電子元件測試基座的浮動緩衝機構的製作方法與工藝

2023-06-06 22:50:46

本發明是關於一種電子元件測試基座的浮動緩衝機構，尤指一種適用於電子元件測試設備的測試基座的浮動緩衝機構。

背景技術：
已知電子元件於測試時，測試機臺本身的震動會通過測試座傳遞至待測電子元件，此震動將會影響待測電子元件的測試結果。因此，如中國臺灣專利公開號201041076所公開的「電子元件測試座的浮動緩衝機構」，其目的是在減緩此震動問題。如圖9所示，是已知的浮動緩衝機構的剖視圖，將一氣封環84套設於活塞體8外並一體容置於氣缸體83的活塞室80內可作軸向滑移。因此，當通過底座81的氣體流道811通以高壓氣體至活塞室80時，將推動活塞體8上的浮動座82產生軸向滑移，並具徑向彈性復位等浮動緩衝效果。但該發明的缺點為活塞體8與氣缸體83仍有部份區域接觸，而無法有效隔離震動，因此電子元件若採此測試架構，會影響測試結果。發明人緣因於此，本於積極發明的精神，亟思一種可以解決上述問題的「電子元件測試基座的浮動緩衝機構」，幾經研究實驗終至完成本發明。

技術實現要素：
本發明的主要目的是在提供一種電子元件測試基座的浮動緩衝機構，以便能可隔絕大部份的機臺震動傳遞至待測電子元件，以改善測試穩定性。本發明一種電子元件測試基座的浮動緩衝機構，包括：一蓋體、一本體、一彈性墊、一滑移件、一測試基座及一容置座。蓋體具有一連結至一氣壓泵的入氣孔。本體具有一容置空間及多個定位槽，本體與蓋體對應相結合。而彈性墊夾設於蓋體與本體之間，並覆蓋容置空間，用以界定出蓋體與彈性墊間的一氣密空間。滑移件包括多個定位柱，滑移件是通過每一定位柱對應每一定位槽容設於容置空間內，並位於彈性墊的下方，且滑移件可縱向滑移。測試基座是連結於滑移件的底部並位於本體的下方，具有至少一測試針組。而容置座與測試基座對應結合設置，包括有對應於每一測試針組的一容置槽，且容置槽可容置有一待測電子元件。上述作動原理為當蓋體灌入氣壓泵的氣體至氣密空間，使彈性墊膨脹接觸滑移件，彈性墊推動滑移件下移，而滑移件的定位柱可套入於本體的定位槽，致使滑移件與所連接的測試基座能準確保維持其位置度；當測試基座下壓與容置座的待測電子元件接觸進行測試，其接觸的下壓力致使滑移件上移，使定位柱脫離定位槽，滑移件不與本體接觸，減少機械震動傳導至待測電子元件。另一方面，彈性墊夾設於蓋體與本體間，亦可吸收由蓋體與其所連接的機臺設備所產生的機械震動傳導至測試基座與容置座，進而免除不必要的震動幹擾，增加電性測試的可靠度。另外，前述測試基座可固設於一基座本體，而基座本體可包括有至少一導引孔，且容置座也可固設於一底座，底座可包括有對應於至少一導引孔的至少一導引柱，以便能使測試基座與容置座間產生準確定位。再者，前述蓋體可包括有多個開孔，本體可包括有多個鎖附孔，通過每一開孔對應每一鎖附孔進行鎖附固定。又，前述彈性墊亦可包括有對應每一開孔的一定位孔。而基座本體可包括有多個穿孔，滑移件可包括有多個固定孔，通過每一穿孔對應每一固定孔進行鎖附固定。前述多個定位槽的數量可為三、四、五或其他不同的數量，且可呈環狀等間距排列。前述彈性墊可為橡膠材質或其他軟性材質。另外，彈性墊與滑移件間的中央區域可具有一間隙，以便能容許滑移件的縱向為移。而本體與測試基座間的外環區域亦可具有一間隙，以便能使測試基座可朝上移動。前述容置座可對應設置於測試基座下方，也可將容置座對應設置於測試基座上方。亦即，容置座與測試基座是可相互上下對調設置，其可依據不同的機型或不同的待測電子元件而彈性運用。附圖說明為進一步說明本發明的技術內容，以下結合實施例及附圖詳細說明如後，其中：圖1是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的爆炸圖。圖2是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的立體圖。圖3是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的測試基座與電子元件分解圖。圖4是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的剖視圖。圖5是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的下壓剖視圖。