液晶用電極基片的製作方法

2023-05-26 16:06:06 4

專利名稱：液晶用電極基片的製作方法
技術領域：
本發明涉及由液晶用基片膜(substrate film)及透明電極組成的液晶用電極基片。更詳細地是涉及使用含有特定的雙酚成分的芳香族聚酯或聚碳酸酯作為液晶用基片膜的液晶用電極基片。
近年，電子儀器越來越小型化，對筆記本型個人電腦、文字處理機、可攜式電腦終端等的顯示部分要求具有體輕、簡潔、耗電省等特點，目前越來越多地開始採用液晶顯示，使用玻璃作為液晶顯示元件，但已開始研製具有不開裂、質輕等特點的塑料基片。
在使用塑料膜作為液晶顯示透明電極基片時，問題之一是耐熱性低。即，在組裝液晶單元的工序中，為提高組裝好的單元的可靠性，在取向膜的塗覆、乾燥、液晶單元密封時必須要加熱至150℃以上。另外，可攜式電腦的液晶顯示面積越來越大，除了使用TN型顯示之外，還使用STN型顯示。當使用STN型時，為消除著色而使用相位差膜，但優選將相位差膜與透明導電膜成型為一體，使構成簡潔。但此時如果耐熱性不高，則在組裝液晶單元時發生光程差(retardation)的恢復而不能使用。
另外，作為液晶用基片膜使用時，如果不使用光程差小的基片，則對比度變差。光程差以膜厚度d×雙折射Δn的積表示。這樣的膜可以通過熔融擠出成形法或溶液鑄塑法成形得到。作為基片膜最好是使用表面性好的物質，因此最好用溶液鑄塑法製成，但在鑄塑膜的乾燥過程中如果產生張力則光程差變大。
另外，在上述液晶用電極基片膜中，在組裝液晶單元時使用粘合劑在加熱條件下將周圍密封，但也有由於熱收縮而產生殘餘張力的情況，因此出現光程差。如出現光程差則液晶單元的對比度降低，這是不希望出現的。因此優選即使產生張力光程差也不增大的材料。
針對這樣的要求，提出了以聚對苯二甲酸乙二醇酯及聚碳酸酯作為塑料基片膜的材料(Y.Umeda，T.Miyashita，and F.Nakano，「LiquidCrystal Plastic Substrates」，P.178，in SID Simp.Dig.Tech.Papers，P.178，1982)。
但是，一般的雙向拉伸的聚對苯二甲酸乙二醇酯膜其取向嚴格，在向偏光板間插入液晶單元時發色而無法使用。另外，為避免這種情況而使用單向拉伸的聚對苯二甲酸乙二醇酯時，必須使其與偏光板取向一致，耐熱性要小於100℃，填裝單元的過程必須在非常特殊的條件下進行。
另一方面，作為液晶用基片膜用的聚碳酸酯是一般的雙酚A型物質，雖然已做過研究，但因為該物質的Tg為約150℃，加工溫度界限為130-140℃左右，在裝填液晶單元工序中取向膜乾燥溫度及密封劑的硬化溫度條件受到限制。另外，作為單向拉伸的相位差膜，如果考慮加熱處理時光程差的恢復，則加工溫度還是被限制在130-140℃左右。
本發明人等使用含有從1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中選擇的至少一種芳香族聚酯及/或聚碳酸酯作為雙酚成分，研製出玻璃化溫度高、耐熱性優良、乾燥時即使產生張力也能抑制光程差的增加，且作為相位差膜時其加熱處理時光程差的恢復小的液晶用基片膜，完成了本發明。
本發明涉及一種液晶用電極基片，該基片由液晶用基片膜及在該膜的至少一面上設置的液晶用透明電極組成，其中的液晶用基片膜由含有作為雙酚成分的從1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中選擇的至少一種(以下也稱為特定雙酚)芳香族聚酯(以下也稱為特定芳香族聚酯)組成。
另外，本發明涉及使用上述特定芳香族聚酯及聚碳酸酯的混合物作為液晶用基片膜的液晶用電極基片。
另外，本發明涉及一種使用由上述特定的芳香族聚酯或與聚碳酸酯的混合物形成的、在無荷重下測定的光程差為20nm以下的液晶用基片膜的液晶用電極基片。
另外，本發明涉及一種使用由上述特定的芳香族聚酯或與聚碳酸酯的混合物形成的、在無荷重下測定的光程差為100-1200nm的相位差膜形成的液晶用基本膜的液晶用電極基片。
本發明還涉及由含有上述特定的雙酚作為雙酚成分的聚碳酸酯(以下也稱為特定聚碳酸酯)形成的液晶用基片膜及在該膜的至少一面上設置透明基片構成的液晶用電極基片。
除了使用該特定聚碳酸酯之外，也可以與現有的聚碳酸酯並用。
另外，液晶用基片膜可以是在無荷重下測定的光程差為20nm以下的膜，也可以是100-1200nm的相位差膜。
本發明的液晶用電極基片使用含有上述特定雙酚的芳香族聚酯或特定聚碳酸酯作為基片膜的材料。
本發明使用的含有上述特定雙酚的芳香族聚酯或特定聚碳酸酯，記載在特開平2-88634號公報及特開平2-233720號公報中，是公知的。但在每個公報中都沒有記載將特定的芳香族聚酯及特定的聚碳酸酯作為液晶用的基片膜使用，當然也完全沒有涉及有關光程差的特性。
本發明所用的特定雙酚如上所述，是從1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代 4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中選擇的至少一種。作為烷基環烷烴殘基，例如為碳原子數1-6、優選1-4的烷基、1-2個、優選2-8個氫原子被取代的碳原子數5-8、優選5-6的環烷烴基。另外，作為4-羥苯基的3位或5位的取代基，例如為碳原子數1-6、優選1-2的烷基或優選為滷原子。
作為本發明中使用的一種特定的雙酚1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴(以下也稱為雙酚(I))，例如有1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷、1，1-二(4-羥苯基)-3，3-二甲基-5，5-二甲基環己烷、1，1-二(4-羥苯基)-3，3-二甲基-4-甲基環己烷、1，1-二(4-羥苯基)-3，3-二甲基-5-甲基環戊烷等，特別是1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷因為可以在工業上應用所以特別優選。
作為本發明中使用的另外一種特定的雙酚1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴(以下也稱為雙酚(II))，例如有1，1-二(3-甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷、1，1-二(3-乙基-4-羥苯基)-3，3-二甲基-5，5-二甲基環己烷、1，1-二(3-氯-4-羥苯基)-3，3-二甲基-4-甲基環己烷、1，1-二(3-溴-4-羥苯基)-3，3-二甲基-5-甲基環戊烷等。
