一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置與流程

2023-05-07 03:30:21

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置。

背景技術：

有機電致發光顯示(英文名稱：organiclight-emittingdiode,英文簡稱：oled)產品具有對比度高、響應速度快、體積小、重量輕等優點，已開始逐漸取代傳統的液晶顯示(英文名稱：liquidcrystaldisplay，英文簡稱：lcd)，越來越受到本領域研究人員的關注。

相比於傳統液晶顯示顯示裝置oled的像素電路結構更加複雜，內部信號走線也更加密集繁多，因此在oled製造過程中也更加可能出現數據線、柵線等信號線具有開路(英文名稱：open)、短路(英文名稱：short)等不良。雖然在oled製造過程的前段可以通過工程調試(英文全稱：engineeringtrial，英文縮寫：et)對oled的像素電路出現的信號線不良進行檢測，但現有技術中缺乏對在模組段產生的信號線不良的解析方法。若具有信號線不良的oled模組進入後續的生產製造工藝，則會造成大量材料和人力的浪費，增加oled產品的製造成本。此外，由於無法及時、準確的檢測出信號線不良，因此對不良原因的分析也十分困難。綜上，如何對對oled的像素電路中的信號線進行檢測是本領域技術人員亟待解決的問題。

技術實現要素：

本發明的實施例提供一種電致發光顯示面板及其檢測方法、顯示裝置，用於對自發光顯示的像素電路中的信號線進行檢測。

為達到上述目的，本發明的實施例採用如下技術方案：

第一方面，提供一種電致發光顯示面板，包括：多個陣列排布的像素電路和多個用於對位於所述陣列的同一行的像素電路和/或位於所述陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線進行檢測的檢測單元；所述待檢測信號線的源端和遠端分別連接一個所述檢測單元；

所述檢測單元包括：控制模塊和發光模塊；所述控制模塊連接所述待檢測信號線、控制電壓輸入端以及所述發光模塊，用於在所述控制電壓輸入端的電壓的控制下導通或關斷所述發光模塊和所述待檢測信號線；所述發光模塊還連接第一電平端，用於在所述待檢測信號線的電壓和所述第一電平端的電壓的驅動下發光。

可選的，所述控制模塊包括：第一電晶體；所述第一電晶體的第一極連接所述待檢測信號線，所述第一電晶體的第二極連接所述發光模塊，所述第一電晶體的柵極連接所述控制電壓輸入端；

所述發光模塊包括：發光二極體；所述發光二極體的陽極連接所述控制模塊；所述發光二極體的陰極連接所述第一電平端。

可選的，所述像素電路包括：第二電晶體、第三電晶體、第四電晶體、第一電容以及電致發光二極體；

所述第二電晶體的第一極連接第二電平端、所述第二電晶體的第二極連接所述電致發光二極體的陽極、所述第一電容的第一極、所述第四電晶體的第一極，所述第二電晶體的柵極連接所述第一電容的第二極和所述第三電晶體的第二極；

所述第三電晶體的第一極連接數據線、所述第三電晶體的柵極連接第一掃描信號線；

所述第四電晶體的第二極連接檢測線、所述第四電晶體的柵極連接第二掃描信號線；

所述電致發光二極體的陰極連接第一電平端。

第二方面，提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，用於對上述電致發光顯示面板的數據線進行檢測；所述方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述數據線、在所述數據線上施加預設電壓、在所述第一掃描信號線的電壓的控制下使各所述像素電路的第三電晶體導通以及使所述檢測線浮空；

若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，則確定該數據線沒有開路；

若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該數據線的源端具有開路；

若與任一數據線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該數據線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該數據線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該數據線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

可選的，所述方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述數據線、在所述數據線上施加預設電壓以及控制所述第一掃描信號線、所述第二掃描信號線以及所述檢測線的電壓均為低電平；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該數據線沒有短路；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該數據線與第二電平端短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述數據線、控制所述第一掃描信號線的電壓為低電平、所述第二掃描信號線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與第一掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述數據線、控制所述第二掃描信號線的電壓為低電平、所述第一掃描信號線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與第二掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述數據線、控制所述檢測線的電壓為低電平、所述第一掃描信號線和所述第二掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與檢測線短路；

