電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統的製作方法
2023-07-10 12:03:31 3
電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統。該測試方法包括：在電子設備執行測試命令後，採集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令後的正確執行結果；以及根據比較結果輸出電子設備執行測試命令的結果。通過本發明，能夠實現電子設備的自動化測試，提高了電子設備測試效率。
【專利說明】電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統
【技術領域】
[0001]本發明涉及測試領域，具體而言，涉及一種電子設備的電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統。
【背景技術】
[0002]目前，對電子設備進行測試時，在電子設備執行測試的控制命令後，通常需要測試員去查看測試結果，例如在測試顯示器時，需要測試員去查看顯示器執行控制命令後的顯示信息，例如在測試控制主板時，需要測試員去查主板負載動作。
[0003]這種人工測試的方法測試周期長、測試效率低，導致開發進度非常的漫長，並且測試可靠性差，測試質量無法保證，經常會由於測試員的測試技術或測試狀態的影響，而出現測試錯誤。
[0004]針對相關技術中電子設備測試效率低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
【發明內容】
[0005]本發明的主要目的在於提供一種電子設備的電子設備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統，以解決電子設備測試效率低的問題。
[0006]為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，提供了一種電子設備的測試方法。
[0007]根據本發明的電子設備的測試方法包括:在電子設備執行測試命令後，採集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果；以及根據比較結果輸出電子設備執行測試命令的結果。
[0008]進一步地，當電子設備為顯示器時，在採集電子設備的圖像之前，該方法還包括:控制顯示器的背光源處於長亮的狀態。
[0009]進一步地，提取對比圖像的有效信息包括:對對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為ο的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為ο ;對像素替換後的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標範圍；以及對坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0010]進一步地，電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，採集電子設備的圖像包括:採集顯示單元的圖像。
[0011]進一步地，顯示單元為發光二極體。
[0012]為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，提供了一種電子設備的測試裝置。
[0013]根據本發明的電子設備的測試裝置包括:採集模塊，用於在電子設備執行測試命令後，通過攝像裝置採集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取模塊，用於提取對比圖像的信息；比較模塊，用於比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果；以及確定模塊，用於根據比較結果確定電子設備執行測試命令的結果。
[0014]進一步地，電子設備為顯示器時，顯示器的背光源處於長亮的狀態，其中，提取模塊包括:閾值子模塊，用於對對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；替換子模塊，用於讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為ο ;濾波填充子模塊，用於對像素替換後的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；檢測子模塊，用於通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標範圍；以及提取子模塊，用於對坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0015]進一步地，電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，採集模塊用於通過攝像裝置採集顯示單元的圖像。