作為本發明中使用的另外一種特定的雙酚1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴(以下也稱為雙酚(III))，例如有1，1-二(3-甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷、1，1-二(3，5-二氯-4-羥苯基) 3，3-二甲基-5-甲基環己烷、1，1-二(3-乙基-5-甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷、1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷、1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)3，3-二甲基-5-甲基環戊烷等。
本發明中的特定的芳香族聚酯是通過與這些特定的雙酚聚合而得到。聚合反應可以採用酯交換法等熔融聚合、表面縮合法等溶液聚合等，在現有公知的聚合條件下進行。
作為雙酚成分，可以只使用特定雙酚(1種或2種以上)，或與其他1種或2種以上的雙酚類並用。
當並用2種以上的特定雙酚時，可以組合使用上述各雙酚(I)、(II)或(III)中的2種以上，也可以在雙酚(I)、(II)及(III)之間組合。混合比例任意。
作為並用的其他種類的雙酚類例如有2，2』-二(4-羥苯基)丙烷、4，4』-(α-甲基苄叉)雙酚、二(4-羥苯基)甲烷、2，2』-二(4-羥苯基)丁烷、3，3』-二(4-羥苯基)戊烷、4，4』-二(4-羥苯基)庚烷、4，4』-二(4-羥苯基)-2，5-二甲基庚烷、二(4-羥苯基)甲基苯基甲烷、二(4-羥苯基)二苯基甲烷、2，2』-二(4-羥苯基)辛烷、二(4-羥苯基)-4-氟苯基甲烷、2，2』-二(3-氟-4-羥苯基)丙烷、二(3，5-二甲基-4-羥苯基)甲烷、2，2』-二(3，5-二甲基 4-羥苯基)丙烷、二(3，5-二甲基-4-羥苯基)苯基乙烷、二(3-甲基-4-羥苯基)二苯基甲烷、二(3，5-二甲基-4-羥苯基)碸，或這些物質的2種以上的混合物。
並用的其他種類的雙酚為總雙酚成分的50摩爾％以下，優選為30摩爾％以下，可以選用具有適合所用的液晶系統性能的物質。
作為酸成分例如有對苯二甲酸、間苯二甲酸等，特別是從容易得到原料方面考慮，優選單獨使用對苯二甲酸、間苯二甲酸或對苯二甲酸與間苯二甲酸的混合物。
本發明中使用的特定的芳香族聚酯的玻璃化溫度為180℃以上，利用凝膠滲透色譜法(GPC)測定得到的聚苯乙烯換算的重均分子量為3萬-25萬，優選4萬-20萬的物質。
本發明所用的液晶用基片膜，是將1種或2種以上特定的芳香族聚酯利用擠出成形法或溶液鑄塑法成形得到。從膜的厚度均勻性及表面狀態良好方面考慮，優選溶液鑄塑法。溶劑可以使用例如二氯甲烷、氯仿、甲苯、二甲基甲醯胺、N-甲基吡咯烷酮等。
也可以將特定的芳香族聚酯與其他的聚合物的混合物作為液晶用基片膜的材料使用。其他的聚合物例如有上述特定的聚碳酸酯，現有的公知的聚碳酸酯、聚酯碳酸酯等，從容易得到及成本方面考慮優選雙酚A型聚碳酸酯。
從耐熱性方面考慮混合比例為使混合物的Tg為180℃以上、優選200℃以上的比例。例如在特定的芳香族聚酯/現有公知的聚碳酸酯(例如現有公知的聚碳酸酯為雙酚A型聚碳酸酯)的情況下，相對於特定的芳香族聚酯100重量份，現有公知的聚碳酸酯為100重量份以下，優選約80-0重量份。
在利用溶液鑄塑法製作液晶用基片膜時，在工業上例如可以在鋼製環形帶上流延聚合物溶液，乾燥至在膜上產生自身的支持性(通常殘存溶劑為40-1％左右)，然後利用輥搬運式乾燥爐等除去殘存溶劑，成為膜。在通過乾燥爐時，該膜產生能夠將膜取回的張力。如考慮輥的摩擦等機械損失，則該張力不可避免地要達到1kgf/m左右，在這麼大的張力下進行加熱乾燥時聚合物膜取向，光程差增大。但當使用上述的特定聚碳酸酯膜時，可以抑制光程差的增加。
膜最通常為數μm-數百μm，更優選10-300μm。
將這樣得到的液晶用基片膜在無荷重下測定其光程差為20nm以下，優選15nm以下，更優選10nm以下的膜。
也可將本發明中的液晶用基片膜製成相位差膜。相位差膜的光程差為100-1200nm，優選200-800nm，通常可通過將上述乾燥得到的膜單向拉伸得到。可沿橫軸單方向拉伸也可沿縱軸單方向拉伸，如果考慮其視覺角度的特性則優選縱軸單方向拉伸。拉伸溫度是在比薄膜的玻璃化溫度(Tg)低20℃，優選10℃的低溫度至高出30℃、優選20℃的高溫度範圍內。為防止單元驅動時的顏色不均勻，通常將同一面內的光程差值的標準偏差控制在10nm以下，優選5nm以下。
由本發明中使用的特定芳香族聚酯組成的液晶用基片膜，具有加熱處理後光程差及表面電阻值變化小的特點。
本發明的液晶用電極基片是在液晶用基片膜的至少一面上設置透明電極。透明電極可以使用鉑、金、銀、銅、鎳等金屬及氧化錫、氧化銦、氧化鎘等單一氧化物及氧化錫/銻、氧化銦/錫、氧化鋅/鋁等複合相組成的金屬氧化物等。形成方法可以採用真空蒸鍍法、噴鍍法、離子鍍敷法等物理堆積法、CVD法、溶膠凝膠法等化學堆積法。
另外，本發明的液晶用電極基片為防止水分、氧氣、氮氣的透過以及為改良耐腐蝕性，還可根據需要在基片膜的單面或兩面上設置屏障層。屏障層的具體例有，將聚乙烯醇、乙烯 乙烯醇共聚物、丙烯腈、丙烯腈-丙烯酸甲酯共聚物、偏氯乙烯等有機高分子膜層疊製成的膜，或將這些樹脂溶液塗覆製成的膜，將SiO2、SiC、SiAlON、SiN等無機材料蒸鍍及用CVD等物理堆積法層疊製成的膜，另外還有市售的矽酮類、丙烯酸類硬質膜等。通常有機屏障層的厚度為0.5-50μm，優選1-30μm；無機屏障層的厚度為10-150nm優選20-100nm。
另外，在屏障層與膜之間還可以有底塗層。在裝填液晶單元工序中的洗滌、取向膜塗覆、及ITO的點陣化中光致抗蝕膜的形成及除去抗蝕膜時，可以使用鹼(無機或有機)等各種溶劑及含有該溶劑的材料。上述溶劑及含有溶劑的材料的材料種類因製造廠家的不同而不同，加工條件(例如在溶劑中的浸漬時間等)也因製造商的不同而不同。有些情況下溶劑滲透到屏障膜與膜基體材料之間，損害屏障層與膜基體材料之間的密合性，此時也可以使用底塗層提高密合性。底塗層的厚度通常為0.01-10μm，優選0.02-5μm。例如可以將有機矽烷偶合劑、聚矽氧烷、環氧樹脂、環氧丙烯酸酯、異氰酸酯化合物等塗覆形成底塗層。
本發明涉及一種液晶用電極基片，該基片是在液晶用基片膜的至少一面上設置透明電極，該液晶用基片膜含有至少一種特定的聚碳酸酯，其中特定的聚碳酸酯含有上述特定的雙酚。
特定聚碳酸酯的製備是將特定的雙酚的1種或2種以上或與其他的雙酚類組成的混合物利用熔融酯交換法、表面縮聚法等常用的聚合方法，在通常的聚合條件下進行聚合製得。
在並用2種以上的特定雙酚作為雙酚成分時，可以組合上述各雙酚(I)、(II)或(III)中的2種以上，也可以在雙酚(I)、(II)及(III)之間組合。混合比例任意。另外，也可並用特定的雙酚以外的其他的雙酚類。作為其他的雙酚類有以特定的芳香族聚酯例示的雙酚類。
並用的其他雙酚類為特定雙酚的60摩爾％以下，優選40摩爾％以下。如高於60摩爾％，則不能得到低光程差、耐熱性好、由加熱引起的光程差的變化小的膜。
