一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置與流程
2023-09-14 19:02:50
本發明涉及光電位移精密測量技術領域，特別是涉及一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置。
背景技術：
光電編碼器，是一種通過光電轉換將輸出軸上的機械幾何位移量轉換成脈衝或數字量的、集光、機、電於一體的數字角度位置傳感器。光電編碼器是由光柵碼盤和光電檢測裝置組成。它的測量範圍較廣，被廣泛應用於光電經緯儀，雷達，航空航天，機器人，數控工具機，指揮儀和高精度閉環調速系統等諸多領域。在航天、軍事、工業這些對器件的體積和重量有著嚴格要求的領域，對光電編碼器的要求不僅是要減小其外徑尺寸和重量，更要提高光電編碼器的分辨力和精度。因此，在縮小碼盤的同時，提高光電編碼器的分辨力和測角精度是目前研究的熱門。
隨著數字成像技術的發展，採用圖像探測器實現角位移測量具有更高的優勢。圖像式角位移測量技術是採用圖像處理的方法對光柵碼盤的刻線圖案進行識別進而實現高精度、高分辨力角位移測量的方法。在採用圖像識別技術對光柵碼盤的編碼進行解碼的同時，研究一種角位移細分算法能夠在原有光柵碼盤刻線數量的基礎上，實現更高的測角分辨力。
圖像的噪聲、成像透鏡的離焦等因素都會極大的影響細分算法，雖然數字圖像濾波可以濾除噪聲，但是也會使圖像信息丟失角度測量信息。傳統的圖像式角位移測量技術採用「質心算法」完成角位移細分算法，其算法受圖像噪聲、離焦因素的影響較大，並且計算時「窗口」大小的選擇也會影響「質心算法」細分的結果。因此，研究一種抗幹擾性強，離焦影響小，並具有較強適應性的角度細分算法是提高圖像式角位移測量技術的關鍵。
技術實現要素：
有鑑於此，本發明實施例提供了一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置，具有抗幹擾性強，離焦影響小並具有較強適應性，提高圖像式角位移測量技術的有益效果。
本發明的第一方面提供了一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法，所述方法包括：
獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；
對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果；
利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；
利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果。
可選地，所述採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述二次線性函數表達式如下：
f(x)＝ax2+bx+c
其中，a,b,c分別為各項係數，x為基準刻線圖像的像素點位置值；或者
還可以採用高斯函數對對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述高斯函數表達式為：
其中，a為函數幅值，x0為函數中心點，σ為函數擴展範圍。
可選地，所述採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果之後，所述方法還包括：
計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，所述m具體為：
可選地，所述計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，包括：
分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣；
對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值。
可選地，所述分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣，包括：
所述三元三次方程組的係數矩陣如下：
可選地，所述對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值，包括：
經過變換可以得到方程組：
a(a1-a3c1)+b(b1-b3c1)＝d1-d3c1
a(a2-a3c2)+b(b2-b3c2)＝d2-d3c2
c＝d3-aa3-bb3，
其中，a1～a3,b1～b3,c1～c3分別是所述方程組中a,b,c的係數，通過對所述方程組求解得到唯一的一組解{a,b,c}，所述唯一的一組解{a,b,c}為a,b,c的值。
可選地，所述採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
可選地，所述利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數，包括：求取所述最小二乘法擬合函數f(x)的極大值所在位置。令f(x)的導數f(x)'＝0，並求此時x的值，即為基準刻線的中心點z的值。
可選地，利用角位移預設關係計算所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述角位移預設關係為：
其中，利用第一基準刻線的中心點和圖像探測識別線相交的第一交點z1，第二基準刻線的中心點與圖像探測識別線相交的第二交點z2，所述圖像探測識別線與圖像中心線相交的第三交點z0，2n為所述光柵碼盤上基準刻線的數量。
本發明的第二方面提供一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分裝置，所述裝置包括：
獲取單元，用於獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；
擬合單元，用於對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果；
計算單元，用於利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；
處理單元，用於利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述擬合單元具體用於：
採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果。
可選地，所述擬合單元具體用於：
採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述二次線性函數表達式如下：
f(x)＝ax2+bx+c
其中，a,b,c分別為各項係數，x為基準刻線圖像的像素點位置值。
可選地，所述計算單元還用於：
計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，所述m具體為：
可選地，所述擬合單元還用於：
分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣；
對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值。
可選地，所述擬合單元還用於：
所述三元三次方程組的係數矩陣如下：
可選地，所述擬合單元用於：
經過變換可以得到方程組：
a(a1-a3c1)+b(b1-b3c1)＝d1-d3c1
a(a2-a3c2)+b(b2-b3c2)＝d2-d3c2
c＝d3-aa3-bb3，
其中，a1～a3,b1～b3,c1～c3分別是所述方程組中a,b,c的係數，通過對所述方程組求解得到唯一的一組解{a,b,c}，所述唯一的一組解{a,b,c}為a,b,c的值。
可選的，所述計算單元用於：