[0016]為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，提供了一種電子設備的測試工裝。
[0017]根據本發明的電子設備的測試工裝包括:攝像裝置，用於在電子設備執行測試命令後，採集電子設備的圖像，以得到對比圖像；處理裝置，與攝像裝置相連接，用於提取對比圖像中的信息，並根據提取到的信息和預存的標準信息確定電子設備執行測試命令的結果，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果；以及顯示裝置，與處理裝置相連接，用於輸出電子設備執行測試命令的結果。
[0018]為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，提供了一種電子設備的測試系統。
[0019]根據本發明的電子設備的測試系統包括:控制裝置，用於生成測試命令；電子設備，與控制裝置相連接；以及本發明提供的測試工裝。
[0020]進一步地，電子設備為控制主板，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元。
[0021]進一步地，顯示單元為發光二極體。
[0022]進一步地，顯示單元包括多個顏色和/或形狀不同的二極體。
[0023]進一步地，電子設備為顯示器。
[0024]通過本發明，採用包括以下步驟的電子設備測試方法:電子設備執行測試命令後，採集電子設備的圖像，以得到對比圖像；提取對比圖像的信息；比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果；以及根據比較結果輸出電子設備執行測試命令的結果，利用電子設備執行不同命令後具有不同外觀的特性，通過採集並處理電子設備執行測試命令時的圖像，將處理後得到的信息與正確的執行結果信息相比較，能夠自動輸出對電子設備的執行結果，從而實現電子設備的自動化測試，解決了電子設備測試效率低的問題，達到了提高電子設備測試效率的效果。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0025]構成本申請的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中:
[0026]圖1是根據本發明第一實施例的電子設備的測試系統的框圖；[0027]圖2是根據本發明實施例的電子設備的測試工裝的原理框圖；
[0028]圖3是根據本發明第二實施例的電子設備的測試系統的框圖；
[0029]圖4是根據本發明第三實施例的電子設備的測試系統的框圖；
[0030]圖5是根據本發明實施例的電子設備的測試方法的流程圖；
[0031]圖6是根據本發明實施例的圖像有效信息提取的流程圖；以及
[0032]圖7是根據本發明實施例的電子設備的測試裝置的框圖。
【具體實施方式】
[0033]需要說明的是，在不衝突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特徵可以相互組合。下面將參考附圖並結合實施例來詳細說明本發明。
[0034]圖1是根據本發明實施例的電子設備的測試系統的框圖，如圖1所示，該測試系統包括控制裝置10、電子設備20和測試工裝30。
[0035]在該測試系統中，通過控制裝置10和測試工裝30完成對電子設備20的測試，其中，控制裝置10用於產生測試電子設備20的測試命令，可將控制裝置10設置為測試電子設備20的上位機，測試人員在該上位機中設置好相應的測試文件，控制裝置10根據測試文件生成測試命令。
[0036]電子設備20在接收到測試命令後，執行測試命令，其中，電子設備20執行測試命令時，執行結果不同對應的外觀狀態不同，並且這種外觀狀態能夠通過拍攝的圖像進行反映。
[0037]測試工裝30採集電子設備20執行測試命令時的圖像，並且按照預設的圖像處理算法進行圖像處理，提取出有效的信息，與電子設備20執行該測試命令後的正確執行結果進行比較，從而得到測試該電子設備20的測試結果。
[0038]採用該實施例提供的電子設備的測試系統，在測試人員編寫好測試文件後，控制裝置10自動將測試命令下發至電子設備20，電子設備20執行測試命令時，無需測試人員查看執行結果，系統中的測試工裝30自動採集圖像獲取電子設備的變化，通過將採集到的變化與正確的執行結果相比較，自動輸出對電子設備的執行結果，從而實現電子設備的自動化測試，提高了電子設備的測試效率。
[0039]圖2是根據本發明實施例的電子設備的測試工裝的原理框圖，該實施例所提供的測試工裝可應用於圖1所示的測試系統中，如圖2所示，該測試工裝包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0040]該實施例中的電子設備作為被測對象，與圖1所示實施例中的被測對象具有相同的特性，也即，電子設備執行測試命令具有不同的執行結果時，攝像裝置32能夠採集到不同的對比圖像。
[0041]在電子設備執行測試命令後，攝像裝置32實時採集電子設備的圖像，以得到對比圖像，將採集到的對比圖像傳輸給處理裝置34處理。
