一種浮球開關的密封性測試方法
2023-09-17 18:59:30 1
專利名稱：一種浮球開關的密封性測試方法
技術領域：
本發明涉及浮球開關製造技術，尤其涉及一種浮球開關的密封性測試方法。
背景技術：
浮球開關用於感應液位變化，進而通過電纜線發送電信號用於系統的控制，是一種結構簡單、使用方便的液位控制元器件，廣泛地應用於各種家電、加溼器、噴繪機、醫療設備、醫療機械以及儲液罐的液位檢測、信號遠傳、開關報警等方面，還可適用於在各種有毒、 帶酸鹼腐蝕性的液體中使用。浮球開關的結構一般包括一封閉的殼體，殼體通常由兩個半球體塑料熱熔焊接而成，因而在殼體周邊會有熔接部；殼體一端具有頸部開口，電纜線從頸部的開口接入殼體內部，與殼體內置的感應電路連接；在電纜線接入殼體時，通常需要將電纜線的外被與內部芯線的絕緣層剝離，露出內部的導體銅絲；電纜線接入之後向殼體頸部的結合部灌注密封液， 通過密封液密封殼體頸部與電纜線外被和銅絲之間的空隙，實現浮球開關腔體的完全密封。由於浮球開關長期工作於液體環境下，其密封性決定了浮球開關性能的優劣。然而，在實際生產過程中，浮球開關的殼體熔接部以及殼體與電纜線的結合部、電纜線內部、 密封液密封處經常可能會結合不嚴，或者是結合強度不足，導致投入使用後很快出現空隙、 相互剝離、破損，外部的溼氣或者液體沿著空隙流入電纜線和浮球開關殼體內部，導致電路故障損壞。因此，有必要在出廠時對上述部位進行密封性方面的檢測。然而，在現有的浮球開關製造工藝中，尚缺乏有效的密封性檢測手段，特別是現有的檢測技術不能檢測上述結合部位的結合強度，因此不能保證浮球開關密封性符合實際使用要求。
發明內容
針對現有技術中的上述問題，本發明提供了一種浮球開關的密封性測試方法，該方法通過在浮球開關殼體的內外形成一定壓力差，觀察在一定壓力差下浮球開關外殼周邊及結合部的密封性。本發明提供的密封性測試方法包括以下步驟將浮球開關的一部分或者全部以及部分電纜線置入盛水容器11中，並密閉於密閉容器10中；通過調節密封測試儀器來調節浮球開關殼體與電纜線的內部壓力形成正壓，或調節殼體以及電纜線外部的壓力形成外部負壓，或同時採用正壓與負壓結合的方式，從而造成內外壓力差，進行密封測試；在壓力差的原理下觀察是否有氣泡產生，分別測試浮球開關裝置殼體周邊密封性、導線與殼體之間的密封性、導線內部密封性、殼體頸部與線纜、密封液之間的密封性。密封液密封液
優選地，所述密封測試方法包括正壓測試與負壓測試。優選地，所述負壓測試主要為A、B兩種測試方法，所述正壓測試主要為C、D、E三種測試方法。
優選地，所述負壓測試方法A主要為，將浮球殼體2、內導線4、殼體頸部、密封液、 電纜線外被相接處6、殼體熔接處8完全置入水1中，並在密閉容器10中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體2、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8、導體銅絲9處是否有連續氣泡浮出水面，若沒有連續氣泡，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。優選地，所述負壓測試方法B主要為，將浮球殼體2、內導線4、插頭或接線端子5、 殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8完全置入水1中，並在密閉容器10中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體2、內導線4、插頭或接線端子5、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、 殼體熔接處8、導體銅絲9位置是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。優選地，所述正壓測試方法C主要為，將浮球殼體2、內導線4、殼體頸部、密封液、 電纜線外被相接處6、殼體熔接處8置入水1中，並對內導線4、電纜線外被7加入預設一定值的正壓力氣壓，使產品處於正壓或高壓狀態，檢測並觀察浮球殼體2、密封液3、內導線4、 殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、殼體熔接處8、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。優選地，所述正壓測試方法D主要為，首先將浮球殼體2通過剖解或鑽眼等方法使得浮球殼體2與水1相互事先滲透，對內導線4 (4的兩端均露出水面)、電纜線外被7加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液3、內導線4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。 如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。優選地，所述測試方法E，首先將浮球殼體2通過剖解或鑽眼等方法使得浮球殼體 2與水1相互事先滲透，對內導線4(4的一端露出水面，一端浸入水中)、電纜線外被7加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液3、內導線4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。本發明的測試方法可以在不破壞浮球開關產品本體的情況下，準確測試產品的密封性能；並且能夠實現一定內外壓力差之下的密封性測試。本發明的測試方法操作簡單、無破壞性，準確度高、成本低，效率高，對改善浮球開關製造工藝、增加產品可靠性具有重要作用。
