一種滴膠鍵測量的製造方法
2023-10-09 01:18:09
一種滴膠鍵測量的製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種滴膠鍵測量機，包括X軸移動機構、Y軸移動機構、機械手、CCD測量機構和兩個料盤，所述X軸移動機構設置於Y軸移動機構的上方，所述料盤可裝拆地設置於所述Y軸移動機構，所述機械手和CCD測量機構設置於所述X軸移動機構；所述CCD測量機構包括CCD鏡頭和CCD光源，所述CCD光源照射於所述料盤上，所述CCD鏡頭再對該料盤上的工件進行拍照測量；將已經裝滿工件的兩個料盤放置到所述Y軸移動機構上，所述兩料盤輪流由所述CCD測量機構進行測量，其中之一測量完畢的料盤由所述機械手將不合格的工件檢出。本發明全自動地實現了對多個工件的進行測量，並且節省工具成本和人員成本，大大地提升了生產效率和保障了產品檢測的質量。
【專利說明】一種滴膠鍵測量機
【技術領域】
[0001]本發明涉及自動化設備【技術領域】，特別是一種滴膠鍵測量機。
【背景技術】
[0002]目前在手機製造行業，存在大量小型金屬件的尺寸測量。傳統的測量方法是:是用特製的「基子」或卡尺一個一個地對金屬件進行測量，當一個工件需要對多個尺寸進行測量時，需要備用多個特製的「基子」。為了完成測量任務，一個工件往往依據不同尺寸，利用不同「基子」分步驟地進行測量。這樣一來，不僅需要佔用大量的工人，而且需要花費大量時間，很顯然，當工人從早到晚地重複同一個動作，極易產生疲勞，從而難以保障測量質量。也就是說，傳統的方法進行測量不僅費時費力，還難以保證測量質量。
【發明內容】
[0003]本發明要解決的技術問題是針對上述現有技術的不足，提供一種滴膠鍵測量機，全自動地實現了對多個工件的進行測量，並且節省工具成本和人員成本，大大地提升了生產效率和保障了產品檢測的質量。
[0004]為解決上述技術問題，本發明所採取的技術方案是:一種滴膠鍵測量機，包括X軸移動機構、V軸移動機構、機械手、000測量機構和兩個料盤，所述X軸移動機構設置於X軸移動機構的上方，所述料盤可裝拆地設置於所述X軸移動機構，所述機械手和冗0測量機構設置於所述X軸移動機構；所述測量機構包括鏡頭和光源，所述光源照射於所述料盤上，所述鏡頭再對該料盤上的工件進行拍照測量；將已經裝滿工件的兩個料盤放置到所述X軸移動機構上，所述兩料盤輪流由所述冗0測量機構進行測量，其中之一測量完畢的料盤由所述機械手將不合格的工件檢出。
[0005]上述技術方案中，所述料盤的頂部設置有多個模腔，工件放置於所述模腔中，所述料盤的底部設置有安裝於所述V軸移動機構的定位裝置。
[0006]上述技術方案中，所述機械手包括升降缸和氣爪，所述升降缸設置於X軸移動機構，所述氣爪設置於升降缸的輸出端。
[0007]上述技術方案中，所述X軸移動機構和V軸移動機構都由伺服電機驅動，伺服電機驅動絲杆旋轉帶動絲杆螺母座進行傳動。
[0008]上述技術方案中，所述X軸移動機構包括第一 X軸和第二 X軸，所述機械手設置於所述第一 X軸上，所述測量機構設置於所述第二 X軸上。
[0009]上述技術方案中，所述X軸移動機構包括第一 X軸和第二 X軸，所述第一 X軸安裝有單個所述料盤，所述第二 X軸安裝有單個所述料盤。
[0010]上述技術方案中，第一 X軸與第二 V軸之間放置有不良品存儲盒。
[0011]上述技術方案中，所述冗0鏡頭和冗0光源安裝於升降缸，該升降缸安裝於所述X軸移動機構。
[0012]上述技術方案中，所述冗0光源包括罩子和光源，所述罩子固定於所述升降缸的輸出端，所述光源設置於罩子的內表側，連接該光源的電線從罩子的一側穿出，所述罩子的頂部和底部開口，所述冗0鏡頭通過該兩開口對位於底部開口下方的料盤進行拍照。
[0013]上述技術方案中，所述X軸移動機構設置有拖鏈。
[0014]本發明的有益效果是:
1、利用冗0視覺技術，可以實現在一次拍照中，完成對單個工件中的多個不同尺寸的進行測量，大大節省了測量的時間和難度，使測量成果高效、穩定和可靠。
[0015]2、通過X軸移動機構和X軸移動機構對機械手、料盤和測量機構的控制，能夠實現將兩組料盤連續輪流進行測量，並且交替進行測量之間將已經測量完畢的不良品分揀出，節省了測量的時間和提高了測量的效率。自動化的測量過程節省了人員成本和工具成本。