作為分子量調節劑可以使用單官能性化合物，例如苯酚、對叔丁基苯酚、對壬基苯酚、對甲氧基苯酚等中的1種或2種以上。
本發明中使用的特定聚碳酸酯為，玻璃化溫度(Tg)180℃以上，利用凝膠滲透色譜法(GPC)測定得到的聚苯乙烯換算的重均分子量為3萬-20萬，優選4萬-15萬的物質。
本發明中使用的液晶用基片膜，是通過將特定的聚碳酸酯的1種或2種以上利用擠出成形法或溶液鑄塑法成形得到。從膜的厚度均勻性及表面狀態良好的觀點出發，優選溶液鑄塑法。溶劑例如可以使用二氯甲烷、氯仿、甲苯、二甲基甲醯胺、N-甲基吡咯烷酮等。
也可以使用特定的聚碳酸酯與其他的聚合物的混合物作為液晶用基片膜的材料。作為其他的聚合物有上述特定的芳香族聚酯及現有公知的聚碳酸酯等。
作為其他公知的聚碳酸酯例如有雙酚A型聚碳酸酯等。
從耐熱性方面考慮，優選能夠使混合物的Tg達到180℃以上、優選200℃以上的混合比例。例如在特定的聚碳酸酯/現有公知的聚碳酸酯(例如現有公知的聚碳酸酯為雙酚A型聚碳酸酯)的情況下，相對於特定的100重量份聚碳酸酯，現有公知的聚碳酸酯為100重量份以下，優選約60-0重量份。
利用溶液鑄塑法製備液晶用基片膜時，工業上例如將聚合物溶液流延在鋼製環形帶上，乾燥至在膜上產生自身支持性(通常殘存溶劑為40-1％左右)，然後用輥搬運式乾燥爐等除去殘存溶劑成為薄膜。在通過乾燥爐時該薄膜產生能夠將膜取回的張力。如考慮輥的摩擦等機械損失，則該張力要達到1kgf/m，在這麼大的張力下加熱乾燥時，聚合物膜取向，光程差增大。但使用上述的特定聚碳酸酯膜時，可以抑制光程差的增加。
膜的厚度通常為數μm-數百μm，優選10-300μm。
這樣得到的液晶用基片膜在無荷重下測定的光程差為20nm以下，優選15nm以下，更優選10nm以下。
也可以將由特定的聚碳酸酯組成的液晶用基片膜作為相位差膜。與相位差膜有關的技術事項及效果與上述芳香族聚酯膜相同。另外，在液晶用基片膜的至少一面上設置的透明電極、屏障層及錨定塗層(底塗層)也與上述特定的芳香族聚酯的技術事項相同。
以下利用實施例進一步詳細說明本發明的液晶用電極基片(液晶用基片膜不是相位差膜)及液晶用相位差電極基片(液晶用基片膜是相位差膜)，但本發明並不被這些實施例所限定。
通常，液晶用電極基片通過以下各工序製造，(a)製備液晶用基片膜用的聚合物，(b)成形為液晶用基片膜(鑄塑法)，製成液晶用基片膜，(d)在上述液晶用基片膜的一側或兩側的表面上形成屏障層(氣體或水分等的屏障層)，(e)在上述屏障層上形成液晶用透明電極。在上述液晶用基片膜與上述屏障層之間也可設置底塗層。
另外，通常的液晶用相位差電極基片可以利用與上述(a)、(b)相同的方法得到液晶用基片膜，(c)將上述液晶用基片膜拉伸賦與相位差(光程差)，製成相位差液晶用基片膜，按照與上述(d)相同的方法形成屏障層，然後按照與上述(e)相同的方法形成液晶用透明電極。也可以在上述相位差液晶基片膜與上述屏障層之間設置底塗層。有關芳香族聚酯的實施例實施例I改變雙酚成分的情況實驗例I-1～I-5(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表I-(1)中記載的雙酚按表I-(1)中記載的重量，對叔丁基苯酚1.35g、亞硫酸氫鈉0.26g、氫氧化鈉水溶液(5當量)78.2ml、176.8ml水在充滿氮氣的300ml的茄型燒瓶中混合，冷卻至5℃，調製成2羥酚的鹼性水溶液(a1)。
另一方面，在充滿氮氣的另外一個300ml茄型燒瓶中，將表I-(1)記載重量的二羧酸氯化物(2種二羧酸氯化物的情況下，二種二羧酸氯化物的重量相等)溶於255ml二氯甲烷，冷卻至5℃，調製成二羧酸氯化物的二氯甲烷溶液(a2)。
在1升的可分離燒瓶中加入水137ml及作為催化劑的氯化苄基三丁基銨0.16g，然後在該燒瓶中充滿氮氣，冷卻至5℃，調製成該催化劑的水溶液(a3)。
在上述分離燒瓶中劇烈攪拌水溶液(a3)，向其中加入水溶液(a1)及溶液(a2)，在10分鐘內利用泵連續添加，成為混合溶液。將上述混合溶液攪拌2小時後，向其中加入0.42g苯甲醯氯的5ml二氯甲烷溶液，再攪拌20分鐘。
攪拌後放置，溶液分離成含有反應生成的食鹽及氫氧化鈉的水相及溶有聚合物的二氯甲烷相。將該上清液(水相)傾析後，加入與該水相大致相等量的純水，攪拌。一邊繼續攪拌一邊加入少量的鹽酸中和。然後重複上述的傾析、添加純水及攪拌的步驟5次後，放置，傾析水相。在得到的聚合物二氯甲烷溶液中追加300ml二氯甲烷，將該溶液加熱至40-50℃，將該溶液中的水分通過與二氯甲烷的共沸脫水除去。再繼續上述加熱使二氯甲烷溶液中的聚合物濃度達到15重量％，然後將聚合物溶液流延在玻璃板上，室溫放置60分鐘後從玻璃板上剝離，再用乾燥機150℃乾燥2小時，得到芳香族聚酯聚合物。
另外，使用日立製作所(株)制的UV檢測器(L-4000)及泵(L-6000)、及Gaschro工業社制的柱加熱爐(M-556)及數據處理裝置(SIC LABCHART180)測定上述聚合物利用GPC測定得到的聚苯乙烯換算重均分子量，使用昭和電工(株)制的Shodex K-80M作為吸氣劑及柱。另外，為進行該測定的標準曲線是使用將昭和電工(株)制的單分散聚苯乙烯(分子量為2880000、435000、157000、66000、9240及13206種)作為標準聚苯乙烯作成的(以下聚合物的重均分子量的測定方法相同)。另外，利用精工電子工業(株)制的SSC5000 DSC260測定上述聚合物的Tg(以下聚合物的Tg的測定方法相同)。結果如表I-(1)所示。
表I-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)9-3，3，5-三甲基環己烷*2 1，1-二(3-甲基-4--羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*3 1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷#(b)液晶用基片膜的製備將上述聚合物的15重量％的二氯甲烷溶液均勻流延在不鏽鋼板上，室溫下放置60分鐘，在不鏽鋼板上得到聚合物膜(含有二氯甲烷)，將該聚合物膜從不鏽鋼板上剝離。(有關由於聚合物膜乾燥時荷重而出現的光程差)將從上述不鏽鋼板上剝離的聚合物膜直接置於不鏽鋼板上，80℃預備乾燥處理20分鐘，使聚合物膜中含有的二氯甲烷(以下也稱為殘存二氯甲烷)減少至3重量％。預備乾燥後的聚合物膜厚度為100μm。
將上述預備乾燥後的聚合物膜切成寬5cm的長方塊狀。使用平卡頭將該長方塊狀的聚合物的膜的一端全部卡緊，從長方塊狀聚合物膜的卡頭部至另一端的長度為20cm。上述長方塊狀的聚合物膜被卡頭部支撐，只靠自身的重力下垂(乾燥時的荷重為0g)，在表I-(2)記載的乾燥溫度(第1階段)下乾燥15分鐘，然後在表I-(2)記載的乾燥溫度(第2階段)下乾燥10分鐘。