其中，所述預設亮度為在發光模塊在所述預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

第三方面，提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，上述電致發光顯示面板的第一掃描信號線進行檢測；所述方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第一掃描信號、在所述第一掃描信號線上施加可使第三電晶體導通的電壓、在所述數據線上施加預設電壓以及使所述檢測線浮空；

若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，則確定該第一掃描信號線沒有開路；

若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該第一掃描信號線的源端具有開路；

若與任一第一掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第一掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該第一掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第一掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

可選的，所述方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第一掃描信號線、在所述第一掃描信號線施加預設電壓以及控制所述數據線、所述第二掃描信號線以及所述檢測線的電壓均為低電平；若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該第一掃描信號線沒有短路；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該第一掃描信號線與第二電平端短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第一掃描信號線、在所述第一掃描信號線施加預設電壓以及控制所述數據線的電壓為低電平、所述第二掃描信號線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與數據線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第一掃描信號線、在所述第一掃描信號線施加預設電壓以及控制所述第二掃描信號線的電壓為低電平、所述數據線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與第二掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第一掃描信號線、在所述第一掃描信號線施加預設電壓以及控制所述檢測線的電壓為低電平、所述數據線和所述第二掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與檢測線短路；

其中，所述預設亮度為在發光模塊在所述預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

第四方面，提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，用於對上述電致發光顯示面板的第二掃描信號線進行檢測；所述方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第二掃描信號、在所述第二掃描信號線上施加可以使第四電晶體導通的電壓、在所述檢測線上施加預設電壓以及使所述數據線浮空；

若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，則確定該第二掃描信號線沒有開路；

若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該第二掃描信號線的源端具有開路；

若與任一第二掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第二掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該第二掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第二掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

可選的，所述方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第二掃描信號線、在所述第二掃描信號線施加預設電壓以及控制所述數據線、所述第一掃描信號線以及所述檢測線的電壓均為低電平；若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該第二掃描信號線沒有短路；若與任二數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該第二掃描信號線與第二電平端短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第二掃描信號線、在所述第二掃描信號線施加預設電壓以及控制所述數據線的電壓為低電平、所述第一掃描信號線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與數據線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第二掃描信號線、在所述第二掃描信號線施加預設電壓以及控制所述第一掃描信號線的電壓為低電平、所述數據線和所述檢測線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與第一掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通所述發光模塊和所述第二掃描信號線、在所述第二掃描信號線施加預設電壓以及控制所述檢測線的電壓為低電平、所述數據線和所述第一掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與檢測線短路；

其中，所述預設亮度為在發光模塊在所述預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

第五方面，提供一種顯示裝置，其特徵在於，包括第一方面任一項所述的電致發光顯示面板。

本發明實施例提供的電致發光顯示面板，包括：多個陣列排布的像素電路和多個用於對位於陣列的同一行的像素電路和/或位於陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線進行檢測的檢測單元；由於待檢測信號線的源端和遠端分別連接一個檢測單元，且檢測單元包括能夠在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通或關斷髮光模塊和待檢測信號線的控制模塊，以及能夠在待檢測信號線的電壓和第一電平端的電壓的驅動下發光的發光模塊，因此本發明實施例提供的電致發光顯示面板可以通過發光模塊的發光情況來判斷電致發光顯示面板中的待檢測信號線是否存在異常，即本發明實施例可以對電致發光顯示面板中的信號線進行檢測。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的電致發光顯示面板示意性結構圖；

圖2為本發明實施例提供的檢測單元的示意性結構圖；

圖3為本發明實施例提供的檢測單元的電路圖；

圖4為本發明實施例提供的像素電路的電路圖；

圖5為本發明實施例提供的電致發光顯示面板示意性結構圖之二；

圖6為本發明實施例提供的電致發光顯示面板示意性結構圖之三；

圖7為本發明實施例提供的電致發光顯示面板示意性結構圖之四。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

