基於時間測量來選擇參數/模式的方法和設備的製作方法
2023-04-26 01:49:51 1
專利名稱：基於時間測量來選擇參數/模式的方法和設備的製作方法
技術領域：
本發明通常涉及電子電路，並且更具體地說，本發明涉及其中設置功能參數和/或操作方式的集成電路。
背景技術：
集成電路可用於許多目的和應用。為了提供增加的靈活性，電路設計者有時把集成電路設計成具有各種不同的操作模式和/或具有利用各種不同操作參數來運行的能力。為了在集成電路中設置不同的功能參數和/或操作模式，集成電路晶片典型地被設計並被製造成在包裝(packaging)中具有附加的一個或多個引腳(pin)，附加的電路元件或信號可耦合到所述引腳，以便設置或選擇集成電路的期望功能參數和/或操作模式。在替換方案中，對於被直接設計到集成電路的電路中的每個特定的功能參數和操作模式，可利用不同的集成電路來設計或製造單獨的產品部件。
通過舉例的方式詳細地舉例說明本發明，並且本發明不限制在附圖中。
圖1是包含在電源中的集成電路的實施例的示意圖，其中按照本發明的教導基於時間測量來設置參數/模式。
圖2是包含於電源中的集成電路的實施例的另一個示意圖，其中按照本發明的教導基於時間測量來設置參數/模式。
圖3是耦合到多功能電容器的集成電路的實施例的示意圖，其中按照本發明的教導在初始化期間測量多功能電容器的信號，以選擇參數/模式。
圖4是顯示對於按照本發明教導的集成電路的實施例在初始化周期期間的時間測量的圖表。
圖5是耦合到多功能電容器的集成電路的實施例的另一個示意圖，其中按照本發明的教導在初始化期間測量多功能電容器的信號，以選擇參數/模式。
圖6是顯示對於按照本發明教導的集成電路的實施例在初始化周期期間的時間測量的另一個圖表。
圖7是耦合到多功能電容器的集成電路的實施例的又一個示意圖，其中按照本發明的教導在初始化期間測量多功能電容器的信號，以選擇參數/模式。
具體實施例方式
披露了一種集成電路的實施例，其中利用時間測量來設置參數/模式。在下面的描述中，闡述了許多細節，以提供對本發明的徹底了解。然而，對於本領域中的普通技術人員來說，不必採用特定細節來實踐本發明，這是顯而易見的。沒有詳細地描述與實施有關的公知方法，以免模糊本發明。
遍及本說明書中的對於「一個實施例」或「一實施例」的提及意味著結合該實施例所描述的具體特徵、結構或特性包括在本發明的至少一個實施例中。因而，在本說明書各處出現的短語「對於一個實施例」或「在一實施例中」沒有必要全部涉及同一個實施例。此外，按照本發明的教導，可以在一個或多個實施例中以任何適當的方式來組合如下所述的和/或附圖中所示的具體特徵、結構、特性、組合和/或變形。
如將要討論的，按照本發明的教導，可以在初始化周期期間在模式選擇或功能參數說明設置周期期間為集成電路的實施例選擇功能參數或操作模式。對於一個實施例，節省了與在晶片包裝上具有附加的專用引腳有關的成本或者與具有單獨的產品部件號用於對各種不同設備功能參數說明或操作模式進行尋址有關的費用。例如，通過利用基本上固定的或已知的預定電流來測量在現有引腳上改變電壓所需的時間，或者通過測量在固定時間內利用某個電壓來改變那個引腳上的電壓所需的電流，利用現有引腳可以選擇設備功能參數說明。
因此，通過選擇例如耦合到集成電路的引腳的多功能電容器的電容值，可以利用單個部件提供從多個功能參數和/或操作模式中的選擇，其中在正常操作期間，多功能電容器具有除了設置功能參數、操作模式或其他設備特性之外的正常功能。例如，按照本發明的教導，在正常集成電路操作期間所使用的同一VCC引腳去耦電容器或反饋引腳迴路(loop)補償電容器也可以被用作初始化期間的參數/模式選擇電容器。