另外，將上述預備乾燥後的聚合物膜切斷成寬5cm的長方塊狀，將該長方塊狀的聚合物膜用平卡頭在膜的整體上每相隔20cm卡緊。上述長方塊狀的聚合物膜被一方的卡頭部支撐，通過在另一方的卡頭部加上荷重，在該長方塊狀的聚合物膜上加上荷重68g或135g，在表I-(2)記載的乾燥溫度(第1階段)下乾燥15分鐘，然後在表I-(2)記載的乾燥溫度(第2階段)下乾燥10分鐘。
上述乾燥中荷重0g、68g及135g的聚合物膜的光程差用OAK製作所制的顯微偏光分光光度計(TFM-120AFT)測定，利用正交尼科爾(偏光鏡)分光法；將具有450nm光程差的相位差板與測定樣品及光軸一起重合，測定其值(光程差)的增加數量，由此可以測定聚合物膜的光程差(以下的光程差測定方法相同)。結果如表I-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)將從上述的不鏽鋼板上剝離的聚合物膜(含有殘存二氯甲烷)在無張力狀態下，在表I-(2)記載的乾燥溫度(第1階段)下乾燥15分鐘，然後在表(I)-(2)記載的乾燥溫度(第2階段)下乾燥10分鐘，得到液晶用基片膜。乾燥後的液晶用基片膜的厚度為100μm。
測定上述液晶用基片膜(測定時荷重為0g)的光程差。結果如表I-(2)所示。另外，將上述液晶用基片膜切斷成寬度為10mm的長方塊狀，將該長方塊狀的液晶用基片膜的整體每間隔20cm用平卡頭將兩端卡緊，該長方塊狀的液晶用基片膜被一方的卡頭部支撐，在另一方的卡頭部加上荷重，在該長方塊狀的液晶用基片膜上加上250g或500的荷重，然後測定荷重狀態下的該液晶用基片膜的光程差。結果如表I-(2)所示。
表I-(2)
有關上述液晶用基片膜上設置屏障層及液晶用透明電極的產物(液晶用電極基片)的張力(荷重)與光程差之間的關係與上述液晶用基片進行相同內容的評價，結果是具有相同傾向，另外，有關由加熱引起的表面電阻及光線透過率的變化的評價與以下記載的相位差液晶用電極基片的內容相同(以下有關聚合物及聚合物的混合物等的評價也相同)。(c)液晶用基片膜的拉伸將由上述(b)得到的光程差為0nm、厚度為100μm的液晶用基片膜切斷成11cm×11cm，用東洋精機製作所制的拉伸試驗裝置(X4 HD-HT)，拉伸速度10cm/min，按表I-(3)記載的拉伸倍率(在與拉伸方向垂直的方向上1.0倍)及拉伸溫度的條件拉伸，製成相位差液晶用基片膜。
測定上述相位差液晶用基片膜的光程差，結果如表I-(3)所示。(d)屏障層的形成使用裝備有2臺直徑6英寸的圓板狀靶(target)(1臺為屏障層形成用，另一臺為液晶用透明電極形成用)的島津製作所制的磁控管噴鍍機(HSM-720型)，將上述屏障層形成用靶作為SiO1.5，噴鍍氣體為氬氣(總氣壓為1mTorr，氣體流量為20sccm)、電力條件為RF 400W(2.35W/cm2)、處理時間為1.5分鐘，在上述條件下在上述相位差液晶用基片膜的一個面上形成屏障層。用東京精密(株)制的SURFCOM 1500A測定上述屏障層的厚度為30nm。(e)液晶用透明電極的形成使用用於屏障層形成的磁控管噴鍍機，在形成屏障層後，將氧化錫含量為10重量％的銦氧化物(ITO)作為上述液晶用透明電極形成用靶，噴鍍氣體為氬氣與氧氣(1容量％)的混合氣體(總氣壓為7m Torr，氣體充量20sccm)，電力條件為DC 0.6A 250V(0.88W/cm2)，處理時間3分鐘，在上述屏障層上形成液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。用東京精密(株)制的SURFCOM 1500A測定的上述透明電極的厚度為100nm。
測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率。另外，將該液晶用相位差電極基片用YAMATO社制精密恆溫器(DF62型)在180℃加熱處理1小時，冷卻至常溫，測定光程差、表面電阻及光線透過率。用當上述相同的裝置測定光程差，利用三菱油化(株)制ROLESTA AP測定表面電阻，利用日本電色工業社制NDH-300A測定光線透過率。結果如表I-(3)所示。
表I-(3)
因為實驗例I-5中的二元醇成分與本發明中的芳香族聚酯的特定雙酚不同，所以不能得到所希望的效果(因為張力(荷重)而出現的光程差大(參照表I-(2)，另外，由於加熱而出現的光程差的減少稍大(參照表I-(3))。實施例II使用同時含有作為雙酚成分的特定雙酚及現有雙酚的芳香族聚酯的情況實驗例II-1～II-5(實驗例II-1與實驗例I-1相同)(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將特定的雙酚1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷與現有的雙酚A按表II-(1)記載的重量，將對叔丁基苯酚1.35g、亞硫酸氫鈉0.26g、氫氧化鈉水溶液(5N)78.2ml、水176.8ml在充滿氮氣的300ml茄型燒瓶中混合，冷卻至5℃，調製成2羥酚的鹼性水溶液(a1)。
另一方面，按照與實驗例I-1相同的方法，調製成對苯二甲酸氯化物/間苯二酸氯化物的摩爾比為1/1的二羧酸氯化物的二氯甲烷溶液(a2)及催化劑的水溶液(a3)。將上述水溶液(a1)、(a2)、(a3)按照與實驗例I-1相同的方法混合攪拌後，一邊攪拌一邊向該混合物中混合加入與實驗例I-1等量的苯甲醯氯的二氯甲烷溶液，再攪拌20分鐘，按照與實驗例I-1相同的方法得到芳香族聚酯聚合物。
上述聚合物的重均分子量及Tg如表II-(1)所示。
表II-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*4 ( )內表示總雙酚成分中的各個雙酚的mol％。(b)液晶用基片膜的製備按照與實驗例I-1相同的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜乾燥時荷重而出現的光程差)除按表II-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定在這些荷重下的聚合物膜的光程差。結果如表II-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表II-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表II-(2)所示。
表II-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表II-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表II-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的-面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表II-(3)所示。
表II-(3)
