缺陷像素檢測糾正設備、系統及檢測糾正缺陷像素的方法

2023-06-07 03:18:26

專利名稱：缺陷像素檢測糾正設備、系統及檢測糾正缺陷像素的方法
技術領域：
本發明涉及一種圖像或視頻的捕捉裝置，尤其涉及一種圖像或視頻捕捉裝置中的
像素檢測糾正設備。
背景技術：
視頻或照相設備中通常會使用光感應器來捕捉圖像，例如電荷耦合器件圖 像傳感器(CCD charge coupled device)，或互補性金屬氧化物半導體感應器(CMOS complementary metaloxide semiconductor)。這些傳感器由像素組成，像素被設計和製造 排列成陣列。當像素密集地聚集在一起時，有些水平方向或是豎直方向或兩個方向的像素 會失效形成缺陷像素。這些缺陷像素會影響傳感器的性能。 圖1描述了一傳感器中的典型像素陣列。像素陣列100中的像素以水平方向102 和豎直方向104進行排列。因此，像素陣列100中的每一個像素(例如，像素106)都有一 個橫坐標和縱坐標。與此同時，像素106也包括其自有的電路來根據檢測的光量來傳導電 流。電流的大小可與檢測到的光的量大小成正比。 圖2描述了一個現有技術的像素數據捕捉顯示系統200。該像素數據捕捉顯示 系統200包括一個傳感器202、一個控制器204、一個視頻處理器206和一個視頻顯示/數 據存儲裝置208。傳感器202做為前端設備捕捉圖像數據。該傳感器202包含一個傳感 器陣列212，例如圖1所示的傳感器陣列100，一個數模轉換器(ADC analog-to-digital converter) 214用來將像素的電流轉換為數位訊號，並將數字像素信號224傳送至視頻處 理器206。視頻處理器206用於處理數字像素信號224並將已處理數字像素信號226傳送 至視頻顯示/數據存儲裝置208以播放或存儲已處理數字像素信號226。
基於電路設計和/或傳感器製造流程造成的傳感器202中的缺陷像素可能降低視 頻的品質或影響播放質量。

發明內容
本發明要解決的技術問題在於提供一種用來檢測並糾正傳感器中的缺陷像素的 缺陷像素檢測糾正設備、系統及檢測糾正缺陷像素的方法。 本發明提供一種缺陷像素檢測糾正設備，包括檢測模塊和糾正模塊。所述檢測模 塊區分該傳感器中的一像素為一缺陷像素，並存儲該缺陷像素的位置信息。糾正模塊連接 至所述檢測模塊，用來根據所述位置信息確認所述缺陷像素，並糾正所述缺陷像素對應的
一數字像素信號。 本發明還提供一種缺陷像素檢測糾正系統，包括傳感器、缺陷像素檢測糾正模塊 和控制器。所述傳感器包括多個像素，缺陷像素檢測糾正模塊連接至所述傳感器，可用來將 所述多個像素對應的多個數字像素信息與一既定接受範圍相比較，所述缺陷像素糾正模塊 也可區分一像素為一缺陷像素，其中所述缺陷象素的一數字像素信號在所述既定接受範圍 之外，所述缺陷像素糾正模塊也可在所述區分之後糾正所述數字像素信號；控制器連接至
4所述傳感器及所述缺陷像素檢測糾正模塊，用來從所述缺陷像素檢測糾正模塊接收一控制 信號，並控制所述傳感器。 本發明還提供一種檢測糾正缺陷像素的方法，該方法包括區分傳感器中的一像 素為缺陷像素；存儲所述缺陷像素的位置信息；根據所述位置信息確定所述缺陷像素；和 糾正所述缺陷像素對應的數字像素信號。 與現有技術相比，本發明對缺陷像素進行了檢測及糾正，並提供已糾正的像素信 號，從而提高了畫面質量。


以下通過對本發明的一些實施例結合其附圖的描述，可以進一步理解本發明的目
的、具體結構特徵和優點。
圖1是現有技術一個傳感器中的像素陣列的示意圖； 圖2是現有技術的一個像素數據捕捉顯示系統結構示意圖； 圖3是根據本發明的一個實施例的缺陷像素檢測糾正系統的結構示意圖； 圖4A是根據本發明的一個實施例的缺陷像素檢測糾正模塊的結構示意圖。 圖4B是根據本發明的另一實施例的缺陷像素檢測糾正模塊的結構示意圖。 圖5是根據本發明的一個實施例的矩陣算法中像素矩陣的示意圖。 圖6是根據本發明的一個實施例的檢測模塊的結構示意圖。 圖7是根據本發明的一個實施例的糾正模塊的結構示意圖。 圖8是根據本發明的一個實施例的檢測糾正缺陷像素的方法示意圖。
具體實施例方式