本發明所有實施例中採用的電晶體均可以為薄膜電晶體或場效應管或其他特性相同的器件，根據在電路中的作用本發明的實施例所採用的電晶體主要包括開關電晶體、驅動電晶體。由於這裡採用的開關電晶體的源極、漏極是對稱的，所以其源極、漏極是可以互換的。在本發明實施例中，為區分電晶體除柵極之外的兩極，將其中一極稱為源極，另一極稱為漏極。按附圖中的形態規定電晶體的中間端為柵極、信號輸入端為源極、信號輸出端為漏極。此外本發明實施例所採用的開關電晶體包括p型開關電晶體和n型開關電晶體兩種，其中，p型開關電晶體在柵極為低電平時導通，在柵極為高電平時截止，n型開關電晶體為在柵極為高電平時導通，在柵極為低電平時截止；驅動電晶體包括p型和n型，其中p型驅動電晶體在柵極電壓為低電平(柵極電壓小於源極電壓)，且柵極源極的壓差的絕對值大於閾值電壓時處於放大狀態或飽和狀態；其中n型驅動電晶體的柵極電壓為高電平(柵極電壓大於源極電壓)，且柵極源極的壓差的絕對值大於閾值電壓時處於放大狀態或飽和狀態。

在本發明中，所涉及的電致發光顯示面板可以是oled，也可以是量子點電致發光顯示面板(英文名稱：quantumdotlightemittingdiodes，簡稱：qled)，還可以是微型電致發光顯示面板(英文名稱：microlightemittingdiodes，簡稱：microled)，或其它任何自發光顯示元件的顯示面板均可。在如下實施例中，以oled進行示意。

在本發明中，使用了浮空的概念，該概念指的是至少在檢測時將與待檢測的數據線或掃描線等不相關的線與其所連接的電路斷開連接，從而避免這些線上的電壓對像素電路中的發光元件的發光情況造成幹擾。例如在檢測數據線的開路、短路等時，將檢測線浮空(通常檢測線與檢測電路連接，檢測線浮空是指使檢測線與檢測電路斷開連接)，避免檢測線上的電壓對像素電路中的發光元件的發光情況造成幹擾；在檢測第一、第二掃描線時，將數據線浮空等(數據線通常是與ic驅動電路連接的，數據線浮空是指與ic驅動電路斷開連接)，避免數據線上的電壓對像素電路中的發光元件的發光情況造成幹擾

還需要說明的是，為了便於清楚描述本發明實施例的技術方案，在本發明的實施例中，採用了「第一」、「第二」等字樣對功能和作用基本相同的相同項或相似項進行區分，本領域技術人員可以理解「第一」、「第二」等字樣並不是在對數量和執行次序進行限定。

本發明實施例提供一種電致發光顯示面板，參照圖1所示，該電致發光顯示面板包括：多個陣列排布的像素電路11和多個用於對位於陣列的同一行的像素電路11和/或位於陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線12進行檢測的檢測單元13；待檢測信號線12的源端和遠端分別連接一個檢測單元13。

進一步的，參照圖2所示，檢測單元13包括：控制模塊131和發光模塊132；

控制模塊131連接待檢測信號線12、控制電壓輸入端vt以及發光模塊13，用於在控制電壓輸入端vt的電壓的控制下導通或關斷髮光模塊132和待檢測信號線12。

發光模塊13還連接第一電平端v1，用於在待檢測信號線12的電壓和第一電平端v1的電壓的驅動下發光。

示例性的，第一電平端v1可以接地。

上述檢測單元13中的控制模塊131在電路中的實際作用為控制發光模塊132和待檢測信號線12的導通或關斷，因此通過控制模塊131可以根據實際需要來對驅動發光模塊132發光。由於可以根據檢測的需要，控制發光模塊132的開啟和關閉，可防止其長期處於發光狀態造成發光單元發光效率下降，影響檢測的準確性的問題。

需要說明的是，圖1中以位於陣列的同一行的像素電路11所共用的待檢測信號線12和位於陣列的同一列的像素電路11所共用的待檢測信號線12的源端和遠端均設置有檢測單元13為例進行說明，但本發明實施例並不限定於此，在本發明的一些實施例中也可以僅位於陣列的同一行的像素電路11所共用的待檢測信號線12的源端和遠端設置有檢測單元13，或者僅位於陣列的同一列的像素電路11所共用的待檢測信號線12的源端和遠端設置有檢測單元13。

