確定網絡分析儀電磁延遲、測量高頻電路阻抗的方法
2023-06-06 03:34:56 1
專利名稱：確定網絡分析儀電磁延遲、測量高頻電路阻抗的方法
技術領域：
本發明涉及移動通信領域，尤其涉及通過網絡分析儀對移動終端高頻電 路進行阻抗測量的技術。
背景技術：
阻抗匹配是無線電技術中常用的一種技術。在移動終端中，阻抗匹配常
被應用於射頻(RF)系統各部分級聯電路之間。 一般情況下，需要進行匹配 的電路包括天線與低噪聲放大器(LNA)之間的匹配、功率放大器輸出 (RFOUT)與天線之間的匹配、LNA/VCO輸出與混頻器輸入之間的匹配。 匹配的目的是為了保證信號或能量有效地從"信號源"傳送到"負載"。
在高頻電路中寄生元件(比如連線上的電感、板層之間的電容和導體的 電阻)對匹配網絡具有明顯的、不可預知的影響。頻率在數十兆赫茲以上時， 理論計算和仿真已經遠遠不能滿足要求，為了能夠進行正確的阻抗匹配，需 要在實驗室通過儀器對分級電路輸入輸出負載進行精確的RF阻抗測試，得到 精確的電路阻抗，然後根據測量的阻抗對電路進行阻抗匹配，從而得到阻抗 滿足要求的電路。
如圖l所示，在現有技術中通常釆用網絡分析儀來測試被測電路的阻抗。 在網絡分析儀的埠連接有50歐阻抗測試探針，探針與被測電路的輸入端相 連，被測電路的輸出端與網絡分析儀的接地端相連。網絡分析儀向被測電路 發送信號，並檢測被測電路返回的回波損耗，根據檢測的回波損耗計算出被 測電路的阻抗。
由於在測試電路中串聯了探針，探針會造成回波的相位偏差，從而網絡 分析儀根據檢測的回波損耗計算出的阻抗並不是被測電路的實際阻抗。具體分析如下
如圖2所示，探針採用無損50歐阻抗傳輸線，假定其長度為《，被測電 路實際反射係數為r。，網絡分析儀埠測量的反射係數為r,。由於網絡分析 儀埠測量的反射係數實際上包括了探針與被測電路的反射係數，所以網絡 分析儀埠測量的反射係數r，並不等於被測電路實際反射係數r。； r,與r。有如
下關係-.
r1=r。^2"'=r>—河^
其中/ = 2冗/、， ；ip為傳輸線中電-茲波波長，比空氣中波長義略短。從公式 中可以看出，網絡分析儀埠的測量值與實際值之間相位相差4《,/;^ 。
為了使網絡分析儀最終顯示的反射係數與被測電路實際的反射係數相 同，需要補償掉探針長度所造成的差異；因此，在網絡分析儀中提供了一種 補償方法~>"設置電磁延遲。通過在網絡分析儀中設置合適的電磁延遲，從 而補償掉探針長度所造成的差異，使得網絡分析儀顯示的反射係數與被測電 路實際的反射係數相同。
假定引入電磁延遲r ,則網絡分析儀埠測量的反射係數r,經電磁延遲r 後成為網絡分析儀顯示的反射係數G ， 「3與r,有如下關係
r3=rie-雞
若r =-《,則r3 = rie—，7 = r^2風=r。e力腐,風=r。，此時網絡分析儀顯示值
即為淨皮測電路實際反射系#t 。
根據以上公式可以看出，如果讓電磁延遲r所造成的相位偏差與探針所造 成的相位偏差相差180。，則電磁延遲r可以補償掉探針長度所造成的差異，從 而使得網絡分析儀顯示的反射係數r;與被測電路的實際反射係數r。相同。
根據以上分析，在現有技術中先對網絡分析儀進行校準；然後連接探針 到網絡分析儀的埠 ，探針輸入端開路或短路，用網絡分析儀測試埠的反 射係數r;其次調整網絡分析儀此埠的電磁延遲r直至反射係數r與史密斯
