測試rfid電子標籤性能的方法及其裝置製造方法
2023-07-06 05:42:26 1
測試rfid電子標籤性能的方法及其裝置製造方法
【專利摘要】本發明提出的一種測試RFID電子標籤性能的方法及其裝置，所述檢測方法包括如下步驟：a.在測試距離S向電子標籤發射激活信號，並接收電子標籤反饋的應答信號並獲取電子標籤性能的判別數據；b.將判別數據與預置的用於確定電子標籤性能的參考數據進行比較；c.根據判別數據與預置數據的比較結果確定電子標籤的性能；通過本發明公開的測試RFID電子標籤性能的方法及裝置，能夠對電子標籤的性能進行檢測，並準確判斷電子標籤的性能，防止安裝在車輛上的電子標籤的信息無法讀取而出現的管理漏洞，並且測試方法簡單高效。
【專利說明】測試RFID電子標籤性能的方法及其裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測試方法，尤其涉及一種測試RFID電子標籤性能的方法及其裝置。
【背景技術】
[0002]在智能交通領域，利用智能無線射頻識別(RFID)技術進行交通信息的採集已得到廣泛運用，其基本的工作原理是:在車輛上安裝利用無源標籤輸入車輛及駕駛人等相關交通管理信息後形成的電子標籤(射頻卡)，然後在各預先布置的路面點安裝讀寫器，讀寫器生成電磁信號並通過讀寫天線以一定功率向無源電子標籤發射，無源電子標籤的標籤天線接收該信號並被激活，電子標籤(射頻卡)被激活後將射頻卡內存儲的車輛信息以電磁信號的方式回饋給讀寫器，讀寫器通過解調等處理過程從而獲取車輛信息；由於電子標籤在出廠時，不同批次的標籤的性能可能存在瑕疵，當電子標籤被安裝在車輛後，安裝過程中經常出現擠壓、摺疊等因素，容易造成射頻卡損壞，而目前，還沒有能夠對安裝後的電子標籤進行質量檢測的方法，因此，容易造成車輛信息無法被識別，容易出現管理漏洞。
[0003]有鑑於此，需要提出一種對安裝後的電子標籤的性能進行檢測的方法及裝置，能夠對電子標籤的性能進行檢測，並準確判斷電子標籤的性能，防止安裝在車輛上的電子標籤的信息無法讀取而出現的管理漏洞，並且測試方法簡單高效。
【發明內容】
[0004]有鑑於此，本發明提出的一種測試RFID電子標籤性能的方法及裝置，能夠對電子標籤的性能進行檢測，並準確判斷電子標籤的性能，防止安裝在車輛上的電子標籤的信息無法讀取而出現的管理漏洞，並且測試方法簡單高效。
[0005]本發明公開的一種測試RFID電子標籤性能的方法，所述檢測方法包括如下步驟:
[0006]a.在測試距離S向電子標籤發射激活信號，並接收電子標籤反饋的應答信號並獲取電子標籤性能的判別數據；
[0007]b.將判別數據與預置的用於確定電子標籤性能的參考數據進行比較；
[0008]c.根據判別數據與預置數據的比較結果確定電子標籤的性能；
[0009]進一步，步驟a中，所述判別數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率以及應答信號的能量值；
[0010]進一步，步驟b中，所述參考數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率基準參數和應答信號的能量值基準參數；
[0011]進一步，步驟c中，確定電子標籤的性能包括:
[0012]Cl.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常；
[0013]C2.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但應答信號受外界幹擾。
[0014]C3.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但激活信號受外界幹擾。
[0015]C4.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則調整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續測試；
[0016]進一步，步驟C4中進一步包括:當步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，在調整測試點與被測試電子標籤的距離，返回步驟a繼續測試時對返回步驟a的次數進行累加，當返回步驟a的次數累加到預置值N時，則確定RFID電子標籤的性能為異常或損壞。
[0017]本發明提供的一種測試RFID電子標籤性能的裝置，包括:
[0018]射頻信號收發單元，用於向被測試RFID電子標籤發送激活信號並對RFID電子標籤的應答信號進行接收；中央處理模塊，用於接收射頻信號收發單元輸出的應答信號並進行接收應答信號的接收成功率及能量值進行計算，並根據計算結果與預置的應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較並輸出比較結果；
[0019]進一步，所述中央處理模塊包括:
[0020]成功率計算單元，與所述射頻信號收發單元電連接，用於計算接收應答信號的成功率並輸出；
[0021]應答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發電源電連接，用於計算應答信號的能量值並輸出；
[0022]中央處理器，與所述成功率計算單元和應答信號能量值測試單元電連接並預置有應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數，用於接收應答信號的接收成功率和應答信號的能量值並與預置的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較，並輸出比較結果；
[0023]進一步，所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用於對返回步驟a的次數進行計數的計數器，當計數器累加到大於等於預置值N時，累加器清零並向中央處理單元輸出清零信號；
[0024]進一步，還包括用於測量當前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接並向中央處理器輸出距離信號；
