一種避免損傷pcb板的複合測試治具的製作方法

2023-09-10 00:31:40 1

專利名稱:一種避免損傷pcb板的複合測試治具的製作方法
【專利摘要】本實用新型涉及PCB測試治具技術領域，尤其涉及一種避免損傷PCB板的複合測試治具，包括探針和針盤，針盤包括測試面板和至少兩個間隔設置的導針板，測試面板設置於導針板的上方，探針滑動穿設於測試面板和導針板，還包括伸縮式支撐針，伸縮式支撐針包括針杆、彈簧和套管，針杆滑動設置於套管內，針杆的一端通過彈簧與套管連接；針杆的另一端設置有用於支撐外部PCB板的頂端錐面；伸縮式支撐針布置於探針的一側，套管設置於導針板，針杆的頂端滑動貫穿於測試面板且頂端錐面在豎直方向高於探針，頂端錐面將PCB板撐起同時限制定位孔徑向的位置，避免PCB板在外力的作用下壓向探針時發生側移，避免探針損傷PCB板。
【專利說明】
一種避免損傷PCB板的複合測試治具
技術領域
[0001]本實用新型涉及PCB測試治具技術領域，尤其涉及一種避免損傷PCB板的複合測試治具。
【背景技術】
[0002]PCB板(線路板)測試治具的主要功能為檢測並篩選出在生產過程中造成的開路、短路或漏電等電性能上有瑕疵的PCB板，PCB板測試治具定位針用於將被測PCB板定位於測試治具的機臺上。PCB板測試治具包括底座、針板、底板、若干探針組件及導線，針板由多層板組合而成，在各層板之間設有間隔，底板由多層板疊置而成，在針盤和底板上均設有若干穿孔，探針組件置於針板和底板的穿孔內，其探針的頭部露出於針板的表面，針板和底板固定成為整體的針盤。PCB板(線路板)測試治具在測試時需要將PCB板壓於探針，使實現探針與待測點更好的接觸，在現有的測試治具中，下壓PCB板時，易出現PCB板側向滑動，從而對PCB板造成損傷，造成PCB板廢品率高。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型的目的在於針對現有技術的不足提供一種避免損傷PCB板的複合測試治具，避免損傷PCB板。
[0004]為實現上述目的，本實用新型的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，包括探針和針盤，針盤包括測試面板和至少兩個間隔設置的導針板，測試面板設置於導針板的上方，探針滑動穿設於測試面板和導針板，還包括伸縮式支撐針，伸縮式支撐針包括針杆、彈簧和套管，針杆滑動設置於套管內，針杆的一端通過彈簧與套管連接;針杆的另一端設置有用於支撐外部PCB板的頂端錐面;伸縮式支撐針布置於探針的一側，套管設置於導針板，針杆的頂端滑動貫穿於測試面板且頂端錐面在豎直方向高於探針。
[0005]優選的，所述伸縮式支撐針還包括卡環，針杆包括針頭和桿身，頂端錐面設置於針頭的頂端，桿身的末端設置有環形槽，桿身的直徑小於針頭的直徑，套管包括第一端孔和第二端孔，第一端孔的孔徑大於針頭的直徑，第二端孔的孔徑大於桿身的直徑，第二端孔的孔徑小於第一端孔的孔徑，第二端孔的內側設置有止位臺階，彈簧套設於針杆的桿身，桿身依序穿過套管的第一端孔、第二端孔，彈簧的第一端與針頭抵接，彈簧的第二端與止位臺階抵接，卡環與桿身的環形槽卡接。
[0006]優選的，所述環形槽有三個，三個環形槽均布於桿身的末端。
[0007]優選的，所述套管的第一端孔的外側設置有環形託，環形託抵接於測試面板的一側。
[0008]優選的，所述探針包括導電針體和絕緣粒體，絕緣粒體固定於導電針體的中段且設置在導針板的下側面，導電針體的直徑為0.11?0.14mm。
[0009]優選的，所述絕緣粒體呈圓柱狀。
[0010]優選的，所述絕緣粒體為塑料材質的絕緣粒體。
[0011]本實用新型的有益效果:本實用新型的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，PCB板先放置於測試面板的上方，探針抵接於PCB板的待測點，頂端錐面將PCB板撐起同時限制定位孔徑向的位置，避免PCB板在外力的作用下壓向探針時發生側移，避免探針損傷PCB板；針杆能相對於套管上下滑動，彈簧使針杆復位，從而使得針杆與PCB板實現柔性連接。
【附圖說明】

