檢測光碟片缺陷的裝置的製作方法
2023-05-31 15:30:56 1
專利名稱：：檢測光碟片缺陷的裝置的製作方法
技術領域：
：本發明涉及一種光碟機的控制裝置，且特別涉及一種使用於光碟機中用以檢測光碟片缺陷的裝置。
背景技術：
：請參照圖1，其為光碟機的伺服控制系統示意圖。其中該光碟機(opticaldiscdrive)主要具有光學讀取頭(opticalpickuphead,簡稱PUH)100，而光碟片110上有一個中心孔洞(centerhole)可固定於旋轉盤(tumtable)122上並受主軸馬達(spindlemotor)120的帶動而旋轉。而光學讀取頭100可經由驅動器180產生驅動控制力用以使得光學讀取頭100產生徑向的移動以及聚焦方向的移動。而光學讀取頭100對光碟片110上進行存取時產生的微弱電信號，將由前級放大器(pre-amplifier)150處理後可輸出伺服誤差信號組，例如射頻信號(Radio-Frequencysignal、RF)、次光力口總信號(sub-beamaddedsignal、SBAD)、波浪信號(wobblesignal)、循軌誤差信號(trackingerrorsignal、TE)與聚焦誤差信號(Focusingerrorsignal、FE)等。之後，該伺服誤差信號組再輸入後端的控制器170(controller)進行處理與運用。根據該伺服誤差信號組，控制器170即可輸出伺服控制信號組至驅動器180。而該伺服控制信號組至少包括循軌控制信號(trackingcontrolsignal)與聚焦控制信號(focusingcontrolsignal)。再者，驅動器180中至少包括循軌線圈(trackingcoil)與聚焦線圈(focusingcoil)，當循軌控制信號輸入至循軌線圈時即可產生徑向驅動控制力用以驅動該光學讀取頭IOO進行光碟片徑向的細微移動；而聚焦控制信號輸入至聚焦線圈時即可產生聚焦方向驅動控制力用以驅動光學讀取頭100進行聚焦方向的移動。因此，在正常運作下，徑向驅動控制力與聚焦方向驅動控制力可使光學讀取頭ioo維持在適當的聚焦位置並沿光碟片的軌道移動。再者，由於光碟片工藝的瑕疵或者光碟片的刮傷都會導致光碟片的缺陷。當光學讀取頭100在讀取光碟片110的過程中遇到光碟片110上的缺陷區域時，前級放大器150輸出的伺服誤差信號組會不正常，因此，控制器170也會產生不正常的伺服控制信號組並導致驅動器180無法正確地控制光學讀取頭100，使得光碟機的伺服控制系統呈現不穩定的狀況。當伺服控制系統不穩定時，光學讀取頭100就會可能產生聚焦失敗(focusingfail)或者滑軌(sliptrack),並進而導致光碟片的數據無法存取或者數據存取錯誤。請參照圖2，其所示為已知光碟機檢測光碟片缺陷的信號示意圖。當光學讀取頭沿著光碟片軌道讀取數據時，假設軌道上呈現光亮缺陷(brightdefect)時，例如反射率太強的區域，次光加總信號(SBAD)會快速上升而經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBADL。w—p^)會緩慢上升，當兩個信號相減超過第一臨界值(M1)時，控制器170的缺陷信號(DEFECT)會由第一電位變化至第二電位(例如由低電位變化至高電位)，並且直到該兩個信號相減低於該第一臨界值(M1)時，缺陷信號(DEFECT)才會由第二電位恢復為第一電位。同理，假設軌道上呈現一般型缺陷(typicaldefect)時，例如刮傷的區域，則次光加總信號(SBAD)會快速下降而經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBADl。w—p^)會緩慢下降，當兩個信號相減低於第二臨界值(-M2)時，控制器170的缺陷信號(DEFECT)會由第一電位變化至第二電位，並且直到該兩個信號相減高於該第二臨界值(-M2)時，缺陷信號(DEFECT)才會由第二電位恢復為第一電位。而利用該缺陷信號，驅動器180可在缺陷信號改變至第二電位時對驅動控制力作保護使得光碟機避免產生聚焦失敗或者滑軌。再者，請參照圖3，其所示為公開於美國專利第US6882611號
背景技術：