實驗例III使用同時含有作為雙酚成分的特定雙酚及其他的特定雙酚的芳香族聚酯的情況實驗例III-1～III-2(a)液晶用基片膜用聚合物的製備按表III-(1)中記載的量將表III-(1)中記載的2種特定的雙酚及對叔丁基苯酚1.35g、亞硫酸氫鈉0.26g、氫氧化鈉水溶液(5N)78.2ml、水176.8ml在充滿氮氣的300ml茄型燒瓶中混合，冷卻至5℃，調製成2羥酚的鹼性水溶液(a1)。
另一方面，按照與實驗例I-1相同的方法，調製成二羧酸氯化物的二氯甲烷溶液(a2)及催化劑的水溶液(a3)。將上述水溶液(a1)、(a2)、(a3)按照與實驗例I-1相同的方法混合攪拌後，一邊攪拌一邊向該混合物中混合加入與實驗例I-1等量的苯甲醯氯的二氯甲烷溶液，再攪拌20分鐘，按照與實驗例I-1相同的方法得到芳香族聚酯聚合物。
上述聚合物的重均分子量及Tg如表III-(1)所示。
III-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*2 1，1-二(3-甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*3 1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*4 ( )內表示總雙酚成分中的各個雙酚的mol％。(b)液晶用基片膜的製備按照與實驗例I-1相同的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表III-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定在這些荷重下的聚合物膜的光程差。結果如表III-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表III-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表III-(2)所示。
表III-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表III-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表III-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表III-(3)所示。
表III-(3)
實施例IV 特定的芳香族聚酯與現有的芳香族聚酯的聚合物的混合物(混合比是變量)的情況實驗例IV-1～IV-5(實驗例IV-1與實驗例I-1相同)(a)液晶用基片膜用聚合物的製備如表IV-(1)所示，將含有1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為二元醇成分及對苯二甲酸和間苯二甲酸(摩爾比＝1∶1)作為二羧酸成分的特定芳香族聚酯，與含有雙酚A作為雙酚成分及對苯二甲酸和間苯二甲酸(摩爾比＝1∶1)作為二羧酸成分的現有的芳香族聚酯，按照表IV-(1)記載的重量比混合。上述聚合物混合物的Tg如表IV-(1)所示。
IV-(1)
*5 以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為雙酚成分，以對苯二甲酸及間苯二甲酸(摩爾比1∶1)作為二羧酸成分的芳香族聚酯(重均分子量55000，Tg275℃)*6 以雙酚A作為雙酚成分，以對苯二甲酸及間苯二甲酸(摩爾比1∶1)作為二羧酸成分的芳香族聚酯(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物混合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷。)(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表IV-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定在這些荷重下的聚合物膜的光程差。結果如表IV-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表IV-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表IV-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表IV-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表IV-(2)所示。
表IV-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表IV-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表IV-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表IV-(3)所示。
表IV-(3)
實施例V 特定的芳香族聚酯與現有公知的聚碳酸酯組成的聚合物混合物的情況實驗例V-1(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表V-(1)記載的特定的芳香族聚酯與現有的聚碳酸酯按表(V)-(1)記載的重量比混合。上述聚合物混合物的Tg如表V-(1)所示。
表V-(1)
*7 以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為雙酚成分，以對苯二甲酸二氯化物及間苯二甲酸二氯化物(摩爾比1∶1)作為二羧成分的芳香族聚酯*8 以雙酚A作為雙酚成分的聚碳酸酯(重均分子量80000，Tg150℃)(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物混合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1相同的方法得到聚合物膜(含有殘存二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表V-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定在這些荷重下的聚合物膜的光程差。結果如表V-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表V-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表V-(2)所示。
表V-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表V-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表V-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表V-(3)所示。
