發光二極體分光檢測裝置製造方法
2023-05-30 08:52:56
發光二極體分光檢測裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型提供一種發光二極體分光檢測裝置，包括分光組件、光譜儀接口組件和亮度檢測組件。光譜儀接口組件和亮度檢測組件分別可拆卸地安裝於分光組件。發光二極體通電激發生成的入射光束由第一連接座的第一貫通腔入射至分光組件的分光鏡，分光組件的分光鏡將入射光束均勻分光為兩束出射光束，兩束出射光束分別通過分光組件的第一連接座的第一貫通腔和第二連接座的第二貫通腔入射至發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件和亮度檢測組件。
【專利說明】發光二極體分光檢測裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種發光二極體光參數檢測裝置，屬於發光二極體測試設備領域，尤其涉及一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體光束經分光鏡分光，分別由光譜儀和亮度檢測組件檢測光參數。
【背景技術】
[0002]隨著發光二極體(light-emitting d1de, LED)的生產工藝逐漸成熟，生產製造成本逐漸降低，發光二極體應用越來越廣泛。發光二極體相較於傳統光源，如白熾燈，發光二極體具有集成度高、能量轉化效率高、故障率低、抗衝擊、輸入電壓範圍寬等優點。同等發光強度，發光二極體的功率遠小於白熾燈的功率。另一方面，隨著經濟社會發展，現代人對生活品質有了更高的要求，對照明設備的要求越來越高，採用發光二極體代替傳統燈具，如白熾燈、螢光燈，甚至更原始的煤油燈、蠟燭等，同等照明強度和照明範圍，發光二極體可以節約可觀的能源，減少能源浪費，長期使用可節約可觀的成本。
[0003]發光二極體本質上由PN結組成，具有單向導電性，當放光二極體的兩極接通正向壓降時，激發的自由電子和空穴複合，同時對外以光波形式輻射能量，宏觀上即將電能轉化為光能，同時發光二極體的轉化效率高，自由電子和空穴結合時僅有少量電能轉化為熱能散失，絕大部分電能均轉化為光能，向外輻射不同波長的單色光。
[0004]發光二極體在生產抽檢及質檢等環節，需檢測發光二極體的光電參數，其中，電參數包括發光二極體的正向壓降、反向擊穿電壓、漏電流等參數，光參數包括主波長、峰值波長、半波寬、亮度等參數。值得注意的是，現有的發光二極體測試設備，在光參數檢測環節，發光二極體的亮度參數需要由專用的亮度檢測組件檢測，其餘光參數，如主波長、峰值波長、半波寬等參數由光譜儀檢測。
[0005]—方面，由於用於檢測亮度參數的亮度檢測組件與用於檢測其餘光參數的光譜儀存在相互幹擾，發光二極體的光束必須分別檢測亮度參數以及其他參數，換句話說，發光二極體的光束必須經由分光鏡分光為兩束光束，由亮度檢測組件和光譜儀分別檢測發光二極體光束的亮度參數和主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0006]由於光纖連接不可小角度彎曲，傳統發光二極體測試設備的亮度檢測組件和光譜儀安裝位置固定，由於不同探針臺(Prober)的光纖位置不同，存在光纖從探針臺側面引入和頂面引入兩種常見模式。當光纖從某常見的探針臺側面引入，然而光譜儀安裝於發光二極體測試設備的頂面，光纖由於全反射特性無法在短距離內小角度彎曲，否則曲率過大的光纖極易造成光通量洩露和衰減，因此，傳統的發光二極體測試設備無法滿足同時檢測光纖從側面引入和光纖從頂面引入兩種模式。
實用新型內容
[0007]本實用新型的主要目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件和光譜儀接口組件的安裝位置可以互換。
[0008]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體激發生成的光束分光為兩束光束，分別由亮度檢測組件和光譜儀檢測發光二極體光束的亮度參數和主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0009]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體激發生成的光束經由分光鏡分光為兩束光束，分別由亮度檢測組件和光譜儀檢測發光二極體光束的亮度參數以及主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0010]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體激發生成的光束經由分光鏡均勾分光，兩束光束互不幹擾，提高光參數檢測穩定性。