為了舉例說明，圖1示出了包含於電源中的示例集成電路，其中按照本發明的教導基於時間測量來設置參數/模式。圖1所舉例說明的電源的拓撲結構被稱為回掃調節器(flyback regulator)。應當理解的是，存在許多的轉換調節器的拓撲結構與配置，並且圖1所示的回掃拓撲僅用於舉例說明本發明實施例的原理，按照本發明教導，所述原理同樣可應用於其他類型的拓撲。
在圖1中，電源101包括耦合在電源101的輸入107與輸出109之間的能量轉移(energy transfer)元件105。所示出的示例性能量轉移元件105是具有兩個線圈的變壓器，包括輸入上的初級線圈127和輸出上的次級線圈129。在其他的示例中，按照本發明的教導，能量轉移元件105可以包括不同數目的線圈。在舉例說明的示例中，輸入107是未調節的寬量程(wide-range)高電壓(HV)直流(DC)輸入，而輸出109是耦合到負載134的DC輸出。負載134可以是固定負載或者可以是具有變化量值的負載。
如所示出的，集成電路103耦合到初級線圈127。對於一個實施例，集成電路103是切換調節器，其包括耦合在集成電路103的漏極D端和源極S端之間的內部開關。內部控制器電路在此示例中也被包含在集成電路103中，以控制開關的切換。在另一個示例中，應當注意，內部開關還可以是外部開關，其按照本發明的教導與集成電路103隔開。
在操作中，集成電路103中的開關被切換，以調節通過能量轉移元件105從輸入107到輸出109的能量轉移。對於一個實施例，圖1的集成電路103中開關的操作在輸出端上產生整流器二極體117中的脈動電流，利用電容器119對所述脈動電流進行濾波，以便在DC輸出109上產生基本上恆定的輸出電壓或者在負載134上產生基本上恆定的輸出電流。在輸出109上包括齊納二極體121和電阻器123的反饋電路用於經由光耦合器113向集成電路103提供反饋信號。光耦合器113在電源101的輸入107與輸出109之間提供某種隔離(絕緣)。如舉例說明的示例中所示的，集成電路103經由使能EN端而接收來自輸出109的反饋信號。按照本發明的教導，由集成電路103利用經由EN端所接收的反饋信號來調節電源101的輸出109。
對於一個實施例，多功能電容器CMF211還耦合到集成電路103的旁路BP(bypass)端。在舉例說明的示例中，利用多功能電容器CMF111在正常操作期間為集成電路103提供電源去耦功能。例如，集成電路103內的內部電路接收來自多功能電容器CMF111的功率或偏置電流，以便在調節輸出109的同時在正常操作期間對該電路進行操作。
如將討論的那樣，按照本發明的教導，圖1的示例中的多功能電容器CMF111的附加功能在於，由集成電路103將它用於在初始化周期期間選擇集成電路103的參數/模式。在這個初始化周期期間可以選擇的功能參數和/或操作模式的示例包括峰值電流極限電平、操作頻率、最大操作頻率、熱擊穿閾值等等。按照本發明的教導，在初始化期間選擇了參數/模式之後，多功能電容器CMF111被用於集成電路103的正常操作期間的其他功能。
圖2是包含於電源中的集成電路的實施例的另一個示例示意圖的說明，其中按照本發明的教導基於時間測量而設置參數/模式。正如所示出的，圖2的電源201與圖1的電源101具有相類似之處。例如，電源201包括耦合在電源201的輸入207與輸出209之間的能量轉移元件205。所示的示例性能量轉移元件205是具有三個線圈的變壓器，包括輸入端上的初級線圈227、輸出端上的次級線圈229以及偏置線圈231。在舉例說明的示例中，整流器215被耦合來對來自輸入端107的交變電流(AC)信號進行接收和整流，並生成整流信號，利用電容器225對所述整流信號進行濾波，以便向初級線圈227提供未調節的HV DC輸入信號。輸出端209耦合到負載234，按照本發明的教導，所述負載可以是固定負載或者可以是具有變化量值的負載。