計算所述基準刻線中心點計算結果，包括：求取所述最小二乘法擬合函數f(x)的極大值所在位置。令f(x)的導數f(x)'＝0，並求此時x的值，即為基準刻線的中心點z的值。
可選地，所述擬合單元也可以用於：
採用高斯函數對對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述高斯函數表達式為：
其中，a為函數幅值，x0為函數中心點，σ為函數擴展範圍。
可選地，所述處理單元可以用於：
利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述角位移預設關係為：
其中，利用第一基準刻線的中心點和圖像探測識別線相交的第一交點z1，第二基準刻線的中心點與圖像探測識別線相交的第二交點z2，所述圖像探測識別線與圖像中心線相交的第三交點z0，2n為所述光柵碼盤上基準刻線的數量。
從以上技術方案可以看出，本發明實施例具有以下優點：
本發明提供的基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置，所述方法包括：獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合,得到第一計算結果；利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果，具有抗幹擾性強，離焦影響小並具有較強適應性，提高圖像式角位移測量技術。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對現有技術和實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發明提供的一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法的原理圖；
圖2為本發明提供的一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法的流程圖；
圖3為本發明提供的一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法的角位移計算原理圖；
圖4為本發明提供的一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分裝置的結構圖。
具體實施方式
為了使本技術領域的人員更好地理解本發明方案，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分的實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬於本發明保護的範圍。
本發明的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語「第一」、「第二」、「第三」、「第四」等(如果存在)是用於區別類似的對象，而不必用於描述特定的順序或先後次序。應該理解這樣使用的數據在適當情況下可以互換，以便這裡描述的實施例能夠以除了在這裡圖示或描述的內容以外的順序實施。此外，術語「包括」和「具有」以及他們的任何變形，意圖在於覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統、產品或設備不必限於清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或對於這些過程、方法、產品或設備固有的其它步驟或單元。
下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
結合圖1所示，本發明的第一方面提供了一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法，包括：基準刻線圖像1、擬合計算2、中心點計算3、角位移計算4、角度細分結果5。該算法根據圖像探測器採集到的光柵碼盤上基準刻線圖像1，採用圖像擬合計算2實現對基準刻線圖像1中每一條基準刻線的圖像分別進行擬合；根據擬合計算結果2，採用中心點計算3得出光柵碼盤上「基準刻線」的中心的精確位置；在完成對光柵碼盤圖像中相鄰的兩條「基準刻線」中心點位置的計算後，採用角位移計算4得到當前碼盤旋轉位置的角度細分結果5。
具體地，結合圖2所示，所述方法包括：
s101、獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；
s102、對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果；
s103、利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；
s104、利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果。
可選地，所述採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述二次線性函數表達式如下：
f(x)＝ax2+bx+c
其中，a,b,c分別為各項係數，x為基準刻線圖像的像素點位置值。
可選地，所述擬採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果之後，所述方法還包括：
計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，所述m具體為：
可選地，計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，包括：
分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣；
對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值。
可選地，所述分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣，包括：
所述三元三次方程組的係數矩陣如下：
可選地，所述對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值，包括：
經過變換可以得到方程組：
a(a1-a3c1)+b(b1-b3c1)＝d1-d3c1
a(a2-a3c2)+b(b2-b3c2)＝d2-d3c2
c＝d3-aa3-bb3，
其中，a1～a3,b1～b3,c1～c3分別是所述方程組中a,b,c的係數，通過對所述方程組求解得到唯一的一組解{a,b,c}，所述唯一的一組解{a,b,c}為a,b,c的值。
可選的，利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數，包括：求取所述最小二乘法擬合函數f(x)的極大值所在位置。令f(x)的導數f(x)'＝0，並求此時x的值，即為基準刻線的中心點z的值。
可選地，所述採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，包括：
還可以採用高斯函數對對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述高斯函數表達式為：
其中，a為函數幅值，x0為函數中心點，σ為函數擴展範圍。
結合圖3所示，可選地，第一基準刻線11，圖像中心線12、第二基準刻線13，圖像探測器識別線14.所述第一基準刻線11與所述第二基準刻線13為分布在所述圖像中心線12兩側的相鄰基準刻線，所述角位移預設關係為：
其中，利用第一基準刻線的中心點和圖像探測識別線相交的第一交點z1，第二基準刻線的中心點與圖像探測識別線相交的第二交點z2，所述圖像探測識別線與圖像中心線相交的第三交點z0，2n為所述光柵碼盤上基準刻線的數量。