[0011]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，可微調發光二極體分光檢測裝置相對垂直或平行於探針臺的位置，便於對準光斑。
[0012]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的基座可由第一定位孔固定於探針臺的不同的位置，便於微調基座相對平行於探針臺的位置，便於對準光斑。
[0013]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的第一連接座可由第二定位槽固定於基座的不同的左右位置，便於微調第一連接座相對垂直於探針臺的位置，便於對準光斑。
[0014]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的分光鏡與水平面形成的夾角為45°，便於分光鏡將發光二極體光束分光為兩束相互垂直的光束。
[0015]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的分光鏡連接於分光鏡微調部，分光鏡微調部可微調分光鏡與水平面形成的夾角，將夾角精確控制於45°，分光鏡微調部可補償發光二極體分光檢測裝置與水平面形成的微小夾角。
[0016]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二級管分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件進一步連接於光譜儀，由光譜儀檢測發光二極體光束的主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0017]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二級管分光檢測裝置的光譜儀接口組件包括光衰部，發光二極體光束通過不同衰減程度的光衰片，可調整進入光譜儀的光能大小，防止光譜儀處於飽和狀態。
[0018]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件包括調節部，微調調節部的滑塊調整光斑焦距，便於光纖頭微調至光斑焦點處。
[0019]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件可由測光部的亮度傳感器檢測發光二極體光束的亮度參數。
[0020]本實用新型的另一目的在於提供一種發光二極體分光檢測裝置，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件包括濾光部，濾光部的濾光鏡可過濾不同波長的光，便於檢測波長光的亮度。
[0021]為實現本實用新型的以上目的，發光二極體分光檢測裝置至少包括:
[0022]一分光組件，分光組件包括一第一連接座、一第二連接座和一分光鏡，第一連接座的側面設有一第一安裝槽，第二連接座的頂面設有一第二安裝槽，第一安裝槽的規格和第二安裝槽相同，第一連接座一體連接於第二連接座，分光鏡內嵌於第一連接座和第二連接座，第一連接座和第二連接座支撐於分光鏡，分光鏡將發光二極體通電激發的一入射光束均勻分光為兩束出射光束；
[0023]一光譜儀接口組件，光譜儀接口組件可拆卸地連接於第一連接座的第一安裝槽或第二連接座的第二安裝槽，由進一步連接於光譜儀接口組件的光譜儀檢測入射於光譜儀接口組件的出射光束的光參數；和
[0024]一亮度檢測組件，亮度檢測組件可拆卸地對應連接於第二連接座的第二安裝槽或第一連接座的第一安裝槽，亮度檢測組件包括一測光部，由測光部檢測入射於亮度檢測組件的出射光束的亮度參數。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0025]圖1是根據本實用新型的一個優選實施例的透視圖。
[0026]圖2是根據本實用新型的一個優選實施例的分解爆炸圖。
