一種測試裝置的製作方法

2023-09-22 13:03:10 2

專利名稱：一種測試裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及電子或通信領域中的測試技術，特別涉及一 種測試裝置。
技術背景光通訊技術在整個通信網絡中，貫穿著網絡的各個層次，承載著豐富多彩的業務。為了保證整個系統能夠穩定地運行，就非 常有必要對其中的系統設備或終端設備進行測試，但伴隨著傳輸速率的不斷提升，其接口特性也日益多樣化，埠數量也逐漸增 多，進而使得測試的難度大大增加。為了解決上述的問題，業界採用了如圖l和圖2所示的第一 種技術方案該方案的核心為採用子架結合儀器堆疊的方式，即， 將單板、配置光功率計、光衰減器、分光計、專用測試儀器並連 同控制終端和測試子架放置於測試臺上或標準機拒中。雖然上述技術方案可以在一定程度解決以前現有技術中存在 的問題，但由於上述的對光接口單板的測試方案，專用性強，所 以具有如下缺點只能用於測試特定產品的 一種或者一類單板，對測試資源的 共享少，加上光測試儀器十分昂貴，所以有利用率低且成本高的 缺點；
由於專用性強，所以當需要新開發測試系統時，具有周期長， 需要重新安裝調試的缺點；在整個測試過程中手工千預太多，所以光路切換的靈活性和柔性都較差，難以對付產能高峰的壓力；另外，還具有測試效率低，佔用生產場地面積大。請參考圖3和圖4，為業界第二種技術方案，和第一種技術方 案相比，區別點只是在測試資源中增加了光開關，該方案也是將 要測試的單板，配置光功率計、光衰減器、光開關、專用測試儀 器、控制終端和測試子架放置於測試臺上或安裝在一個標準機拒 中。雖然相較於第一種技術方案，該方案增加了光開關，能夠減 少測試過程中的手工幹預，提高光路切換的靈活性，但仍然具有 如下缺點只能用於測試特定產品的 一 種或者 一 類單板，對測試資源的 共享少，加上光測試儀器十分昂貴，所以有利用率低且成本高的 缺點；由於專用性強，所以當需要新開發測試系統時，具有周期長， 需要重新安裝調試的缺點；在整個測試過程中手工幹預太多，所以光路切換的靈活性和 柔性都較差，難以對付產能高峰的壓力；另外，還具有測試效率低，佔用生產場地面積大
實用新型內容
本實用新型的目的是提供一種測試裝置，以提測試系統的資 源共享度，解決重複開發的問題。為達本實用新型的實用新型目的，本實用新型提供如下技術方案一種測試光接口單板的平臺化裝置，包括被測板接口 (10)、光 開關(201 )、光開關(202 )、光功率計(30 )、光衰減器(40 )、測試 儀器(50)，被測板接口 (10)、光開關(201)、測試儀器(50)、光 開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路；被測板接 口 U0)通過光開關(201)與光功率計(30)連接；被測板接口 (10)、 光開關(201)、光衰減器(40)、光開關(202 )、被測板接口 (10) 依次連接，形成一個環路。所述的平臺化裝置，還包括光開關(203 )、光開關(204 )、 光譜儀(60)，被測板接口 (10)、光開關(201)、光開關(203 )、 測試儀器(50)、光開關(204 )、光衰減器(40)、，光開關(202 )、 :帔測板接口 (10)依次連4矣，形成一個環路；；陂測板接口 (10)、 光開關(201)、光開關(203 )、光開關(204 )、光衰減器(40)、 光開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路；光 功率計(30 )、光譜儀(60 )連接在光開關(203 )上。所述的平臺化裝置，還包括光開關(205 )、光開關(206 )、 光開關(207 )、固定衰減器(701)、固定衰減器(702 ),被測板
