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一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置製造方法

2023-12-11 18:18:07 2

一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置製造方法
【專利摘要】一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,其中基板通過實驗臺固定孔利用螺母固定在實驗臺上,光電倍增管暗盒通過光電倍增管暗盒固定管利用螺母固定在基板的圓孔Ι上,二向色分光鏡通過二向色分光鏡固定管利用螺母固定在基板的圓孔ΙΙ上,雷射器通過雷射器放置固定裝置利用螺母固定在基板的圓孔ΙΙΙ上,顯微物鏡放置在顯微物鏡支撐架上,通過顯微物鏡放置固定裝置利用螺母固定在基板的矩形孔Ι上,微流控晶片通過微流控晶片固定板利用螺母固定在基板的矩形孔ΙΙ上。該裝置具有簡化實驗結構、便於搭建、隨時拆卸、便於攜帶等優點,可以在任何時間、任何地點完成微流控晶片的檢測。
【專利說明】—種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置

【技術領域】
[0001]本發明涉及一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,屬於微通道檢測【技術領域】。

【背景技術】
[0002]隨著科學的發展和科技的進步,近年來,對於微通道的研究得到了廣泛的關注。與常規通道相比,微通道具有微尺度、大比表面積、小體積、可被快速放大、過程連續、安全,在傳質、傳熱方面等表現出超常能力的優點,微通道廣泛應用於有機、無機和生物等領域,如有機化合物的合成,DNA的分離和蛋白質的結晶等。此外,在航空航天領域燃料電池中傳熱及排水方面也有重要應用。因此,對重力作用下微通道的檢測變得尤為重要。目前,LIF(雷射誘導螢光)檢測方法因其具有較高的靈敏度成為對垂直微通道流動特性檢測最常用的方法,雖然其光路檢測結構較其它檢測方法簡單,但仍存在結構複雜、搭建平臺較為固定的缺點,使其應用受到了很大的阻礙。因此,對重力作用下垂直微通道流動特性的光路檢測結構進行優化並將其集成到一個裝置上,實現隨時拆卸功能,不僅易於攜帶,而且大大解決了傳統的重力作用下垂直微通道流動特性的光路檢測系統搭建困難,結構複雜,佔用空間較大的問題。綜上所述,設計一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置有著極其重要的應用及意義。