本發明將在下文中配合附圖進行全面描述。本發明可能以一些不同的方式實施， 但不應理解為本發明被限制於說明書中介紹的某種具體的結構和功能。而應理解說明書提 供的描述能夠完全、充分的向本領域的技術人員傳達本發明所涵蓋的範圍。基於說明書的 描述，本領域的技術人員應當了解到本發明的範圍旨在涵蓋這裡所揭示的本發明的所有實 施方案，獨立實施或者結合本發明的其他實施方案實施。比如，利用這裡提出的任意數量的 實施例來實現一個裝置或者執行一種方法。另外，本發明的範圍還包括這樣一種裝置或者 方法。這種裝置或方法可以用其他的結構、功能來實現，或者是利用本發明這裡提出的實施 方案和其他結構和功能一起實現，再或者是用不同於本發明這裡提出的實施方案的結構和 功能實現。應當理解的是這裡揭示的本發明的所有實施方案都可以由權利要求中的一個或 多個元件來實施。 根據本發明的一個實施例，一設備可用來檢測並糾正傳感器中的缺陷像素。傳感 器中像素所對應的數字像素信號被用來與一既定接受範圍相比較。如果一個像素對應的數 字像素信號不在此既定接受範圍內，該數字像素被歸類為缺陷像素。另外，此設備不但可以 檢測缺陷像素，並且可以自動糾正缺陷像素。例如，與缺陷像素相鄰的非缺陷像素可被用來 糾正該缺陷像素的數字像素信號值。因此，該設備可提供已糾正數字像素信號，從而提高畫 面質量。 圖3描述了根據本發明一個實施例的像素數據捕捉系統300。該像素數據捕捉顯示裝置300包括一個傳感器302、一個控制器304、一個視頻處理器306、一個視頻顯示/數 據存儲裝置308和一個缺陷像素檢測糾正模塊310。傳感器302做為前端設備捕捉圖像數 據。該傳感器302包含一個傳感器陣列312和ADC 314，用來將像素的電流轉換為數字信 號，並將數字像素信號324經由缺陷像素檢測糾正模塊310傳送至視頻處理器306。
缺陷像素檢測糾正模塊310接收數字像素信號324，檢測潛在的缺陷像素，並糾正 潛在的缺陷像素從而輸出已糾正數字像素信號326，後文會進行詳述。在一個實施例中，缺 陷像素的檢測糾正在視頻信號處理之前進行。這樣，視頻處理器306可被訂製並且缺陷像 素檢測糾正模塊310不會受影響。 在一個實施例中，視頻處理器306可處理已糾正數字像素信號326，例如調節對比 度、色彩飽和度、色調或者邊界平滑度等。並且，視頻處理器306可將已糾正數字像素信號 326壓縮成各種格式，例如Motion、JPEG、MPEGl、MPEG2、MPEG4等。因此，已糾正數字像素信 號326可被提供至視頻顯示/數據存儲裝置308。視頻顯示/數據存儲裝置308可包括一 個視頻播放裝置，例如一個液晶顯示(LCD, liquid crystal display)電視/顯示器，一個 等離子電視/顯示器，用於播放已處理數字像素信號328，和/或一個儲存裝置，例如快閃記憶體或 硬碟，用於存儲已處理數字像素信號328。 控制器304連接至感應器302和視頻處理器306，用於從缺陷像素檢測糾正模塊 310接收一個控制信號330，並控制感應器302以及視頻處理器306。 一個感應器控制信號 322，例如亮度控制信號、幀速率控制信號或方案控制信號，從控制器304輸出至感應器302 用來得到需要的輸出畫面品質。控制器304也可決定感應器302中像素的曝光時間。缺陷 像素檢測糾正模塊310可生成控制信號330並將其傳送至控制器304用來將傳感器302的 曝光時間控制在一個既定範圍內。 圖4A描述了根據本發明一個實施例的缺陷像素檢測糾正模塊400。缺陷像素檢測 糾正模塊400為圖3中所示的缺陷像素檢測糾正模塊310的一個示例。缺陷像素檢測糾正 模塊400包括一個檢測模塊412和一個糾正模塊414。 檢測模塊412在一個特定時段工作，諸如傳感器302啟動時，用來區分傳感器302 中的缺陷像素並存儲缺陷象素對應的位置信息(例如水平坐標和豎直坐標)。檢測模塊412 包含一個缺陷像素檢測模塊436和一個缺陷像素存儲器438。當傳感器302和控制器404 通電後，檢測模塊412可生成控制信號330並將其傳送至控制器304用來將傳感器302的 曝光時間控制在一個既定範圍內。