平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體的製作方法

2023-06-04 03:28:41 2

專利名稱：平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種利用氣體放電腔體中的氣體放電檢測平板顯示面板電極 線缺陷的檢測部件，尤其涉及一種蔭罩式等離子體顯示器面板上電極線的檢 測部件，具體地說是一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體。
技術背景目前採用的蔭罩式等離子體顯示板主要包括前基板、後基板和蔭罩。前 基板從玻璃基板起，分別是掃描電極、介質層以及在介質層表面形成的保護 層；後基板從玻璃基板起，分別是與掃描電極垂直的尋址電極，介質層以及 在介質層上形成的保護層；夾在前、後基板中間的蔭罩是由導電材料(例如 鐵或其合金)加工而成的包含網孔陣列的金屬薄網板。前後基板上的電極線一般採用印刷，烘乾，曝光，顯影，燒結的工藝。 但電極線由於工藝控制的難以把握的影響，容易出現斷線和連線等缺陷情況。目前檢測前後基板電極線開短路的裝置基本都是進口的光學檢測裝置， 這樣的裝置精密複雜，不僅價格昂貴，而且檢測速度也較慢，同時很多部件 國內難以買到，.需要廠商派人前來維護，維護費用高不說，周期還很長，對 於裝置維護使用不利。 發明內容本發明的目的是針對現有的蔭罩式等離子體前後基板電極線的開短路檢 測速度較慢，裝置昂貴，維護不方便等問題,提出一種基於氣體放電對電極缺 陷進行判定的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體。本發明的技術方案是一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體，其特徵是或它由測試用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的測試電極lb、在電極lb上局 部測試區域內覆蓋的絕緣介質層lc、待測面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待測導電電極組2b以及惻邊3組成，它以測試電極lb為一電極、以待測導電電極組2b為另一電極的單邊介質放電腔體;或由測試用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的測試電極lb、在電極lb上局部測試區域內覆 蓋的絕緣介質層lc、與絕緣介質層lc有一定間距的絕緣介質層12、待測面 板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待測導電電極組2b以及側邊3組 成，以測試電極lb為一電極、以待測導電電極組2b為另一電極的雙邊介質 放龜腔體，其中側邊3可以是和測試面板的基板2a連為一體的相同介質材料， 也可以是相互獨立的不同介質材料，測試電極lb可以是在基板2a之上，也 可以是在基板2a下面(若電極lb在基板2a下面，則可去除介質層4 )。 本發明的有益效果K為快速準確地檢出前後基板電極線的斷線和連線缺陷點提供了必要的 技術保障。2、具有製作工藝簡單，成本低的優點。相比於目前進口的光學檢測設備價格昂貴，檢測較慢，維護困難等缺點， 本發明的優勢明顯，是一個良好的替代選擇。