[0016]3、使用單個機械手來為兩個料盤交替進行分揀，使用單個(:0)測量機構來為兩個料盤交替進行測量，能夠有效節省成本的同時也能夠提高效率。
[0017]4、使用伺服電機進行定位，保證每次對不同工件進行測量時的位置能夠準確定位並且一致，提高測量數據的精確性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0018]圖1是本發明的整體結構示意圖；
圖2是本發明料盤拆卸後與絲杆螺母座的結構示意圖。
[0019]圖中，1、第一 X軸；2、第二 X軸；3、第一 V軸；4、第二 V軸；5、機械手鏡頭；7、(1?光源；8、料盤；9、拖鏈；10、不良品存儲盒；11、絲杆螺母座；51、升降缸；52、氣爪；81、模腔；82、定位孔；83、定位柱。
【具體實施方式】
[0020]下面結合附圖對本發明作進一步詳細的說明。
[0021]如圖1、2所示，一種滴膠鍵測量機，包括X軸移動機構、V軸移動機構、機械手5、000測量機構和兩個料盤8，所述X軸移動機構設置於X軸移動機構的上方，所述料盤8可裝拆地設置於所述X軸移動機構，所述機械手5和冗0測量機構設置於所述X軸移動機構；將已經裝滿工件的兩個料盤8放置到所述X軸移動機構上，所述兩料盤8輪流由所述(:0)測量機構進行測量，其中之一測量完畢的料盤8由所述機械手5將不合格的工件檢出。
[0022]其中，所述料盤8的頂部設置有多個模腔81，工件放置於所述模腔81中，所述料盤8的底部設置有安裝於所述V軸移動機構的定位裝置。一共54個模腔81，每個模腔81可容置一個工件。該定位裝置包括設置於料盤8底部的定位孔82以及設置於X軸移動機構中絲杆螺母座11上的定位柱83，該定位孔82和定位柱83配對並將料盤8可裝拆地定位於X軸移動機構上。該料盤8呈一板狀，料盤8頂面平行並間隔設置有9根凸條，模腔81設置於凸條的頂部，每根凸條上設置有6個模腔81，在凸條與凸條之間的凹槽中設置有上述的定位孔82。
[0023]其中,所述機械手5包括升降缸51和氣爪52，所述升降缸51設置於X軸移動機構中的第一 X軸1上，所述氣爪52設置於升降缸51的輸出端。由於滴膠鍵的形狀非平板型，使用吸盤的穩定性不好，故選用氣爪52來將滴膠鍵進行抓取，穩定性會比較好。
[0024]其中，所述X軸移動機構和X軸移動機構都由伺服電機驅動，伺服電機驅動絲杆旋轉帶動絲杆螺母座11進行傳動。其中，所述X軸移動機構包括第一 X軸1和第二 X軸2，所述機械手5設置於所述第一 X軸1上，所述測量機構設置於所述第二 X軸2上。其中，所述X軸移動機構設置有拖鏈9，能夠對內置的電纜、氣管等起到牽引和保護作用。
[0025]其中，所述V軸移動機構包括第一 X軸3和第二 X軸4，所述第一 X軸3安裝有單個所述料盤8，所述第二 V軸4安裝有單個所述料盤8。其中，第一 V軸3與第二 V軸4之間放置有不良品存儲盒10，該不良品存儲盒10放置於該位置可以縮短機械手5來回移動的行程，減少耗損和節能。
[0026]其中，所述冗0測量機構包括冗0鏡頭6和冗0光源7，所述冗0光源7照射於所述料盤8上，所述鏡頭6再對該料盤8上的工件進行拍照測量；所述鏡頭6和光源7安裝於升降缸51，該升降缸51安裝於所述X軸移動機構。其中，所述光源7包括罩子和光源，所述罩子固定於所述升降缸51的輸出端，所述光源設置於罩子的內表側，連接該光源的電線從罩子的一側穿出，所述罩子的頂部和底部開口，所述冗0鏡頭6通過該兩開口對位於底部開口下方的料盤8進行拍照。
[0027]本發明的工作原理:分別設置在第一 V軸3和第二 V軸4上的兩個料盤，為了描述方便，分別名為左料盤和右料盤。對左料盤進行檢測為左檢測，對右料盤進行右檢測為右檢測。
[0028]1、左檢測開始:檢測冗0測量機構是否空閒，如果空閒則開始左檢測，否則要等待右料盤檢測結束。第一 V軸3將左料盤送至第二 X軸2下方的測量點，第二 X軸2將冗0測量機構移至該測量點的上方，並按照固定的順序逐一對每個工件進行拍照測量並將測量數據進行對比判斷最後得出結果。左料盤上的工件完成測量後，第一 V軸3將左料盤送至第一 X軸1下方的分揀點，第一 X軸1將機械手5移至該分揀點的上方。檢測機械手5是否空閒，如空閒則對左料盤進行分揀，機械手5由升降缸51控制下降將不良品抓起並移送至不良品存儲盒10的上方，將不良品放直到不良品存儲盒10中。如果機械手5不空閒則被認定為對右料盤的工件進行分棟，左料盤一直等待，直到右料盤中的不良品被分棟完成後，機械手5才對左料盤進行分揀。