在圖2舉例說明的示例中，集成電路203是切換調節器，其包括耦合在集成電路203的漏極D端和源極S端之間的內部開關237。內部控制器電路239在此示例中也被包含在集成電路203中，以控制開關的切換。在另一個示例中，應當注意，內部開關237還可以是外部開關，按照本發明的教導，其與集成電路203相隔開。
操作中，集成電路203中的開關237被切換為調節通過能量轉移元件205從輸入207到輸出209的能量轉移。對於一個實施例，開關237的操作在輸出端上在整流器二極體217中產生脈動電流，利用電容器219對所述脈動電流進行濾波，以便在輸出端209上產生基本上恆定的輸出電壓或者在負載234上產生基本上恆定的輸出電流。在輸出209上包括齊納二極體221和電阻器223的反饋電路用於經由光耦合器213向集成電路203提供反饋信號。從偏置線圈231向光耦合器213提供偏置電流。利用整流器二極體233對偏置電流進行整流，並且利用電容器235對該偏置電流進行濾波。光耦合器213提供電源201的輸入207與輸出209之間的某種隔離。如舉例說明的示例中所示的，集成電路103經由控制C端從輸出端209接收反饋信號。按照本發明的教導，由集成電路203利用經由控制C端接收的反饋信號來調節電源201的輸出209。
對於一個實施例，多功能電容器CMF211還耦合到集成電路103的控制C端。在舉例說明的示例中，為了多種目的而利用多功能電容器CMF211，包括例如為集成電路203提供集成電路電源去耦功能以及在正常操作期間提供反饋迴路補償。例如，集成電路203內的內部電路經由控制C端而接收來自多功能電容器CMF211的功率或偏置電流，以便在調節輸出209的同時在正常操作期間對該電路進行操作。
如將要討論的那樣，按照本發明的教導，圖2的示例中的多功能電容器CMF211的又一個附加功能在於，由集成電路203利用它來在初始化周期期間選擇集成電路203的參數/模式。在這個初始化周期期間選擇的功能參數和/或操作模式的示例包括峰值電流極限電平、操作頻率、最大操作頻率、熱擊穿閾值等等。按照本發明的教導，在初始化期間選擇了參數/模式之後，多功能電容器CMF211被用於集成電路203的正常操作期間的其他功能。
圖3是耦合到多功能電容器311的集成電路303的實施例的示意圖，其中按照本發明的教導在初始化期間測量該電容器的信號以選擇參數/模式。如圖3的示例所示，集成電路303包括耦合到控制器電路339的開關337，其經由集成電路303的旁路BP端345而耦合到多功能電容器311。對於一個實施例，控制器電路339可以基本上包括除開關337和多功能電容器311之外的圖3所示的所有元件。對於一個實施例，集成電路303包括控制器339和開關337。對於另一個實施例，開關337不被包含於集成電路303中。對於一個實施例，開關337是功率金屬氧化物半導體場效應電晶體(MOSFET)。
應當理解，按照本發明的教導，圖3的示例集成電路303可以對應於圖1的集成電路103，並且也與圖2的集成電路203具有許多類似性。因此，按照本發明的教導，圖3所示的示例的元件可以與圖1和/或2的元件以適當的方式進行組合。尤其，對於一個實施例，漏極D端341將被耦合到諸如初級線圈127或227之類的能量轉移元件，源極S端343將被耦合到地，使能/欠壓(EN/UV)端347將被耦合，以便從電源的輸出端例如輸出端109接收反饋信號。多功能電容器311被耦合在旁路BP端345和源極S端343之間。
