一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的製作方法

2023-09-24 00:53:20

專利名稱：一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及火花直讀光譜儀，具體涉及一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置。
背景技術：
在直讀光譜檢測中，通常採用火花直讀光譜儀對金屬試樣中化學元素的含量進行精確的定量分析。金屬試樣的端面被加工成光潔表面後，其面積大於時,可直接在直讀光譜儀器上對試樣的化學成分進行精確的定量分析。但對光潔面直徑小於O20mm的試樣，儀器就不能進行化學成分檢測分析，必須要用儀器配置的小試樣輔助裝置，才能對小於O20mm的試樣進行化學成份分析。現有的小試樣輔助裝置，例如瑞士生產的ARL 3460型火花直讀光譜儀所配置的小試樣輔助裝置，參見圖1，該小試樣輔助裝置由密封蓋1-1、裝置本體1-2、旋轉手柄1-3和三爪1-4組成；裝置本體1-2具有臺階腔體1-5，該臺階腔體1-5橫向形狀為圓形、縱向截面為臺階柱體，由上部1-51和下部1-52組成，上部1-51的直徑大於下部1-52的直徑；裝置本體1-2還具有工作平面1-6 ;密封蓋1-1的形狀尺寸與上部1-51的形狀尺寸相適配；旋轉手柄1-3套裝於裝置本體1-2外沿上；三爪1-4連接於裝置本體1-2的臺階腔體1-5中。該小試樣輔助裝置工作原理如下把達到加工要求的棒狀小試樣放入裝置本體1-2的臺階腔體1-5中，旋轉旋轉手柄1-3，使三爪1-4夾緊棒狀小試樣，並使小試樣的端面與裝置本體1-2的工作平面1-6成一個平面，之後再把密封蓋1-1放入腔體1-5的上部1-51，使臺階腔體1-5成為一個密閉的空間。檢測時，工作平面1-6上的圓孔對準儀器工作檯面上的激發孔洞，由於儀器發射腔中有加壓的惰性氣體，所以臺階腔體1-5內也充滿了加壓的惰性氣體，並從不密閉的地方溢出，這就保證了外界的空氣不會進入儀器的發射腔內，也就保證了不會對儀器產生幹擾。但是，該小試樣輔助裝置由於臺階腔體1-5橫向形狀為圓形、縱向截面為臺階柱體，當它與儀器的發射腔成為一個共同的腔體時，無形中增大了儀器發射腔的容積。這樣就對儀器的工作曲線有所改變，所以在作發射光譜分析時，準確度就不高，只能檢測03，06, 09的柱狀小試樣，不能檢測塊狀小試樣，適用範圍較小，並且只能進行半定量的檢測，不能對試樣的化學成份進行精確的定量分析，且該小試樣輔助裝置結構複雜、組成的零件較多，不易加工製造。

發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種精度較高、結構簡單的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置。為解決上述技術問題，本發明的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置包括裝置本體、其上設有腔體，並具有工作平面；其特徵在於；該小試樣的輔助裝置還包括與所述裝置本體)相連接的縮孔環，所述縮孔環的厚度為Imm以下，其上設有測試孔和檢測面，所述腔體與測試孔相互貫通，腔體的尺寸大於測試孔的尺寸；所述裝置本體的安裝面與所述縮孔環的檢測面為同一平面。
所述腔體的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體；
所述測試孔的直徑約為8mm ；
所述縮孔環的外徑與儀器工作面上的測試孔洞的直徑相適配；最好是所述縮孔環的外徑小於儀器工作面上的測試孔洞的直徑；
所述裝置本體為圓柱體；
所述縮孔環為圓柱體；
所述裝置本體的外徑大於所述縮孔環的外徑；
當進行小試樣檢測分析時，把縮孔環鑲嵌在儀器工作面的測試孔洞內，裝置本體的安裝面與儀器的工作面無間隙地緊密貼合，這樣就保證了縮孔環的檢測面也與儀器的工作面為同一平面。由於測試孔的直徑約為8_，這時儀器工作面上的測試孔洞就也相應縮小到約8_。用被加工成光潔面的小試樣放入裝置本體的腔體內並蓋住縮孔環上的測試孔；由於所述縮孔環的外徑小於儀器工作面上的測試孔洞的直徑，因而，縮孔環與儀器的測試孔洞之間形成間隙。同時小試樣與縮孔環上的測試孔也形成間隙；由於儀器的發射腔內有加壓的(0. 3Mpa)惰性氣體，它會從縮孔環與儀器的測試孔洞之間形成的間隙和小試樣與縮孔環上的測試孔之間的間隙中溢出，保證了外界的空氣不能進入儀器測試腔內，檢測數據的精密度和準確度就得到了保證。同時，與現有技術相比，本發明的小試樣輔助裝置不需要現有小試樣輔助裝置中的旋轉手柄，三爪等。因而減少了零件、簡化了結構。