7Smith圓圖上的開路點或短路點重合(即使得電磁延遲r與探針造成的相位差 相差180。)，則電磁延遲r剛好補償探針長度^引起的相位偏移；最後探針接 入測試電路，則網絡分析儀顯示的回波損耗就是探針處的回波損耗。
但是在實際實驗過程中，發現通過現有技術的補償方法，網絡分析儀所 計算的被測電路阻抗仍然與實際被測電路阻抗之間有一定的相位偏差。
發明內容
本發明實施例提供的 一種網絡分析儀電磁確定方法及裝置，以及高頻電
路阻抗量試方法，用以提高高頻電路阻抗的測試準確率。 一種網絡分析4義電-茲延遲確定方法，包括 對網絡分析儀校準後，測量第 一反射係數和第二反射係數； 所述第 一反射係數為所述網絡分析儀通過接入到高頻電路的探針對所述
高頻電路進行測量獲得的；所述第二反射係數為對所述高頻電路串聯電感後，
所述網絡分析儀通過探針對串聯電感後的電路進行測量獲得的；
根據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網
絡分析儀的電》茲延遲。
一種網絡分析^f義電》茲延遲確定裝置，包括
第一反射係數獲得模塊，用於獲得第一反射係數，所述第一反射係數為 對網絡分析儀校準後，將所述網絡分析儀的探針接入到高頻電路進行測量得 到的；
第二反射係數獲得模塊，用於獲得第二反射係數，所述第二反射係數為 對網絡分析儀校準後，對所述高頻電路串聯電感，並將所述網絡分析儀的探 針接入到串聯電感後的電路進行測量得到的；
電磁延遲確定模塊，用於根據述電感的值，以及獲得的第一反射係數和 第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲。
一種高頻電^^阻抗測量方法，包括對網絡分析儀校準後，測量第 一反射係數和第二反射係數；
所述第 一反射係數為所述網絡分析儀通過接入到高頻電路的探針對所述
高頻電路進行測量獲得的；所述第二反射係數為對所述高頻電路串聯電感後， 所述網絡分析儀通過探針對串聯電感後的電路進行測量獲得的；
根據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網 絡分析儀的電磁延遲值；
才艮據確定的電石茲延遲值調整所述網絡分析儀的電石茲延遲後，將所述網絡 分析儀的探針接入到所述高頻電路進行測量，根據所述網絡分析儀顯示的反 射係數確定所述高頻電路的阻抗。
本發明實施例由於對高頻電路串聯電感的前後進行反射係數測量，而這 兩個反射係數都可以反映電路中探針或者其它因素所造成的相位偏移，從而 可以根據這兩個反射係數值確定對位偏移《的補償電磁延遲r;換而言之，根 據本發明實施例確定出的電磁延遲r可以補償探針和測試電路中其它因素引 起的相位偏移，而不是如現有技術那樣，僅對探針的相位偏移進行測試和補 償，從而使得對高頻電路的阻抗測試更為準確。
進一步，利用Smith圓圖工具可以方便的獲得^和^，而不必解方程，能 夠直觀獲得&和"，從而方便地確定電磁延遲r 。
圖1為現有技術的通過網絡分析儀測量被測電路阻抗的示意圖； 圖2為現有技術的阻抗測量方法探針引入測量誤差的示意圖； 圖3為本發明實施例的探針及其它因素引入測量誤差的示意圖； 圖4為本發明實施例的測試電路中串聯電感後進行測量的示意圖； 圖5a為本發明實施例的測試電路中串聯無損傳輸線^後測量的反射係數 示意圖5b為本發明實施例的測試電路中串聯無損傳輸線^、電感後測量的反射係數示意圖5c為本發明實施例的測試電路中串聯無損傳輸線^、電感、無損傳輸 線^後測量的反射係數示意圖6為本發明實施例的高頻電路阻抗測試方法流程圖7為本發明實施例的網絡分析儀電磁延遲確定裝置內部結構框圖。