圖1是本發明實施例的浮球開關密封性測試的示意圖
具體實施例方式為詳細說明本發明的技術內容、構造特徵、所實現目的及效果，以下結合具體實施方式
並配合附圖詳予說明。
對於浮球開關來說，其殼體周邊的熔接處、各部件之間的結合部、電纜線內部以及殼體頸部密封液密封處是容易在使用過程中出現縫隙、相互剝離、破損的部位，因此在測試中需要對以上部位的密封程度加以檢測。本發明所述的密封性測試方法即針對以上部位， 對浮球開關殼體周邊熔接處、電纜線與殼體結合部、電纜線內部以及殼體頸部與線纜和密封液之間的密封性分別加以檢測。下面結合圖1介紹本發明對浮球開關的密封性測試方法。圖1中，1、水 2、浮球殼體3、密封液4、內導線 5、插頭或接線端子6、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處7、電纜線外被8、殼體熔接處9、導體銅絲10、密閉容器11盛水容器。在所述密封性測試方法中，首先，將浮球開關的一部分或者全部置入盛水容器11 中，並密閉於密閉容器10中；然後通過調節密封測試儀器來調節產品內部壓力形成正壓， 調節產品外部壓力形成負壓，或調節殼體以及電纜線外部的壓力形成外部負壓，或同時採用正壓與負壓結合的方式，從而造成內外壓力差；之後，通過觀察浮球開關是否存在漏氣現象，測試浮球開關殼體熔接處、電纜線與殼體結合部、電纜線內部以及密封液密封部位之間的密封性。首先，通過負壓測試方法A測試浮球開關，將浮球殼體2、內導線4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8完全置入1中，並在密閉容器10中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體2、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8、導體銅絲9處是否有連續氣泡浮出水面，若沒有連續氣泡，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。其次，通過負壓測試方法B測試浮球開關，將浮球殼體2、內導線4、插頭或接線端子5、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8完全置入水1中，並在密閉容器10中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體2、內導線4、插頭或接線端子5、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、殼體熔接處8、導體銅絲9位置是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。 如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。再次，通過正壓測試方法C測試浮球開關，將浮球殼體2、內導線4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、殼體熔接處8置入水1中，並對內導線4、電纜線外被7加入預設一定值的正壓力氣壓，使產品處於正壓或高壓狀態，檢測並觀察浮球殼體2、密封液3、內導線4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、殼體熔接處8、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。然後，通過正壓測試方法D測試浮球開關，首先將浮球殼體2通過剖解或鑽眼等方法使得浮球殼體2與水1相互事先滲透，對內導線4 (4的兩端均露出水面)、電纜線外被 7加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液3、內導線4、殼體頸部、 密封液、電纜線外被相接處6、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。最後，通過正壓測試方法E測試浮球開關，首先將浮球殼體2通過剖解或鑽眼等方法使得浮球殼體2與水1相互事先滲透，對內導線4 (4的一端露出水面，一端浸入水中)、電纜線外被7加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液3、內導線 4、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處6、電纜線外被7、導體銅絲9是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格。如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。綜上所述，本發明的測試方法可以在不破壞浮球開關產品本體的情況下，準確測試產品的密封性能；並且通過在浮球開關內外形成壓力差，觀察在一定壓力下產品外殼周邊及結合部的密封性。本發明的測試方法操作簡單、無破壞性，準確度高、成本低，效率高， 對改善浮球開關製造工藝、增加產品可靠性具有重要作用。以上所述僅為本發明的實施例，並非因此限制本發明的專利範圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護範圍內。
權利要求