的缺陷檢測裝置。該裝置包括低通濾波器(low-passfilter)24、減法器(subtractor)28、或門(ORgate)26、以及兩個比較器(comparator)22a、22b。其中，比較器22a的負極輸入端連接至預設的正臨界值(presetpositivethreshold,DFTH—P)，也就是用來檢測光亮缺陷區域的第一臨界值，而比較器22b的正極輸入端連接至預設的負臨界值(presetnegativethreshold,DFTH—N)，也就是用來檢測一般型缺陷區域的第二臨界值。也就是說，該缺陷檢測裝置將次光加總信號(SBAD)與經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)相減，當兩個信號相減後的結果高於第一臨界值時，該區域即被決定為缺陷區域(光亮缺陷區域)，或者，當兩個信號相減後低於第二臨界值時，該區域即被決定為缺陷區域(一般型缺陷區域)。請參照圖4，其所示為光碟片上的缺陷區域太長時缺陷檢測裝置所產生誤動作示意圖。如圖所示，假射光學讀取頭沿著光碟片軌道讀取數據時，軌道上出現了長的一般型缺陷區域，此時，次光加總信號(SBAD)會快速下降而經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)會緩慢下降。於時間點Tl時，次光加總信號(SBAD)減去經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)已經小於第二臨界值(DFTH—N)，缺陷信號(DEFECT)由低電位轉換至高電位，代表缺陷檢測裝置發現缺陷區域(一般型缺陷區域)。由於一般型缺陷區域太長，使得經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)持續下降。因此，於時間點T2，次光加總信號(SBAD)減去經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)己經大於第二臨界值(DFTH—N)，缺陷信號(DEFECT)由高電位轉換至低電位。也就是說，於時間點T2之後，缺陷檢測裝置產生錯誤的判斷，認為軌道已經無缺陷。當實際上軌道的缺陷結束後，於時間點T3，次光加總信號(SBAD)減去經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)已經大於第一臨界值(DFTH_P)，缺陷信號(DEFECT)由低電位轉換至高電位。也就是說，於時間點T3之後，缺陷檢測裝置產生錯誤的判斷，認為軌道出現另一缺陷區域(光亮缺陷區域)。而於時間點T4，次光加總信號(SBAD)減去經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD_LPF)已經小於第一臨界值(DFTH_P)，缺陷信號(DEFECT)由高電位轉換至低電位。也就是說，於時間點T4之後，缺陷檢測裝置認為軌道已經無缺陷。如前述的說明，當光碟片軌道出現長的缺陷區域時，缺陷檢測裝置會產生誤動作。由圖4可知，當長的一般型缺陷區域出現時，缺陷信號會產生兩個脈衝(pulse)，依序代表一般型缺陷區域以及光亮缺陷區域。同理，當長的光亮缺陷區域出現時，缺陷信號會產生兩個脈衝，依序代表光亮缺陷區域以及一般型缺陷區域。為了解決上述缺陷檢測裝置的誤動作，美國專利第US6882611號公開一種檢測光碟片缺陷的裝置與方法。請參照圖5，該裝置包括開關(switch)Sl、電容器30、低通濾波器24、減法器28、或門26、以及兩個比較器22a、22b。其中，比較器22a的負極輸入端連接至預設的正臨界值，也就是第一臨界值，而比較器22b的正極輸入端連接至預設的負臨界值，也就是第二臨界值。請參照圖6，其所示為光碟片上的缺陷區域太長時缺陷檢測裝置所產生的信號示意圖。如圖所示，假設光學讀取頭沿著光碟片軌道讀取數據時，軌道上出現了長的一般型缺陷區域，此時，次光加總信號(SBAD)會快速下降而經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)會緩慢下降。於時間點T5時，次光加總信號(SBAD)減去經過低通濾波器之後的次光加總信號(SBAD—LPF)已經小於第二臨界值(DFTH—N)，缺陷信號(DEFECT)由低電位轉換至高電位，代表缺陷檢測裝置發現缺陷區域(一般型缺陷區域)。而在缺陷信號(DEFECT)由低電位轉換至高電位時，該開關Sl開啟(open)使得低通濾波器24不再接收次光加總信號(SBAD)，而電容器30則會維持在開關Sl切換之前的電壓值。於時間點T6，次光加總信號(SBAD)減去電容器維持的電壓值已經大於第二臨界值(DFTH一N)，因此，缺陷信號(DEFECT)由高電位轉換至低電位。