本發明實施例提供的電致發光顯示面板，包括：多個陣列排布的像素電路和多個用於對位於陣列的同一行的像素電路和/或位於陣列的同一列的像素電路所共用的待檢測信號線進行檢測的檢測單元；由於待檢測信號線的源端和遠端分別連接一個檢測單元，且檢測單元包括能夠在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通或關斷髮光模塊和待檢測信號線的控制模塊，以及能夠在待檢測信號線的電壓和第一電平端的電壓的驅動下發光的發光模塊，因此本發明實施例提供的電致發光顯示面板可以通過發光模塊的發光情況來判斷電致發光顯示面板中的待檢測信號線是否存在異常，即本發明實施例可以對電致發光顯示面板中的信號線進行檢測。

本發明實施還進一步提供了一種上述檢測單元的電路結構，具體的參照圖3所示，檢測單元13的控制模塊131包括：第一電晶體t1，檢測單元13的發光模塊132包括：發光二極體d1。

第一電晶體t1的第一極連接待檢測信號線12，第一電晶體t1的第二極連接發光模塊132，第一電晶體t1的柵極連接控制電壓輸入端vt。

發光二極體d1的陽極連接控制模塊131；發光二極體的陰極連接第一電平端v1。

可選的，為了說明本申請技術方案的工作原理，如下以3t1c像素電路為例對本發明提供的實施例進行說明，但本發明並不限定於此，基於本公開的原理，本領域技術人員可將其調整後適用於任何oled的像素電路結構。該示意性的3t1c像素電路的具體結構可以包括：第二電晶體t2、第三電晶體t3、第四電晶體t4、第一電容c1以及電致發光二極體oled。

第二電晶體t2的第一極連接第二電平端v2、第二電晶體t2的第二極連接電致發光二極體oled的陽極、第一電容c1的第一極、第四電晶體t4的第一極，第二電晶體t2的柵極連接第一電容c1的第二極和第三電晶體t3的第二極；

第三電晶體t3的第一極連接數據線vdata、第三電晶體t3的柵極連接第一掃描信號線g1；

第四電晶體t4的第二極連接檢測線sense、第四電晶體的柵極連接第二掃描信號線g2；

電致發光二極體oled的陰極連接第一電平端v1。

可選的，上述檢測單元中的第一電晶體t1和像素電路中的第二電晶體t2、第三電晶體t3以及第四電晶體t4可以均為n型電晶體或者均為p型電晶體。當然也可以將一部分電晶體設置為n型電晶體，另一部分電晶體設置為p性電晶體，此時需保證電路中通過同一個時序信號或電壓控制的電晶體需要採用相同的類型，當然這都是本領域的技術人員依據本發明的實施例可以做出的合理變通方案，因此均應為本發明的保護範圍，然而考慮到電晶體的製程工藝，由於不同類型的電晶體的有源層摻雜材料不相同，因此電路中採用統一類型的電晶體更有利於簡化電致發光顯示面板的製程工藝。

進一步的，上述檢測單元13中的發光二極體d1可以與像素電路12中的oled同步製作形成。即，發光二極體d1可以在oled的製程工藝中製作形成。將發光二極體d1在oled的製程工藝中製作形成可以省略單獨製作發光二極體d1的製程工藝。此外，本領域技術人員可以根據檢測需求來設置發光二極體d1的面積大小，本發明實施例中對發光二極體d1的面積不做限定。

再進一步的，上述實施例中的待檢測信號線可以包括：數據線vdata、第一掃描信號線g1以及第二掃描信號線g2中的一種或多種。示例性的，參照圖5、6、7所示，其中，圖5為待檢測信號線為數據線時，電致發光顯示面板的示意性結構圖；圖6為待檢測信號線為第一掃描信號線時，電致發光顯示面板的示意性結構圖；圖7為待檢測信號線為第二掃描信號線時，電致發光顯示面板的示意性結構圖。需要說明的是，圖5、6、7中以待檢測信號線分別為數據線vdata、第一掃描信號線g1以及第二掃描信號線g2為例進行說明，但本發明實施例中並不限定於此，在上述實施的基礎上待檢測信號線還可以同時包括：數據線vdata、第一掃描信號線g1以及第二掃描信號線g2中的多種，例如：待檢測信號線同時包括數據線vdata和第一掃描信號線g1；再例如：待檢測信號線同時包括第二掃描信號線g2和第一掃描信號線等。