[0025]進一步，還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用於對測試RFID電子標籤性能的參數進行顯示。本發明的有益效果:通過本發明公開的測試RFID電子標籤性能的方法及裝置，能夠對電子標籤的性能進行檢測，並準確判斷電子標籤的性能，防止安裝在車輛上的電子標籤的信息無法讀取而出現的管理漏洞，並且測試方法簡單高效；本發明所提供相應的測試裝置，便於攜帶，使用靈活，可手持到檢測位置進行測試工作，節約了人力成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]下面結合附圖和實施例對本發明作進一步描述:
[0027]圖1為測試電子標籤性能的方法的流程圖。
[0028]圖2為測試電子標籤性能的裝置的結構示意圖。【具體實施方式】
[0029]圖1為測試電子標籤性能的方法的流程圖，圖2為測試電子標籤性能的裝置的結構示意圖，如圖所示，本發明公開的一種測試RFID電子標籤性能的方法，所述檢測方法包括如下步驟:
[0030]a.在測試距離S向電子標籤發射激活信號，並接收電子標籤反饋的應答信號並獲取電子標籤性能的判別數據；其中，測試距離S為測試點與被測的電子標籤之間的距離，並且測試距離S可以根據測試需要進行調整；
[0031]b.將判別數據與預置的用於確定電子標籤性能的參考數據進行比較；
[0032]c.根據判別數據與預置數據的比較結果確定電子標籤的性能；
[0033]本實施例中，步驟a中，所述判別數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率以及應答信號的能量值；其中，接收應答信號的成功率是指在同一時間間隔內接收到應答信號的總次數與發出激活信號總次數的比值；應答信號的能量值是指在當前測試距離S處的應答信號的能量值。
[0034]本實施例中，步驟b中，所述參考數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率基準參數和應答信號的能量值基準參數；其中，接收成功率基準參數的在設置時應考慮到外界幹擾的因素，由於不同距離的測試環境所受到的幹擾程度不一樣，即標籤的性能受到距離因素的影響；因此，按照不同距離，所述成功率基準參數和能量值基準參數因距離不同而分別設置。例如，在本實施例中，選取3m範圍進行測試，接收成功率基準參數應該不小於激活信號總發射次數的70% ;應答信號的能量值基準參數在設置時應考慮到由於電磁信號在傳遞過程中衰減、外界幹擾以及測試距離的因素，比如，電子標籤出廠時已經設定標籤被激活後的發射功率，因此，在電子標籤發射應答信號的能量值是確定的，那麼應答信號的基準參數在設置時應小於電子標籤發射應答信號時的能量值。
[0035]本實施例中，步驟c中，確定電子標籤的性能包括:
[0036]Cl.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常；
[0037]C2.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但應答信號受外界幹擾，由於接收成功率高於成功率基準參數，則可說明激活信號能夠有效地對電子標籤進行激活，並且電子標籤在激活信號的作用下能夠正常響應，應答信號在外界的幹擾下衰減過大從而造成應答信號能量值低於能量值基準參數；
[0038]C3.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但激活信號受外界幹擾，由於激活行行好收到外界幹擾，並不是每次發射的激活信號都能夠激活電子標籤，但激活信號一旦能夠激活電子標籤，應答信號未受到幹擾使其能量值均能高於能量值基準參數，因此，造成接收成功率低於成功率基準參數；
[0039]C4.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則調整測試點與被測試電子標籤的距離，返回步驟a繼續測試，調整距離時，一般為縮短測試點與被測試電子標籤的距離，步驟C4中進一步包括:當步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，在調整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續測試時對返回步驟a的次數進行累加，對返回步驟a的次數通過計數器進行累加，當返回步驟a的次數累加到預置值N時，則確定RFID電子標籤的性能為異常或損壞，其中，累加數的預置值N的設置，可以根據現場測試情況設定。
[0040]相應地，本發明提供的一種測試RFID電子標籤性能的裝置，包括:
[0041]射頻信號收發單元，用於向被測試RFID電子標籤發送激活信號並對RFID電子標籤的應答信號進行接收；
[0042]中央處理模塊，用於接收射頻信號收發單元輸出的應答信號並進行接收應答信號的接收成功率及能量值進行計算，並根據計算結果與預置的應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較並輸出比較結果，通過比較結果確定電子標籤的性能。
[0043]本實施例中，所述中央處理模塊包括:
[0044]成功率計算單元，與所述射頻信號收發單元電連接，用於計算接收應答信號的成功率並輸出，所述成功率計算單元通過對激活信號的發射總次數以及應答信號的接收總次數進行統計計算，並且將應答信號的接收總次數與激活信號發射的總次數的比值作為成功率信號輸出；
[0045]應答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發電源電連接，用於計算應答信號的能量值並輸出，應答信號能量值測量單元對當前測試距離S處接收到的應答信號的能量值進行測量並輸出能量值信號；
[0046]中央處理器，與所述成功率計算單元和應答信號能量值測試單元電連接並預置有應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數，用於接收應答信號的接收成功率和應答信號的能量值並與預置的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較，並輸出比較結果。