[0027]圖3是根據本實用新型的一個優選實施例的原理圖。
[0028]圖4A和圖4B是根據本實用新型的一個優選實施例的分光組件的剖視圖。
[0029]圖5是根據本實用新型的一個優選實施例的透視圖。
[0030]圖6A是根據本實用新型的一個優選實施例的變形實施例的透視圖。
[0031]圖6B是根據本實用新型的一個優選實施例的變形實施例的原理圖。
【具體實施方式】
[0032]以下描述用於揭露本實用新型以使本領域技術人員能夠實現本實用新型。以下描述中的優選實施例只作為舉例，本領域技術人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本實用新型的基本原理可以應用於其他實施方案、變形方案、改進方案、等同方案以及沒有背離本實用新型的精神和範圍的其他技術方案。
[0033]根據本實用新型的一個優選實施例，如圖1所示，發光二極體分光檢測裝置包括一分光組件10、一光譜儀接口組件20和一亮度檢測組件30。其中，光譜儀接口組件20和亮度檢測組件30分別可拆卸地連接於分光組件10，發光二極體固定安裝於探針臺，發光二極體電連接於外部電源，保證發光二極體持續穩定發光。分光組件10可將發光二極體激發生成的出射光束均勻分光為兩束入射光束，一束入射光束入射於光譜儀接口組件20，由進一步可拆卸地連接於光譜儀接口組件20的光譜儀檢測光束的主波長、峰值波長、半波寬等光參數，另一束入射光束入射於亮度檢測組件30，由亮度檢測組件30檢測光束的亮度參數。
[0034]值得一提的是，如圖2所示，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於分光組件10的頂面，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於分光組件10的側面，由亮度檢測組件30和光譜儀接口組件20分別檢測入射光束的亮度參數和其他光參數。如圖2所示，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於分光組件10的頂面，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於分光組件10的側面，亦由亮度檢測組件30和光譜儀接口組件20分別檢測入射光束的亮度參數和其他光參數。換句話說，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30和光譜儀接口組件20分別可拆卸地連接於分光組件10的頂面和側面。也就是說，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於分光組件10的頂面而發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於分光組件10的側面，另一方面，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於分光組件10的側面而發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於分光組件10的頂面。意味著發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20和亮度檢測組件30的可互換位置，便於光譜儀接口組件20匹配探針臺設於頂面或側面的光纖。
[0035]具體的，分光組件10包括一第一連接座11、一第二連接座12、一分光鏡13和一基座14，如圖4A、圖4B所示。分光組件10的第二連接座12可拆卸地連接於分光組件10的第一連接座11，分光組件10的第一連接座11支撐分光組件10的第二連接座12。分光組件10的第一連接座11可拆卸地連接於分光組件10的基座14，分光組件10的基座14支撐分光組件10的第一連接座11。分光組件10的基座14可拆卸地連接於探針臺。分光組件10的分光鏡13內嵌於分光組件10，發光二極體的出射光束經由分光組件10的分光鏡13分光為兩束入射光束，一束入射光束入射於光譜儀接口組件20，由進一步可拆卸地連接於光譜儀接口組件20的光譜儀檢測光束的光參數，另一束入射光束入射於亮度檢測組件30，由亮度檢測組件30檢測光束的亮度參數。