[0042]處理裝置34與攝像裝置32相連接，在接收到對比圖像後，進行圖像處理，從圖像中獲取到電子設備執行測試命令的結果，也即提取出對比圖像中的有效信息，並比對提取到的有效信息和預存的標準信息，當提取到的有效信息和預存的標準信息一致時，說明電子設備在執行該測試命令時，執行結果正確，該測試命令所對應的功能正常，反之，當提取到的有效信息和預存的標準信息不一致時，說明電子設備在執行該測試命令時，執行結果錯誤，該測試命令對應的電子設備功能異常，從而根據提取到的信息和預設的標準信息得到了電子設備執行測試命令的結果，其中，該處的標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果。
[0043]顯示裝置36與處理裝置34相連接，在處理裝置34確定測試結果後，顯示裝置36輸出電子設備執行測試命令的結果，方便測試人員查看。
[0044]採用該實施例提供的電子設備的測試裝置，在電子設備執行測試命令後，攝像裝置32採集電子設備的照片，獲取電子設備在執行測試命令中的變化，處理裝置34將採集到的變化與正確的執行結果相比較，確定測試結果，並通過顯示裝置36輸出對電子設備的測試結果，從而在測試電子設備時，無需測試人員查看測試情況和記錄測試結果，實現了電子設備的自動化測試，提高了電子設備的測試效率。
[0045]圖3是根據本發明第二實施例的電子設備的測試系統的框圖，該實施例中的電子設備為顯示器，如圖3所示，該測試系統包括控制裝置10、顯示器20a和測試工裝30，其中，測試工裝30包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0046]該測試系統在測試顯示器20a時，首先短接被測試顯示器20a的背光源控制器信號，使顯示器的背光源處於長亮的狀態，通過該步驟，能夠在圖像處理之前起到濾波的作用，並且能夠對被測的對比圖像進行定位。
[0047]處理裝置34設置為上位機，利用Labview開發平臺開發，包括有用戶參數調整界面，測試員根據被測試的顯示器的周圍環境，調整光源參數或圖像參數來達到工作環境下較適合的測試環境。優選地，將測試工裝30的物距變化範圍設為3CM?10CM，並採用自動標定的方法來實現對物距變化的自動測量，具體地，首先選取顯示器的背光源亮的區域，並設定該區域為需關注區域，然後將該需關注區域的長、寬尺寸，以及在圖像上的坐標位置記錄下來，最後使用尺寸標定的方法，將物距變化範圍可為3CM?10CM圖像的關注區域統一設定為預設固定大小的區域，當該預設固定的區域尺寸較大時，使用軟體插值方法對圖片進行處理，使圖片的像素增加，有益於圖像處理。
[0048]測試員將INI測試文件存儲在控制裝置30中，控制裝置30解析測試文件得到測試命令,將測試命令傳輸給顯示器20a，顯示器20a執行該測試命令。在顯示器20a執行測試命令後，攝像裝置30自動採集顯示器20a的變化，處理裝置34對採集到的對比圖像進行圖像處理，通過軟體提取對比圖像的有效信息，然後將提取到的圖像有效信息與預存的標準信信息進行對比，兩者一致則記錄為正常，否則記錄為異常，優選地，顯示裝置36使用了曲線來顯示參數變化過程，能夠方便測試人員直觀的了解測試過程，只需查看曲線便可知測試結果，進而判斷顯示器20a是否合格。
[0049]採用該實施例提供的顯示器測試系統，測試員只需在測試完之後查看測試的記錄結果即可，從而提高顯示器的測試效率。
[0050]圖4是根據本發明第三實施例的電子設備的測試系統的框圖，該實施例中的電子設備為控制主板，如圖4所示，該測試系統包括控制裝置10、控制主板20b、與控制主板20b的信號輸出端相連接的發光二極體單元40、測試工裝30，其中，測試工裝30包括攝像裝置32、處理裝置34和顯示裝置36。
[0051]該實施例中的被測電子設備為控制主板20b，為了使得控制主板20b在執行不同的控制命令後表現出不同的外觀，在控制主板20b的各個信號輸出端連接各個發光二極體，例如，在測試控制主板20b的負載控制端輸出的信號是否正確時，在控制主板20b的各個負載控制端連接發光二極體，在測試控制主板20b時，將控制主板20b的負載控制端並聯圓形紅色LED發光二極體，通過二極體的亮滅表示負載的接通與關斷，在電源端並聯綠色的長方形LED發光二極體，通過電源端的二極體起標定作用，利用二級管的顏色和形狀來區分其連接的埠，易於處理裝置34提取有效信息。
[0052]處理裝置34設置為上位機，軟體利用Labview開發平臺開發，包括有用戶參數調整界面，測試員根據被測試的控制主板的周圍環境，調整光源參數或圖像參數來達到工作環境下較適合的測試環境。在控制主板20b的測試中，以電源燈(也即電源端連接的發光二極體)為原點，將預設大小的區域標定為需關注區域，只要保證被測試的控制主板20b包括在該預設區域內即可，然後將該需關注區域的長、寬尺寸，以及在圖像上的坐標位置記錄下來，最後使用尺寸標定的方法，將物距變化範圍可為3CM?10CM圖像的關注區域統一設定為預設固定大小的區域，從而被測試控制主板20b的位置範圍就可以被確定。控制主板20b的每個負載控制端並聯的發光二極體相對電源燈為也有自己的位置坐標，通過每個負載控制端並聯的發光二極體的位置坐標可以確定每個對應的負載，通過提取圖像中的有效信息，獲取二極體的顏色，得到每個負載控制端並聯的發光二極體的亮滅可確定對應的負載是否得電。