接口 (10)、光開關(201)、光開關(205 )、固定衰減器(701)、 光開關(203 )、測試儀器(50)、光開關(204 )、光衰減器(40)、 光開關(206 )、光開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接形成 一個環路；被測板接口 (10)、光開關(201)、光開關(205 )、光 開關(207 )、光開關(204 )、光衰減器(40)、光開關(206 )、光 開關(202 )、被測板接口 ( 10)依次連接形成一個環路；被測板 接口 (10)、光開關(201)、光開關(205 )、固定衰減器(701)、 光開關(203 )、測試儀器(50)、光開關(204 )、光衰減器(40)、 光開關(206 )、光開關(202)、被測板接口 (10)依次連接；被 測板接口 (10)、光開關(201)、光開關(205 )、光開關(207 )、 固定衰減器(702 )、光開關(206 )、光開關(202 )、被測板接口 (10)依次連接形成一個環路；光譜儀(60)、光功率計(30)連 接在光開關(207 )上。本技術方案由於將各種測試儀器集成起來，根據測試需要， 通過光開關切換完成對測試儀器的調度，所以能提高現有測試系 統的資源共享度，解決重複開發問題，降低測試系統開發成本， 縮短開發周期，統一測試方法，快速構建高質量的光接口板測試 系統。根據測試需要，本技術方案可以採用單級、二級或三級光 開關，靈活應對測試需求。


圖1是現有技術1將測試資源放置於測試臺的示意圖；圖2是現有技術1將測試資源放置於標準機櫃的示意圖；圖3是現有技術2將測試資源放置於測試臺的示意圖； 圖4是現有技術2將測試資源放置於標準機櫃的示意圖； 圖5是本實用新型的實施例的原理示意圖； 圖6是本實用新型光開關採用單級機構的實施例的示意圖； 圖7是本實用新型光開關採用二級機構的實施例的示意圖； 圖8是本實用新型光開關採用三級機構的實施例的示意圖.具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的具體實施例進行詳細描述附圖6是本實用新型光開關採用單級機構的實施例的示意圖， 被測板接口 (10)、第一光開關(201)、測試儀器(50)、第二光 開關(202 )、被測板接口 (10)依次連接，形成一個環路；被測 板接口 (10)通過第一光開關(201)與光功率計(30)連接；被 測板接口 (10)、第一光開關(201)、光衰減器(40)、第二光開 關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路。圖中的 第一光開關(201 )和第二光開關(202 )根據需要，可以是1 x 2、 1x8、 2x2、 1x4、 2x4、 2x8、 lxl6等型號。附圖7是本實用新型光開關採用二級機構的實施例的示意圖，
-陂測板接口 (10)、第一光開關(201)、第三光開關(203 )、測試 儀器(50)、第四光開關(204 )、光衰減器(40)、第二光開關(202 )、 被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路；被測板接口 (10)、 第一光開關(201)、第三光開關(203 )、第四光開關(204 )、光 衰減器(40)、第二光開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接， 形成一個環路；光功率計(30)、光譜儀(60)連接在第三光開關 (203 )上。第一光開關(201)、第二光開關(202 )、第三光開關(203 )、 第四光開關(204 )根據需要可以是1x2、 1x82x2、 1x4、 2 x 4、 2x8、 1x16等型號。光功率計(30)根據需要可以連接至第 一光開關(201 )上。附圖8是本實用新型光開關採用三級機構的實施例的示意 圖，被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第五光開關(205 )、 固定衰減器(701)、第三光開關(203 )、測試儀器(50)、，第四光 開關(204 )、光衰減器(40 )、第六光開關(206 )、第二光開關(202 )、 被測板接口 ( 10)依次連接形成一個環路；被測板接口 (10)、第 一光開關(201)、第五光開關(205 )、第七光開關(207 )、第四 光開關(204 )、光衰減器(40)、第六光開關(206 )、第二光開關 (202 )、被測板接口 ( 10 )依次連4矣形成一個環路；被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第五光開關(205 )、固定衰減器(701)、第三光開關(203 )、測試儀器(50)、第四光開關(204 )、光衰減 器(40)、第六光開關(206 )、第二光開關(202 )、被測板接口 (10) 依次連接；被測板接口 ( 10 )、第一光開關(2 01 )、第五光開關(2 05 )、 第七光開關(207 )、固定衰減器(702 )、第六光開關(206 )、第 二光開關(202 )、被測板接口 ( 10 )依次連接形成一個環路；光 譜儀(60)、光功率計(30)連接在第七光開關(207 )上。