圖1為現有火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的剖面示意圖 圖2為本發明火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的立體圖
圖3是本發明火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置的剖視圖
圖中，密封蓋1-1、裝置本體1-2、旋轉手柄1-3、三爪1-4、臺階腔體1-5，上部1-51、下部1-52、工作平面1-6 ;裝置本體3-1、縮孔環3-2、測試孔3-3、腔體3_4安裝面A、檢測面B
具體實施例方式下面，結合附圖和具體實施方式
對本發明作進一步詳細說明
參見圖2和圖3所示，本發明的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置包括裝置本體3-1，其上設有腔體3-4，並具有安裝面A ;該小試樣輔助裝置還包括與所述裝置本體3-1相連接的縮孔環3-2，所述縮孔環3-2的厚度必須為Imm以下。如果縮孔環3_2的厚度的厚度大於Imm,將遮擋發射腔中光電倍增管對光譜的採集，會影響分析結果的準確性。所述縮孔環3-2上設有測試孔3-3和檢測面B ;所述裝置本體3-1上的腔體3-4與縮孔環上的測試孔3-3之間相互貫通；腔體3-4的尺寸大於測試孔3-3的尺寸。這樣，當放入腔體3-4的分析小試樣的端面也比測試孔3-3的尺寸大時，該小試樣才能完全蓋住測試孔3-3，使外界物質不能進入儀器的發射腔裡，以影響分析結果；所述裝置本體3-1的安裝面A與所述縮孔環3-2的檢測面B為同一平面，以保證縮孔環3-2放入儀器的測試孔後，測試孔3-3與儀器的工作面也為同一個平面。所述腔體3-4的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體。該腔體3-4用於被測小試樣放入的一個空間。小試樣放入其中，才能蓋住縮孔環3-2上的測試孔3-3。所述腔體3-4的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，加工比較容易，而其它形狀的加工要稍難一些。所述測試孔3-3的直徑約為8mm。如果測試孔3_3的直徑太小於8mm，測試孔3-3的邊沿就會被激發，會嚴重的影響分析的準確性。如果測試孔3-3的直徑太大於8mm，就有一些小試樣不能在小試樣裝置上進行理化檢測分析。例如，測試孔3-3的直徑為12mm，那麼8mm至12mm的被測小試樣就不能在小試樣裝置上進行理化分析。所述縮孔環3_2的外徑與儀器工作面上的測試孔洞的直徑相適配，最好是所述縮孔環3-2的外徑小於儀器工作面上的測試孔洞的直徑；縮孔環3-2的外徑與儀器工作面上的測試孔洞的直徑相適配，主要是便於縮孔環3-2的取放，如果縮孔環3-2的外徑太小，當它放入測試孔洞後，會產生很大的間隙，不利於發射腔的密閉。如果縮孔環3-2的外徑太大，就會產生緊配合，雖然間隙很小，但是取放縮孔環3-2就不方便了。所述裝置本體3-1為圓柱體，矩形等，這樣的形狀便於加工製造和拿取使用；所述縮孔環3-2為圓柱體；所述裝置本體3-1的外徑大於所述縮孔環3-2的外徑。縮孔環3-2與裝置本體3-1是連接成一體的，當裝置本體3-1沉入激發孔洞時，由於裝置本體3-1的外徑大於縮孔環3-2的外徑，也就是大於儀器的工作檯面上的激發孔洞，所以裝置本體3-1是擱置在儀器的工作檯面上的，這樣就保證了縮孔環3-2不會掉入激發腔內，並保證了縮孔環3-2的B面與工作檯面成為同一個平面。
權利要求
1.一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，包括裝置本體(3-1)，其上設有腔體(3-4)，並具有安裝面(A)，其特徵在於；其還包括與所述裝置本體(3-1)相連接的縮孔環(3-2)，所述縮孔環(3-2)的厚度為Imm以下，其上設有測試孔(3-3)和檢測面(B)，所述腔體(3-4)與測試孔(3-3)相互貫通，腔體(3-4)的尺寸大於測試孔(3-3)的尺寸；所述裝置本體(3-1)的安裝面(A)與所述縮孔環(3-2)的檢測面(B)為同一平面。
2.根據權利要求1所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述腔體(3-4)的橫向形狀為兩端為圓弧的條形，縱向截面為直柱體。
3.根據權利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述測試孔(3-3)的直徑約為8mm。
4.根據權利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述縮孔環(3-2)的外徑與所述火花直讀光譜儀工作面上的測試孔洞的直徑相適配。
5.根據權利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述裝置本體(3-1)為圓柱體。
6.根據權利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述縮孔環(3-2)為圓柱體。
7.根據權利要求1或2所述的火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，其特徵在於；所述裝置本體(3-1)的外徑大於所述縮孔環(3-2)的外徑。
全文摘要
本發明公開了一種火花直讀光譜儀的小試樣輔助裝置，包括裝置本體(3-1)，其上設有腔體(3-4)，並具有安裝面(A)；其特徵在於；該小試樣的輔助裝置還包括與所述裝置本體(3-1)相連接的縮孔環(3-2)，所述縮孔環(3-2)的厚度為1mm以下，其上設有測試孔(3-3)和檢測面(B)，所述腔體(3-4)與測試孔(3-3)相互貫通，腔體(3-4)的尺寸大於測試孔(3-3)的尺寸；所述裝置本體(3-1)的安裝面(A)與所述縮孔環(3-2)的檢測面(B)為同一平面。本發明具有適用範圍較大且精度較高、結構簡單的優點。
文檔編號G01N21/67GK102998299SQ20121054333
公開日2013年3月27日 申請日期2012年12月16日 優先權日2012年12月16日
發明者譚世榆, 蔣啟翠, 李世碧, 鄧瓊 申請人:重慶望江工業有限公司