[0053]測試員將INI測試文件存儲在控制裝置30中，控制裝置30解析測試文件得到測試命令,將測試命令傳輸給控制主板20b，控制主板20b執行該測試命令。在控制主板20b執行測試命令後，攝像裝置30自動採集與控制主板20b連接的各個發光二極體的變化，處理裝置34對採集到的對比圖像進行圖像處理，通過軟體提取對比圖像中發光二極體的亮滅信息，得到信號輸出端輸出的信號情況，然後將得到的信息與預存的標準信信息進行對t匕，兩者一致則記錄為正常，否則記錄為異常，優選地，顯示裝置36使用了曲線來顯示參數變化過程，能夠方便測試人員直觀的了解測試過程，只需查看曲線便可知測試結果，進而判斷控制主板20b是否合格。
[0054]採用該實施例提供的控制主板的測試工裝，測試員只需在測試完之後查看測試的記錄結果即可，從而提高測試效率。
[0055]圖5是根據本發明實施例的電子設備的測試方法的流程圖，如圖5所示，該方法包括如下的步驟S102至步驟S108:
[0056]該實施例中的被測電子設備具有以下特性:電子設備在執行控制命令具有不同的執行結果時，表現出不同的外觀狀態，也即，通過攝像裝置拍攝電子設備，能夠記錄到電子設備不同的執行結果。
[0057]步驟S102:在電子設備執行測試命令後，採集電子設備的圖像，以得到對比圖像。
[0058]步驟S104:提取對比圖像的信息，在該步驟中，通過預定的圖像處理算法，對對比圖像進行處理，得到能夠表徵電子設備執行結果變化的部分圖像，並且從圖像中獲取到變
化信息。
[0059]步驟S106:比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，標準信息包括電子設備執行測試命令時的正確執行結果。
[0060]步驟S108:根據比較結果輸出電子設備執行測試命令的結果。[0061]採用該實施例提供的電子設備測試方法，通過圖像識別技術來獲取電子設備執行測試命令後的執行結果，將獲取到的執行結果與標準信息對比得到測試結果，實現了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0062]優選地，在步驟S104中，提取圖像有效信息，採用如圖6所示的流程實現信息提取過程，具體地，獲取到對比圖像之後，首先對圖像進行閥值化，然後依次完成填充小孔、擴充邊緣、微小粒子過濾、尋找底邊、測量相對水平傾斜角度、比較、映射、寫入、糾正歪斜圖像、根據邊沿檢測得到有效圖像的坐標點、根據坐標點濾除不需要的圖像，建立相對坐標原點、根據坐標原點建立坐標系、建立OCR庫提取圖像中的數字信或者通過邊沿檢測、計算位置提取到非數字圖像信息，最後將圖像的有效信息與INI文件對應的預期結果進行對比，記錄對比結果。
[0063]在圖5所示的實施例中，當被測的電子設備為顯示器時，在採集顯示器的圖像之前，該方法還包括:控制顯示器的背光源處於長亮的狀態，通過該步驟，能夠在圖像處理之前起到濾波的作用，並且能夠對被測的對比圖像進行定位。
[0064]優選地，提取對比圖像的有效信息包括以下的步驟:
[0065]步驟1:對對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分，通過該步驟將背光區域和其它部分分離開來，這樣背光區域閾值化後像素值為1，而其它區域像素值為0。
[0066]步驟2:讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為0，通過該步驟讀取整幅彩色圖像的像素信息，讀取進行過閾值化後的圖像的像素信息，如果閾值化後的圖像的像素值為0，則利用比較函數和映射函數將彩色圖中相應的像素值也置為0。
[0067]步驟3:對像素替換後的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理，可以得到一個連續的背光區域。該區域就是顯示器的背光區域。
[0068]步驟4:通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標範圍，將顯示器的背光區域的長，寬尺寸和該區域在圖像上的坐標記錄下來，就唯一確定了一幅圖片的顯示器的背光區域。
[0069]步驟5:對坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0070]採用該優選實施方法，確定對比圖像中對應的顯示器背光區域的部分圖像，使得攝像頭相對被測電子設備的物距發生變化時也能夠獲取對比圖像中的有效信息。
[0071]在圖5所示的實施例中，當被測的電子設備為控制主板時，控制主板的信號輸出端連接顯示單元，步驟S102包括:採集顯示單元的圖像，其中，信號輸出端輸出不同的控制信號時，顯示單元具有不同的顯示狀態，優選地，顯示單元為LED發光二極體,採集到LED發光二極體的圖像後，根據圖像中LED發光二極體的顏色得到有效信息，包括LED發光二極體的位置及其狀態。