傳感器302捕捉到的數字像素信號324被傳送至檢測模 塊412。在一個實施例中，缺陷像素檢測模塊436可將傳感器302中的每個像素的數字像素 信號324與一個既定接受範圍相比較，如果一個像素對應的數字象素信號324在該既定接 受範圍之外，此像素被區分為缺陷像素。如前文所述，每個像素包含一個水平坐標和豎直坐 標來指示該坐標在像素陣列中的位置信息。該相應的水平坐標和豎直坐標可被存儲在缺陷 像素存儲器438中。 在一個實施例中，既定接受範圍包括一個第一既定閾值/亮點閾值和一個第二既 定閾值/暗點閾值。 在一個實施例中，傳感器302曝光時間被限定為一個既定值。如果一個相應像素 的數字像素信號324大於亮點閾值，該像素被標記為亮點並被認定為是一個缺陷像素。
在另一個實施例中，傳感器302曝光時間被限定為一個既定值。如果一個相應像
6素的數字像素信號324小於暗點閾值，該像素被標記為暗點並被認定為是一個缺陷像素。
缺陷像素檢測糾正模塊400可進一步設定關於缺陷像素數目的極值並可根據該 極值調節既定接受範圍。例如，如果亮點或暗點的數目超過此極值，糾正模塊412可調節既 定接受範圍直至亮點或暗點的數目小於極值。此關於缺陷像素數目的極值可根據不同的需 求和場合設定。 缺陷像素存儲器438可從位置計數器(圖4中未顯示，下文詳述)接受位置信息 並存儲缺陷像素的相應位置。在一個實施例中，缺陷像素存儲器438可包含一個缺陷像素 陣列表來存儲缺陷像素的信息。 有利的是，存儲在缺陷像素存儲器438中的缺陷像素信息可自動更新。例如，如果 既定接受範圍被調整，缺陷像素會相應改變。在一個實施例中，每次既定接受範圍調整後， 缺陷像素的位置信息可被更新。換言之，存儲於缺陷像素存儲器438中的位置信息可根據 既定接受範圍的調整相應更新。在另一個實施例中，每次傳感器302和/或缺陷像素檢測糾 正模塊400重置或重啟時，缺陷像素檢測進程會被執行，最近的缺陷像素信息可被存儲至 缺陷像素存儲器438，換言之，存儲於缺陷像素存儲器438中的位置信息可根據傳感器302 和/或缺陷像素檢測糾正模塊400的重啟相應更新。在另一個實施例中，在每一次傳感器 302和/或缺陷像素檢測糾正模塊400初始化時，缺陷像素檢測模塊436提供的缺陷像素的 位置信息均可被存儲至缺陷像素存儲器438。 在一個實施例中，傳感器可具有先進的屬性，例如，可根據所需的方案或幀速率輸 出數字像素信號324。根據本發明的一個實施例，檢測模塊412具備此項屬性。例如，傳感 器302中的數字像素信號324的坐標可被表示為"X"(水平坐標)禾P"Y"(豎直坐標)。這 樣，缺陷像素的位置可按照"X-Y"坐標被存儲至缺陷像素存儲器438。如果方案被更改，例 如，用戶需求被更改，傳感器控制信號322可被傳送至控制器304。在一個實施例中，檢測模 塊412監測每個數據幀中水平方向和豎直方向的像素數目用來檢測方案的變化。如果方案 被檢測到發生了變化，檢測模塊412可重新獲取缺陷像素的水平及豎直坐標並將其存儲至 缺陷像素存儲器438用來指示一個缺陷像素的位置。這樣，缺陷像素的信息可根據方案的 變化進行更新。 缺陷像素檢測糾正模塊400不但可以檢測缺陷像素，並且可以自動糾正缺陷像 素。在一個實施例中，糾正模塊414可基於位置信息確認缺陷像素，並糾正缺陷像素的數字 像素信號324，並提供已糾正數字像素信號326。換言之，缺陷像素無需用戶指令可被自動 糾正。糾正模塊414包含一個缺陷像素分析模塊432和一個缺陷像素糾正模塊434。
缺陷像素分析模塊432接受包含水平及豎直坐標信息的數字像素信號324，並將 每一像素的坐標信息與存儲在缺陷像素存儲器438中的缺陷像素的坐標信息相比較。如果 某一像素的位置信息與缺陷像素的位置信息相匹配，缺陷像素分析模塊432根據一個算法 生成一個糾正參數440。在一個實施例中，糾正參數440根據缺陷像素臨近的非缺陷像素 進行計算。另外，糾正參數440也可根據缺陷像素臨近像素的平均值來計算。例如，當缺陷 像素的左側及右側像素為非缺陷像素時，利用左側及右側像素的的平均值來計算糾正參數 440。 在一個實施例中，糾正參數440可根據矩陣算法或空間濾波器算法利用缺陷像素 的鄰近非缺陷像素來重設缺陷像素的像素值。在另一個實施例中，糾正參數440可根據先前視頻掃描的累積或組合糾正參數決定。糾正參數440可根據不同應用利用不同方法計算 而得到。 在一個實施例中，缺陷像素分析模塊432利用矩陣算法的一個MXN像素矩陣來生 成糾正參數440，糾正參數440可根據以下規則得到 1.糾正參數440可包含一系列權重因子。每一個權重因子對應一個缺陷像素的鄰