[0012]圖1為本實用新型的結構示意圖。
[0013]圖2為本實用新型的伸縮式支撐針結構的示意圖。
[0014]圖3為本實用新型的套管結構的示意圖。
[0015]圖4為本實用新型的針杆結構的示意圖。
[0016]圖5為本實用新型的探針結構的示意圖。
[0017]附圖標記包括:
[0018]I一探針11一導電針體12—絕緣粒體
[0019]2—針盤21—測試面板22—導針板
[0020]3—伸縮式支撐針
[0021]31—針杆311—頂端錐面
[0022]312—針頭313—桿身314—環形槽
[0023]32—彈簧
[0024]33—套管331—第一端孔 332—第二端孔
[0025]333—止位臺階
[0026]334—環形託
[0027]34—卡環。
【具體實施方式】
[0028]以下結合附圖對本實用新型進行詳細的描述。
[0029]如圖1?5所示，本實用新型的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，包括探針I和針盤2，針盤2包括測試面板21和至少兩個間隔設置的導針板22，測試面板21設置於導針板22的上方，探針I滑動穿設於測試面板21和導針板22，還包括伸縮式支撐針3，伸縮式支撐針3包括針杆31、彈簧32和套管33，針杆31滑動設置於套管33內，針杆31的一端通過彈簧32與套管33連接;針杆31的另一端設置有用於支撐外部PCB板的頂端錐面311;伸縮式支撐針3布置於探針I的一側，套管33設置於導針板22，針杆31的頂端滑動貫穿於測試面板21且頂端錐面311在豎直方向高於探針I WCB板設置有頂端錐面311配合的定位孔，測試時，PCB板先放置於測試面板21的上方，探針I抵接於PCB板的待測點，頂端錐面311將PCB板撐起同時限制定位孔徑向的位置，避免PCB板在外力的作用下壓向探針I時發生側移，避免探針I損傷PCB板。針杆31能相對於套管33上下滑動，彈簧32使針杆31復位，從而使得針杆31與PCB板實現柔性連接。
[0030]優選的，所述伸縮式支撐針3還包括卡環34，針杆31包括針頭312和桿身313，頂端錐面311設置於針頭312的頂端，桿身313的末端設置有環形槽314，桿身313的直徑小於針頭312的直徑，套管33包括第一端孔331和第二端孔332，第一端孔331的孔徑大於針頭312的直徑，第二端孔332的孔徑大於桿身313的直徑，第二端孔332的孔徑小於第一端孔331的孔徑，第二端孔332的內側設置有止位臺階333，彈簧32套設於針杆31的桿身313，桿身313依序穿過套管33的第一端孔331、第二端孔332，彈簧32的第一端與針頭312抵接，彈簧32的第二端與止位臺階333抵接，卡環34與桿身313的環形槽314卡接。
[0031]本實用新型的測試治具工作時，PCB板與針杆31的針頭312接觸，當因意外施加於PCB板或者定位針的壓力過大時，PCB板擠壓針杆31的針頭312，針杆31的針頭312擠壓套設於桿身313的彈簧32朝向第二端孔332的內側設置的止位臺階333方向壓縮，定位針與PCB板實現柔性連接;其中，當定位針閒置時，由於卡環34與桿身313末端開設的環形槽314卡接，即確保套管33的第二端孔332被卡環34頂住防止套管33往下脫落;而套管33的第二端孔332的孔徑小於針頭312的直徑，即確保套管33的第二端孔332被針頭312頂住防止套管33往上脫落，從而避免了套管33脫出與針杆31的套接。進一步優選的，所述環形槽314有三個，三個環形槽314均布於桿身313的末端。
[0032]優選的，所述套管33的第一端孔331的外側設置有環形託334，環形託334抵接於測試面板21的一側。具體的，當PCB板完全下壓並將針頭312擠壓完全進而套管33內時，套管33的環形託334則支撐住PCB板，避免PCB板進一步下壓，避免損壞治具，保證PCB板測試的安全。
[0033]優選的，所述探針I包括導電針體11和絕緣粒體12，絕緣粒體12固定於導電針體11的中段且設置在導針板22的下側面，導電針體11的直徑為0.11?0.14_。本實用新型的探針I的一端與彈簧32連線的彈簧32體連接，該探針I的另一端穿過導針板22後與PCB待測點電連接，絕緣粒體122無法穿過導針板22，避免該探針I被拉動，避免將探針I從測試面板21拔出造成該探針I與彈簧32連線的彈簧32脫離，提高了 PCB測試治具的可靠性。進一步優選的，所述絕緣粒體12呈圓柱狀。