表V-(3)
實施例VI 改變芳香族聚酯的分子量的情況實驗例VI-1～VI-4(a)液晶用基片膜用聚合物的製備製備表VI-(1)記載的以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為二元醇、以對苯二甲酸和間苯二甲酸(摩爾比1∶1)作為二羧酸成分的重均分子量的特定芳香族聚酯，測定Tg。如表VI-(1)所示。
表VI-(1)
*9 以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為雙酚成分，以對苯二甲酸及間苯二甲酸(摩爾比1∶1)作為二羧酸的芳香族聚酯(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物混合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1相同的方法得到聚合物膜(含有殘存二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜的乾燥時荷重而出現的光程差)除按表VI-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物膜的光程差。結果如表VI-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表VI-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表VI-(2)所示。
表IV-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表VI-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表VI-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表VI-(3)所示。
表VI-(3)
*10 因制膜過程中發生裂紋而無法測定。
實施例VI-4因為芳香族聚酯的重均分子量低，所以在制膜過程中在膜上產生裂紋。有關聚碳酸酯的實施例實施例VII 改變雙酚成分的情況實驗例VII-1～VII-4(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表VII-(1)記載的雙酚按表VII-(1)記載的重量(0.3mol)、及對叔丁基苯酚1.35g(0.009mol)、氫氧化鈉水溶液(5N)500ml在充滿氮氣的2升的三頸燒瓶中溶解。再加入二氯甲烷500ml，一邊劇烈攪拌一邊在室溫下導入59.4g碳醯氯(0.6mol)，然後再加入N-乙基哌啶0.34g(0.003mol)，攪拌80分鐘。停止攪拌後傾析水相，加入與該水相等量的純水，加入少量的鹽酸攪拌，中和。再將上述的傾析、添加純水及攪拌重複5次，最後將水相傾析後加入二氯甲烷300ml，加熱至40-50℃，利用共沸脫水從聚合物二氯甲烷溶液中除去水分。再繼續加熱至濃度達到15重量％。將聚合物溶液流延在玻璃板上，室溫放置60分鐘後從玻璃板上剝離。然後用乾燥機150℃乾燥2小時，得到聚碳酸酯聚合物膜。上述聚合物的重均分子量及Tg如表VII-(1)所示。
表VII-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)9-3，3，5-三甲基環己烷*2 1，1-二(3-甲基-4--羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*3 1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表VII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物膜的光程差。結果如表VII-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表VII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表VII-(2)所示。
表VII-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表VII-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表VII-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理得到的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表VII-(3)所示。
表VII-(3)
*11 因為發生熱塑性變形而未進行測定。
實驗例VII-4的相位差液晶用電極基片在180℃×1hr的條件下加熱；膜發生熱變形。實施例VII 同時含有作為雙酚成分的特定的雙酚及現有的雙酚的聚碳酸酯的情況實驗例VIII-1～VIII-4(a)液晶用基片膜用聚合物的製備使用特定的雙酚1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三乙基環己烷與現有的雙酚A作為雙酚成分，按表VIII-(1)記載的重量，使用1.80g對叔丁基苯酚(0.012mol)，其餘與實施例VIII-1的方法相同，得到芳香族聚碳酸酯聚合物膜。上述聚合物的重均分子量及Tg如表VIII-(1)所示。
表VIII-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*4 ( )內表示總雙酚成分中的各個雙酚的mol％。(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表VIII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時聚合物膜的光程差。結果如表VIII-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表VIII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表VIII-(2)所示。
表VIII-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表VIII-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表VIII-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表VIII-(3)所示。
表VIII-(3)