具體實施例方式
本發明的發明人發現，導致現有技術的測試阻抗方法不準確，主要的原 因在於，現有技術的方法通過將探針輸入端開路或短路來測量因探針引起的 相位偏差，從而可以採用電磁延遲來補償探針引起的相位偏差；然而，除探 針外可以還有其它因素會導致測量偏差，在對探針進行電磁延遲補償校準時， 有兩種做法， 一種是探針校準後，才焊接入被測電路，另一種是將探針的接 地端焊接在被測電路的地上，輸入端懸空或接地校準；採用第一種方式校準， 最大的誤差是"校準時探針的接地點與測量時探針的接地點不一致"導致電 磁延遲長度不準確，而採用第二種方式校準，由於被測電路上存在寄生電容 和寄生電感，輸入端並不是完全的開路和短路，校準時將寄生元件也補償舍 棄，而實際上寄生元件是被測電路阻抗的一部分，不應該補償掉。
延遲問題，提出了一種二次測量補償法,即不採用現有技術中僅測量探針引 入的測量誤差來進行補償，而是對被測電路串聯一個電感，對串聯電感前、 後進行二次測量。通過這個方法，可以針對串聯在電路中的探針、或者其它 因素(比如探針的接地點或者被測電路寄生元件)所引起的誤差進行補償， 實現對被測電路阻抗的準確測量。串聯電感前後進行測量，探針的接地點相 同，寄生元件也都算入了阻抗的一部分，儘可能避免了常規做法的缺陷。同 時考慮到被測電路上寄生元件主要是電容，串聯電容和寄生電容相互作用影 響，使用串聯電感。具體分析如下在圖3所示的測試電路中，網絡分析儀埠測量的反射係數值為r。經 電磁延遲r後網絡分析儀顯示的反射係數值為r;、被測電路實際反射係數值為 r。； r;、 r3 、 r。有如下關係
r1=rvr讀 (1) r3 = r--雞 (2)
其中，《為探針和測試電路中其它因素引起的相位偏移，A = 2;r/;ip, A為
傳輸線中電磁波波長。
如圖4所示，如果在圖3的被測電路中串聯電感L,則被測電路實際反射 係數值變為r。，網絡分析儀顯示的反射係數值變為r;、網絡分析儀埠測量 的反射係數值變為r,; r4、 r2、 r。之間有如下關係
r2=r0e, (3) r4 = r,單 (4) r。與r。之間相差串聯電感L,其關係可以通過理論計算或通過Simth圓圖 工具得到，其關係如下
r, — r0+(;.#。)*(i_r0) (5) °— i + (7'^/z。)*(i-r。)
其中，z。是特徵阻抗， 一般是50歐(或75歐)，7T為圓周率，/為電磁
波頻率，L為電感值。
假設在圖3所示的測試電路中引入無損傳輸線^和"。如圖5a所示，r;為
被測電路串聯無損傳輸線q後網絡分析儀埠測量的反射係數；如圖5b所示，
r;為被測電路串聯無損傳輸線。以及電感L後網絡分析儀埠測量的反射系
數；如圖5c所示，r;為被測電路串聯無損傳輸線^、電感L以及無損傳輸線
。一後網絡分析儀埠測量的反射係數。r3、 r:、 r5、 r,之間的關係如下
r; = r>-須' (6)
r. _r;+(/#。)*(i-r;) (7)
4_ l + (厚/z。)承(1 —r3)l + (第/z。H-r;)'
將公式6代入公式9，得到r5與r,的關係
「, _ r,' +(y#0)*(i-r,微')
(10)
i + (/#。)，rie.