近像素。權重因子之和為一常數，例如l; 2.越接近缺陷像素的像素具有越高的權重因子值； 3.為避免浮點運算，每一個權重因子可被縮放為可被2整除的數字； 4.缺陷像素的左側及右側像素(與缺陷像素在同一水平線上)可擁有最高的權重
因子； 5.缺陷像素的上側及下側像素(與缺陷像素在同一豎直線上)可擁有第二高的權 重因子； 6.缺陷像素的上或下對角線像素可擁有最低的權重因子。 圖4B描述了根據本發明另一個實施例的缺陷像素檢測糾正模塊480。圖4B中的 缺陷像素檢測糾正模塊包括一個平移模塊450，平移模塊450通過為數字像素信號324增加 或減少一個偏移量來縮放數字像素信號324(例如，拓寬數字像素信號324的尺度)。在此 實施例中，數字像素信號324在數字像素信號324被輸入至檢測模塊412之前，先被輸出至 平移模塊450，用於增加或減少一個偏移量。 圖5描述了根據本發明一個實施例的顯示鄰近像素的相應權重因子3X3像素矩 陣。權重因子3X3像素矩陣鄰近像素的權重因子可被用來生成缺陷像素的糾正參數440。
如圖5所示，像素的水平坐標(Line)為L、 L+l和L+2，豎直坐標(Row)為R、 R+l 和R+2。這樣，缺陷像素的位置可被表示為(L+1，R+1)。缺陷像素其他鄰近像素的權重因子 被標記在相應的像素上方。例如，像素(L，R)的權重因子是1/16。 缺陷像素糾正模塊434可接收糾正參數440並利用相應的糾正參數440，例如根據 矩陣算法或空間濾波器算法來糾正缺陷像素，並輸出已糾正數字像素信號326至視頻處理 器306。在一個實施例中，已糾正像素值為每個權重因子與相應像素值V乘積之和。例如， 圖5中的缺陷像素(L+l， R+l)的像素值可根據以下公式得到
5X^,R) +^X^i,fl+l) +J^X^^+2) +2Xf^+1K) +2X^i+M +a +5^^,^ +^X^i+2K+1) +J^xf^+2"+2) 其中，V(u)為位於(L， R)位置像素的像素值，V(u+1)為位於(L， R+l)位置像素的 像素值，依此類推。 在一個實施例中，缺陷像素檢測糾正模塊400可被用於一個外置的攝像頭或集成 於一個筆記本或臺式計算機中。在另一個實施例中，缺陷像素檢測糾正模塊400可用於其
他場合，例如，行動電話中的照相模塊、含照相模塊的PDA設備、安全監視系統、數字相機等。 圖6描述了根據本發明一個實施例的檢測模塊412。在一個實施例中，檢測模塊 412包含位置計數器例如行計數器506及列計數器508、一個數據緩衝器512和一個像素值 比較器510。
數據緩衝器512可接收數字像素信號324並將數字像素信號324傳送至像素值比 較器510，並與一個亮點閾值514或一個暗點閾值516相比較。如果， 一個像素的數字像素 信號324不屬於亮點閾值514和暗點閾值516構成的既定範圍，相應像素被判斷為一個缺 陷像素。行計數器506和列計數器508用來提供一個缺陷像素的水平坐標522和豎直坐標 524，該缺陷像素的水平坐標522和豎直坐標524被存儲在缺陷像素存儲器438中。
圖7描述了根據本發明一個實施例的糾正模塊414。糾正模塊414包含一個缺陷像 素分析模塊432和缺陷像素糾正模塊434。缺陷像素分析模塊432包括一個行計數器606、 一個列計數器608、一個數據緩衝器612、一個坐標比較器610和一個糾正參數模塊620，該 糾正模塊414可與缺陷像素存儲器438共同工作。 缺陷像素存儲器438為坐標比較器610提供缺陷像素的水平坐標522和豎直坐標 524，用來將水平坐標522和豎直坐標524與行計數器606和列計數器608提供的缺陷像素 的水平坐標626和豎直坐標628相比較，如果該像素的坐標值與缺陷像素的坐標值相匹配， 糾正參數模塊620可根據算法生成糾正參數440 。