[0036]值得一提的是，如圖3所不，內嵌於分光組件10的分光鏡13可將發光二極體的出射光束均勻分光為兩束入射光束，兩束入射光束互不幹擾，可提高連接於光譜儀接口組件20的光譜儀檢測主波長、峰值波長、半波寬等光參數的精確性和穩定性，也可同時提高亮度檢測組件30檢測亮度參數的精確性和穩定性。
[0037]具體的，分光組件10的基座14設有多個第一定位孔141，第一定位孔141貫通於基座14，由緊固件通過第一定位孔141將分光組件10的基座14可拆卸地安裝於探針臺。優選的，分光組件10的基座14設有兩組第一定位孔141，每組設有兩個第一定位孔141，每組第一定位孔141分別設於基座14的平行於探針臺的兩側。值得一提的是，可微調緊固件嵌入固定於基座14的第一定位孔141的位置，也就是說，第一定位孔141的寬度等於或略長於緊固件的直徑，第一定位孔141的長度長於緊固件的直徑。使用者可微調嵌入固定於基座14的第一定位孔141的位置，便於使用者調整發光二極體分光檢測裝置相對平行於探針臺的位置，便於微調分光組件10的基座14相對平行於探針臺的位置而對準光斑。
[0038]具體的，分光組件10的基座14設有多個第二定位槽142，由緊固件通過第二定位槽142將分光組件10的第一連接座11可拆卸地安裝於分光組件10的基座14。優選的，分光組件10的基座14設有兩組第二定位槽142，每組設有兩個第二定位槽142，每組第二定位槽142分別設於基座14的垂直於探針臺的兩側。緊固件的一端嵌入於分光組件10的基座14的第二定位槽141，緊固件的另一度固定連接於分光組件10的第一連接座11。值得一提的是，可微調緊固件嵌入固定於基座14的第二定位槽142的位置，也就是說，第二定位槽142的寬度等於或略長於緊固件的直徑，第二定位槽142的長度長於緊固件的直徑。使用者可微調嵌入固定於基座14的第二定位槽142的位置，便於使用者調整發光二極體分光檢測裝置相對垂直於探針臺的位置，便於微調分光組件10的第一連接座11相對垂直於探針臺的位置而對準光斑。
[0039]具體的，分光組件10的第一連接座11設有多個第一連接槽113，分光組件10的第二連接座12設有多個第二連接孔123，分光組件10的第一連接座11的第一連接槽113一一對應於分光組件10的第二連接座12的第二連接孔123，如圖2所示。優選的，第一連接座11的第一連接槽113分別設於第一連接座11頂面一側，第二連接座12的第二連接孔123設於相對於第一連接座11頂面的第二連接座12的一側。緊固件分別貫通連接於第二連接座12的第二連接孔123，緊固件進一步固定連接於第一連接座11的第一連接槽113，使得分光組件10的第二連接座12牢固貼合於分光組件10的第一連接座11，使得分光組件10的第一連接座11 一體連接於分光組件10的第二連接座12。
[0040]具體的，分光組件10的第一連接座11設有一相對垂直於探針臺的第一貫通腔112和一相對平行於探針臺的第三貫通腔116，其中，第一貫通腔112進一步豎直貫通於分光組件10的基座14。分光組件10的第一連接座11的頂面設有一第一分光槽114，分光組件10的分光鏡13恰好可部分內嵌於第一連接座11頂面的第一分光槽114。分光組件10的第一連接座11的側面設有一第一安裝槽115。其中，第一連接座11的第一貫通腔112分別貫通於設於第一連接座11頂面的第一分光槽114和設於基座14的光束入射端，第一連接座11的第三貫通腔116分別貫通於第一連接座11頂面的第一分光槽114和第一連接座11側面的第一安裝槽115。具體的，分光組件10的第二連接座12設有一相對垂直於探針臺的第二貫通腔122。分光組件10的第二連接座12的底面設有一第二分光槽124，分光組件10的分光鏡13恰好可部分內嵌於第二連接座12底面的第二分光槽124。分光組件10的第二連接座12的頂面設有一第二安裝槽125。其中，第二連接座12的第二貫通腔122分別貫通於第二連接座12底面的第二分光槽124和設於第二連接座12頂面的第二安裝槽125。如圖4A和圖4B所示，第一連接座11的第一分光槽114和第二連接座12的第二分光槽124形成一分光鏡收容腔，分光組件10的分光鏡13恰好可嵌入於分光鏡收容腔。發光二極體光束經由基座14的光束入射端入射第一貫通腔112，發光二極體的出射光束由收容於分光鏡收容腔的分光鏡13均勻分光為兩束入射光束，一束入射光束入射於第一連接座11的第三貫通腔116，另一方面，另一束入射光束入射於第二連接座12的第二貫通腔122。如圖1或圖5所示，光譜儀接口組件20內嵌安裝於第一連接座11的第一安裝槽115或第二連接座12的第二安裝槽125，相應的，亮度檢測組件30內嵌安裝於第二連接座12的第二安裝槽125或第一連接座11的第一安裝槽115。
