，便於校正，降低後端器件損壞的風險及安全風險。
[0016]圖2-圖4示出了本發明提供的一種雷射機光路檢測裝置的YAG調光光軸位置檢測裝置的示意圖和工作原理圖，所述YAG調光光軸位置檢測裝置7分為入射光YAG調光光軸位置檢測裝置71和出射光YAG調光光軸位置檢測裝置72，兩端的YAG調光光軸位置檢測裝置均設有光敏傳感器，當入射光和出射光都垂直檢測裝置並完全通過其光敏傳感器中心孔時，傳感器不被雷射14照射，傳感器無報警信號輸出，說明調試光同軸，調試效果符合要求；當入射光不與入射端檢測裝置垂直或部分通過光敏傳感器中心孔時，入射端傳感器被雷射14照射，傳感器輸出報警信號，說明調試入射光偏離光軸，需要重新調整；當出射光不與出射端檢測裝置垂直或部分通過光敏傳感器中心孔時，出射端傳感器被雷射14照射，傳感器輸出報警信號，說明調試出射光偏離光軸，需要重新調整。
[0017]以上所述僅為本實用新型初稿的較佳實施例而已，並不用以限制本實用新型初稿，凡在本實用新型初稿的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型初稿的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種雷射機光路檢測裝置，其特徵在於，所述雷射機主要由光具座(O)、指示紅光裝置(I)、全反射鏡(2)、聲光Q開關(3)、聚光腔(4)、部分反射鏡(5)、擴束鏡(6)、YAG調光光軸位置檢測裝置(7)、掃描系統(8)、工作檯(9)和控制箱(10)組合而成，所述光具座(O)置於所述控制箱(10)上端，所述指示紅光裝置(I)、所述全反射鏡(2)、所述聲光Q開關(3)、所述聚光腔(4)、所述部分反射鏡(5)、所述擴束鏡(6)按此順序依次設置在所述光具座(O)上，所述YAG調光光軸位置檢測裝置(7)、所述掃描系統(8)依次放置在光具座(O)延長線上並與所述光具座側壁固定連接，所述工作檯(9)與所述控制箱(10)側壁面連接。
2.根據權利要求1所述一種雷射機光路檢測裝置，其特徵在於，所述YAG調光光軸位置檢測裝置(7)分為入射光YAG調光光軸位置檢測裝置(71)和出射光YAG調光光軸位置檢測裝置(72)，所述入射光YAG調光光軸位置檢測裝置(71)設有光敏傳感器，所述出射光YAG調光光軸位置檢測裝置(72)設有光敏傳感器。
3.根據權利要求1所述一種雷射機光路檢測裝置，其特徵在於，指示紅光裝置(I)、全反射鏡(2)、聲光Q開關(3)、聚光腔(4)、部分反射鏡(5)、擴束鏡(6)按此順序依次設置在光具座(O )上，所述YAG調光光軸位置檢測裝置(7 )連接在所述擴束鏡(6 )之後並延伸出所述雷射機以外，所述掃描系統(8 )連接在所述YAG調光光軸位置檢測裝置(7 )之後並且延伸出所述雷射機以外，所述指示紅光裝置(I)、全反射鏡(2)、聲光Q開關(3)、聚光腔(4)、部分反射鏡(5 )、擴束鏡(6 )、YAG調光光軸位置檢測裝置(7 )，中心同軸並與光具座(O )垂直。
4.根據權利要求1所述一種雷射機光路檢測裝置，其特徵在於，所述掃描系統(8)位於所述控制箱(10)側壁面以外且位於所述工作檯(9)正上方。
5.根據權利要求4所述一種雷射機光路檢測裝置，其特徵在於，所述控制箱(10)設有報警面板(11)、控制面板(12 )和觸控電腦(13 )。
【文檔編號】G01D5/32GK204118457SQ201420382681
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年7月11日 優先權日:2014年7月11日
【發明者】孫智娟 申請人:深圳技師學院