【發明內容】

[0003]本發明的目的在於設計了一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,設計本裝置的前提是對檢測系統的各部分原件進行結構優化。當應用LIF (雷射誘導螢光)檢測方法對重力作用下垂直微通道流動特性進行檢測時,可以將雷射器、二向色分光鏡、光電倍增暗盒、顯微物鏡以及垂直微通道集成到一個裝置上,並且實現可拆卸功能,能夠隨時隨地的對垂直微通道流動特性進行檢測,解決了傳統的微通道流動特性光路檢測系統搭建困難,結構複雜,佔用空間較大的問題,大大提高了垂直微通道流動特性檢測的便攜性。
[0004]為實現上述目的,本發明採用的技術方案如下,一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,該裝置包括基板1、光電倍增管暗盒2、二向色分光鏡3、雷射器4、顯微物鏡5、顯微物鏡支撐架6、垂直微通道7、光電倍增管暗盒固定管8、二向色分光鏡固定管9、雷射器放置固定裝置10、顯微物鏡放置固定裝置11、微通道固定板12、實驗臺固定孔13 ;基板I上設置有圓孔I 14、圓孔I I 15、圓孔I I I 16、矩形孔I 17、矩形孔I I 18。
[0005]所述實驗臺固定孔13設置在基板I的底部;圓孔I 14、圓孔I I 15、圓孔I I I 16、矩形孔I 17、矩形孔I I 18依照光路布局設置在基板I的主面板上。
[0006]其中基板I通過實驗臺固定孔13利用螺母固定在實驗臺上,光電倍增管暗盒2通過光電倍增管暗盒固定管8利用螺母固定在基板I的圓孔I 14上,二向色分光鏡3通過二向色分光鏡固定管9利用螺母固定在基板I的圓孔I I 15上,雷射器4通過雷射器放置固定裝置10利用螺母固定在基板I的圓孔I I I 16上,顯微物鏡5放置在顯微物鏡支撐架6上,通過顯微物鏡放置固定裝置11利用螺母固定在基板I的矩形孔I 17上,垂直微通道7通過微通道固定板12利用螺母固定在基板I的矩形孔I I 18上。
[0007]其中二向色分光鏡3通過一個圓柱形套筒套在二向色分光鏡固定管9上,並用上下兩個螺母固定,可以實現不同角度的自由旋轉。雷射器放置固定裝置10上有一個圓形放置臺,放置圓臺下有一個螺母,可以調節放置圓臺的高度,來滿足檢測需求,雷射器4放置在雷射器放置固定裝置10的放置圓臺上。顯微物鏡5放置在顯微物鏡支撐架6上,利用顯微物鏡放置固定裝置11來調節顯微物鏡5的高度。垂直微通道7通過微通道固定板12來調節高度。
[0008]與現有技術相比,本發明具有如下有益效果。
[0009]1.本發明新穎之處在於設計了一種新的光路便攜裝置使得檢測重力作用下垂直微通道流動特性的技術得到更好的應用。它具有簡化實驗結構、便於搭建、隨時拆卸、便於攜帶等優點,可以在任何時間、任何地點完成垂直微通道流動特性的檢測。
[0010]2.本發明對微通道流動特性的檢測考慮了重力對微通道流動特性的影響,擴寬了微通道的應用領域。
[0011]3.本發明涉及到的二向色分光鏡3可以自由調節角度,使光路的方向能夠按照規定的要求調節。雷射器4、顯微物鏡5和垂直微通道7都可以自由調節高度,使得檢測過程更加準確便捷。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為本發明一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置示意圖。
[0013]圖2為本發明一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置仰視結構示意圖。
[0014]圖3為本發明一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置基板主視圖。
[0015]圖中:1、基板,2、光電倍增管暗盒,3、二向色分光鏡,4、雷射器,5、顯微物鏡,6、顯微物鏡支撐架,7、垂直微通道,8、光電倍增管暗盒固定管,9、二向色分光鏡固定管,10、雷射器放置固定裝置,11、顯微物鏡放置固定裝置,12、微通道固定板,13、實驗臺固定孔,14、圓孔I,15、圓孔I I,16、圓孔I I I,17、矩形孔I,18、矩形孔I I。