如圖3所示，集成電路303包括閾值檢測與計時電路349，其被耦合以便在集成電路303的初始化周期期間從多功能電容器311中測量信號。響應於集成電路303的初始化周期期間從多功能電容器中所測量的信號，參數/模式選擇電路351耦合到該閾值檢測與計時電路349，以選擇集成電路303的參數/模式。在初始化周期完成之後，由集成電路303把多功能電容器311用於附加功能，例如集成電路電源去耦和/或迴路補償，如上面在以前的示例中所述的那樣。
為了舉例說明，集成電路303的操作的一個示例如下。在啟動時或在初始化周期期間，調節器359被耦合以生成充電電流ICHARGE361，對於一個實施例，所述調節器包括電流源。充電電流ICHARGE361被耦合，以便在初始化周期期間對多功能電容器311進行充電。當在這個初始化周期期間多功能電容器311被充電時，電壓VCAP393隨時間上升。
為了說明，把注意力放到圖3和4上。尤其，圖4顯示了一個圖表401，按照本發明的教導，其說明了在集成電路303的初始化周期期間隨時間的電壓VCAP393的若干示例。尤其，曲線493A舉例說明了具有第一電容值的多功能電容器311的電壓VCAP393，而曲線493B舉例說明了具有第二電容值的多功能電容器311的電壓VCAP393。如所能夠看到的那樣，對於給定的電流，例如充電電流ICHARGE361，曲線493A和/或493的上升時間改變。
對於一個實施例，當在初始化期間電壓VCAP393隨時間上升時，閾值檢測與計時電路349測量經由旁路BP端345從多功能電容器311接收到的信號。尤其，閾值檢測與計時電路349監視電壓VCAP393，並且測量在電壓VCAP393達到第一閾值電壓時與在電壓VCAP393達到第二閾電壓時之間的時間周期。如在示例性的圖4中可以觀察到的那樣，在曲線493A中電壓VCAP393從第一閾值上升到第二閾值的時間測量是Δt1。相反，在曲線493B中電壓VCAP393從第一閾值上升到第二閾值的時間測量是Δt2。正如所示出的，測量的時間周期Δt2大於測量的時間周期Δt1。這是因為曲線493B中多功能電容器311的電容值大於曲線493A中多功能電容器311的電容值。實際上，按照本發明的教導所述，通過測量時間周期，能夠估算多功能電容器311的電容值。因此，按照本發明的教導所述，通過測量時間周期，可以由閾值檢測與計時電路349來估算與旁路BP端345相耦合的多功能電容器311的特定電容值。在這個示例中，在正常操作期間，調節器339把電壓VCAP393保持在第二閾值上。
返回參考圖3，按照本發明的教導，參數/模式選擇電路351被耦合到閾值檢測與計時電路349，並且為集成電路303生成參數/模式選擇信號，以響應由閾值檢測與計時電路349所測量的時間周期或所估算的電容值。在圖3舉例說明的示例中，響應於所測量的時間周期，參數/模式選擇電路351為電流極限調節信號ILIM ADJ 353、熱擊穿閾值信號THERMAL ADJ 355以及頻率調節信號FREQ ADJ 357選擇特定的設置。ILIM ADJ 353耦合到電流極限狀態機363，THERMAL ADJ 355耦合到熱擊穿電路365，以及FREQ ADJ 357耦合到振蕩器367。對於一個實施例，ILIM ADJ 353可以用於設置通過開關337的電流的峰值電流極限電平。THERMAL ADJ可以用於為集成電路303設置熱擊穿閾值溫度。FREQ ADJ可以用於設置振蕩器367的操作頻率或最大操作頻率。對於一個實施例，按照本發明的教導，振蕩器367的操作頻率對於多功能電容器311的一個電容值可以是固定的，而振蕩器367的操作頻率對於多功能電容器311的另一個電容值可能是抖動的。