如果讓r5等於r2 ，則fl和^ 2正好可以補償掉探針和測試電路中其它因素引 起的相位偏移f。由於A和Q不能是負數，因此讓r;等於r,，即需要滿足 ( 1+f2) = 2p/2、 &=《，即(《+ &)=;1/72。因此，根據以上公式計算出^和&後， 即可確定用於補償相位偏移《的電磁延遲7 ,即電磁延遲r等於或儘量
接近、2。
令r;等於r2,得到r^與r,的關係
由於r,與r,的值均可以由網絡分析儀測量得出，而z。、 ；r、 /、 L均為已 知值，通過解公式11的實部等式與虛部等式，可以解出^和G。由於解複數 的方程式為本領域技術人員所熟知，此處不再詳細講解如何由公式11解出a和"。
由於G和&是模擬出來的無損傳輸線，用以補償掉探針和測試電路中其它
因素引起的相位偏移《，因此，根據^和A即可確定電磁延遲r。從而調整的 電磁延遲r可以補償掉探針和測試電路中其它因素引起的相位偏移糹。
從公式11可以看出，通過網絡分析儀得到串聯電感L前後的r;、 「2值， 就可以計算出。和&,也就可以確定電磁延遲r,使得電磁延遲r可以補償掉 探針和測試電路中其它因素引起的相位偏移《。顯然，上述的公式11可以有 多種變形，其表現形式並非如公式11所示的一種，但不論公式11作何種轉
12換、變形，其本質都是根據與r2的值以及電感L來確定電磁延遲r 。
基於上述分析，本發明實施例提供的高頻電路阻抗測試方法，如圖6所
示，包括如下步驟
S601 、對網絡分析4義進行校準。
5602、 網絡分析儀校準後，連接探針，將探針接入被測電路進行測量。
5603、 獲得網絡分析儀埠測量的反射係數r,。
在網絡分析儀上既可以顯示網絡分析儀埠測量的反射係數，也可以顯 示埠測量的反射係數經電磁延遲後得到的反射係數。
5604、 將被測電路串聯電感L (比如4.7nH )後，形成被測電路與電感L
的串聯電路。
串聯電感的值本領域技術人員可以根據實際情況來選定，比如採用 O.lnH-lOmH的電感。
5605、 將探針接入該串聯電路進行測量，獲得網絡分析儀埠測量的反
射係數G。
5606、 根據測量的r, 、 r2以及串聯的電感值確定電磁延遲r 。
可以根據上述的公式11解出fi和&後，確定電磁延遲r ;也可以利用Smith 圓圖工具來得到"和^後，確定電磁延遲f:
Smith圓圖工具不但可以以極坐標形式顯示反射係數，還可以在顯示的反 射係數的基礎上再增加阻抗，Sm他圓圖工具可以根據增加的阻抗計算出增加 後的反射係數。
比如，在Smith圓圖工具中，在r;的基礎上增加無損傳輸線^ (可通過 Smith圓圖工具的界面輸入)，則Smith圓圖工具顯示出增加f後的反射係數 r;;在r;的基礎上增加電感L(可通過Smith圓圖工具的界面輸入)，則Smith 圓圖工具顯示出又增加L後的反射係數r:;在「4的基礎上增加無損傳輸線？2 (可通過Smkh圓圖工具的界面輸入)，則Smith圓圖工具顯示出又增加^後 的反射係數r;。在Smith圓圖工具中不斷調整輸入的^、 &的值，使得反射係數r;最終與 G相重合。此時即確定&與&的值。根據確定的A與&，可以確定作為補償的
電磁延遲r,即使得電磁延遲r等於或者儘量接近-"。
S607、根據確定的電磁延遲"周整網絡分析儀的電磁延遲後，將探針接入
被測電路進行測量，網絡分析儀埠測量的反射係數經電磁延遲後顯示的反 射係數即為被測電路的反射係數，根據顯示的反射係數即可確定被測電路的阻抗。
本領域技術人員可以理解，雖然上述說明中，為便於理解，對方法的步 驟採用了順序性描述，但是應當指出，對於上述步驟的順序並不作嚴格限制。
本發明實施例提供了一種網絡分析儀電磁延遲確定裝置，如圖7所示， 包括第一反射係數獲得模塊701、第二反射係數獲得模塊702、電磁延遲確 定模塊703。
第一反射係數獲得模塊701用於獲得第一反射係數，所述第一反射係數 為對網絡分析儀校準後，將所述網絡分析儀的探針接入到高頻電路進行測量
得到的。
第二反射係數獲得模塊702用於獲得第二反射係數，所述第二反射係數 為對網絡分析儀校準後，對所述高頻電路串聯電感，並將所述網絡分析儀的 探針接入到串聯電感後的電路進行測量得到的。
電磁延遲確定模塊703用於根據述電感的值，以及獲得的第一反射係數 和第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲。
電磁延遲確定模塊703具體根據上述公式11計算出^,和^2後，根據？1和^2