*13 因為膜收縮產生裂紋而未進行測定。
實驗例VIII-4的相位差液晶用電極基片在180℃×1hr的條件下加熱，膜上產生裂紋。實驗例IX-1及IX-2(a)液晶用基片膜用聚合物的製備使用表IX-(1)記載的2種特定的雙酚，按表IX-(1)記載的量，使用對叔丁基苯酚1.80g(0.012mol)，其餘與實施例VII-1方法相同，製得聚碳酸酯聚合物。上述聚合物的重均分子量及Tg如表IX-(1)所示。
表IX-(1)
*1 1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*2 1，1-二(3-甲基-4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷*3 1，1-二(3，5-二甲基-4-羥苯基)3，3，5-三甲基環己烷*14 ( )內表示總雙酚成分中的各個雙酚的mol％。(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷。)(有關由於聚合物膜在乾燥後荷重而出現的光程差)除按表IX-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物膜的光程差。結果如表IX-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表IX-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表IX-(2)所示。
表IX-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表IX-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表IX-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表IX-(3)所示。
表IX-(3)
實施例X特定的聚碳酸酯(同時含有兩種雙酚作為雙酚成分)與現有的聚碳酸酯組成的聚合物混合物(混合比是變量)的情況實施例X-1～X-5(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表X-(1)記載的以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷及雙酚A作為二元醇的芳香族聚酯與以雙酚A作為二元醇的芳香族聚酯按表X-(1)記載的重量比混合。上述聚合物混合物的Tg如表X-(1)所示。
表X-(1)
*15 全部雙酚成分中1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷佔70mol％、雙酚A佔30mol％的聚碳酸酯(重均分子量58000，Tg205℃)*16 以雙酚A作為雙酚成分的聚碳酸酯(重均分子量80000，Tg150℃)(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物混合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表X-(2)記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物的光程差。結果如表X-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表X-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表X-(2)所示。
表X-(2)
*17 因膜的變形大而未測定。(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表X-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表X-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表X-(3)所示。
表X-(3)
*18 因為膜收縮變形而未測定。
實驗例IX-5的膜，在表IX-(2)中記載的乾燥條件下處理時，發生膜的變形，在表IX-(3)中記載的相位差液晶用電極基片的加熱條件下處理時，產生膜的收縮變形。實施例XI 特定的聚碳酸酯(二元醇是一種雙酚)與現有的聚碳酸酯混合形成聚合物混合物(混合比是變量)的情況實驗例XI-1～XI-5(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表XI-(1)中記載的以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為雙酚成分的聚碳酸酯及以雙酚A作為雙酚成分的聚碳酸酯，按表XI-(1)記載的重量比混合。上述聚合物混合物的Tg如表XI-(1)所示。
表XI-(1)
*19 以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷作為雙酚成分的聚碳酸酯(重均分子量85000，Tg235℃)*20 以雙酚A作為雙酚成分的聚碳酸酯(重均分子量80000，Tg150℃)(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物混合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表XI-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物膜的光程差。結果如表XI-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表XI-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表XI-(2)所示。
表XI-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表XI-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表XI-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表XI-(3)所示。
表XI-(3)
實施例XII 改變聚碳酸酯的分子量的情況實驗例XII-1～XII-2(a)液晶用基片膜用聚合物的製備將表XII-(1)記載的1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三乙基環己烷及雙酚A(摩爾比7∶3)作為雙酚成分，製備表XII-(1)記載的重均分子量的特定的聚碳酸酯，測定Tg。結果如表XII-(1)所示。
表XII-(1)