同時，該開關Sl關閉(dose)使得低通濾波器24可以接收次光加總信號(SBAD)。如上所述，根據缺陷信號，時間點T5與T6之間的區域為缺陷區域(一般型缺陷區域)，因此，圖5的缺陷檢測裝置可以利用第二臨界值(DFTH一N)正確的檢測出長的缺陷區域。同理，當長的光亮缺陷區域出現時，缺陷檢測裝置也可以利用第一臨界值(DFTH—P)正確的檢測出長的光亮缺陷區域。然而，上述的缺陷檢測裝置是利用模擬電路實現的。在IC晶片的領域中，模擬電路會佔據較大的面積並且電路會受到工藝偏移(processdeviation)較大的影響，再者，無法精確地控制缺陷信號由第一電位轉換至第二電位的動作時間。也就是說，無法彈性地調整時間點T5以及T6，使之任意地前後移動。再者，美國專利申請早期公開第US20040145987號公開一種數字式檢測光碟片缺陷的裝置與方法。請參照圖7，其所示為公開於美國專利申請申期公開第US20040145987號所提及關於
背景技術：
的數字式缺陷檢測裝置。該數字式缺陷檢測裝置包括模擬/數字轉換器(A/Dconverter)200、最大值檢測器(maximumvaluedetector)202、最小f直檢領!j器(minimumvaluedetector)204、第一比較器206、第二比較器208、或門209。其中第一比較器206與第二比較器208分別接收第一臨界值(TH1)與第二臨界值(TH2)。此技術使用數字電路檢測缺陷的發生，射頻信號(RFsignal)經過模擬/數字轉換器200輸出數字的射頻信號，利用最大值檢測器202及最小值檢測器204檢測出數字的射頻信號的最大值及最小值，而第一比較器206比較數字的射頻信號的最大值與第一臨界值(TH1)的大小。當數字的射頻信號的最大值較大則輸出0，反之輸出1。再者，第二比較器208比較數字的射頻信號的最小值與第二臨界值(TH2)的大小。當數字的射頻信號的最小值較小則輸出O，反的輸出1。而第一比較器206與第二比較器208輸出端連接至或門209而輸出缺陷信號。此技術的檢測缺陷發生的方法使用數字電路實現，並利用計算射頻信號的不對稱量(asymmetryamount),以不對稱量當作射頻信號不對稱程度的指標，來判斷缺陷是否發生。然而，此技術針對一種缺陷(一般型缺陷或者光亮缺陷)只有利用一個臨界值來產生缺陷信號並無法精確地控制缺陷信號由第一電位轉換至第二電位的動作時間。
發明內容本發明的目的在於提出一種檢測光碟片缺陷的裝置，並利用兩個臨界值(切割信號)來檢測一般型缺陷區域並且利用另外兩個臨界值(切割信號)來檢測光亮缺陷區域。因此，本發明提出一種一般型缺陷檢測裝置用以檢測光碟片的一般型缺陷區域，包括第一頂端持有單元，用以接收信號源並且輸出第一信號，其中，該第一信號可維持在該信號源的峰值附近並以第一下落速度下降；第一減法器，連接至該第一頂端持有單元，用以將該第一信號減去第一臨界值後輸出第一切割信號；第二頂端持有單元，用以接收該信號源並且輸出第二信號，其中，該第二信號可維持在該信號源的峰值附近並以第二下落速度下降；第二減法器，連接至該第二頂端持有單元，用以將該第二信號減去第二臨界值後輸出第二切割信號；多路復用器，連接至該第一減法器與該第二減法器，包含用以接收該第一切割信號的第一輸入端、用以接收該第二切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及，比較器，其一端接收該信號源且其另一端連接該多路復用器的該輸出端，用以將該信號源與該第一切割信號或者該第二切割信號進行比較，進而輸出一般型缺陷信號，其中，該多路復用器還包括選擇端，用以根據該一般型缺陷信號去選擇該第一切割信號或者該第二切割信號。再者，本發明提出一種光亮缺陷檢測裝置用以檢測光碟片的光亮缺陷區域，包括第一底端持有單元，用以接收信號源並且輸出第三信號，其中，該第三信號維持在該信號源的谷值附近並以第一上升速度上升；第一加法器，連接至該第一底端持有單元，根據該第三信號並加上第三臨界值後輸出第三切割信號；第二底端持有單元，用以接收該信號源並且輸出第四信號，其中，該第四信號維持在該信號源的谷值附近並以第二上升速度上升；第二加法器，連接至該第二底端持有單元，根據該第四信號並且加上第四臨界值後輸出第四切割信號；多路復用器，包含用以接收該第三切割信號的第一輸入端、用以接收該第四切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及比較器，其一端接收該信號源與其另一端連接該多路復用器的該輸出端，用以將該信號源與該第三切割信號或者該第四切割信號進行比較，進而輸出光亮缺陷信號，其中，該多路復用器還包括選擇端，用以根據該光亮缺陷信號去選擇該第三切割信號或者該第四切割信號。