用於使紗片從經軸退繞的方法

2023-09-11 19:05:40

專利名稱：用於使紗片從經軸退繞的方法
技術領域：
本發明涉及一種用於使紗片從經軸退繞的方法，退繞時經軸被轉動。
背景技術：
為生產紡織面料，在許多情況下都需要提供從經軸退繞的紗片。相關的一個例子 就是緯編，在緯編時緯紗穿入經紗片以生成織物。另一個例子就是經編，經編時紗片的紗線 導引穿過編織區，在那進行成圈，以便形成編織物。在大多數情況下，為生產高質量料幅，需均勻地供輸紗片。若紗片運送得太慢或太 快，就會在料幅內產生張力差，從而影響料幅質量。基於這一原因，通常也無法單純將紗片從經軸抽出，且經軸因此發生轉動。這樣會 出現不利的張力情況。與此對應的是，旋轉地驅動經軸。紗片退繞時，經軸的直徑減小。因而為控制經軸轉動的速度，反覆使用一種測試滾 輪，其在退繞時平置在經軸的圓周上並且不斷地提供關於經軸當前半徑或直徑以及當前周 長的信息。然後可以藉助這一信息來控制經軸的轉數或轉速。使用其它例如用雷射工作的 測量裝置時，也會出現類似情況。雖然使用測試滾輪可以較為簡單地得出半徑，但滾輪有時易於跳動，也就是說，它 會暫時從正在退繞的經軸的圓周上抬起，或因受到壓力而沒入到經軸中，從而提供錯誤的 直徑值。使用雷射測量裝置則成本較高。

發明內容
本發明所要解決的技術問題是，用少許器材方面的投入來實現退繞。在前言所述類型的方法中，該技術問題由此解決，S卩，藉助一個取決於已進行的轉 圈的數量、滿經軸外徑和卷繞軸芯外徑的轉速函數來不斷地計算經軸的轉速並且以算出的 轉速來轉動經軸。在這種做法中，人們其實不再需要任何測量裝置來測量經軸當前的直徑或半徑以 及因而周長。人們僅還需一臺計數器來得出經軸已經完成的轉圈。滿經軸也就是應卷繞的 新經軸的外徑可通過可在退繞前進行的較為簡單的測量得出。卷繞軸芯的外徑通常是已知 的。卷繞軸芯的外徑構成了卷繞在經軸上的紗片線卷的內徑。然後可以從這些數據中算出 轉速函數，其中紗片用恆定速度給出。轉速函數有這樣的變化曲線，在該變化曲線中，從退 繞開始至結束，轉速始終升高。由此考慮到一個事實，即，隨著退繞不斷進行，線卷的半徑變 小。不必進行連續的計算。計算也可以以確定的間隔進行，例如在每次轉圈後。用本發明 可以得出經軸在退繞期間的周長或直徑變化。這種信息對提供合適的額定值以用於控制或 甚至是調節經軸來說是必需的。這種額定值是層額定值(Lagesollwert)。經軸的轉速基於 不斷改變的層額定值(Lagesollwert)進行調整。優選用線性函數和校正函數來構建轉速函數，校正函數顧及的是紗片的壓縮行 為。在理想狀態下，轉速線性地隨經軸的已進行的轉圈提高。這是線性函數。但在很多情形下都能注意到，對於轉速的這種線性函數而言，得到的是紗片的不恆定的速度。這歸因於， 經軸的半徑非線性地隨著已退繞的層的數量發生變化，也就是說非線性地隨著已進行的轉 圈的數量發生變化。這歸因於，紗片通過在卷繞時產生的張力而得到壓縮，所以經軸在退繞 時的實際半徑大部分要小於由線性函數推導得出的半徑。使用校正函數就能簡單地顧及這 一壓縮行為。在此優選的是，使用二次函數作為校正函數。二次函數顧及到的是，經軸的外徑在 退繞過程開始和結束時都是已知以及確定的。在此，校正函數具有等於零的值。反之，在這 兩個終值之間可以採用校正函數的二次變化曲線。對此的原因還沒有完全解釋清楚。但人 們認為，在經軸的外部區域內進行較小的壓縮，因為這裡疊放的卷繞層較少。此外，紗片在 卷繞層內的壓縮由沿徑向向外處於其上的卷繞層的數量決定。在線卷的內部區域，人們基 於這樣一個出發點，即在這裡已然發生了壓縮。然而壓縮僅以有限的程度增加，因為沿徑向 在內的卷繞層的紗片可能已經壓縮到這個程度，即僅當使用比當前大得多的力時，才可能 發生進一步的壓縮。通過使用二次校正函數，較好地接近這一行為。為構建校正函數，優選使用至少一個在紗片卷繞到經軸時得出的參數。然後根據 分別生產的經軸得出這個或這些參數，從而使各個經軸都能單獨地用其自身的數據進行退 繞。為構建校正函數，優選使用至少一個參數，其從卷繞時經軸直徑增長與線性函 數的偏差獲得。在卷繞時也能觀察到，直徑的增長並不遵從線性函數，而是與之有偏 差。卷繞時的這種偏差會以相似的比例反映在退繞時。當人們知道卷繞時的直徑增 長變化曲線或各相關參數時，那麼就能較為可靠地推斷出退繞時的直徑減少變化曲線 (Durchmesserabnahmeverlauf)0為構建校正函數，優選使用一個輔助函數，其接近紗片卷繞到經軸時獲得的直徑 值的結果。這種接近可例如通過使用最小二乘法完成。因此同時也能使用接近在卷繞時業 已得出的直徑值的結果的二次函數作為輔助函數。優選使用一種設有記錄載體的經軸，從該記錄載體中可讀取至少一個用於構成校 正函數的參數。在最簡單的情形下，記錄載體由可寫的墊片組成，一個或一些參數可記載到 該墊片上。記錄載體也可以是一種含有一個或一些參數的數據載體。然後可以毫無困難地 在不同地點以及由不同人員實施經軸的生產和退繞。退繞時，必需的信息隨時可供使用。為構建校正函數，優選顧及到的是在紗片卷繞到經軸上和紗片從經軸上退繞之間 所耗費的持續時間。在此顧及到的是，卷繞後，紗片的壓縮還將持續一段時間。經軸的生產 日期在大多數情況下都會在經軸上註明。使用者在退繞時可以將這一日期與退繞的當前日 期聯繫起來以得出所述持續時間。為構建校正函數，優選顧及經紗片的材料。因此考慮到這樣一個事實，即，不同的 材料具有不同的壓縮特性。就不同材料的壓縮特性而言，可以動用經驗數據。