還需要說明的，如圖5、6、7所示，用於對同一種待檢測信號線進行檢測的檢測單元(例如：與數據線的源端和遠端連接的檢測單元)可以通過位於第一電晶體的柵金屬層的檢測開啟信號線vtl向控制電壓輸入端提供工作信號，從而簡化檢測單元的製程工藝。此外，相比於數據線、第一掃描信號線以及第二掃描信號線可以將檢測開啟信號線vtl的寬度設置的較寬；例如：將檢測開啟信號線vtl的寬度設置為10um。

本發明的實施例提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，對在圖5所示的電致發光顯示面板的數據線進行檢測。該方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和數據線、在數據線上施加預設電壓、在第一掃描信號線的電壓的控制下使各像素電路的第三電晶體導通以及使檢測線浮空。

若任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，確定該數據線沒有開路。

若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該數據線的源端具有開路；

若與任一數據線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該數據線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該數據線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該數據線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

以下對上述實施例中對數據線的開路解析原理進行說明。

由於發光模塊和數據線導通，且數據線上的電壓為預設電壓，所以在數據線沒有開路時，數據線上的電壓能夠傳輸至發光模塊，進而驅動發光模塊發光；當數據線的源端具有開路時，數據線上的電壓為零，因此與數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光；當數據線的源端和遠端之間(顯示區域)具有開路時，數據線的源端至開路位置上的電壓為預設電壓，因此與數據線的源端連接的檢測單元的發光模塊可以發光，數據線的開路位置至遠端上的電壓為零，因此與數據線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光。又因為各像素電路的第三電晶體導通且檢測線浮接，所以數據線上的電壓能夠傳輸至第二電晶體的柵極，像素電路中的電致發光二極體可以通過數據線上的電壓顯示灰階，所以當與任一數據線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該數據線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光時，位於數據線的源端至開路位置的像素電路中的電致發光二極體可以發光，而位於數據線的開路位置至遠端的像素電路中的電致發光二極體不發光，因此可以根據共用數據線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該數據線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

即，本發明的實施例提供了一種對數據線是否具有開路以及開路位置的檢測方法。

進一步的，上述對數據線進行檢測的電致發光顯示面板的檢測方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和數據線、在數據線上施加預設電壓以及控制第一掃描信號線、第二掃描信號線以及檢測線的電壓均為低電平。

若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該數據線沒有短路。

若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該數據線與第二電平端短路。

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和數據線、控制第一掃描信號線的電壓為低電平、第二掃描信號線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與第一掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和數據線、控制第二掃描信號線的電壓為低電平、第一掃描信號線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與第二掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和數據線、控制檢測線的電壓為低電平、第一掃描信號線和第二掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一數據線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該數據線與檢測線短路；

其中，預設亮度為在發光模塊在預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

在實際測試中，電致發光顯示面板的數據線出現短路的機率較小，大多數發光模塊都可以正常發光(亮度為預設亮度)，因此上述實施中比較發光模塊的發光亮度與預設亮度時可以將任一數據線的源端和遠端的發光模塊的發光亮度與其他發光模塊的發光亮度進行比較，從而判斷發光模塊的發光亮度與預設亮度的大小關係。

即，在上述實施例的基礎上本發明實施例可以進一步對數據線是否具有短路以及發生短路的信號線進行檢測。

本發明的實施例提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，對在圖6所示的電致發光顯示面板的第一掃描信號線進行檢測。該方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第一掃描信號、在第一掃描信號線施加可使第三電晶體導通的電壓、在數據線上施加預設電壓以及使檢測線浮空。

其中，在第一掃描信號線施加可使第三電晶體導通的電壓具體為：當第三電晶體為n型電晶體時，在第一掃描信號線施加高電平電壓；當第三電晶體為p型電晶體時，在第一掃描信號線施加低電平電壓。

若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，則確定該第一掃描信號線沒有開路；

若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該第一掃描信號線的源端具有開路；

若與任一第一掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第一掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該第一掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第一掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

上述實施例中對第一掃描信號線的開路解析原理與對數據線的開路解析原理類似，區別僅在於當第一掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第一掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光時，根據共用該第一掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第一掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置的原理為：由於第一掃描信號線的開路位置至遠端上的電壓為零，與開路位置至遠端連接的像素電路中的第三電晶體無法導通，數據線上的電壓無法傳輸至第二電晶體的柵極，所以此部分像素電路中的發光二極體不發光。