再者，本發明提出一種缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的一般型缺陷區域與光亮缺陷區域，包括一般型缺陷檢測裝置，包括第一頂端持有單元，用以接收信號源並且輸出第一信號，其中，該第一信號可維持在該信號源的峰值附近並以一第一下落速度下降；第一減法器，連接至該第一頂端持有單元，用以將該第一信號減去第一臨界值後輸出第一切割信號；第二頂端持有單元，用以接收該信號源並且輸出第二信號，其中，該第二信號可維持在該信號源的峰值附近並以第二下落速度下降；第二減法器，連接至該第二頂端持有單元，用以將該第二信號減去第二臨界值後輸出第二切割信號；第一多路復用器，連接至該第一減法器與該第二減法器，包含用以接收該第一切割信號的第一輸入端、用以接收該第二切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及，第一比較器，其一端接收該信號源與其另一端連接該第一多路復用器的該輸出端，用以將該信號源與該第一切割信號或者該第二切割信號進行比較，進而輸出一般型缺陷信號，其中，該第一多路復用器還包括選擇端，用以根據該一般型缺陷信號去選擇該第一切割信號或者該第二切割信號；以及，光亮缺陷檢測裝置，包括第一底端持有單元，用以接收信號源並且輸出第三信號，其中，該第三信號維持在該信號源的谷值附近並以第一上升速度上升；第一加法器，連接至該第一底端持有單元，根據該第三信號並加上第三臨界值後輸出第三切割信號；第二底端持有單元，用以接收該信號源並且輸出第四信號，其中，該第四信號維持在該信號源的谷值附近並以第二上升速度上升；第二加法器，連接至該第二底端持有單元，根據該第四信號並且加上第四臨界值後輸出第四切割信號；第二多路復用器，包含用以接收該第三切割信號的第一輸入端、用以接收該第四切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及，第二比較器，其一端接收該信號源且其另一端連接該第二多路復用器的該輸出端，用以將該信號源與該第三切割信號或者該第四切割信號進行比較，進而輸出光亮缺陷信號，其中，該第二多路復用器還包括選擇端，用以根據該光亮缺陷信號去選擇該第三切割信號或者該第四切割信號；其中，當該一般型缺陷檢測裝置檢測出該一般型缺陷區域時，禁能該光亮缺陷檢測裝置且該一般型缺陷信號即為缺陷信號；以及，當該光亮缺陷檢測裝置檢測出該光亮缺陷區域時，禁能該一般型缺陷檢測裝置且該光亮缺陷信號即為該缺陷信號。本發明可以利用數字電路來實現，大幅減少了IC晶片的布局面積進而達到降低成本的目的。為了能更進一步了解本發明特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明，並非用來對本發明加以限制。圖1為光碟機的伺服控制系統示意圖。圖2所示為已知光碟機檢測光碟片缺陷的信號示意圖。圖3所示為公開於美國專利第US6882611號
背景技術：
的缺陷檢測裝置。圖4所示為光碟片上的缺陷區域太長時美國專利第US6882611號公開的缺陷檢測裝置所產生誤動作示意圖。圖5所示為公開於美國專利第US6882611號的缺陷檢測裝置。圖6所示為光碟片上的缺陷區域太長時美國專利第US6882611號公開的缺陷檢測裝置所產生的信號示意圖。圖7所示為公開於美國專利申請早期公開第US20040145987號
背景技術：
的數字式缺陷檢測裝置。圖8所示為本發明的一般型缺陷檢測裝置。圖9A、圖9B與圖9C所示為本發明一般型缺陷檢測裝置中所有信號示意圖。圖IO所示為本發明的光亮缺陷檢測裝置。圖IIA、圖IIB與圖IIC所示為本發明光亮缺陷檢測裝置中所有信號示意圖。其中，附圖標記說明如下:22a、22b比較器24低通濾波器26或門28減法器30電容器100光學讀取頭110光碟片120主軸馬達122旋轉盤150前級放大器170控制器180驅動器200模擬/數字轉換器202最大值檢測器204最小值檢測器206第一比較器208第二比較器209或門210第一頂端持有單元215第一減法器220第二頂端持有單元225第二減法器230多路復用器240比較器250第一底端持有單元255第一加法器260第二底端持有單元265第二加法器270多路復用器280比較器具體實施方式請參照圖8，其所示為本發明的一般型缺陷檢測裝置。