[0047]本實施例中，所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用於對返回步驟a的次數進行計數的計數器，並且計數器將返回步驟a的次數傳送到中央處理器，中央處理器將當前累加次數與預置值N進行比較，當計數器累加次數大於或等於預置值N時，中央處理器向計數器發送清零指令並使計數器清零，此時中央處理器輸出電子標籤性能的判定結果並判定電子標籤的性能為異常或損壞，當計數器的計數累加值小於預置值N時，則調整當前測試點與被測試電子標籤的距離，再次測試，並且計數器的技術加I。
[0048]本實施例中，還包括用於測量當前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接並向中央處理器輸出距離信號，距離傳感器對當前檢測點與被測試電子標籤的距離進行測試並輸出距離信號，當需要重新調整測試距離時，則距離傳感器將調整後的距離進行測量並輸出距離信號給中央處理器。本實施例中，還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用於對測試RFID電子標籤性能的參數進行顯示，便於測試者進行直觀的觀察以及結論的得出；本測試裝置的還設置有供電單元以及存儲單元，供電單元可以採用蓄電池，也可以採用通過市電轉換為直流電供電，但是，為了便於攜帶以及移動，一般採用蓄電池供電，存儲單元對測試過程中的參數進行記錄備案。當然，本裝置還可設置與所述中央處理器連接的鍵盤(圖中未標出)，所述鍵盤用於在測試環境中對所述成功率基準參數和能量值基準參數進行設置，便於指令的輸入和更改。
[0049]最後說明的是，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發明技術方案的宗旨和範圍，其均應涵蓋在本發明的權利要求範圍當中。
【權利要求】
1.一種測試RFID電子標籤性能的方法，其特徵在於:所述檢測方法包括如下步驟: a.在測試距離S向電子標籤發射激活信號，並接收電子標籤反饋的應答信號並獲取電子標籤性能的判別數據； b.將判別數據與預置的用於確定電子標籤性能的參考數據進行比較； c.根據判別數據與預置數據的比較結果確定電子標籤的性能。
2.根據權利要求1所述測試RFID電子標籤性能的方法，其特徵在於:步驟a中，所述判別數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率以及應答信號的能量值。
3.根據權利要求2所述測試RFID電子標籤性能的方法，其特徵在於:步驟b中，所述參考數據包括在不同距離的應答信號的接收成功率基準參數和應答信號的能量值基準參數。
4.根據權利要求3所述測試RFID電子標籤性能的方法，其特徵在於:步驟c中，確定電子標籤的性能包括: Cl.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常； C2.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率高於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但應答信號受外界幹擾。 C3.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值高於能量值基準參數，則確定RFID電子標籤的性能為正常，但激活信號受外界幹擾。 C4.在步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，則調整測試點與被測試射頻卡的距離，返回步驟a繼續測試。
5.根據權利要求4所述測試RFID電子標籤性能的方法，其特徵在於:步驟C4中進一步包括:當步驟b中的比較結果為當前距離S的應答信號的接收成功率低於成功率基準參數，應答信號的能量值低於能量值基準參數，在調整測試點與被測試電子標籤的距離，返回步驟a繼續測試時對返回步驟a的次數進行累加，當返回步驟a的次數累加到預置值N時，則確定RFID電子標籤的性能為異常或損壞。
6.一種測試RFID電子標籤性能的裝置，其特徵在於:包括: 射頻信號收發單元，用於向被測試RFID電子標籤發送激活信號並對RFID電子標籤的應答信號進行接收； 中央處理模塊，用於接收射頻信號收發單元輸出的應答信號並進行接收應答信號的接收成功率及能量值進行計算，並根據計算結果與預置的應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較並輸出比較結果。
7.根據權利要求6所述測試RFID電子標籤性能的裝置，其特徵在於:所述中央處理模塊包括: 成功率計算單元，與所述射頻信號收發單元電連接，用於計算接收應答信號的成功率並輸出； 應答信號能量值測量單元，與所述射頻信號收發電源電連接，用於計算應答信號的能量值並輸出；中央處理器，與所述成功率計算單元和應答信號能量值測試單元電連接並預置有應答信號的成功率基準參數和能量值基準參數，用於接收應答信號的接收成功率和應答信號的能量值並與預置的成功率基準參數和能量值基準參數進行比較，並輸出比較結果。
8.根據權利要求7所述測試RFID電子標籤性能的裝置，其特徵在於:所述中央處理模塊還包括與所述中央處理器的電連接的用於對返回步驟a的次數進行計數的計數器，當計數器累加到大於等於預置值N時，累加器清零並向中央處理單元輸出清零信號。
9.根據權利要求8所述測試RFID電子標籤性能的裝置，其特徵在於:還包括用於測量當前測試距離S的距離傳感器，所述距離傳感器與所述中央處理器的電連接並向中央處理器輸出距離信號。
10.根據權利要求9所述測試RFID電子標籤性能的裝置，其特徵在於:還包括與所述中央處理器電連接的顯示單元，用於對測試RFID電子標籤性能的參數進行顯示。
【文檔編號】G01R31/00GK103487676SQ201310285080
【公開日】2014年1月1日 申請日期:2013年7月8日 優先權日:2013年7月8日
【發明者】趙明 申請人:重慶市城投金卡信息產業股份有限公司