手持數字集成電路參數測試儀的製作方法

2023-10-30 06:14:22 2

手持數字集成電路參數測試儀的製作方法
【專利摘要】一種手持數字集成電路參數測試儀，涉及一種集成電路參數測試儀，包括電源管理模塊、中央控制模塊、晶片測試接口、通信模塊、人機接口模塊組成，電源管理模塊輸出端與中央控制模塊的電源輸入端連接，中央控制模塊包括單片機Ⅰ、單片機Ⅱ，單片機Ⅰ與晶片測試接口連接，單片機Ⅱ分別通過I/O管腳與通信模塊、人機接口模塊直接連接，單片機Ⅰ、單片機Ⅱ之間直接通過SPI總線進行連接；通信模塊包括串行通信接口晶片及其外圍電路，該通信模塊的輸出端與上位機的輸入端連接。本發明具有功能完善、工作穩定、操作簡單、體積小巧、成本低廉等優點，可以作為教學儀器或檢測儀表，適合推廣到學校實驗室或業餘電子愛好者之中。
【專利說明】手持數字集成電路參數測試儀
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種集成電路參數測試儀，特別是一種手持數字集成電路參數測試儀。
【背景技術】
[0002]在進行電子系統的開發設計或相關實踐教學中，會使用很多的數字集成電路晶片。很多場合下會重複利用晶片，此時難免會遇到晶片失效的情況。使用了損壞的數字集成電路晶片會極大地增加電路系統的調試難度，而在使用晶片之前，卻又無法通過常見的儀器儀表檢測晶片的功能是否完好。工程上使用的專業級的集成電路測試儀器功能完善，但同時具有價格昂貴、操作複雜、體積龐大等缺點，難以廣泛引入實驗室，在廣大電子愛好者群體之中無法普及。
[0003]
【發明者】於維佳, 莫振棟 申請人:柳州鐵道職業技術學院