一般型缺陷檢測裝置包括第一頂端持有單元(peakholdimit)210、第一減法器215、第二頂端持有單元220、第二減法器225、多路復用器230、比較器240。其中，該信號源，例如可為次光加總信號(SBAD)、射頻包絡信號(RFenvelopesignal)、或射頻信號的頂包絡信號(RFtopenvelopesignal),輸入至比較器240的負極輸入端、第一頂端持有單元210以及第二頂端持有單元220。第一頂端持有單元210輸出第一信號經由第一減法器215減去第一臨界值(TH1)後輸出第一切割信號(firstslicesignal)至多路復用器230的低電位輸入端(L);第二頂端持有單元220輸出第二信號經由第二減法器225減去第二臨界值(TH2)後輸出第二切割信號(secondslicesignal)至多路復用器230的高電位輸入端(H);而多路復用器230的輸出端則連接至比較器240的正極輸入端。而比較器240的輸出端即為一般型缺陷信號，並且，一般型缺陷信號連接至該多路復用器230的選擇端(S)。根據本發明的實施例，第一頂端持有單元210以及第二頂端持有單元220輸出的第一信號與第二信號可維持在該信號源的峰值並且個別地設定下落速度(drooprate),也就是說，本發明利用數字電路的設計可以設定第一頂端持有單元210以及第二頂端持有單元220具有不同的下落速度並且搭配兩個臨界值(或者稱之為切割信號(slicingsignal))即可以檢測出一般型缺陷區域以及長的一般型缺陷區域。請參照圖9A、圖9B與圖9C，其所示為本發明一般型缺陷檢測裝置中所有信號示意圖。如圖9A所示，信號源(I)為次光加總信號(SBAD)而下落速度較快的信號則為第一頂端持有單元210所輸出的第一信號(II);而下落速度較慢的信號則為第二頂端持有單元220所輸出的第二信號(III)。如圖9B所示，信號源(I)為次光加總信號(SBAD)而第一切割信號(IV)則為第一減法器215的輸出；而第二切割信號(V)則為第二減法器225的輸出。其中，第一信號減去第一臨界值(TH1)後輸出第一切割信號；第二信號減去第二臨界值(TH2)後輸出第二切割信號。如圖9C所示則為一般型缺陷信號。由圖9A、圖9B與圖9C可知，當光碟片的軌道出現一般型缺陷區域時次光加總信號(SBAD)值變小。此時，第一頂端持有單元210輸出的第一信號(n)以第一下落速度下降，並且第一減法器215可輸出減去第一臨界值(TH1)後的第一切割信號(IV);同理，第二頂端持有單元220輸出的第二信號(III)以第二下落速度下降，並且第二減法器225可輸出減去第二臨界值(TH2)後的第二切割信號(V)。由於多路復用器230選擇端(S)輸入的一般型缺陷信號為低電位，因此，比較器240的正極輸入端接收該第一切割信號(IV)，比較器240的負極輸入端接收該次光加總信號(I)。於時間點T1時，第一切割信號(IV)大於次光加總信號(I)，因此，比較器240輸出高電位的一般型缺陷信號，代表光碟片軌道開始出現一般型缺陷區域。同時，由於多路復用器230選擇端(S)輸入的一般型缺陷信號為高電位，因此，比較器240的正極輸入端接收該第二切割信號(V)，比較器240的負極輸入端接收該次光加總信號(I)。於時間點T2時，第二切割信號(V)小於次光加總信號(I)，因此，比較器240輸出低電位的一般型缺陷信號，代表光碟片軌道的一般型缺陷區域結束。同時，由於多路復用器230選擇端(S)輸入的一般型缺陷信號為低電位，因此，比較器240的正極輸入端接收該第一切割信號(IV)，比較器240的負極輸入端接收該次光加總信號(I)。同理，於時間點T3與T4之間以及時間點T5與T6之間，一般型缺陷檢測裝置可檢測出另一一般型缺陷區域。也就是說，本發明的一般型缺陷檢測裝置可檢測出如時間點Tl與T2之間的長的一般型缺陷區域或者如時間點T3與T4之間以及時間點T5與T6之間的一般型缺陷區域。請參照圖10，其所示為本發明的光亮缺陷檢測裝置。光亮缺陷檢測裝置包括第一底端持有單元(bottomholdunit)250、第一加法器255、第二底端持有單元260、第二加法器265、多路復用器270、比較器280。其中，該信號源，例如可為次光加總信號(SBAD)、射頻包絡信號、或射頻信號的底包絡信號(RFbo加menvelopesignal),連接至比較器280的正極輸入端、第一底端持有單元250以及第二底端持有單元260。