圖6是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的測試基座與滑移件的分解圖。圖7是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的測試基座與滑移件的立體圖。圖8是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第二較佳實施例的剖視圖。圖9是已知是浮動緩衝機構的剖視圖。具體實施方式如圖1、圖2、圖3及圖4所示，是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的爆炸圖、立體圖、測試基座與電子元件分解圖及剖視圖。如圖所示，本實施例是為一種電子元件測試基座的浮動緩衝機構，包括：一蓋體1、一本體3、一彈性墊4、一滑移件5、一具有一測試基座60的基座本體6、及一具有一容置座70的底座7。蓋體1具有一連結至一氣壓泵2的入氣孔11。本體3具有一容置空間31及多個定位槽32，本體3與蓋體1對應相結合。而彈性墊4夾設於蓋體1與本體3之間，並覆蓋容置空間31，用以界定出蓋體1與彈性墊4間的一氣密空間12，本實施例的彈性墊4是為橡膠材質。滑移件5包括多個定位柱51，滑移件5是通過每一定位柱51對應每一定位槽32容設於容置空間31內，並位於彈性墊4的下方，且滑移件5可縱向滑移，本實施例的多個定位槽32的數量為四，呈環狀等間距排列。另外，測試基座60是固設於基座本體6上，基座本體6連結於滑移件5的底部並位於本體3的下方，具有至少一測試針組61，本實施例的至少一測試針組61數量為四。容置座70是固設於底座7，而對應設置於該測試基座60下方，底座7包括有對應於每一測試針組61的一容置槽71，且容置槽71可容置有一待測電子元件73。通過每一測試針組61下壓抵靠每一待測電子元件73上的導通測點進行測試。另外，本實施例的基座本體6具有二導引孔63，而容置座70包括有對應二導引孔63的二導引柱72，以便能使基座本體6與容置座70間產生準確定位。再者，本實施例的蓋體1包括有四個開孔13，本體3包括有四個鎖附孔33，通過每一開孔13對應每一鎖附孔33進行鎖附固定。又，本實施例的彈性墊4包括有對應每一開孔13的一定位孔41，而基座本體6包括有多個穿孔62，滑移件5包括有多個固定孔52，通過每一穿孔62對應每一固定孔52進行鎖附固定。另外，本實施例的彈性墊4與滑移件5間的中央區域具有一間隙53，以便能容許滑移件5的縱向位移。而本體3與基座本體6間的外環區域亦具有一間隙64，以便能使基座本體6可朝上移動。如圖5、圖6及圖7所示，是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第一較佳實施例的立體圖、下壓剖視圖、測試基座與滑移件的分解圖及測試基座與滑移件的立體圖，一併參閱圖1。本實施例的作動原理為當蓋體1灌入氣壓泵2的氣體至氣密空間12，使彈性墊4膨脹接觸滑移件5，彈性墊4推動滑移件5下移，而滑移件5的定位柱51可套入於本體3的定位槽32，致使滑移件5與所連接的基座本體6能準確保維持其位置度。當基座本體6的測試基座60下壓與底座7的容置座70的電子元件73接觸進行測試，其接觸的下壓力致使滑移件5上移，使定位柱51脫離定位槽32，滑移件5不與本體3接觸，用以達到減少機械震動傳導至待測電子元件73的功效，再者，通過彈性墊4吸收蓋體1與本體3間的震動，亦可抑制部份震動傳導至待測電子元件73，達到隔震的效果。請再參閱圖8是本發明電子元件測試基座的浮動緩衝機構第二較佳實施例的剖視，本實施例與第一實施例的結構配置大致相同，其差異僅在於本實施例的測試基座701是對應設置於容置座601的下方。亦即，本實施例的容置座601是固設於基座本體600上，而測試基座701是固設於底座700上，基座本體600也具有多個導引孔603以與底座700的多個導引柱702相互固定。本實施例可因應待測電子元件73的不同規格及實際測試需求，而仍可達到第一實施例相同的功效。上述實施例僅是為了方便說明而舉例而已，本發明所主張的權利範圍自應以權利要求範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。