[0041]值得一提的是，第一連接座11的第一安裝槽115內壁進一步設有內螺紋，亮度檢測組件30或光譜儀接口組件20通過螺紋連接法連接於第一連接座11的第一安裝槽115 ；第二連接座12的第二安裝槽125內壁進一步設有內螺紋，亮度檢測組件30或光譜儀接口組件20通過螺紋連接法連接於第二連接座12的第二安裝槽125。
[0042]分光組件10的分光鏡13內嵌於第一連接座11的第一分光槽114和第二連接座12的第二分光槽124形成的分光鏡收容腔，如圖3所示。值得一提的是，第一連接座11的第一分光槽114和第二連接座12的第二分光槽124形成的分光鏡收容腔與水平面形成的夾角是45°，使得發光二極體光束經由基座14的光束入射端入射第一連接座11的第一貫通腔112，光束入射至設於分光鏡收容腔的分光鏡13，分光鏡13將出射光束均分分光為兩束入射光束，由於分光鏡13與水平面的夾角為45°，分光鏡13將出射光束均分為兩束入射光束，兩束入射光束相互垂直，其中，一束入射光束入射平行於水平面的第一連接座11的第一貫通腔112，另一束入射光束入射垂直於水平面的第二連接座12的第二貫通腔122。由於分光鏡13與水平面的夾角保持為45°，從而確保兩束入射光束分別垂直和平行於水平面，確保入射光束準確入射於光譜儀接口組件20和亮度檢測組件30。
[0043]發光二級管分光檢測裝置的光譜儀接口組件20包括一透鏡部21，透鏡部21內置於光譜儀接口組件20，透鏡部21包括至少一聚焦透鏡211。發光二極體的出射光束經分光鏡13分光形成的一束入射光束入射於光譜儀接口組件20，入射光束經由光譜儀接口組件20的透鏡部21匯聚形成出射光束焦點，由進一步連接於光譜儀接口組件20的光譜儀接收並分析入射光束，優選的，由光譜儀的光纖頭接收入射光束並由光譜儀分析入射光束的主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0044]光譜儀接口組件20進一步包括一調節部22，調節部22包括一滑塊和一滑軌，調節部22的滑塊和滑軌內置於光譜儀接口組件20。調節部22的滑塊可滑動地連接於滑軌，調節部22的滑塊連接於光譜儀的光纖，通過調整調節部22的滑塊安裝於滑軌的位置，帶動調整光譜儀的光纖的位置，使得光譜儀的光纖頭調整至聚焦透鏡211的焦點處，由光譜儀的光纖頭接收入射光束並由光譜儀分析入射光束的主波長、峰值波長、半波寬等光參數。
[0045]光譜儀接口組件20進一步包括一光衰部23，光衰部23包括多個光衰片231，每個光衰片231的衰減程度不同。光譜儀接口組件20的光衰部23設於調節部22的聚焦透鏡211和第二連接座12的第二安裝槽125之間。出射光束經由分光鏡13分光形成的一束入射光束入射於光衰部23的光衰片231，調整入射光束入射透鏡部21時的光能大小，防止進一步連接於光譜儀接口組件20的光譜儀進入飽和狀態，降低光譜儀檢測入射光束的光參數的精確性和穩定性。
[0046]發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30包括一測光部31，測光部31內置於亮度檢測組件30，測光部31包括一亮度傳感器311。發光二極體的出射光束經分光鏡13分光形成的一束入射光束入射於亮度檢測組件30，具體的，入射光束入射於內置於亮度檢測組件30的測光部31，由測光部31檢測入射光束的亮度參數，優選的，由測光部31的亮度傳感器311檢測入射光束的亮度參數。值得一提的是，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30進一步包括一濾光部32，濾光部32設於測光部31和第一連接座11的第一安裝槽115之間，濾光部32可拆卸地內置於亮度檢測組件30，濾光部32包括至少一濾光鏡321。發光二級管光束經分光鏡13分光形成的一束入射光束入射於亮度檢測組件30的濾光部32，由濾光部32過濾一種或多種特定波長的光，未被過濾的入射光束進一步入射於亮度檢測組件30的測光部31，從而檢測一種或多種特定波長的光的亮度參數。值得一體的是，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30進一步包括一傳輸部33，傳輸部33包括一BNC接口 331，入射光束的亮度參數由測光部31的亮度傳感器311由光信號轉化為電信號，入射光束的亮度參數的電信號進一步由傳輸部33的BNC接口傳輸至外部設備。