第一底端持有單元250輸出第三信號經由第一加法器255加上第三臨界值(TH3)後輸出第三切割信號(thirdslicesignal)並輸入至多路復用器270的低電位輸入端(L);第二底端持有單元260輸出第四信號經由第二加法器265加上第四臨界值(TH4)後輸出第四切割信號(fourthslicesignal)並輸入至多路復用器270的高電位輸入端(H);多路復用器270的輸出端則連接至比較器280的負極輸入端。比較器280的輸出端即為光亮缺陷信號，並且，光亮缺陷信號連接至該多路復用器270的選擇端(S)。根據本發明的實施例，第一底端持有單元250以及第二底端持有單元260輸出的第三信號與第四信號可維持在該信號源的谷值且個別地設定其上升速度(riserate)，也就是說，本發明可以設定第一底端持有單元250以及第二底端持有單元260具有不同的上升速度，並且搭配兩個臨界值(或者稱之為切割信號)，即可以分別地檢測光亮缺陷區域以及長的光亮缺陷區域。請參照圖11A、圖11B與圖11C，其所示為本發明光亮缺陷檢測裝置中所有信號示意圖。如圖IIA所示，信號源(I)為次光加總信號(SBAD)而上升速度較快的信號則為第一底端持有單元250所輸出的第三信號(II);而上升速度較慢的信號則為第二底端持有單元260所輸出的第四信號(m)。如圖11B所示，信號源(I)為次光加總信號(SBAD)而第一加法器255輸出第三切割信號(IV);而第二加法器265輸出第四切割信號(V)。其中，第三信號加上第三臨界值(TH3)後輸出第三切割信號；第四信號加上第四臨界值(TH4)後輸出第四切割信號。如圖iic所示則為光亮缺陷信號。由圖IIA、圖11B與圖11C可知，當光碟片的軌道出現光亮缺陷區域時，次光加總信號(SBAD)值變大。此時，第一底端持有單元250輸出的第三信號(n)以第一上升速度上升，並且第一加法器255可輸出加上第三臨界值(TH3)後的第三切割信號(IV);同理，第二底端持有單元260輸出的第四信號(III)以第二上升速度上升，並且第二加法器265可輸出加上第四臨界值(TH4)後的第四切割信號(V)。由於多路復用器270選擇端(S)輸入的光亮缺陷信號為低電位，因此，比較器280的負極輸入端接收該第三切割信號(IV)，比較器280的正極輸入端接收該次光加總信號(I)。於時間點T1時，次光加總信號(I)大於第三切割信號(IV)，因此，比較器280輸出高電位的光亮缺陷信號，代表光碟片軌道開始出現光亮缺陷區域。同時，由於多路復用器270選擇端(S)輸入的光亮缺陷信號為高電位，因此，比較器280的負極輸入端接收該第四切割信號(V)，比較器280的正極輸入端接收該次光加總信號(I)。於時間點T2時，次光加總信號(I)小於第四切割信號(V)，因此，比較器280輸出低電位的光亮缺陷信號，代表光碟片軌道的光亮缺陷區域結束。同時，由於多路復用器270選擇端(S)輸入的光亮缺陷信號為低電位，因此，比較器280的負極輸入端接收該第三切割信號(IV)，比較器280的正極輸入端接收該次光加總信號(I)。同理，於時間點T3與T4之間，光亮缺陷檢測裝置可檢測出另一光亮缺陷區域。也就是說，本發明的光亮缺陷檢測裝置可檢測出如時間點T1與T2之間的長的光亮缺陷區域，或者是T3與T4之間的一般光亮缺陷區域。根據本發明的實施例，結合一般型缺陷檢測裝置以及光亮缺陷檢測裝置即可以完成本發明的缺陷檢測裝置。也就是說，當缺陷檢測裝置檢測出一般型缺陷區域時，為了防止光亮缺陷檢測裝置產生誤動作必須禁能(disable)光亮缺陷檢測裝置並且以一般型缺陷檢測裝置輸出的一般型缺陷信號作為缺陷信號。並且，直到一般型缺陷區域結束後才可再次致能(enable)該光亮缺陷檢測裝置；反的，當缺陷檢測裝置檢測出光亮缺陷區域時，為了防止一般型缺陷檢測裝置產生誤動作必須禁能一般型缺陷檢測裝置並且以光亮缺陷檢測裝置輸出的光亮缺陷信號作為缺陷信號。並且，直到光亮缺陷區域結束後才可再次致能該一般型缺陷檢測裝置。再者，本發明的一般型缺陷檢測裝置以及光亮缺陷檢測裝置都可以利用數字電路來實現，舉例來說，利用模擬/數字轉換器(ADC)將次光加總信號(SBAD)轉換為數字的次光加總信號之後，作為一般型缺陷檢測裝置以及光亮缺陷檢測裝置的信號源。而一般型缺陷檢測裝置中的第一頂端持有單元210、第一減法器215、第二頂端持有單元220、第二減法器225、多路復用器230、與比較器240都可以利用數字電路來實現。同理，光亮缺陷檢測裝置中所有的元件也可以利用數字電路來實現。因此，利用數字電路來實現本發明的缺陷檢測裝置的優點在於可以大幅的減少IC晶片的布局面積進而達到降低成本的目的。綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例公開如上，然其並非用以限定本發明，本領域技術人員在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作各種變化與修改，因此本發明的保護範圍當視後附的權利要求所界定者為準。權利要求1.一種一般型缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的一般型缺陷區域，包括第一頂端持有單元，用以接收信號源並且輸出第一信號，其中，所述第一信號可維持在所述信號源的峰值附近並以第一下落速度下降；第一減法器，連接至所述第一頂端持有單元，用以將所述第一信號減去第一臨界值後輸出第一切割信號；第二頂端持有單元，用以接收所述信號源並且輸出第二信號，其中，所述第二信號可維持在所述信號源的峰值附近並以第二下落速度下降；第二減法器，連接至所述第二頂端持有單元，用以將所述第二信號減去第二臨界值後輸出第二切割信號；多路復用器，連接至所述第一減法器與所述第二減法器，包含用以接收所述第一切割信號的第一輸入端、用以接收所述第二切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及比較器，其一端接收所述信號源且其另一端連接所述多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第一切割信號或者所述第二切割信號進行比較，進而輸出一般型缺陷信號，其中，所述多路復用器還包括選擇端，用以根據所述一般型缺陷信號去選擇所述第一切割信號或者所述第二切割信號。2.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述信號源為次光加總信號、射頻包絡信號或射頻信號的頂包絡信號。3.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述第一下落速度大於所述第二下落速度。4.如權利要求3所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述一般型缺陷區域的開始是根據所述信號源與所述第一切割信號而決定且所述一般型缺陷區域的結束是根據所述信號源與所述第二切割信號而決定。5.如權利要求1所述的一般型缺陷檢測裝置，其中根據所述信號源去比較所述第一切割信號與所述第二切割信號，當所述第一切割信號大於所述信號源時，將所述一般型缺陷信號由一第一電位轉換至第二電位，當所述第二切割信號小於所述信號源時，將所述一般型缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位。6.如權利要求5所述的一般型缺陷檢測裝置，其中所述一般型缺陷信號由所述第一電位轉換至所述第二電位時代表所述一般缺陷區域開始，且所述一般型缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位時代表所述一般缺陷區域結束。7.—種光亮缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的光亮缺陷區域，包括第一底端持有單元，用以接收信號源並且輸出第三信號，其中，所述第三信號維持在所述信號源的谷值附近並以第一上升速度上升；第一加法器，連接至所述第一底端持有單元，根據所述第三信號並加上第三臨界值後輸出第三切割信號；第二底端持有單元，用以接收所述信號源並且輸出第四信號，其中，所述第四信號維持在所述信號源的谷值附近並以第二上升速度上升；第二加法器，連接至所述第二底端持有單元，根據所述第四信號並且加上第四臨界值後輸出第四切割信號；多路復用器，包含用以接收所述第三切割信號的第一輸入端、用以接收所述第四切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及比較器，其一端接收所述信號源且其另一端連接所述多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第三切割信號或者所述第四切割信號進行比較，進而輸出光亮缺陷信號，其中，所述多路復用器還包括選擇端，用以根據所述光亮缺陷信號去選擇所述第三切割信號或者所述第四切割信號。8.