針對採用二次線性函數對所述基準刻線進行擬合，下面進行具體說明：
二次線性函數表達式如式(1)所示。
f(x)＝ax2+bx+c(1)
式(1)中，a,b,c分別為各項係數。為擬合細分基準刻線，應使窗口n內函數值f(x)與像素灰度值p(x)差值的平方和m最小，如式(2)所示。
所述窗口n的大小採用閾值計算方法，即設閾值為預設值α，當p(x)≥α時的x的範圍為n的窗口範圍。為了求m取極小值時的係數a,b,c，分別對m求a,b,c的偏導數，並令其等於零，得到：
設式(3)(4)(5)的三元三次方程組的係數矩陣如式(6)所示。
式(6)中x∈n，經過變換可以得到：
式(7)中，a1～a3,b1～b3,c1～c3分別是程組中a,b,c的係數。通過對式(7)的求解可以得到唯一的一組解{a,b,c}。
所述中心點計算是根據式(7)中{a,b,c}的求解結果進行求解，如式(9)所示。
採用高斯函數對所述基準刻線進行擬合的時候，高斯函數表達式如式(8)所示。
式(8)中，a為函數幅值，x0為函數中心點，σ為函數擴展範圍。採用高斯函數對所示基準刻線進行擬合的方法參照二次線性函數方法，這裡不在敘述。
結合圖3所示，第一基準刻線11，圖像中心線12、第二基準刻線13，圖像探測器識別線14.所述第一基準刻線11與所述第二基準刻線13為分布在所述圖像中心線12兩側的相鄰基準刻線；第一基準刻線11與第二基準刻線13的中心點與圖像探測器識別線14相交於點z1和z2,兩點；所述圖像探測器識別線14與所述圖像中心線12相交於z0；o點為光柵碼盤的圓心；θ即為所述角度細分結果5。設2n為光柵碼盤中圓周內刻劃基準刻線的數量，那麼角位移計算方法如式(10)所示。
通過上述計算過程可以獲得角位移的細分結果。
結合圖4所示，本發明的第二方面提供一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分裝置，所述裝置包括：
獲取單元201，用於獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；
擬合單元202，用於對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果；
計算單元203，用於利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；
處理單元204，用於利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述擬合單元202具體用於：
採用最小二乘法對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果。
可選地，所述擬合單元202具體用於：
採用二次線性函數對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述二次線性函數表達式如下：
f(x)＝ax2+bx+c
其中，a,b,c分別為各項係數，x為擬合細分基準刻線。
可選地，所述擬合單元202還用於：
計算窗口n內f(x)與p(x)差值的平方和m最小時的係數a,b,c值，所述m具體為：
可選地，所述擬合單元202還用於：
分別對m計算a,b,c的偏導數，並令偏導數等於零，得到三元三次方程組的係數矩陣；
對所述三元三次方程組的係數矩陣進行處理得到a,b,c的值。
可選地，所述擬合單元202還用於：
三元三次方程組的係數矩陣如下：
可選地，所述擬合單元202用於：
經過變換可以得到方程組：
a(a1-a3c1)+b(b1-b3c1)＝d1-d3c1
a(a2-a3c2)+b(b2-b3c2)＝d2-d3c2
c＝d3-aa3-bb3，
其中，a1～a3,b1～b3,c1～c3分別是所述方程組中a,b,c的係數，通過對所述方程組求解得到唯一的一組解{a,b,c}，所述唯一的一組解{a,b,c}為a,b,c的值。
可選地，所述擬合單元202還可用於：
採用高斯函數對對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果，所述高斯函數表達式為：
其中，a為函數幅值，x0為函數中心點，σ為函數擴展範圍。
可選的，所述計算單元203用於：
計算所述基準刻線中心點計算結果，包括：求取所述最小二乘法擬合函數f(x)的極大值所在位置。令f(x)的導數f(x)'＝0，並求此時x的值，即為基準刻線的中心點z的值。
可選地，所述處理單元204可以用於：
利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果。
可選地，所述角位移預設關係為：
其中，利用第一基準刻線的中心點和圖像探測識別線相交的第一交點z1，第二基準刻線的中心點與圖像探測識別線相交的第二交點z2，所述圖像探測識別線與圖像中心線相交的第三交點z0，2n為所述光柵碼盤上基準刻線的數量。
本發明提供的基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置，所述方法包括：獲取光柵碼盤上的基準刻線圖像，基準刻線是均勻刻劃在光柵碼盤同一直徑位置上的等間距、等寬的一組刻線；對所述基準刻線圖像中相鄰的兩條基準刻線分別為第一基準刻線和第二基準刻線進行擬合得到第一計算結果；利用所述第一計算結果計算所述光柵碼盤上第一基準刻線和第二基準刻線之間的中心點位置參數；利用角位移預設關係和所述中心點位置參數獲得所述光柵碼盤當前旋轉位置的角度細分結果，具有抗幹擾性強，離焦影響小並具有較強適應性，提高圖像式角位移測量技術。
所屬領域的技術人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統，裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。
在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的系統，裝置和方法，可以通過其它的方式實現。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統，或一些特徵可以忽略，或不執行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。
所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位於一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現本實施例方案的目的。
另外，在本發明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以採用硬體的形式實現，也可以採用軟體功能單元的形式實現。
本領域普通技術人員可以理解上述實施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關的硬體來完成，該程序可以存儲於一計算機可讀存儲介質中，存儲介質可以包括：只讀存儲器(rom，readonlymemory)、隨機存取存儲器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或光碟等。
本領域普通技術人員可以理解實現上述實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關的硬體完成，所述的程序可以存儲於一種計算機可讀存儲介質中，上述提到的存儲介質可以是只讀存儲器，磁碟或光碟等。
以上對本發明所提供的一種基於圖像探測器的亞像素級角位移細分方法及裝置進行了詳細介紹，對於本領域的一般技術人員，依據本發明實施例的思想，在具體實施方式及應用範圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。