因此，按照本發明的教導，如上所述的示例舉例說明了電路設計者如何能夠通過適當地為多功能電容器311選擇電容值來設置集成電路303的實施例的所有上面的功能參數和/或操作模式中的一個或多個。可以利用以下事實來說明由此特性所提供的一個示例性好處在集成電路的系列中，本發明的實施例提供了允許電路設計者在此系列中選擇例如下一個最大的或下一個最小的設備電流極限的靈活性，而不必改變設計。例如，在通常具有固定電流極限的設備系列中，現在允許電路設計者改變多功能電容器311的電容值並且選擇晶片系列的下一個最大的或下一個最小的成員的電流極限。因而，例如，按照本發明的教導，通過適當地選擇多功能電容器311的電容值，可以由電路設計者根據具體應用的熱需求來改善或優化開關337的RDS值。
在按照本發明的教導選擇功能參數和/或操作模式時的初始化周期之後，在集成電路303中正常操作繼續進行，以及按照本發明的教導，多功能電容器311執行集成電路303的其他功能。例如，在電壓VCAP393上升到如旁路引腳欠壓比較器371所判定的足夠的電平之後，AND(與)門373被啟用以允許驅動信號391被輸出到開關337，以及因此自動再啟動計數器369被重置，以啟動集成電路303的正常操作。在正常操作期間，開關337被切換，以響應驅動信號391。如果集成電路303中的溫度根據THERMAL ADJ 355的設置而變得過度，則熱擊穿電路365將禁用AND門373，這也將禁止驅動信號391被輸出到開關337，這禁止開關337切換。
當在正常操作期間開關337被啟動以切換為調節電源輸出時，經由使能/欠壓EN/UV端347接收來自電源輸出的反饋，從中生成ENABLE信號387。正如所示出的，在正常操作期間，按照本發明的教導，使用經由電流源從多功能電容器311提供的偏置電流，生成ENABLE信號387。當響應於從電源輸出接收到的反饋而ENABLE信號387是有效的時，允許鎖存器375經由AND門381和OR(或)門385而被設置。因此，允許來自振蕩器367的CLOCK信號來設置鎖存器375，從中經由AND門373生成驅動信號391。鎖存器375被復位，以響應工作循環最大DCMAX信號367變低或響應通過開關337的電流超出如由電流極限比較器389經由AND門377和OR門383所識別的峰值電流極限電平。在所舉例說明的示例中，在驅動信號391的每個脈衝的上升沿期間，上升沿消隱電路(leading edge blanking circuit)379被耦合，以便暫時禁用電流極限信號。
正如所示出的，響應於VILIMIT的值而設置由電流極限比較器389建立的峰值電流極限電平，所述VILIMIT的值是由電流極限狀態機363輸出的，按照本發明的教導，所述電流極限狀態機363響應於ILIM ADJ 353而生成VILIMIT。
圖5是耦合到多功能電容器511的集成電路503的另一個實施例的示意圖，其中按照本發明的教導在初始化期間測量該電容器的信號，以選擇參數/模式。應當理解，集成電路503具有許多與如上所述舉例說明的示例性集成電路303相類似之處。因此，按照本發明的教導，例如圖1和2舉例說明了可以以適當的組合來與集成電路503交換地使用集成電路303。
實際上，類似於集成電路303，多功能電容器511經由旁路BP端545而耦合到集成電路503。集成電路503還包括耦合到控制器電路539的開關537，其中控制器電路經由集成電路503的旁路BP端545而耦合到多功能電容器511。集成電路503的控制器電路539還包括調整器電路559、旁路引腳欠壓比較器571、自動再啟動計數器569、電流極限狀態機563、電流極限比較器589、振蕩器567、熱擊穿電路565、上升沿消隱電路579、鎖存器575及其他的相關電路。在初始化之後的正常操作期間，集成電路503的操作類似於集成電路303的操作。