下面藉助優選實施例並聯繫

本發明。附圖中圖1是用來解釋特定概念的示意圖，以及圖2是用來解釋校正函數的圖。
具體實施例方式圖1示意性示出了經軸1，它有定義線卷3內徑Di的卷繞軸芯2。線卷3具有外 徑Da。可由各直徑D」 Da計算周長。利用當前的直徑始終可得出當前的周長。經軸1由此生成，即，紗片以大量線圈卷繞在卷繞軸芯上。經軸1在卷繞時一定會 轉動數千次，因而會在卷繞軸芯2上生成相應大數量的線圈或紗片卷繞層。在一種實施形式中，卷繞軸芯2的直徑Di例如為360mm，完成的線卷3的直徑Da例 如為860mm。此時總共有18000個紗片線圈卷繞在卷繞軸芯2上。在紗片卷繞到經軸上1時就已經可觀察到，所述經軸的周長不是線性遞增的。本 來期望的是，經軸的直徑在每次轉圈時都以兩倍於紗片的厚度增加，周長亦然。然而周長與 線性函數的偏差較小。基於這一原因，圖2示出了多條變化曲線，它們僅表示數值與線性函 數的偏差。圖2中，從左到右描繪了轉圈的數量，換句話說，也就是線圈的數量η。在卷繞時是 從左向右運動的，退繞時則從右向左運動。沿垂直方向示出了偏差，所述偏差是在經軸周長 的線性變化曲線亦即「理想」曲線和經軸周長的實際變化曲線之間基於線圈的數量η得出 的。圖2相應以虛線示出的函數4表示測量值，所述測量值是在紗片卷繞到經軸上時 採集到的。在此得出相對線性函數的偏差，線性函數由此形成，即，建立線卷3的外徑隊和 內徑Di之間的差，並將該差分配到轉圈的數量η上。該函數處於零位線上。在函數4中，可在卷繞過程開始時就觀察到一個測量誤差。正確的是，函數4在值 η = 0時同樣具有偏差0mm。這樣選擇設計成二次函數的輔助函數5，即，使它儘可能良好地接近函數4的變化 曲線。為此可例如使用最小二乘法。在圖2的上半部分，記錄了紗片卷繞到經軸時產生的關係。圖2的下半部分則記錄了紗片從經軸退繞時產生的關係。由此構建線性函數6，S卩，根據已完成的經軸來計算外徑Da。內徑Di已知，因為該 直徑Di等於卷繞軸芯2的外徑。可以觀察到的是，待退繞的經軸的外徑隊要小於新卷繞成 的經軸的外徑，新卷繞成的經軸的數據在圖2的上半部分中示出。可以把這歸因於，卷繞到 經軸1上的紗片基於卷繞時產生的張力而略微被壓縮。有了各直徑，也就提供了周長，因此 這裡用線性函數6來表示周長遞減的「理想」變化曲線。線性函數6由此構建，S卩，得出完全卷繞的經軸的周長，該周長在這種情況下要比 經軸製成後的周長小IOmm以上，並且從卷繞軸芯2的直徑Di得出卷繞軸芯2的周長，將兩 個周長的差與線圈的數量η相除，線圈的數量η用作比例因子。設計成二次函數的校正函數7同樣基於線圈的數量η描繪。該校正函數在卷繞過 程開始和結束時與線性函數6 —致。這也是可解釋的，因為最終直徑等於卷繞軸芯2的外徑 Di,且起始直徑可以通過簡單的測量確定。周長可通過與因子π相乘從各直徑計算得出。在兩個極值之間，經軸1的周長小於根據線性函數6的變化曲線得出的周長。但 校正函數7與測量值結果8較好地保持一致，這些測量值是出於控制的目的在經軸1上計 算得出的。應當註明的是，這些測量值在標準經軸1的退繞中不再有必要。