[0072]圖7是根據本發明實施例的電子設備的測試裝置的框圖，如圖7所示，該測試裝置包括存儲模塊31、採集模塊33、提取模塊35、比較模塊37和確定模塊39。
[0073]該實施例中的被測電子設備具有以下特性:電子設備執行控制命令具有不同的測試結果時，具有不同的外觀狀態，也即，通過攝像裝置拍攝電子設備時，能夠記錄到電子設備不同的執行結果。
[0074]存儲模塊31用於存儲與測試文件相對應的測試結果標準信息，其中，該標準信息包括電子設備執行測試文件之後正確的執行結果。
[0075]採集模塊33在電子設備執行測試命令後，通過攝像裝置採集電子設備的圖像，以得到對比圖像，其中，由於電子設備具有上述特性，電子設備執行控制命令後的結果不同時，採集模塊33採集到的對比圖像不同。
[0076]提取模塊35提取對比圖像的信息，根據預設的圖像處理算法將對比圖像進行圖像處理，以提取對比圖像中的有用信息，比較模塊37將該有用信息與預設的映射規則進行映射，其中，預設的映射規則包括圖像信息和執行結果的一一對應關係，並比較映射後的信息和存儲模塊30中存儲的標準信息，得到二者一致或不一致的結果，確定模塊39輸出電子設備執行測試命令的結果，具體地，當映射後的信息和標準信息相一致時，表示電子設備在執行該測試命令時執行結果正確，反之，則表示電子設備在執行該測試命令時執行結果錯誤，優選地，將該執行結果存儲於存儲模塊30中，以使測試員能夠在測試文件執行後查看測試結果。
[0077]採用該實施例提供的電子設備測試裝置，通過圖像識別技術來獲取電子設備執行測試命令時的執行結果，將獲取到的執行結果與標準信息對比得到測試結果，實現了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0078]優選地，電子設備為顯示器時，測試的關注區域是顯示器的背光區域，顯示器的背光源處於長亮的狀態，其中，提取模塊包括::閾值子模塊，用於對對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為1的像素點為對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為0的像素點為對比圖像中第二部分的像素點，第一部分為顯示器的背光區域對應的圖像部分，第二部分為對比圖像中除第一部分之外的部分；替換子模塊，用於讀取對比圖像各像素點的像素值，將第二部分中所有像素點的像素值替換為0 ;濾波填充子模塊，用於對像素替換後的對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；檢測子模塊，用於通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的對比圖像，以得到第一部分在對比圖像中的坐標範圍；以及提取子模塊，用於對坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到對比圖像的有效信息。
[0079]採用該優選實施例。在提取有效信息時先確定對比圖像中顯示器背光區域對應的圖像，能夠排除攝像頭所採集的圖像信息中的不相關部分，只保留測試所關注的區域，即顯示器的背光區域。並且使得攝像頭在一定的物距範圍內(3~10cm)，所取得的有效信息均是且僅是對比圖像中顯示器背光區域的圖像。
[0080]優選地，當電子設備為控制主板時，為了對控制主板信號輸出進行檢測，控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，採集模塊31用於通過攝像裝置採集顯示單元的圖像，其中，信號輸出端輸出不同的控制信號時，顯示單元具有不同的顯示狀態。
[0081]從以上的描述中，可以看出，本發明實現了如下技術效果:通過圖像識別技術來獲取電子設備執行測試命令時的執行結果，將獲取到的執行結果與標準信息對比得到測試結果，實現了電子設備的測試過程的自動化，無需人工查看命令執行結果，從而提高電子設備的測試效率。
[0082]上所述僅為本發明的優選實施例而已，並不用於限制本發明，對於本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種電子設備的測試方法,其特徵在於,包括: 在電子設備執行測試命令後，採集所述電子設備的圖像，以得到對比圖像； 提取所述對比圖像的信息； 比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設備執行所述測試命令後的正確執行結果；以及 根據比較結果輸出所述電子設備執行所述測試命令的結果。
2.根據權利要求1所述的電子設備的測試方法，其特徵在於，當所述電子設備為顯示器時，在採集所述電子設備的圖像之前，所述方法還包括: 控制所述顯示器的背光源處於長亮的狀態。