集成電路503和集成電路303之間的一個差異在於，當電壓VCAP593隨時間下降時，耦合閾值檢測與計時電路549，以測量多功能電容器中的信號。為了舉例說明，把注意力放到圖5和6上。尤其，圖6顯示了一個圖表601，其舉例說明了按照本發明的教導在集成電路503的初始化周期期間電壓VCAP593隨時間變化的若干示例。尤其，曲線693A舉例說明了具有第一電容值的多功能電容器511的電壓VCAP593，而曲線693B舉例說明了具有第二電容值的多功能電容器511的電壓VCAP593。如所能夠觀察到的，對於給定的電流，曲線693A和/或693B的上升和下降時間改變。在所舉例說明的示例中，當利用充電電流ICHARGE561對多功能電容器進行充電時，電壓VCAP593上升，而當利用電流IDETECT經由放電電路對多功能電容器進行放電時，電壓VCAP593下降，其中放電電路包括開關597和電流源595。
在初始化期間的操作中，閾值檢測與計時電路549測量經由旁路BP端545從多功能電容器511所接收到的信號。當閾值檢測與計時電路549檢測到電壓VCAP593已上升到第二閾值時，閾值檢測與計時電路549閉合開關597，以啟動電流源595，從而利用電流IDETECT對多功能電容器511進行放電。此時，電壓VCAP593下降，並且閾值檢測與計時電路549測量電壓VCAP593從第二閾值電壓下降到第一閾值電壓所花費的時間周期。如在示例圖6中可以觀察到的，在曲線693A中電壓VCAP593從第二閾值下降到第一閾值的時間測量是Δt1。相反，在曲線693B中電壓VCAP593從第二閾值下降到第一閾值的時間測量是Δt2。正如所示出的，測量的時間周期Δt2大於測量的時間周期Δt1。這是因為曲線693B中多功能電容器511的電容值大於曲線693A中多功能電容器511的電容值。因此，可以按照本發明教導所述通過測量時間周期而由閾值檢測與計時電路549估算與旁路BP端545相耦合的多功能電容器511的具體電容值。在這個示例中，在正常操作期間，調節器559把電壓VCAP593保持在第二閾值上。
返回參考圖5，按照本發明的教導，參數/模式選擇電路551耦合到閾值檢測與計時電路549，並且為集成電路503生成參數/模式選擇信號，以響應由閾值檢測與計時電路549所測量的時間周期或所估算的電容值。在圖5舉例說明的示例中，響應於所測量的時間周期，參數/模式選擇電路551為電流極限調節信號ILIM ADJ 553、熱擊穿閾值信號THERMAL ADJ 555以及頻率調節信號FREQ ADJ 557選擇特定的設置。按照本發明的教導，響應於測量的時間值而由參數/模式選擇電路351所生成的這些參數/模式選擇信號的耦合與操作類似於結合集成電路303所討論的相應參數/模式選擇信號。應當理解，在替換實施例中，電路549的輸入596可代之以直接耦合到旁路欠壓比較器571的輸出594。這樣，比較器571形成閾值檢測與計時電路549的一部分。在這個替換實施例中，電路549的輸入596不再直接耦合到BP端545。
圖7是耦合到多功能電容器711的集成電路703的實施例的又一個示意圖，其中按照本發明的教導，在初始化期間測量該電容器的信號，以選擇參數/模式。集成電路703也與以上討論的集成電路503、303、203以及103具有相類似之處。因此，按照本發明的教導，可以在適當之處與集成電路503、303、203以及103交換地使用集成電路703或把集成電路703與集成電路503、303、203以及103進行元件組合。
在圖7所舉例說明的特定示例中，在初始化期間以及在啟動時，多功能電容器711兩端的電壓VCAP793基本上開始於零伏。在啟動時，多功能電容器711最初利用經由旁路端745從調節器759接收到的充電電流進行充電。只要在旁路端745上的電壓VCAP793超出3.0伏，如比較器710所確定的，則在比較器710的輸出上除去加電復位信號，所述比較器710的輸出被耦合以重置圖7所示的所有鎖存器712、718、726以及730，以便能夠按照本發明的教導執行啟動序列或初始化。在初始化期間，可基於耦合到旁路端745的多功能電容器711的電容值CMF值來選擇集成電路703的參數/模式。