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述信號源為次光加總信號、射頻包絡信號或射頻信號的底包絡信號。9.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述第一上升速度大於所述第二上升速度。10.如權利要求9所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述光亮缺陷區域的開始是根據所述信號源與所述第三切割信號而決定且所述光亮缺陷區域的結束是根據所述信號源與所述第四切割信號而決定。11.如權利要求7所述的光亮缺陷檢測裝置，當所述第三切割信號小於所述信號源時，所述光亮缺陷信號由第一電位轉換至第二電位，當所述第四切割信號大於所述信號源時，所述光亮缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位。12.如權利要求11所述的光亮缺陷檢測裝置，其中所述光亮缺陷信號由所述第一電位轉換至所述第二電位時代表所述光亮缺陷區域開始，且所述光亮缺陷信號由所述第二電位轉換至所述第一電位時代表所述光亮缺陷區域結束。13.—種缺陷檢測裝置，用以檢測光碟片的一般型缺陷區域與光亮缺陷區域，包括一般型缺陷檢測裝置，包括第一頂端持有單元，用以接收信號源並且輸出第一信號，其中，所述第一信號可維持在所述信號源的峰值附近並以第一下落速度下降；第一減法器，連接至所述第一頂端持有單元，用以將所述第一信號減去第一臨界值後輸出第一切割信號；第二頂端持有單元，用以接收所述信號源並且輸出第二信號，其中，所述第二信號可維持在所述信號源的峰值附近並以第二下落速度下降；第二減法器，連接至所述第二頂端持有單元，用以將所述第二信號減去第二臨界值後輸出第二切割信號；第一多路復用器，連接至所述第一減法器與所述第二減法器，包含用以接收所述第一切割信號的第一輸入端、用以接收所述第二切割信號的第二輸入端，以及輸出端；以及第一比較器，其一端接收所述信號源且其另一端連接所述第一多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第一切割信號或者所述第二切割信號進行比較，進而輸出一般型缺陷信號，其中，所述第一多路復用器還包括選擇端，用以根據所述一般型缺陷信號去選擇所述第一切割信號或者所述第二切割信號；以及光亮缺陷檢測裝置，包括第一底端持有單元，用以接收前述信號源並且輸出第三信號，其中，所述第三信號維持在所述信號源的谷值附近並以第一上升速度上升；第一加法器，連接至所述第一底端持有單元，根據所述第三信號並加上第三臨界值後輸出第三切割信號；第二底端持有單元，用以接收所述信號源並且輸出第四信號，其中，所述第四信號維持在所述信號源的谷值附近並以第二上升速度上升；第二加法器，連接至所述第二底端持有單元，根據所述第四信號並且加上第四臨界值後輸出第四切割信號；第二多路復用器，包含第一輸入端用以接收所述第三切割信號、第二輸入端用以接收所述第四切割信號，以及輸出端；以及第二比較器，其一端接收所述信號源與其另一端連接所述第二多路復用器的所述輸出端，用以將所述信號源與所述第三切割信號或者所述第四切割信號進行比較，進而輸出光亮缺陷信號，其中，所述第二多路復用器還包括選擇端，用以根據所述光亮缺陷信號去選擇所述第三切割信號或者所述第四切割信號；其中，當所述一般型缺陷檢測裝置檢測出所述一般型缺陷區域時，禁能所述光亮缺陷檢測裝置且所述一般型缺陷信號即為缺陷信號；以及，當所述光亮缺陷檢測裝置檢測出所述光亮缺陷區域時，禁能所述一般型缺陷檢測裝置且所述光亮缺陷信號即為所述缺陷信號。全文摘要本發明公開一種檢測光碟片缺陷的裝置。其中，用以檢測光碟片的一般型缺陷區域的一般型缺陷檢測裝置包括第一頂端持有單元，用以接收信號源並且輸出第一信號，第一信號可維持在該信號源的峰值附近並以第一下落速度下降；第一減法器，連接至該第一頂端持有單元，用以將該第一信號減去第一臨界值後輸出第一切割信號；第二頂端持有單元，用以接收該信號源並且輸出第二信號，第二信號可維持在該信號源的峰值附近並以第二下落速度下降；第二減法器，連接至該第二頂端持有單元，用以將該第二信號減去第二臨界值後輸出第二切割信號；以及多路復用器和比較器。本發明可以利用數字電路來實現，大幅減少了IC晶片的布局面積進而達到降低成本的目的。文檔編號G11B7/00GK101162589SQ20071019604公開日2008年4月16日申請日期2007年11月30日優先權日2007年11月30日發明者王思凱申請人:凌陽科技股份有限公司