確定所述電磁延遲；
或者，電磁延遲確定模塊703具體用於通過Simth圓圖工具顯示所述第一 反射係數和第二反射係數;在所述第一反射係數的基礎上通過所述Simth圓閨 工具依次增加無損傳輸線& 、所述電感以及無損傳輸線^2後得到第三反射系 數；調整^、 直至所述第三反射係數與所述第二反射係數重合；根據所述&和"確定網全各分析4義的電石茲延遲。
本發明實施例由於對高頻電路串聯電感的前後進行反射係數測量，得到 兩個反射係數值，而這兩個反射係數都可以反映電路中探針或者其它因素所 造成的相位偏移，根據這兩個反射係數值可以建立關係式，從而可以獲知測 試電路中探針和測試電路中其它因素引起的相位偏移《，也就是可以確定對位
偏移《的補償值A和。，從而確定網絡分析儀的電磁延遲r;換而言之，根據 本發明實施例確定出的電磁延遲r可以補償探針和測試電路中其它因素引起 的相位偏移，而不是如現有技術那樣，僅對探針的相位偏移進行測試和補償， 從而使得對高頻電路的阻抗測試更為準確。
進一步，利用Smith圓圖工具可以方便的獲得A和"，而不必解方程，能 夠直觀獲得^和。，從而方便的確定電磁延遲r。
是可以通過程序來指令相關的硬體來完成，該程序可以存儲於 一計算機可讀 取存儲介質中，如ROM/RAM、磁碟、光碟等。
還可以理解的是，附圖或實施例中所示的裝置結構僅僅是示意性的，表 示邏輯結構。其中作為分離部件顯示的模塊可能是或者可能不是物理上分開 的，作為模塊顯示的部件可能是或者可能不是物理模塊，既可以位於一個地 方，也可以分布到幾個網絡單元上。
以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對於本技術領域的普 通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤 飾，這些改進和潤飾也應^L為本發明的保護範圍。
權利要求
1、一種網絡分析儀電磁延遲確定方法，其特徵在於，包括對網絡分析儀校準後，測量第一反射係數和第二反射係數；所述第一反射係數為所述網絡分析儀通過接入到高頻電路的探針對所述高頻電路進行測量獲得的；所述第二反射係數為對所述高頻電路串聯電感後，所述網絡分析儀通過探針對串聯電感後的電路進行測量獲得的；根據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲。
2、 如權利要求l所述的方法，其特徵在於，所述根據所述電感的值，以 及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定阿絡分析儀的電磁延遲，具體 為根據如下第一公式計算出x,和、後，根據x,、、確定所述電磁延遲—r>-殺+ (i -r,) ，2丄2- "G.#。)*(i-r產)其中，z。是特徵阻抗，；r為圓周率，/為電磁波頻率，L為所述電感的值；^ = 2冗/、， /^為傳輸線中電磁波波長；r。 「2分別為所述第一反射係數和第二反射係數。
3、 如權利要求2所述的方法，其特徵在於，所述第一公式根據如下方法 得到假設所述高頻電路串聯無損傳輸線x,，則得到第二公式r3=rie"，'；其中，r;為網絡分析儀測量的串聯了無損傳輸線Xl的電路的反射係數；假設所述高頻電路串聯無損傳輸線x,、所述電感，則得到第三公式rC'#)*(i-r;);其中，G為網絡分析儀測量的串聯了無損傳輸線xp i + (_/^i/z0)*、i-r3j所述電感的電路的反射係數；假設所述高頻電路串聯無損傳輸線x,、所述電感、無損傳輸線&，則得到第四公式r5 = r4e"2^;其中，「5為網絡分析儀測量的串聯了無損傳輸線、、 所述電感、無損傳輸線x,的電路的反射係數； 根據所述第二、三、四公式得到第五公式r， r-雖'+(y,/z。H —r>-，丄—雞2 5 ^i + (y,/z0)*(i-r,她) ;根據所述第五公式，令r,r,，得到所述第一公式。
4、 如權利要求l所述的方法，其特徵在於，所述根據所述電感的值，以 及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲，具體 包括通過史密斯Simth圓圖工具顯示所述第一反射係數和第二反射係數； 在所述第一反射係數的基礎上通過所述Simth圓圖工具依次增加無損傳 輸線fi 、所述電感以及無損傳輸線^2後得到第三反射係數；調整A、 f2，直至所述第三反射係數與所述第二反射係數重合； 根據所述。和^ 2確定網絡分析儀的電磁延遲。
