一種防串擾射頻測試裝置製造方法

2023-10-27 15:38:22 2

一種防串擾射頻測試裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種防串擾射頻測試裝置，該射頻裝置包括一個金屬材質的殼體，殼體內部的中間位置上設置有風扇和射頻開關，殼體鄰近射頻開關的位置設置有射頻連接頭，射頻連接頭與射頻開關相連，射頻開關位於風扇的下方，在風扇和射頻開關的一側設置有電源，電源與安裝於殼體上的電源接口相連，在風扇和射頻開關的另一側設置控制電路板，殼體鄰近所述控制電路板的一端設置有散熱孔，其特徵在於，所述射頻裝置內還設置有一個屏蔽裝置，所述屏蔽裝置由水平屏蔽板和垂直屏蔽板構成，並在屏蔽裝置的隔板內設置金屬網格，能夠防止多個射頻頭之間相互串擾，有利於提高射頻測試裝置的測試準確率。
【專利說明】一種防串擾射頻測試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種射頻測試裝置，尤其涉及一種防串擾射頻測試裝置。
【背景技術】
[0002]射頻測試裝置中往往具有多個射頻接頭，這些射頻接頭之間會形成串擾，不利於人們對射頻測試裝置進行控制操作，也不利於提升測量儀器的準確率。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的在於提供一種防串擾射頻測試裝置，解決現有技術存在的缺憾。
[0004]本實用新型採用如下技術方案實現:
[0005]一種防串擾射頻測試裝置，該射頻裝置包括一個金屬材質的殼體，所述殼體內部的中間位置上設置有風扇和射頻開關，所述殼體鄰近射頻開關的位置設置有射頻連接頭，所述射頻連接頭與射頻開關相連，所述射頻開關位於風扇的下方，在風扇和射頻開關的一側設置有電源，所述電源與安裝於殼體上的電源接口相連，在風扇和射頻開關的另一側設置控制電路板，所述殼體鄰近所述控制電路板的一端設置有散熱孔，其特徵在於，所述射頻裝置內還設置有一個屏蔽裝置，所述屏蔽裝置由水平屏蔽板和垂直屏蔽板構成，屏蔽裝置底端與所述殼體的底面內側相連，另一端與所述殼體的頂面內側相連，其中水平屏蔽板位於兩個垂直屏蔽板之間，水平、垂直屏蔽板之間形成屏蔽空間，風扇和射頻開關分別置於所述屏蔽空間內。
[0006]進一步的，所述屏蔽裝置由中空的隔板構成，所述隔板內設置有金屬網格。
[0007]本實用新型具備的有益技術效果是:在射頻測試裝置的殼體內設置屏蔽裝置，並在屏蔽裝置的隔板內設置金屬網格，能夠防止多個射頻頭之間相互串擾，有利於提高射頻測試裝置的測試準確率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本實用新型防串擾射頻測試裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0009]通過下面對實施例的描述，將更加有助於公眾理解本實用新型，但不能也不應當將 申請人:所給出的具體的實施例視為對本實用新型技術方案的限制，任何對部件或技術特徵的定義進行改變和/或對整體結構作形式的而非實質的變換都應視為本實用新型的技術方案所限定的保護範圍。
[0010]如圖1所示的防串擾射頻測試裝置，該射頻裝置包括一個金屬材質的殼體1，殼體I內部的中間位置上設置有風扇3和射頻開關4，殼體I鄰近射頻開關4的位置設置有射頻連接頭5，射頻連接頭5與射頻開關4相連，射頻開關4位於風扇3的下方，在風扇3和射頻開關4的一側設置有電源2，電源2與安裝於殼體上的電源接口 8相連，在風扇3和射頻開關4的另一側設置控制電路板6，殼體I鄰近控制電路板6的一端設置有散熱孔7。散熱孔7配合風扇3實現本射頻測試裝置內部的持續風冷效果，提高射頻裝置的整體可靠性。控制電路板6的作用是接收來自計算機的控制信號並進行解析轉換，獲取控制指令的邏輯控制單元，並向計算機發送反饋信號，以便測試者能夠查看到射頻開關和射頻連接頭的實際工作情況，再根據不同的工作狀態予以處理。作為改進，可採用光電隔離的方式對控制電路板6進行輸入和輸出，以便有效地提高該射頻開關控制器的抗幹擾能力和穩定性。本實用新型的改進之處在於，在現有的射頻裝置內設置有一個屏蔽裝置9，作為優選的技術方案，屏蔽裝置9由水平屏蔽板和垂直屏蔽板構成，屏蔽裝置底端與殼體的底面內側相連，另一端與殼體的頂面內側相連，其中水平屏蔽板位於兩個垂直屏蔽板之間，水平、垂直屏蔽板之間形成屏蔽空間，風扇和射頻開關分別置於屏蔽空間內。在射頻測試裝置的殼體內設置屏蔽裝置9，並在屏蔽裝置的隔板內設置金屬網格，能夠防止多個射頻頭之間相互串擾，有利於提高射頻測試裝置的測試準確率。在實際應用中，射頻測試裝置的整體應為密封狀態，同時保證屏蔽裝置9在射頻測試裝置內的可靠連接，最好將屏蔽裝置9的上部和下部均焊接在射頻測試裝置的頂面內側和底面內側，同時提高金屬網格的目數，以確保可靠的電磁屏蔽效果。
[0011]當然，本實用新型還可以有其他多種實施例，在不背離本實用新型精神及其實質的情況下，熟悉本領域的技術人員可以根據本實用新型做出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬於本實用新型所附的權利要求的保護範圍。
【權利要求】
1.一種防串擾射頻測試裝置，該射頻裝置包括一個金屬材質的殼體，所述殼體內部的中間位置上設置有風扇和射頻開關，所述殼體鄰近射頻開關的位置設置有射頻連接頭，所述射頻連接頭與射頻開關相連，所述射頻開關位於風扇的下方，在風扇和射頻開關的一側設置有電源，所述電源與安裝於殼體上的電源接口相連，在風扇和射頻開關的另一側設置控制電路板，所述殼體鄰近所述控制電路板的一端設置有散熱孔，其特徵在於，所述射頻裝置內還設置有一個屏蔽裝置，所述屏蔽裝置由水平屏蔽板和垂直屏蔽板構成，屏蔽裝置底端與所述殼體的底面內側相連，另一端與所述殼體的頂面內側相連，其中水平屏蔽板位於兩個垂直屏蔽板之間，水平、垂直屏蔽板之間形成屏蔽空間，風扇和射頻開關分別置於所述屏蔽空間內。
2.根據權利要求1所述的防串擾射頻測試裝置，其特徵在於，所述屏蔽裝置由中空的隔板構成，所述隔板內設置有金屬網格。
【文檔編號】G01R1/18GK203616358SQ201320647233
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年10月21日 優先權日:2013年10月21日
【發明者】楊良春, 史宏亮 申請人:北京信諾達泰思特科技股份有限公司