[0029]2、右檢測開始:檢測冗0測量機構是否空閒，如果空閒則開始右檢測，否則要等待左料盤檢測結束。第二 V軸4將右料盤送至第二 X軸2下方的測量點，第二 X軸2將冗0測量機構移至該測量點的上方，並按照固定的順序逐一對每個工件進行拍照測量並將測量數據進行對比判斷最後得出結果。右料盤上的工件完成測量後，第二 V軸4將右料盤送至第一 X軸1下方的分揀點，第一 X軸1將機械手5移至該分揀點的上方。檢測機械手5是否空閒，如空閒則對右料盤進行分揀，機械手5由升降缸51控制下降將不良品抓起並移送至不良品存儲盒10的上方，將不良品放直到不良品存儲盒10中。如果機械手5不空閒則被認定為對左料盤的工件進行分棟，右料盤一直等待，直到左料盤中的不良品被分棟完成後，機械手5才對右料盤進行分揀。
[0030]以上的實施例只是在於說明而不是限制本發明，故凡依本發明專利申請範圍所述的方法所做的等效變化或修飾，均包括於本發明專利申請範圍內。
【權利要求】
1.一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:包括X軸移動機構、Y軸移動機構、機械手、CCD測量機構和兩個料盤，所述X軸移動機構設置於Y軸移動機構的上方，所述料盤可裝拆地設置於所述Y軸移動機構，所述機械手和CCD測量機構設置於所述X軸移動機構；所述CCD測量機構包括CXD鏡頭和CXD光源，所述CXD光源照射於所述料盤上，所述CXD鏡頭再對該料盤上的工件進行拍照測量；將已經裝滿工件的兩個料盤放置到所述Y軸移動機構上，所述兩料盤輪流由所述CCD測量機構進行測量，其中之一測量完畢的料盤由所述機械手將不合格的工件檢出。
2.根據權利要求1所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述料盤的頂部設置有多個模腔，工件放置於所述模腔中，所述料盤的底部設置有安裝於所述Y軸移動機構的定位>j-U ρ?α裝直。
3.根據權利要求1所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述機械手包括升降缸和氣爪，所述升降缸設置於X軸移動機構，所述氣爪設置於升降缸的輸出端。
4.根據權利要求1所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述X軸移動機構和Y軸移動機構都由伺服電機驅動，伺服電機驅動絲杆旋轉帶動絲杆螺母座進行傳動。
5.根據權利要求4所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述X軸移動機構包括第一 X軸和第二 X軸，所述機械手設置於所述第一 X軸上，所述CXD測量機構設置於所述第二X軸上。
6.根據權利要求4所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述Y軸移動機構包括第一Y軸和第二 Y軸，所述第一 Y軸安裝有單個所述料盤，所述第二 Y軸安裝有單個所述料盤。
7.根據權利要求6所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:第一Y軸與第二 Y軸之間放置有不良品存儲盒。
8.根據權利要求1所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述CCD鏡頭和CCD光源安裝於升降缸，該升降缸安裝於所述X軸移動機構。
9.根據權利要求8所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述CCD光源包括罩子和光源，所述罩子固定於所述升降缸的輸出端，所述光源設置於罩子的內表側，連接該光源的電線從罩子的一側穿出，所述罩子的頂部和底部開口，所述CCD鏡頭通過該兩開口對位於底部開口下方的料盤進行拍照。
10.根據權利要求1所述的一種滴膠鍵測量機，其特徵在於:所述X軸移動機構設置有拖鏈。
【文檔編號】B07C5/10GK104359399SQ201410585096
【公開日】2015年2月18日 申請日期:2014年10月28日 優先權日:2014年10月28日
【發明者】鍾剪 申請人:米亞精密金屬科技（東莞）有限公司