一種基於usb轉iic協議的晶片測試系統的製作方法

2023-11-02 17:45:42

專利名稱：一種基於usb轉iic協議的晶片測試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及晶片測試領域，尤其涉及一種基於USB轉IIC協議的晶片測試系統。
背景技術：
數字集成電路設計(IC設計)一般有以下流程
I.系統功能設計階段
設計人員產品的應用場合，設定一些諸如功能、操作速度、接口規格、環境溫度及消耗功率等規格，以做為將來電路設計時的依據。更可進一步規劃軟體模塊及硬體模塊該如何劃分。2.設計描述和行為級驗證
系統功能設計完成後，可以依據功能將SOC劃分為若干功能模塊，並決定實現這些功能將要使用的IP核。此階段將接影響了 SOC內部的架構及各模塊間互動的信號，及未來產品的可靠性。決定模塊之後，可以用VHDL或Verilog等硬體描述語言實現各模塊的設計。 接著，利用VHDL或Verilog的電路仿真器,對設計進行功能驗證。3.邏輯綜合
確定設計描述正確後，可以使用邏輯綜合工具(synthesizer)進行綜合。
4.門級驗證
門級功能驗證是寄存器傳輸級驗證。主要的工作是要確認經綜合後的電路是否符合功能需求，該工作一般利用門電路級驗證工具完成。5.布局和布線
布局指將設計好的功能模塊合理地安排在晶片上，規劃好它們的位置。布線則指完成各模塊之間互連的連線。6.流片測試
通過半導體工藝製造出所設計的晶片，用以測試。7.大規模量產。

發明內容
本發明應用於晶片流片成功後的板級測試階段，在晶片大規模生產之前一般需要對其進行「試生產」也就是流片，對流片後的樣品進行檢測驗證，用以檢測集成電路設計是否成功，功能是否滿足要求等，
為達到上述目的，本發明採用的技術方案是一種基於USB轉IIC協議的晶片測試系統，與外部測試晶片連接，其特徵在於包括上位機、測試板、IIC總線；
所述的上位機通過USB接口與測試板連接，用於生成測試數據並通過USB接口傳遞給測試板；
所述的測試板接收測試數據並進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試晶片連接。
本發明的第一優選方案為，所述的USB接口為USB2. O接口。本發明的第二優選方案為，所述的USB協議為USB2. O協議。本發明的第三優選方案為，所述的內設測試軟體為可視化界面。本發明的第四優選方案為，所述的測試板包括晶片Cy68013。本發明的技術優勢在於能夠可視化的查看修改寄存器的數據，得到的返回值可以直觀的顯示在PC端，以及批量讀取Memory、Flash中的數據，便宜測試人員的對晶片內部數據有一個直觀的了解。下面結合附圖和具體實施方式
對發明做進一步說明。


圖I為本實施例結構示意圖。
具體實施例方式參考圖1，一種基於USB轉IIC協議的晶片測試系統，與外部測試晶片連接，包括上位機、測試板、Iic總線；上位機內設測試軟體並通過USB接口與測試板連接，用於生成測試數據並通過USB接口傳遞給測試板；測試板接收測試數據並進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試晶片連接。USB接口為USB2. O接口。USB協議為USB2. O協議。內設測試軟體為可視化界面。測試板包括晶片Cy68013。具體實現方法包括以下步驟
(O操作者通過可視化界面把數據輸入上位機,上位機內部軟體把數據格式化成 USB2. O協議的數據，然後通過USB接口把數據發送出去；
(2)上位機軟體發送來的數據通過USB2. O接口進入到板級晶片Cy68013中，在 Cy68013中完成USB2. O到IIC協議轉化，最後IIC總線把數據發送出去。(3) IIC總線根據扇區地址把數據配送到各個寄存器、Memory等接口中。(4)各個接口、寄存器的接收數據，經過晶片功能邏輯運算後，再通過這個鏈路返回到PC端，顯示。上位機軟體
上位機內部軟體包括read按鈕、write按鈕、對話框、根據晶片的模塊劃分成不同的功能頁，功能頁內包涵著對應的寄存器，使用寄存器ID對其進行排序，每個寄存器有讀寫兩種操作，點擊read按鈕可以讀取寄存器內的數據，並且返回到相應的窗體上；點擊write按鈕，可以把相應對話框中的數據寫到寄存器中，如果讀寫正常會有相應的提示。 在最下端有記錄操作的對話框。b) USB到IIC協議轉換
在測試版中搭載了 Cypress公司的Cy68013晶片，晶片連接到PC機的USB接口端可以接受PC傳輸過來的數據，在Cy68013晶片中集成了 8051單片機，使用8051的兩個普通I/ O 口可的模擬出IIC總線協議，數據通過IIC總線發送出去。c) IIC總線到晶片端
在IIC總線搭載的數據中包含了各個寄存器的扇區地址，各個寄存器通過扇區地址尋址找到相應的數據，數據進入相應的寄存器經過邏輯運算後重新返回Iic總線，根據原鏈路反送回去。
權利要求
1.一種基於USB轉IIC協議的晶片測試系統，與外部測試晶片連接，其特徵在於包括上位機、測試板、IIC總線；所述的上位機通過USB接口與測試板連接，用於生成測試數據並通過USB接口傳遞給測試板；所述的測試板接收測試數據並進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試晶片連接。
2.一種基於USB轉ICC協議的晶片測試系統，其特徵在於所述的USB接口為USB2. O接口。
3.根據權利要求I或2所述的一種基於USB轉ICC協議的晶片測試系統，其特徵在於 所述的USB協議為USB2. O協議。
4.根據權利要求I所述的一種基於USB轉ICC協議的晶片測試系統，其特徵在於所述的內設測試軟體為可視化界面。
5.根據權利要求I所述的一種基於USB轉ICC協議的晶片測試系統，其特徵在於所述的測試板包括晶片Cy68013。
全文摘要
本發明涉及一種基於USB轉IIC協議的晶片測試系統，與外部測試晶片連接，包括上位機、測試板、IIC總線；上位機內設測試軟體並通過USB接口與測試板連接,用於生成測試數據並通過USB接口傳遞給測試板；測試板接收測試數據並進行USB協議與IIC協議轉換，通過ICC總線與外部測試晶片連接。能夠可視化的查看修改寄存器的數據，得到的返回值可以直觀的顯示在PC端，以及批量讀取Memory、Flash中的數據，便宜測試人員的對晶片內部數據有一個直觀的了解。
文檔編號G01R31/28GK102608520SQ20121005912
公開日2012年7月25日 申請日期2012年3月8日 優先權日2012年3月8日
發明者王茂海 申請人:無錫華大國奇科技有限公司