現在可從線性函數6和校正函數7構建一個函數，用它可以連續地算出經軸的周 長。然後由當前周長得出旋轉速度，經軸1以這一旋轉速度能夠轉動地得以驅動，從而確保 被退繞的紗片的恆定速度。於是不再需要對周長或與其有制約關係的尺寸如半徑或直徑進 行測量。由圖2可知，在函數5和卷繞時由零位線構成的線性函數間的偏差要大於線性函 數6和校正函數7之間的偏差。可把此歸因於紗片的各卷繞層的隨時間變化例如遞減的壓 縮。但在兩個函數5和7之間存在可用來構建校正函數7的比例因子。在當前情況下，比 例因子約為0.6。在紗片卷繞到經軸1上時，可以連續地得出直徑並從而連續地得出周長並描繪出 例如通過函數4所示的變化曲線。由此得出的輔助函數5的參數可以在記錄載體上提供給 已完成的經軸，從而使用者在退繞時隨時都能藉助卷繞時得出的值來構建校正函數7。
權利要求
一種用於使紗片從經軸(1)退繞的方法，其中使經軸(1)轉動，其特徵為，藉助取決於已進行的轉圈的數量(n)、滿經軸的外徑(Da)和經軸(1)的卷繞軸芯(2)的外徑(Di)的轉速函數來連續地計算經軸(1)的轉速，並且用所算出的轉速來轉動經軸(1)。
2.按權利要求1所述的方法，其特徵為，藉助線性函數(6)和校正函數(7)來構建所述 轉速函數，所述校正函數(7)顧及了紗片的壓縮行為。
3.按權利要求2所述的方法，其特徵為，使用二次函數作為校正函數(7)。
4.按權利要求2所述的方法，其特徵為，為構建所述校正函數(7)而使用至少一個在將 所述紗片卷繞到所述經軸(1)時得出的參數。
5.按權利要求2所述的方法，其特徵為，為構建所述校正函數(7)而使用至少一個參 數，該參數由卷繞時所述經軸的直徑增加與線性函數的偏差得出。
6.按權利要求2所述的方法，其特徵為，為構建所述校正函數(7)而使用輔助函數(5)，所述輔助函數(5)接近所述紗片卷繞到所述經軸(1)上時獲得的直徑值的結果(4)。
7.按權利要求2所述的方法，其特徵為，使用設有記錄載體的經軸(1)，從該記錄載體 能夠讀取至少一個用於構建所述校正函數(7)的參數。
8.按權利要求2所述的方法，其特徵為，為構建所述校正函數(7)而顧及了在所述紗片 卷繞到所述經軸(1)和所述紗片從所述經軸(1)退繞之間消耗的持續時間。
9.按權利要求2所述的方法，其特徵為，為構建所述校正函數(7)而顧及了經紗片的材料。
全文摘要
本發明涉及一種用於使紗片從經軸退繞的方法，其中使經軸轉動。目的是用少許器材方面的投入來實現退繞。為此規定，藉助取決於已進行的轉圈的數量(n)、滿經軸的外徑Da和經軸的卷繞軸芯的外徑Di的轉速函數來計算經軸的轉速，並且用所算出的轉速來轉動經軸。
文檔編號B65H16/10GK101987702SQ20091020728
公開日2011年3月23日 申請日期2009年10月23日 優先權日2009年8月5日
發明者M·富爾, S·加雷爾茨 申請人:卡爾邁爾紡織機械製造有限公司