圖1是與本發明相配的具有電極圖案的測試面板示意圖之一。 圖2是與本發明相配的具有電極圖案的測試面板示意圖之二。 圖3是本發明的具有電極圖案的待測面板示意圖。 圖4是本發明的單邊介質放電電極線圖案缺陷檢測裝置的意圖。 圖5是本發明的雙邊介質放電電極線圖案缺陷檢測裝置的示意圖。 圖6是本發明的平板顯示器面板電極線圖案缺陷種類示意圖。 圖7是本發明的待測面板引線區電極線分類示意圖。 具體實施例下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的說明。 如圖l-7所示。一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體，其特徵是它由測 試用的玻璃基板la、在玻璃基板la上形成的測試電極lb、在電極lb上局部測試區域內覆蓋的絕緣介質層lc、待測面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a 上形成的待測導電電極組2b以及側邊3組成，以測試電極lb為一電極、以 待測導電電極組2b為另一電極的單邊介質放電腔體，也可以是由測試用的玻 璃基板la、在玻璃基板la上形成的測試電極lb、在電極lb上局部測試區域 內覆蓋的絕緣介質層lc、與絕緣介質層lc有一定間距的絕緣介質層12、待 測面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待測導電電極組2b以及側邊 3組成，以測試電極lb為一電極、以待測導電電極組2b為另一電極的雙邊 介質放電腔體，其中側邊3可以是和測試面板的基板2a連為一體的相同介質 材料，也可以是相互獨立的不同介質材料，測試電極lb可以是在基板2a之 上，也可以是在基板2a下面(若電極lb在基板2a下面，則可去除介質層4實例一。利用本發明的氣體放電腔體進行檢測時，首先將待測面板2上電極線2b 的引線區電極線相應分為A、 B、 C三類，將待測面板2與測試用面板1面 向組合，中間保持一定的間隙，充入一定的工作氣體；在測試電極lb和待測 導電電極組2b的一端加上一定的交流電壓，然後依次給A類(或B類或C 類)電極線加上適當的交流電壓，在控制系統ll作用下，檢測頭8在X、 Y 方向以適當的光斑對所檢測的面板2進行掃描檢測，若某根A (或B或C) 類電極線出現出現不發光區域，則亮暗交接點即是這條電極線的完全斷線點 13處，若是發現某根A (或B或C)類測電極線的中間某處發光偏弱，即該 電極線的發光線條有凹陷等，則凹陷處即為該電極線的不完全斷線缺口處， 系統給出提示，通過CCD進一步確定斷線性質，以確定是需修補的不完全 斷線15還是不影響顯示效果而不需要修補的不完全斷線14，並在控制系統 11中記錄斷線點的位置，為後道的切斷修補程序提供指令，並在控制系統ll 中記錄斷線缺點的位置，然後用修補機對斷線點進行修補；若在兩相鄰待測 電極之間的暗區檢測到發光點，則該發光點即為電極間短路點16或電極邊緣 不整點17;在控制系統11中記錄短路點16或電極邊緣不整點17的位置， 最後採用雷射進行切斷。實例二。考慮給加壓電源5的夾具製備A、 B、 C三類電極線比較困難，則考慮 僅給加壓電源5的夾具製備一類電極線，假設為A類空出B、 C類電極線的 位置，然後將加壓電源5的夾具製備成可左右精確移動的裝置，分三次檢測 (假設加壓電源5的夾具在測試時朝同一個方向移動)，然後將待測面板2 上電極線2b的引線區電極線相應分為A、 B、 C三類，將待測面板2與測試 用面板l面向組合，中間保持一定的間隙，充入一定的工作氣體；在測試電 極lb和待測導電電極組2b的一端加上一定的交流電壓，在控制系統13作用 下，檢測頭11在X、 Y方向以適當的光斑對所檢測的面板18進行掃描檢測， 第一次加壓時將加壓電源5的夾具的電極線與待測面板上A類電極線相重 疊，若某根A類電極線出現出現不發光區域，則亮暗交接點即是這條電極線 的完全斷線點13處，若是發現某根A類測電極線的中間某處發光偏弱，即 該電極線的發光線條有凹陷等，則凹陷處即為該電極線的不完全斷線缺口處， 系統給出提示，通過CCD進一步確定斷線性質，以確定是需修補的不完全 斷線15還是不影響顯示效果而不需要修補的不完全斷線14，並在控制系統 11中記錄斷線的位置，為後道的切斷修補程序提供指令，並在控制系統11 中記錄斷線缺點的位置，然後用修補機對斷線點進行修補；若在兩相鄰待測 電極之間的暗區檢測到發光點，則該發光點即為電極間短路點16或電極邊緣 不整點17;在控制系統11中記錄短路點16或電極邊緣不整點17的位置， 最後採用雷射進行切斷。測試完後將電源的夾具上電極線向右移動至待測面 板C類電極線位置，加壓檢測，原理與給A類電極線加壓檢測時相同，最後 再電源夾具向右移動至待測面板B類電極線位置，加壓檢測，同樣原理與給 待測面板A類電極線加壓檢測時相同，這樣便可完成整個面板電極線的斷連 線缺陷的檢測。本實施例僅給出了部分具體的應用例子，但對於從事平板顯示器的專業 人員而言，還可根據以上啟示設計出多種變形產品，這仍被認為涵蓋於本發 明之中。
權利要求
1、一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體，其特徵是它或由測試用的玻璃基板(1a)、在玻璃基板(1a)上形成的測試電極(1b)、在電極(1b)上局部測試區域內覆蓋的絕緣介質層(1c)、待測面板的玻璃基板(2a)、在玻璃基板(2a)上形成的待測導電電極組(2b)以及側邊(3)組成，它以測試電極(1b)為一電極、以待測導電電極組(2b)為另一電極的單邊介質放電腔體；或由測試用的玻璃基板(1a)、在玻璃基板(1a)上形成的測試電極(1b)、在電極(1b)上局部測試區域內覆蓋的絕緣介質層(1c)、與絕緣介質層(1c)有一定間距的絕緣介質層(12)、待測面板的玻璃基板(2a)、在玻璃基板(2a)上形成的待測導電電極組(2b)以及側邊(3)組成，它以測試電極(1b)為一電極、以待測導電電極組(2b)為另一電極的雙邊介質放電腔體，其中側邊(3)可以是和測試面板的基板(2a)連為一體的相同介質材料，也可以是相互獨立的不同介質材料，測試電極(1b)可以是在基板(2a)之上，也可以是在基板(2a)下面。
全文摘要
本發明針對現有的蔭罩式等離子體前後基板電極線的開短路檢測速度較慢，裝置昂貴，維護不方便等問題，提出一種基於氣體放電對電極缺陷進行判定的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用氣體放電腔體，其特徵是它由測試用的玻璃基板(1a)、在玻璃基板(1a)上形成的測試電極(1b)、在電極(1b)上局部測試區域內覆蓋的絕緣介質層(1c)、待測面板的玻璃基板(2a)、在玻璃基板(2a)上形成的待測導電電極組(2b)以及側邊(3)組成，本發明可廣泛用於具有Ag電極的PDP基板的生產中。
文檔編號G01R31/02GK101246797SQ20081002459
公開日2008年8月20日 申請日期2008年3月28日 優先權日2008年3月28日
發明者雄 張, 朱立鋒, 青 李, 林青園, 王保平, 程 陳, 黃秋銘 申請人:南京華顯高科有限公司