第一光開關(201)、第二光開關(202 )、第三光開關(203 )、 第四光開關(204 )、第五光開關(205 )、第六光開關(206 )、第 七光開關(207 )才艮據需要可以是1 x 2、 1x8、 2x2、 1x4、 2 x 4、 2x8、 1x16等型號。光功率計(30)根據需要可以連接至第 一光開關(201)或第四光開關(204 )上。第五光開關(205 )和 第六光開關(206 )根據需要可以合併。其中，所述測試儀器(50)用於檢測業務特性，其支持的業 務屬性的種類可以為ATM ( Asynchronous Transfer Mode ，異步 傳輸才莫式)，POS (Packet Over S0NET/SDH，基於SDH/SONET的才艮 封裝)，FE ( Fast Ethernet,快速乙太網)，GE ( Gigabit Ethernet, 千兆比特乙太網)，SDH ( Synchronous Digital Hierarchy,同步 數字體系、同步數字系列)，EPON ( Ethernet Passive Optical Network,乙太網無源光網絡)，GPON ( Gigabit-capable Passive Optical Network, G比特無源光網糹各)，IOGE( Gigabit Ethernet, 千兆比特乙太網)，40GE (Gigabit Ethernet,千兆比特乙太網) 之中的一種或多種；所支持的業務的速率可以為155M,或622M, 或1. 25G，或2. 5G，或10G，或40G;所支持的接口可以為FC( Fiber Connector,光纖連接器)，或SC (Square Co謹ctor，方形連接 器)，或LC( Lucent Connector, LC型連接器)，或MTRJ( Mechanical Transfer Registered Jack, MTRJ型連接器)，或DLC ( Double LC， 雙LC型連接器)，或DSC ( Double SC，雙SC型連接器)，或DFC (Double FC，雙FC型連4妻器)。在以上的實施例中，通過光開關切換，可以實現儀器資源與 被測板埠的對接，經過可調光衰的對接。通過光開關切換，可 以實現被測板埠自環、交叉環、經過可調光衰的自環、經過可 調光衰的交叉環。而且可以將各種專用測試儀器、光開關、固定 託臺、安裝在標準機拒中，減少佔用的生產場地。本技術方案由於將各種測試儀器集成起來，根據測試需要， 通過光開關切換完成對測試儀器的調度，所以能提高現有測試系 統的資源共享度，解決重複開發問題，降低測試系統開發成本， 縮短開發周期，統一測試方法，快速構建高質量的光接口板測試 系統。根據測試需要，本技術方案可以採用單級、二級或三級光 開關，靈活應對測試需求。
權利要求1. 一種測試裝置，其特徵在於，包括被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第二光開關(202 )、光功率計(30)、光衰減器 (40)、測試儀器(50)，被測板接口 (10)、第一光開關(201)、 測試儀器(50)、第二光開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接， 形成一個環路；被測板接口 (10)通過第一光開關(201)與光功 率計(30)連接；被測板接口 (10)、第一光開關(201)、光衰減 器(40)依次連接。
2. 如權利要求1所述的測試裝置，其特徵在於，被測板接口 (10)、第一光開關(201)、光衰減器(40)、第二光開關(202 )、被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路。