[0047]值得一體的是，分光組件10的分光鏡13為半反半射透鏡，半反半射透鏡的分光鏡13可將發光二極體激發的出射光束均勾分光為兩束入射光束，一束入射光束由半反半射的分光鏡13反射形成，另一束入射光束由半反半射的分光鏡13透射形成。分光鏡13與水平面形成的夾角為45°，兩束入射光束相互垂直，分別入射於第二貫通腔122和第三貫通腔116。
[0048]根據本發明的一個優選實施例，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30和光譜儀接口組件20分別可拆卸地連接於分光組件10。如圖5所示，發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於第二連接座12的第二安裝槽125，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於第一連接座11的第一安裝槽115。值得一提的是，第一連接座11的第一安裝槽115內壁進一步設有內螺紋，光譜儀接口組件20通過螺紋連接法連接於第一連接座11的第一安裝槽115，第二連接座12的第二安裝槽125內壁進一步設有內螺紋，亮度檢測組件30通過螺紋連接法連接於第二連接座12的第二安裝槽125。發光二極體通電激發生成的出射光束經由基座14的光束入射端入射於第一連接座11的第一貫通腔112，經由分光組件10的分光鏡13均勻分光形成兩束入射光束，一束入射光束入射於第一連接座11的第三貫通腔116，入射光束進一步入射於安裝於第一連接座11的光譜儀接口組件20，進一步由光譜儀接受並分析出射光束的主波長、峰值波長、半波寬等光參數，另一方面，分光鏡13分均分光形成的另一束入射光束入射於第二連接座12的第二貫通腔122，入射光束進一步入射於安裝於第二連接座12的亮度檢測組件30，由亮度檢測組件30的測光部31檢測入射光束的亮度參數。值得一提的是，由於發光二極體分光檢測裝置的亮度檢測組件30可拆卸地連接於第二連接座12的第二安裝槽125，發光二極體分光檢測裝置的光譜儀接口組件20可拆卸地連接於第一連接座11的第一安裝槽115，可適用於光譜儀的光纖設置於發光二極體分光檢測裝置的側面的狀況。
[0049]根據本發明的一個優選實施例的變形實施例，如圖6A和圖6B所示，第一連接座11的第一分光槽114和第二連接座12的第二分光槽124形成一分光鏡收容腔，分光組件10的分光鏡13可旋轉地內置安裝於分光鏡收容腔，分光鏡進一步連接於一分光鏡微調部131。分光鏡微調部131 —端連接於內置於分光鏡收容腔的分光鏡13，分光鏡微調部131的另一端外設於分光組件10，分光鏡微調部131進一步包括一旋鈕，使用者通過調節旋鈕進而微調內置於分光鏡收容腔的分光鏡13，從而調整分光鏡13與水平面形成的夾角角度。
[0050]值得一體的是，由於發光二極體分光檢測裝置的基座14所在的平面未完全平行於水平面，控制分光鏡13與基座14所在的平面形成45°夾角，不能確保分光鏡13與水平面形成的夾角精確控制為45°，從而影響分光鏡13分光形成的兩束入射光束的出射角度，進而影響入射於光譜儀接口組件20和亮度檢測組件30的進光量，從而影響光參數的精確性和穩定性。因此，分光鏡微調部131可微調分光鏡13的傾斜角度，從而補償因基座14非完全平行於水平面形成的角度誤差，增強光譜儀接口組件20和亮度檢測組件30的光參數的精確性和穩定性。
[0051]本領域的技術人員應理解，上述描述及附圖中所示的本實用新型的實施例只作為舉例而並不限制本實用新型。本實用新型的目的已經完整並有效地實現。本實用新型的功能及結構原理已在實施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本實用新型的實施方式可以有任何變形或修改。
【權利要求】