3.根據權利要求2所述的電子設備的測試方法，其特徵在於，提取所述對比圖像的有效信息包括: 對所述對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為I的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為O的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區域對應的圖像部分， 所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分； 讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為O ； 對像素替換後的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理； 通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標範圍；以及 對所述坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
4.根據權利要求1所述的電子設備的測試方法，其特徵在於，所述電子設備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，採集所述電子設備的圖像包括: 採集所述顯示單元的圖像。
5.根據權利要求4所述的電子設備的測試方法，其特徵在於，所述顯示單元為發光二極體。
6.一種電子設備的測試裝置，其特徵在於，包括: 採集模塊，用於在電子設備執行測試命令後，通過攝像裝置採集所述電子設備的圖像，以得到所述對比圖像； 提取模塊，用於提取所述對比圖像的信息； 比較模塊，用於比較提取到的信息和預存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設備執行所述測試命令後的正確執行結果；以及 確定模塊，用於根據比較結果確定所述電子設備執行所述測試命令的結果。
7.根據權利要求6所述的電子設備的測試裝置，其特徵在於，所述電子設備為顯示器時，所述顯示器的背光源處於長亮的狀態，其中，所述提取模塊包括: 閾值子模塊，用於對所述對比圖像通過閾值化函數進行閾值化，其中，閾值化結果為I的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結果為O的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區域對應的圖像部分，所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分；替換子模塊，用於讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為O ; 濾波填充子模塊，用於對像素替換後的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理； 檢測子模塊，用於通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理後的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標範圍；以及 提取子模塊，用於對所述坐標範圍內的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
8.根據權利要求6所述的電子設備的測試裝置，其特徵在於，所述電子設備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，所述採集模塊用於通過所述攝像裝置採集所述顯示單元的圖像。
9.一種電子設備的測試工裝，其特徵在於，包括: 攝像裝置，用於在電子設備執行測試命令後，採集所述電子設備的圖像，以得到對比圖像； 處理裝置，與所述攝像裝置相連接，用於提取所述對比圖像中的信息，並根據提取到的信息和預存的標準信息確定所述電子設備執行所述測試命令的結果， 其中，所述標準信息包括所述電子設備執行所述測試命令後的正確執行結果；以及 顯示裝置，與所述處理裝置相連接，用於輸出所述電子設備執行所述測試命令的結果。
10.一種電子設備的測試系統，其特徵在於，包括: 控制裝置，用於生成測試命令； 電子設備，與所述控制裝置相連接；以及 測試工裝，其中，所述測試工裝為權利要求9所述的測試工裝。
11.根據權利要求10所述的電子設備的測試系統，其特徵在於，所述電子設備為控制主板，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元。
12.根據權利要求11所述的電子設備的測試系統，其特徵在於，所述顯示單元為發光二極體。
13.根據權利要求12所述的電子設備的測試系統，其特徵在於，所述顯示單元包括多個顏色和/或形狀不同的二極體。
14.根據權利要求10所述的電子設備的測試系統，其特徵在於，所述電子設備為顯示器。
【文檔編號】G05B23/02GK103631246SQ201210296440
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2012年8月20日 優先權日:2012年8月20日
【發明者】譚澤漢, 牛安, 彭志富 申請人:珠海格力電器股份有限公司