缺陷像素糾正模塊434利用糾正參數440 輸出已糾正數字像素信號326來糾正缺陷像素。 缺陷像素分析模塊432進一步包含一個像素插值器614，用來在數字像素信號324 輸入缺陷像素糾正模塊434之前對其進行處理。像素插值器614根據一個特殊的插值算法 來改變數字像素信號324中的像素數字信息以滿足對已糾正數字像素信號326的需求。例 如，當數字像素信號324包含120像素信息，但已糾正數字像素信號需要200像素信息時， 像素插值器614可將像素數目從120放大至200。類似的，像素插值器614可通過縮放來減 少像素數目。通過應用像素插值器614輸出圖像質量可得到調節。 圖8描述了根據本發明一個實施例的檢測糾正缺陷像素的方法。圖8結合圖4A 進行說明。在一個實施例中，缺陷像素檢測糾正模塊400包含一個缺陷像素檢測模塊436、 一個缺陷像素存儲器438、一個缺陷像素分析模塊432和一個缺陷像素糾正模塊434。方法 800可被作為存儲在計算機可讀介質中的計算機可執行的指令來實施。
在步驟810中，傳感器302中的一像素被區分為缺陷像素。具體來說，缺陷像素檢 測糾正模塊400向控制器304傳送一控制信號330，將傳感器302曝光一特定時間。根據曝 光得到數字像素信號324。數字像素信號324包含與傳感器302中像素相對應的多個數字 像素信號。每個像素的數字像素信號324與一個既定接受範圍相比較。當一個像素對應的 數字像素信號在此既定接受範圍之外時，該像素被區分為缺陷像素。 在步驟820中，一個缺陷像素的相應位置信息可被存儲在缺陷像素存儲器438中。
在步驟830中，根據缺陷像素存儲器438中存儲的位置信息確認缺陷像素。
在步驟840中，一缺陷像素對應的數字像素信號被糾正。糾正參數440可由缺陷 像素分析模塊432產生來糾正缺陷像素。在一個實施例中，與缺陷像素相鄰的相鄰像素可 用來產生糾正參數440。 最後應說明的是以上實施例僅用以說明本發明而並非限制，儘管參照較佳實施 例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明進行修改或 者等同替換，而不脫離本發明的精神和範圍，其均應涵蓋在本發明的權利要求範圍當中。
權利要求
一種缺陷像素檢測糾正設備，與一傳感器連接，其特徵在於，所述缺陷像素檢測糾正設備至少包括檢測模塊，區分該傳感器中的一像素為一缺陷像素，並存儲該缺陷像素的位置信息；和糾正模塊，連接至所述檢測模塊，用來根據所述位置信息確認所述缺陷像素，並糾正所述缺陷像素對應的一數字像素信號。
2. 根據權利要求1所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述檢測模塊將多個 像素的多個數字像素信號與一既定接受範圍相比較，其中一像素的一數字像素信號在所述 糾正之前在所述既定接受範圍之外，所述像素被區分為一缺陷像素。
3. 根據權利要求2所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述檢測模塊可根據 所述既定接受範圍的變化進行更新。
4. 根據權利要求2所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述既定接受範圍至 少包括一個第一預定閾值和第二預定閾值。
5. 根據權利要求1所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述檢測模塊從一個 位置計數器接收所述位置信息。
6. 根據權利要求5所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述位置計數器為所 述缺陷像素提供坐標。
7. 根據權利要求1所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述檢測模塊可縮放 所述多個數字像素信號。