[0034]優選的，所述絕緣粒體12為塑料材質的絕緣粒體。塑料材質的絕緣粒體，可通過注塑形成，可先將導電針體11固定於注塑模腔，然後將熔融的塑料注入模腔，冷卻後開模即可形成本實用新型的探針I，另外塑料材質的絕緣粒體絕緣效果好。
[0035]綜上所述可知本實用新型乃具有以上所述的優良特性，得以令其在使用上，增進以往技術中所未有的效能而具有實用性，成為一極具實用價值的產品。
[0036]以上內容僅為本實用新型的較佳實施例，對於本領域的普通技術人員，依據本實用新型的思想，在【具體實施方式】及應用範圍上均會有改變之處，本說明書內容不應理解為對本實用新型的限制。
【主權項】
1.一種避免損傷PCB板的複合測試治具，包括探針(I)和針盤(2)，針盤(2)包括測試面板(21)和至少兩個間隔設置的導針板(22)，測試面板(21)設置於導針板(22)的上方，探針(I)滑動穿設於測試面板(21)和導針板(22)，其特徵在於:還包括伸縮式支撐針(3)，伸縮式支撐針(3)包括針杆(31)、彈簧(32)和套管(33)，針杆(31)滑動設置於套管(33)內，針杆(31)的一端通過彈簧(32)與套管(33)連接;針杆(31)的另一端設置有用於支撐外部PCB板的頂端錐面(311);伸縮式支撐針(3)布置於探針(I)的一側，套管(33)設置於導針板(22)，針杆(31)的頂端滑動貫穿於測試面板(21)且頂端錐面(311)在豎直方向高於探針(I)。2.根據權利要求1所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述伸縮式支撐針(3)還包括卡環(34)，針杆(31)包括針頭(312)和桿身(313)，頂端錐面(311)設置於針頭(312)的頂端，桿身(313)的末端設置有環形槽(314)，桿身(313)的直徑小於針頭(312)的直徑，套管(33)包括第一端孔(331)和第二端孔(332)，第一端孔(331)的孔徑大於針頭(312)的直徑，第二端孔(332)的孔徑大於桿身(313)的直徑，第二端孔(332)的孔徑小於第一端孔(331)的孔徑，第二端孔(332)的內側設置有止位臺階(333)，彈簧(32)套設於針杆(31)的桿身(313)，桿身(313)依序穿過套管(33)的第一端孔(331)、第二端孔(332)，彈簧(32)的第一端與針頭(312)抵接，彈簧(32)的第二端與止位臺階(333)抵接，卡環(34)與桿身(313)的環形槽(314)卡接。3.根據權利要求2所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述環形槽(314)有三個，三個環形槽(314)均布於桿身(313)的末端。4.根據權利要求2所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述套管(33)的第一端孔(331)的外側設置有環形託(334)，環形託(334)抵接於測試面板(21)的一側。5.根據權利要求1所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述探針(I)包括導電針體(11)和絕緣粒體(12)，絕緣粒體(12)固定於導電針體(11)的中段且設置在導針板(22)的下側面，導電針體(11)的直徑為0.11?0.14mm。6.根據權利要求5所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述絕緣粒體(12)呈圓柱狀。7.根據權利要求5所述的一種避免損傷PCB板的複合測試治具，其特徵在於:所述絕緣粒體(12 )為塑料材質的絕緣粒體。
【文檔編號】G01R1/067GK205720552SQ201620266778
【公開日】2016年11月23日
【申請日】2016年3月31日
【發明人】蘇寶軍
【申請人】東莞市連威電子有限公司