5、 一種網絡分析儀電磁延遲確定裝置，其特徵在於，包括 第一反射係數獲得模塊，用於獲得第一反射係數，所述第一反射係數為對網絡分析儀校準後，將所述網絡分析儀的探針接入到高頻電路進行測量得 到的；第二反射係數獲得模塊，用於獲得第二反射係數，所述第二反射係數為 對網絡分析儀校準後，對所述高頻電路串聯電感，並將所述網絡分析儀的探 針接入到串聯電感後的電路進行測量得到的；電磁延遲確定模塊，用於根據述電感的值，以及獲得的第一反射係數和 第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲。
6、 如權利要求5所述的裝置，其特徵在於，所述電磁延遲確定模塊具體用於根據如下公式計算出a和^後，根據a和^確定所述電磁延遲；formula see original document page 4其中，z。是特徵阻抗，；r為圓周率，/為電磁波頻率，L為所述電感的值；y9 = 2;r/、，、為傳輸線中電磁波波長；R 、 r2分別為所述第 一反射係數和第二反射係數。
7、 如權利要求5所述的裝置，其特徵在於，所述電磁延遲確定模塊具體用於通過Simth圓圖工具顯示所述第一反射係數和第二反射係數；在所述第 一反射係數的基礎上通過所述Simth圓圖工具依次增加無損傳輸線a、所述電感以及無損傳輸線&後得到第三反射係數；調整a、 ？2，直至所述第三反射係數與所述第二反射係數重合；根據所述a和"確定網絡分析儀的電磁延遲。
8、 一種高頻電^各阻抗測量方法，其特徵在於，包括對網絡分析儀校準後，測量第 一反射係數和第二反射係數；所述第 一反射係數為所述網絡分析儀通過接入到高頻電路的探針對所述高頻電路進行測量獲得的；所述第二反射係數為對所述高頻電路串聯電感後，所述網絡分析儀通過探針對串聯電感後的電路進行測量獲得的；根據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網絡分析4義的電石茲延遲值；根據確定的電磁延遲值調整所述網絡分析儀的電磁延遲後，將所述網絡分析儀的探針接入到所述高頻電路進行測量，根據所述網絡分析儀顯示的反射係數確定所述高頻電路的阻抗。
9、 如權利要求8所述的方法，其特徵在於，所述根據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲，具體為根據如下第一公式計算出、和^後，根據x,、 ^確定所述電;茲延遲formula see original document page 5其中，z。是特徵阻抗，；r為圓周率，/為電磁波頻率，L為所述電感的值；/ = 2;r/、， ^為傳輸線中電磁波波長；r'、 r,分別為所述第一反射係數和第二反射係數。
10、如權利要求9所述的方法，其特徵在於，所述才艮據所述電感的值，以及獲得的第一反射係數和第二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲，具體包括通過Simth圓圖工具顯示所述第 一反射係數和第二反射係數；在所述第一反射係數的基礎上通過所述Simth圓圖工具依次增加無損傳輸線q、所述電感以及無損傳輸線"後得到第三反射係數；調整A、 直至所述第三反射係數與所述第二反射係數重合；根據所述f i和f 2確定網絡分析儀的電磁延遲。
全文摘要
本發明涉及移動通信領域，尤其涉及通過網絡分析儀對移動終端高頻電路進行阻抗測量的技術。本發明提供的一種確定網絡分析儀電磁延遲、測量高頻電路阻抗的方法，包括對網絡分析儀校準後，將所述網絡分析儀的探針接入到所述高頻電路進行測量獲得第一反射係數；對所述高頻電路串聯電感後，將所述網絡分析儀的探針接入到串聯電感後的電路進行測量獲得第二反射係數；根據所述電感的值，以及第一、二反射係數，確定網絡分析儀的電磁延遲。由於對高頻電路串聯電感的前後進行反射係數測量，而這兩個反射係數都可以反映電路中探針或者其它因素所造成的相位偏移，從而可以根據這兩個反射係數值確定對相位偏移的補償電磁延遲，使得阻抗測試更準確。
文檔編號G01R27/04GK101464482SQ20091000113
公開日2009年6月24日 申請日期2009年1月23日 優先權日2009年1月23日
發明者王國濤 申請人:青島海信移動通信技術股份有限公司