8. 根據權利要求1所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述糾正模塊可提供 根據一算法提供一糾正參數，其中所述糾正模塊根據所述糾正參數糾正所述缺陷像素對應 的所述數字像素信號。
9. 根據權利要求8所述的缺陷像素檢測糾正設備，其特徵在於，所述算法為利用一像 素矩陣的矩陣算法。
10. —種缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述缺陷像素檢測糾正系統至少包括 傳感器，包括多個像素；缺陷像素檢測糾正模塊，連接至所述傳感器，用來將所述多個像素對應的多個數字像 素信息與一既定接受範圍相比較，所述缺陷像素檢測糾正模塊也可區分一像素為一缺陷像 素，其中所述缺陷象素的一數字像素信號在所述既定接受範圍之外，所述缺陷像素檢測糾 正模塊也可在所述區分之後糾正所述數字像素信號；禾口控制器，連接至所述傳感器及所述缺陷像素檢測糾正模塊，用來從所述缺陷像素檢測 糾正模塊接收一控制信號，並控制所述傳感器。
11. 根據權利要求io所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述控制器接收的所述控制信號可限定所述傳感器的曝光時間為一既定值。
12. 根據權利要求10所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述缺陷像素檢測 糾正模塊可設置關於缺陷像素數目的極值，並根據所述極值的變化調節所述既定接受範 圍。
13. 根據權利要求IO所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述缺陷像素檢測 糾正模塊存儲所述缺陷像素的位置信息。
14. 根據權利要求13所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述缺陷像素檢測糾正模塊可根據所述既定接受範圍的變化更新所述位置信息。
15. 根據權利要求13所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，所述缺陷像素檢測 糾正模塊可根據所述傳感器的重啟更新所述位置信息。
16. 根據權利要求IO所述的缺陷像素檢測糾正系統，其特徵在於，進一步包括一視頻 處理器，用來處理所述缺陷像素檢測糾正模塊提供的已糾正數字像素信號。
17. —種檢測糾正缺陷像素的方法，其特徵在於，所述檢測糾正缺陷像素的方法至少包括區分傳感器中的一像素為缺陷像素； 存儲所述缺陷像素的位置信息； 根據所述位置信息確定所述缺陷像素；禾口 糾正所述缺陷像素對應的數字像素信號。
18. 根據權利要求17所述檢測糾正缺陷像素的方法，其特徵在於，所述檢測糾正缺陷 像素的方法進一步包括將所述傳感器曝光一既定時間；基於所述曝光得到多個數字像素信號，其中所述多個數字像素信號對應所述傳感器中 的多個像素；將所述多個數字像素信號與一既定接受範圍相比較；禾口區分所述缺陷像素，其中一像素的一數字像素信號在所述糾正之前在所述既定接受範 圍之外，該像素被區分為一缺陷像素。
19. 根據權利要求17所述檢測糾正缺陷像素的方法，其特徵在於，所述檢測糾正缺陷 像素的方法進一步包括生成一個糾正參數用來糾正所述缺陷像素。
20. 根據權利要求19所述檢測糾正缺陷像素的方法，其特徵在於，所述檢測糾正缺陷 像素方法進一步包括利用多個與所述缺陷像素相鄰的相鄰像素生成所述糾正參數。
全文摘要
本發明公開了一種缺陷像素檢測糾正設備、系統及檢測糾正缺陷像素的方法，所述缺陷像素檢測糾正設備其包括檢測模塊和糾正模塊。所述檢測模塊區分傳感器中的一像素為一缺陷像素，並存儲該缺陷像素的位置信息。糾正模塊連接至所述檢測模塊，用來根據所述位置信息確認所述缺陷像素，並糾正所述缺陷像素對應的一數字像素信號。本發明對缺陷像素進行了檢測及糾正，並提供已糾正的像素信號，從而提高了畫面質量。
文檔編號H04N5/217GK101764926SQ20091017960
公開日2010年6月30日 申請日期2009年9月29日 優先權日2008年9月29日
發明者陳睿, 馬克·王 申請人:凹凸電子(武漢)有限公司