進一步的，上述對第一掃描信號線進行檢測的電致發光顯示面板的檢測方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第一掃描信號線、在第一掃描信號線施加預設電壓以及控制數據線、第二掃描信號線以及檢測線的電壓均為低電平；若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該第一掃描信號線沒有短路；若與任一數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該第一掃描信號線與第二電平端短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第一掃描信號線、在第一掃描信號線施加預設電壓以及控制數據線的電壓為低電平、第二掃描信號線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與數據線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第一掃描信號線、在第一掃描信號線施加預設電壓以及控制第二掃描信號線的電壓為低電平、數據線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與第二掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第一掃描信號線、在第一掃描信號線施加預設電壓以及控制檢測線的電壓為低電平、數據線和第二掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一第一掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第一掃描信號線與檢測線短路；

其中，預設亮度為在發光模塊在預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

本發明的實施例提供一種電致發光顯示面板的檢測方法，對在圖7所示的電致發光顯示面板的第二掃描信號線進行檢測。該方法包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第二掃描信號、在第二掃描信號線上施加可使第四電晶體導通的電壓、在檢測線上施加預設電壓以及使數據線浮空。

其中，在第二掃描信號線施加可使第四電晶體導通的電壓具體為：當第四電晶體為n型電晶體時，在第二掃描信號線施加高電平電壓；當第四電晶體為p型電晶體時，在第二掃描信號線施加低電平電壓。

若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均發光，則確定該第二掃描信號線沒有開路；

若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊均不發光，則確定該第二掃描信號線的源端具有開路；

若與任一第二掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第二掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光，則根據共用該第二掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第二掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置。

同樣，上述實施例中對第二掃描信號線的開路解析原理與對數據線的開路解析原理類似，區別僅在於當第二掃描信號線的源端連接的檢測單元的發光模塊發光且與該第二掃描信號線的遠端連接的檢測單元的發光模塊不發光時，根據共用該第二掃描信號線的像素電路中電致發光二極體不發光且距離該第二掃描信號線的源端最近的像素電路的位置確定該數據線的開路位置的原理為：由於第二掃描信號線的源端至開路位置的電壓為可使第四電晶體導通的電壓(若第四電晶體為n型電晶體，則向第二掃描信號線施加高電平電壓，若第四電晶體為p型電晶體，則向第二掃描信號線施加低電平電壓)，且檢測線上的電壓為預設電壓，因此這部分像素電路中的發光二極體可以通過檢測線上的預設電壓發光，而第二掃描信號線的開路位置至遠端上的電壓為零，與開路位置至遠端連接的像素電路中的第四電晶體截止，檢測線上的電壓無法傳輸至第四電晶體的柵極，所以這部分像素電路中的發光二極體不發光。

進一步的，上述對第二掃描信號線進行檢測的電致發光顯示面板的檢測方法還包括：

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第二掃描信號線、在第二掃描信號線施加預設電壓以及控制數據線、第一掃描信號線以及檢測線的電壓均為低電平；若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度等於預設亮度，則確定該第二掃描信號線沒有短路；若與任二數據線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度大於預設亮度，則確定該第二掃描信號線與第二電平端短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第二掃描信號線、在第二掃描信號線施加預設電壓以及控制數據線的電壓為低電平、第一掃描信號線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與數據線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第二掃描信號線、在第二掃描信號線施加預設電壓以及控制第一掃描信號線的電壓為低電平、數據線和檢測線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與第一掃描信號線短路；

在控制電壓輸入端的電壓的控制下導通發光模塊和第二掃描信號線、在第二掃描信號線施加預設電壓以及控制檢測線的電壓為低電平、數據線和第一掃描信號線的電壓均為高電平；若與任一第二掃描信號線的源端連接和遠端連接的檢測單元的發光模塊的發光亮度小於預設亮度,則確定該第二掃描信號線與檢測線短路；

其中，預設亮度為在發光模塊在預設電壓和第一電平端的電壓的驅動下的發光亮度。

本發明在一實施例提供一種顯示裝置，包括上述任一實施例提供的電致發光顯示面板。

示例性的，本發明實施例中的顯示裝置可以為：電子紙、手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數碼相框、導航儀等產品或部件。

以上所述，僅為本發明的具體實施方式，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術範圍內，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應以權利要求的保護範圍為準。