1.一種浮球開關的密封性測試方法，其特徵在於，包括以下步驟將浮球開關的一部分或者全部以及部分電纜線置入盛水容器(11)中，並密閉於密閉容器(10)中；通過調節密封測試儀器來調節浮球開關殼體與電纜線的內部壓力形成正壓，或調節殼體以及電纜線外部的壓力形成外部負壓，或同時採用正壓與負壓結合的方式，從而造成內外壓力差，進行密封測試；在壓力差下觀察是否有氣泡產生，分別測試浮球開關裝置殼體周邊密封性、導線與殼體之間的密封性、導線內部密封性、殼體頸部與線纜、密封液之間的密封性。
2.根據權利要求1所述的密封性測試方法，其特徵在於，所述密封測試包括正壓測試與負壓測試。
3.根據權利要求2所述的密封性測試方法，其特徵在於，所述負壓測試為在浮球開關， 或水的外圍形成負壓區或真空區，使得浮球開關周圍、水的周圍氣壓低於浮球開關內空腔氣壓，形成負壓差。
4.根據權利要求2所述的密封性測試方法，其特徵在於，所述正壓測試為在浮球開關內空腔體、線纜內注入高壓氣體，使得浮球開關內腔體、線纜內的氣壓高於浮球開關外圍， 水的外圍，線纜外圍的氣壓，形成正壓差。
5.根據權利要求3所述的密封性測試方法，其特徵在於，所述負壓測試包括將浮球殼體(2)、內導線(4)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、殼體熔接處(8)完全置入水(1)中，並在密閉容器(10)中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體(2)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、殼體熔接處(8)、導體銅絲(9)處是否有連續氣泡浮出水面，若沒有連續氣泡，此項密封測試合格；如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題；並且，所述負壓測試還進一步包括將浮球殼體(2)、內導線(4)、插頭或接線端子(5)、 殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、導體銅絲(8)完全置入水(1)中，並在密閉容器(10)中加入預設一定值的負壓，使整個浮球開關殼體部分處於負壓或真空狀態，檢測並觀察浮球殼體(2)、內導線(4)、插頭或接線端子(5)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處 (6)、電纜線外被(7)、殼體熔接處(8)、導體銅絲(9)位置是否有連續氣泡浮出水面，若無， 此項密封測試合格；如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。
6.根據權利要求4所述的密封性測試方法，其特徵在於，所述正壓測試包括將浮球殼體(2)、內導線(4)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、殼體熔接處(8)置入水(1) 中，並對內導線(4)、電纜線外被(7)加入預設一定值的正壓力氣壓，使產品處於正壓或高壓狀態，檢測並觀察浮球殼體(2)、密封液(3)、內導線(4)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、電纜線外被(7)、殼體熔接處(8)、導體銅絲(9)是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格；如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題；所述正壓測試進一步包括首先將浮球殼體(2)通過剖解或鑽眼方法使得浮球殼體 (2)與水(1)相互事先滲透，內導線(4)的兩端均露出水面，對內導線(4)、電纜線外被(7) 加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液(3)、內導線(4)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、導體銅絲(9)是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格；如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問所述正壓測試還進一步包括首先將浮球殼體(2)通過剖解或鑽眼方法使得浮球殼體 (2)與水(1)相互事先滲透，使內導線(4)的一端露出水面，一端浸入水中；對內導線(4)、電纜線外被(7)加入預設一定值的正壓，使產品處於正壓或高壓狀態，觀察密封液(3)、內導線(4)、殼體頸部、密封液、電纜線外被相接處(6)、電纜線外被(7)、導體銅絲(9)是否有連續氣泡浮出水面，若無，此項密封測試合格；如有連續氣泡，那麼氣泡出現的位置就表明對應檢測位置產生密封不良問題。
全文摘要
本發明提供了一種浮球開關的密封性測試方法，包括以下步驟將浮球開關的一部分或者全部置入盛水容器11中,並密閉於密閉容器10中；通過調節密封測試儀器來調節浮球開關殼體的內部壓力形成正壓，調節殼體外部的壓力形成負壓，從而造成內外壓力差；在壓力差下通過觀察是否漏氣，分別測試浮球開關裝置殼體周邊密封性、導線與殼體之間的密封性、導線內部密封性、殼體頸部與線纜、密封液之間的密封性。本發明的測試方法可以在不破壞浮球開關產品本體的情況下，準確測試產品的密封性能；並且能夠實現一定內外壓力差之下的密封性測試。本發明的測試方法操作簡單、無破壞性，準確度高、成本低，效率高，對改善浮球開關製造工藝、增加產品可靠性具有重要作用。
文檔編號G01M3/06GK102175405SQ20111003151
公開日2011年9月7日 申請日期2011年1月29日 優先權日2011年1月29日
發明者胡凱華 申請人:司捷易蘭姆布斯控制科技(蘇州)有限公司