繼續初始化，只要旁路端745上的電壓VCAP793超出5.8伏，如比較器708上所確定的，則所達到的5.8伏信號在從鎖存器712輸出時變高。隨著不放電(Not Discharged)信號升高，AND門732被啟用而開關797被閉合，從而啟動電流源795而開始經由旁路端745對多功能電容器711進行放電。此時，OR門736禁用5.8伏調節器759，並且計數器720也開始計數。在所舉例說明的示例中，計數器720是6位二進位計數器，並且根據電壓VCAP793下降到如比較器706所確定的並且根據鎖存器716的欠壓輸出進行設置的4.8伏所需要花費的時間量來設置二進位輸出Q1-Q6。此時，二進位輸出Q1-Q6的狀態表示一種時間測量，從中可以按照本發明的教導來確定多功能電容器711的估算電容值CMF。鎖存器718要被設置，並因而在VCAP793下降回到4.8伏之後，不放電(Not Discharged)信號將變低。
如所舉例說明的示例中所示，二進位輸出Q1-Q3被輸入到AND門724，而二進位輸出Q4-Q6被輸入到AND門722。按照本發明的教導，取決於二進位輸出Q1-Q6的狀態，鎖存器726以及730的輸出表示多功能電容器711的估算電容值CMF是否小於0.3uF或大於3uF。如果Q1、Q2和Q3分別達到值1、1和0，而不放電信號仍然為高，則將設置鎖存器726，因而來自鎖存器726的輸出信號A將是低的，這表明CMF值大於0.3uF。如果Q1、Q2和Q3分別達到值0、1和0，而不放電信號仍然為高，則將設置鎖存器730，因而來自鎖存器730的輸出信號B將是高的，這表明CMF值大於3uF。
在圖7所舉例說明的特定示例中，鎖存器726和730的相應輸出A和B被輸入到集成電路703的Ilim調節電路763中。正如所示出的，Ilim調節電路763調節Iadj電流源702，其用來調節電阻器704兩端的電壓降，其用來設置電流極限比較器789的比較電壓VIlimit，該比較器被耦合，以便按照本發明的教導，檢測電壓降並由此檢測通過開關737的電流。在初始化之後並且在集成電路703的正常操作期間，按照本發明的教導，類似於如上所述的其他示例，多功能電容器711給集成電路提供電源去耦功能。
在上文的詳細說明中，參考其特定示範性實施例描述了本發明的方法和設備。然而，在不脫離本發明的較寬精神和範圍下可以作出各種修改和改變，這是顯而易見的。因此，當前說明書和附圖被認為是說明性的而不是限制性的。
權利要求
1.一種集成電路，包括閾值檢測與計時電路，其被耦合，以便在集成電路的初始化周期期間從多功能電容器中測量信號，其中多功能電容器被耦合到集成電路的第一端；以及選擇電路，其被耦合到閾值檢測與計時電路，以便在集成電路的初始化周期期間響應於從多功能電容器中測量的信號而選擇集成電路的參數/模式，其中多功能電容器被耦合，以便在集成電路的初始化周期結束之後為集成電路提供附加功能。
2.權利要求1的集成電路，其中附加功能包括用於集成電路的電源去耦功能。
3.權利要求1的集成電路，其中附加功能包括用於集成電路的迴路補償功能。
4.權利要求1的集成電路，其中由集成電路在初始化周期期間設置的參數/模式包括耦合在集成電路的第二端與第三端之間的開關中的峰值電流極限電平。
5.權利要求4的集成電路，其中該電容器被耦合在第一端和第三端之間。
6.權利要求1的集成電路，其中由集成電路在初始化周期間設置的參數/模式包括集成電路的操作頻率。
7.權利要求6的集成電路，其中集成電路的操作頻率是集成電路的最大操作頻率。