【具體實施方式】
[0016]下面結合結構附圖對本裝置是如何實現重力作用下垂直微通道流動特性檢測的光路便攜化作進一步詳細說明。
[0017]圖1為一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置結構示意圖。該裝置包括基板1、光電倍增管暗盒2 (其通過光電倍增管暗盒固定管8利用螺母固定在基板I的圓孔I 14上)、二向色分光鏡3 (其通過二向色分光鏡固定管9利用螺母固定在基板I的圓孔I I 15上,可通過螺母的固定調節二向色分光鏡高度並能實現不同角度的自由旋轉)、雷射器4 (其通過雷射器放置固定裝置10利用螺母固定在基板I的圓孔I I I 16上,雷射器放置固定裝置10上有一個圓形放置臺,可通過調節放置圓臺下的螺母調節放置圓臺的高度)、顯微物鏡5 (其放置在顯微物鏡支撐架6上,通過顯微物鏡放置固定裝置11利用螺母固定在基板I的矩形孔I 17上,並可以通過調節顯微物鏡放置固定裝置11自由調節高度)、顯微物鏡支撐架6、垂直微通道7 (其通過微通道固定板12利用螺母固定在基板I的矩形孔I I 18上,並可以通過調節微通道固定板12自由調節高度)。基板I通過實驗臺固定孔13並利用螺母固定在帶孔的實驗臺上。
[0018]本裝置實施過程如下,基板I通過實驗臺固定孔13利用螺母固定在實驗臺上,將光電倍增管暗盒2通過光電倍增管暗盒固定管8利用螺母固定在基板I的圓孔I 14上,二向色分光鏡3通過二向色分光鏡固定管9利用螺母固定在基板I的圓孔I I 15上,並將二向色分光鏡3的高度及角度調整到合適位置,雷射器4通過雷射器放置固定裝置10利用螺母固定在基板I的圓孔I I I 16上,通過調整圓臺下的螺母調節放置圓臺的高度,使雷射器4放置在合適的位置,顯微物鏡5放置在顯微物鏡支撐架6上,通過顯微物鏡放置固定裝置11利用螺母固定在基板I的矩形孔I 17上,調整顯微物鏡放置固定裝置11,使顯微物鏡5放置在合適的位置,垂直微通道7通過微通道固定板12利用螺母固定在基板I的矩形孔I I 18上,調整微通道固定板12的位置,使垂直微通道7放置在合適的位置。
[0019]實驗裝置搭建完成後,具體實施過程如下,由雷射器4發出的雷射通過二向色分光鏡3,反射較短波長的雷射並透過較長波長的螢光,反射的雷射通過顯微物鏡5照射到垂直微通道7上,用於垂直微通道7的檢測。透過的螢光通過光電倍增管暗盒2進行進一步的處理。
【權利要求】
1.一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,其特徵在於:該裝置包括基板(I)、光電倍增管暗盒(2)、二向色分光鏡(3)、雷射器(4)、顯微物鏡(5)、顯微物鏡支撐架(6)、垂直微通道(7)、光電倍增管暗盒固定管(8)、二向色分光鏡固定管(9)、雷射器放置固定裝置(10)、顯微物鏡放置固定裝置(11)、微通道固定板(12)、實驗臺固定孔(13);基板(I)上設置有圓孔I (14)、圓孔I I (15)、圓孔I I I (16)、矩形孔I (17)、矩形孔I I (18);所述實驗臺固定孔(13)設置在基板(I)的底部;圓孔I (14)、圓孔I I (15)、圓孔I I I (16)、矩形孔I (17)、矩形孔I I (18)依照光路布局設置在基板(I)的主面板上;其中基板(I)通過實驗臺固定孔(13)利用螺母固定在實驗臺上,光電倍增管暗盒(2)通過光電倍增管暗盒固定管(8)利用螺母固定在基板(I)的圓孔I (14)上,二向色分光鏡(3)通過二向色分光鏡固定管(9)利用螺母固定在基板(I)的圓孔I I (15)上,雷射器(4)通過雷射器放置固定裝置(10)利用螺母固定在基板(I)的圓孔I I I (16)上,顯微物鏡(5)放置在顯微物鏡支撐架(6)上,通過顯微物鏡放置固定裝置(11)利用螺母固定在基板(1)的矩形孔I(17)上,垂直微通道(7)通過微通道固定板(12)利用螺母固定在基板(I)的矩形孔I I (18)上; 其中二向色分光鏡(3)通過一個圓柱形套筒套在二向色分光鏡固定管(9)上,並用上下兩個螺母固定,可以實現不同角度的自由旋轉;雷射器放置固定裝置(10)上有一個圓形放置臺,放置圓臺下有一個螺母,可以調節放置圓臺的高度,來滿足檢測需求,雷射器(4)放置在雷射器放置固定裝置(10)的放置圓臺上;顯微物鏡(5)放置在顯微物鏡支撐架(6)上,利用顯微物鏡放置固定裝置(11)來調節顯微物鏡(5)的高度;垂直微通道(7)通過微通道固定板(12)來調節高度。
2.根據權利要求1所述的一種檢測重力作用下垂直微通道流動特性的光路便攜裝置,其特徵在於:實驗裝置搭建完成後,具體實施過程如下,由雷射器(4)發出的雷射通過二向色分光鏡(3),反射較短波長的雷射並透過較長波長的螢光,反射的雷射通過顯微物鏡(5)照射到垂直微通道(7)上,用於垂直微通道(7)的檢測;透過的螢光通過光電倍增管暗盒(2)進行進一步的處理。
【文檔編號】G01N11/00GK104390885SQ201410666153
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年11月19日 優先權日:2014年11月19日
【發明者】申峰, 李易, 王冉, 劉趙淼 申請人:北京工業大學

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