3. 如權利要求1所述的測試裝置，其特徵在於，所述的平臺 化裝置還包括第三光開關(203 )、第四光開關(204 )、光鐠儀(60), 被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第三光開關(203 )、測試 儀器(50)、第四光開關(204 )、光衰減器(40)、第二光開關(202 )、 被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路；被測板接口 (10)、 第一光開關(201)、第三光開關(203 )、第四光開關(204 )、光 衰減器(40)、第二光開關(202 )、被測板接口 (10)依次連接， 形成一個環路；光功率計(30)、光譜儀(60)連接在第三光開關(203 )上。
4. 如權利要求1所述的測試裝置，其特徵在於，所述的平臺 化裝置還包括第三光開關(203 )、第四光開關(204)、光語儀(60), 被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第三光開關(203 )、測試 儀器(50)、第四光開關(204)、光衰減器(40)、第二光開關(202)、 被測板接口 (IO)依次連接，形成一個環路；被測板接口 (10)、 第一光開關(201)、第三光開關(203 )、第四光開關(204)、光 衰減器(40)、第二光開關(202)、被測板接口 (IO)依次連接， 形成一個環路；光譜儀(60)連接在第三光開關(203 )上，光功 率計(30)連接至第一光開關(201)上。
5.如權利要求1所述的測試裝置，其特徵在於，所述的平臺 化裝置還包括第五光開關(205 )、第六光開關(206 )、第七光開 關(207 )、固定衰減器(701)、固定衰減器(702 )，被測板接口(10)、第一光開關(201)、第五光開關(205 )、固定衰減器(701)、 光開關(203 )、測試儀器(50)、第四光開關(204 )、,光衰減器(40)、 第六光開關(206 )、第二光開關(202 )、被測板接口 (10)依次 連接形成一個環路；被測板接口 (10)、第一光開關(201)、第五 光開關(205 )、第七光開關(207 )、第四光開關(204 )、光衰減 器(40)、第六光開關(206 )、第二光開關(202 )、被測板接口 (10) 依次連接形成一個環路；被測板接口 (10)、第一光開關(201)、 第五光開關(205 )、固定衰減器(701)、第三光開關(203 )、測 試儀器(50)、第四光開關(204 )、光衰減器(40)、第六光開關(206 )、第二光開關(202 )、被測板接口 UO)依次連接；被測 板接口 (10)、第一光開關(201)、第五光開關(205 )、第七光開關(207 )、固定衰減器(702 )、第六光開關(206 )、第二光開關 (202 )、被測板接口 ( 10 )依次連接形成一個環路；光語儀(60 )連接在第七光開關(207 )上，光功率計(30)連接至第一光開關 (201)，或第四光開關(204 ),或第七光開關(207 )上。
6. 如權利要求1或2或3或4或5所述的測試裝置，其特徵 在於，所述的光開關(201)、光開關(202 )、光開關(203 )、光 開關(204 )、光開關(205 )、光開關(206 )、光開關(207 )的型 號為lx2、 1x4、 1x8、 1x16、 2x2、 2x4、 2><8中的一種或多 種0
7. 如權利要求1或2或3或4或5所述的測試裝置，其特徵 在於，所述測試儀器(50)支持的業務屬性的種類為ATM， POS， FE, GE， SDH， EPON, GP0N， IOGE， 40GE之中的一種或多種。
8. 如權利要求1或2或3或4或5所述的測試裝置.，其特徵 在於，所述測試儀器(50)支持的業務的速率為155M,或622M, 或1.25G，或2.5G,或IOG，或40G。
9. 如權利要求1或2或3或4或5所述的測試裝置，其特徵 在於，所述測試儀器(50)支持的接口為FC，或SC,或LC，或 MTRJ,或DLC，或DSC,或DFC。
專利摘要本實用新型公開了一種測試光接口單板的裝置，該裝置將光接口單板的專用測試儀器、光開關、光功率計、光衰減器等儀器資源集中起來，根據需要通過光開關切換完成調度，可以實現儀器資源與被測板埠的對接、經過可調光衰的對接，被測板埠自環、交叉環、經過可調光衰的自環、經過可調光衰的交叉環等測試狀態。本實用新型能提高測試資源的共享度，降低測試過程中的手工幹預，降低測試成本。
文檔編號H04B10/08GK201039183SQ20062001675
公開日2008年3月19日 申請日期2006年12月25日 優先權日2006年12月25日
發明者王愛偉 申請人:華為技術有限公司