8.權利要求1的集成電路，進一步包括耦合到第一端的調節器電路，該調節器電路在初始化時對耦合到第一端的多功能電容器進行充電。
9.權利要求8的集成電路，其中調節器電路包括電流源，以便利用預定電流對多功能電容器進行充電。
10.權利要求8的集成電路，進一步包括放電電路，其被耦合來減少在初始化周期期間多功能電容器中的電荷。
11.權利要求1的集成電路，其中由閾值檢測與計時電路所測量的信號包括在時間周期內從第一電壓改變到第二電壓的電壓。
12.權利要求11的集成電路，其中第一電壓小於第二電壓。
13.權利要求11的集成電路，其中第一電壓大於第二電壓。
14.權利要求1的集成電路，其中集成電路被包含在電源調節器中，該電源調節器被耦合到具有改變量值的輸出負載。
15.一種方法，包括在集成電路的初始化周期期間，估算耦合到集成電路的多功能電容器的電容值；選擇集成電路的參數/模式，以響應所估算的電容值；以及在估算電容值之後，操作集成電路，同時把多功能電容器用於附加功能。
16.權利要求15的方法，其中估算電容值包括在集成電路的初始化周期期間，對多功能電容器進行充電；以及測量多功能電容器上的電壓從第一值改變到第二值的時間周期。
17.權利要求16的方法，其中測量多功能電容器上的電壓從第一值改變到第二值的時間周期包括利用預定電流對多功能電容器進行充電，以增加在該時間周期期間多功能電容器上的電壓。
18.權利要求16的方法，其中測量多功能電容器上的電壓從第一值改變到第二值的時間周期包括利用預定電流對多功能電容器進行放電，以降低在該時間周期期間多功能電容器上的電壓。
19.權利要求16的方法，其中選擇集成電路的參數/模式包括選擇集成電路的參數/模式，以響應所測量的多功能電容器上的電壓從第一值改變到第二值的時間周期。
20.權利要求15的方法，其中操作集成電路包括利用該集成電路調節從電源的輸入到電源的輸出的能量的轉移。
21.一種電源，包括能量轉移元件，其耦合在電源的輸入和輸出之間；開關，其耦合到能量轉移元件的輸入；控制器，其耦合到開關，以控制該開關的切換，從而調節從電源的輸入到電源的輸出的能量的轉移；以及多功能電容器，其耦合到控制器，該控制器用於估算在該控制器的初始化周期期間電容器的電容值，該控制器用於響應於所估算的電容值而設置該控制器的參數/模式，該控制器用於在初始化周期之後將多功能電容器用於控制器的操作期間的另一功能。
22.權利要求21的電源，其中該控制器包括閾值檢測與計時電路，其被耦合，以便從多功能電容器中測量信號；和選擇電路，其耦合到閾值檢測與計時電路，以便響應於從多功能電容器中測量的信號而為控制器選擇參數/模式。
23.權利要求22的電源，其中由閾值檢測與計時電路所測量的信號包括多功能電容器兩端的電壓從第一電壓改變到第二電壓的時間。
24.權利要求23的電源，其中控制器被耦合來設置控制器的參數/模式，以響應時間測量。
25.權利要求23的電源，其中第一電壓大於第二電壓。
全文摘要
披露了基於時間測量來選擇電路的功能參數和/或操作模式的技術。一個示例性集成電路包括閾值檢測與計時電路，其被耦合，以便在集成電路的初始化周期期間從多功能電容器中測量信號，所述多功能電容器被耦合到集成電路的第一端。選擇電路被耦合到閾值檢測與計時電路，以便響應於在集成電路的初始化周期期間從多功能電容器中測量的信號而選擇集成電路的參數/模式。多功能電容器被耦合，以便在集成電路的初始化周期完成之後為集成電路提供附加功能。
文檔編號H02M3/335GK101039071SQ20061014637
公開日2007年9月19日 申請日期2006年8月25日 優先權日2005年8月26日
發明者D·M·H·馬修斯, A·B·德曾古裡安, K·黃, B·巴拉克裡施南 申請人:電力集成公司