1.一種發光二極體分光檢測裝置，其特徵在於，包括: 一分光組件， 所述分光組件包括一第一連接座、一第二連接座和一分光鏡，所述第一連接座設有一第一安裝槽，所述第二連接座設有一第二安裝槽，所述第一安裝槽的規格和所述第二安裝槽相同，所述第一連接座一體連接於所述第二連接座，所述分光鏡內嵌於所述第一連接座和所述第二連接座，所述第一連接座和所述第二連接座支撐於所述分光鏡，所述分光鏡將發光二極體通電激發的一入射光束均勾分光為兩束出射光束； 一光譜儀接口組件， 所述光譜儀接口組件可拆卸地連接於所述第一連接座的所述第一安裝槽或所述第二連接座的所述第二安裝槽，光譜儀檢測入射於所述光譜儀接口組件的所述出射光束的光參數-M 一亮度檢測組件， 所述亮度檢測組件可拆卸地對應連接於所述第二連接座的所述第二安裝槽或所述第一連接座的所述第一安裝槽，所述亮度檢測組件包括一測光部，所述測光部檢測入射於所述亮度檢測組件的所述出射光束的亮度參數。
2.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，其特徵在於:所述第一安裝槽的內壁進一步設有內螺紋，所述第二安裝槽的內壁進一步設有內螺紋，所述光譜儀接口組件和所述亮度檢測組件分別螺紋連接於所述第一安裝槽和所述第二安裝槽。
3.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述第一連接座設有一第一分光槽，所述第二連接座設有一第二分光槽，所述第一分光槽和所述第二分光槽形成一分光鏡收容腔，所述分光鏡內嵌於所述分光鏡收容腔，所述分光鏡內置於所述分光鏡收容腔。
4.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述第一連接座設有一第一貫通腔和一第三貫通腔，所述第二連接座設有一第二貫通腔，所述入射光束入射於所述第一連接座的所述第一貫通腔，兩束所述出射光束分別入射於所述第一連接座的所述第三貫通腔和所述第二連接座的所述第二貫通腔。
5.如權利要求3中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述第一連接座設有一第一貫通腔和一第三貫通腔，所述第二連接座設有一第二貫通腔，所述入射光束入射於所述第一連接座的所述第一貫通腔，所述第一貫通腔和所述第二貫通腔和所述第三貫通腔分別貫通於所述分光鏡收容腔，所述分光鏡將所述入射光束分光為兩束所述出射光束，兩束所述出射光束分別入射於所述第一連接座的所述第三貫通腔和所述第二連接座的所述第二貫通腔。
6.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述光譜儀接口組件進一步包括一透鏡部，所述透鏡部包括一聚焦透鏡，所述透鏡部可拆卸地安裝於所述光譜儀接口組件，所述出射光束入射於所述透鏡部的所述聚焦透鏡形成一焦點，所述光譜儀檢測所述焦點處的所述出射光束的光參數。
7.如權利要求6中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述光譜儀接口組件進一步包括一調節部，所述調節部包括一滑軌和一滑塊，所述滑塊滑動安裝於所述滑軌，所述滑塊連接於所述光譜儀的光纖，所述滑塊帶動連接於所述滑塊的所述光纖調整至所述焦點，所述光譜儀檢測所述焦點處的所述出射光束的光參數。
8.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述光譜儀接口組件進一步包括一光衰部，所述光衰部可移動地安裝於所述光譜儀接口組件，所述光衰部包括多個光衰片，所述光衰片具有不同衰減程度，所述出射光束入射於所述光衰部的所述光衰片。
9.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述亮度檢測組件進一步包括一濾光部，所述濾光部可拆卸地安裝於所述亮度檢測組件，所述濾光部包括至少一濾光鏡，所述濾光部過濾所述入射光束一個或多個特定波長的光。
10.如權利要求1中所述的一種發光二極體分光檢測裝置，所述亮度檢測組件進一步包括一傳輸部，所述測光部包括一亮度傳感器，所述傳輸部內置於所述亮度檢測組件，所述傳輸部包括一 BNC接口，所述亮度傳感器檢測所述出射光束的所述亮度參數，所述BNC接口傳輸所述亮度傳感器生成的電信號。
【文檔編號】G01M11/02GK204241187SQ201420653699
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年11月4日 優先權日:2014年11月4日
【發明者】張書恆 申請人:光碩光電科技（上海）有限公司