*21 以1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷及雙酚A(摩爾比7∶3)作為二元醇的聚碳酸酯(b)液晶用基片膜的製備製備上述聚合物的二氯甲烷溶液(濃度15重量％)，按照與實驗例I-1同樣的方法得到聚合物膜(含有殘存的二氯甲烷)。(有關由於聚合物膜在乾燥時荷重而出現的光程差)除按表XII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1方法相同，使上述聚合物膜乾燥，乾燥時的荷重為0g、68g及135g，測定荷重時的聚合物膜的光程差。結果如表XII-(2)所示。(有關在液晶用基片膜上加上荷重而出現的光程差)除按表XII-(2)中記載的乾燥溫度之外，其他與實驗例I-1的方法相同，使上述聚合物膜乾燥，得到液晶用基片膜。另外，按照與實驗例I-1相同的方法，在上述液晶用基片膜上加上0g、250g及500g的荷重，測定荷重時的該液晶用基片膜的光程差。結果如表XII-(2)所示。
表XII-(2)
(c)液晶用基片膜的拉伸除採用表XII-(3)記載的拉伸溫度及拉伸倍率之外，其餘與實驗例I-1的方法相同，得到相位差液晶用基片膜，測定光程差。結果如表XII-(3)所示。(d)、(e)屏障層及液晶用透明電極的形成按照與實驗例I-1相同的方法，在上述相位差液晶用基片膜的一面上形成屏障層及液晶用透明電極，得到液晶用相位差電極基片。
按照與實驗例I-1相同的方法測定上述液晶用相位差電極基片的表面電阻及光線透過率、及按與實驗例I-1相同方法加熱處理得到的液晶用相位差電極基片的光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表XII-(3)所示。
表XII-(3)
實施例XIII 設有底塗層的情況實驗例XIII-1按照與實驗例I-1相同的方法製得液晶用相位差電極基片膜。
在上述液晶用相位差電極基片膜的一面上用2#的塗敷棒(bar coater)塗敷下述處方的有機矽烷偶合劑塗敷液，常溫放置3分鐘，然後120℃乾燥10分鐘，形成底塗層。
(有機矽烷偶合劑塗敷液處方)日本konica社制的有機矽烷偶合劑(A-110) 2重量份己烷100重量份在上述底塗層的表面上，按照與實驗例I-1相同的方法形成屏障層及液晶用透明電極，得到相位差電極基片，按照與實驗例I-1相同的方法測定表面電阻及光線透過率。另外，將該相位差電極基片按照與實驗例I-1相同的方法進行加熱處理，然後冷卻至室溫，測定光程差、表面電阻及光線透過率。結果如表XIII所示。實驗例XIII-2將底塗層塗敷液換成矽硬塗層劑(silicone-hard-coat)底塗層，其餘與實驗例XIII-1方法相同，製得相位差電極基片，與實驗例XIII-1同樣測定，結果如表XIII所示。
另外，矽硬塗層劑的底塗層，作為底漆，將東芝Silicone社制的底漆(pH91)(固形成分佔4重量％)用2#塗敷棒(barcoater)塗敷，100℃乾燥10分鐘後，相對於東芝Silicone社制的硬塗層劑(TOSGUARD 520)(固形成分佔20重量％)10重量份，用70重量份的異丙醇稀釋，將稀釋得到的溶液用8#塗敷棒(bar coater)塗敷，100℃乾燥5分鐘，180℃乾燥10分鐘製得。實驗例XIII-3按照與實驗例XII-1相同的方法製得液晶用相位差電極基片膜。
使用上述液晶用相位差電極基片膜，按照與實驗例XIII-1相同的方法(表XIII記載的拉伸溫度及拉伸倍率)製得液晶用電極基片，與實驗例XIII-1同樣測定。結果示於表XIII。實驗例XIII-4按照與實驗例VII-1相同的方法製得液晶用相位差電極基片膜。
使用上述液晶用相位差電極基片膜，按照與實驗例XIII-2相同的方法(表XIII記載的拉伸溫度及拉伸倍率)製得液晶用電極基片，與實驗例XIII-2同樣測定。結果示於表XIII。
表XIII
本發明的液晶用電極基片作為小型輕便化的電子儀器顯示用的塑料透明電極基片非常有用。
權利要求
1.一種液晶用電極基片，由液晶用基片膜(substrate film)及在該膜的至少一面上設置的液晶用透明電極組成，其中的液晶用基片膜由含有作為雙酚成分的、選自1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中的至少一種的芳香族聚酯組成。
2.權利要求1中記載的液晶用電極基片，其中液晶用基片膜由上述芳香族聚酯及聚碳酸酯的混合物組成。
3.權利要求1或2中記載的液晶用電極基片，其中雙酚成分為1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷。
4.權利要求1或2中記載的液晶用電極基片，在無荷重狀態下測定的上述液晶用基片膜的光程差(retardation)為20nm以下。
5.權利要求1或2中記載的液晶用電極基片，其中液晶用基片膜是在無荷重狀態下測定的光程差為100-1200nm的相位差膜。
6.權利要求1或2中記載的液晶用電極基片，在液晶用基片膜與透明電極之間設置有屏障層。
7.權利要求6記載的液晶用電極基片，其中的屏障層由高分子材料形成。
8.權利要求6記載的液晶用電極基片，其中的屏障層由無機材料形成。
9.權利要求7中記載的液晶用電極基片，其中的高分子材料是乙烯-乙烯醇共聚物或偏氯乙烯。
10.權利要求8中記載的液晶用電極基片，其中的無機材料是SiOx、SiN或SiAlON。
11.權利要求6中記載的液晶用電極基片，在屏障層與液晶用基片膜之間設置有增粘塗層。
12.權利要求11中記載的液晶用電極基片，其中的增粘塗層是有機矽烷偶合劑及/或矽硬塗層(silicone-hard-coat)劑。
13.權利要求11中記載的液晶用電極基片，其中的增粘塗層是環氧樹脂。
14.一種液晶用電極基片，由液晶用基片膜及在該基片膜的至少一面上設置的液晶用透明電極組成，其中的液晶用基片膜是由含有作為雙酚成分的、選自1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中的至少一種的聚碳酸酯組成。
15.權利要求14中記載的液晶用電極基片，其中液晶用基片膜含有上述聚碳酸酯以外的聚碳酸酯。
16.權利要求14或15中記載的液晶用電極基片，其中的雙酚成分是1，1-二(4-羥苯基)-3，3，5-三甲基環己烷。
17.權利要求14或15中記載的液晶用電極基片，在無荷重狀態下測定的上述液晶用基片膜的光程差為20nm以下。
18.權利要求14或15中記載的液晶用電極基片，其中液晶用基片膜是在無荷重下測定的光程差為100-1200nm的相位差膜。
19.權利要求14或15中記載的液晶用電極基片，在液晶用基片膜與透明電極之間設置有屏障層。
20.權利要求19中記載的液晶用電極基片，其中的屏障層由高分子材料組成。
21.權利要求19中記載的液晶用電極基片，其中的屏障層由無機材料組成。
22.權利要求20中記載的液晶用電極基片，其中的高分子材料是乙烯-乙烯醇共聚物或偏氯乙烯。
23.權利要求21中記載的液晶用電極基片，其中的無機材料是SiOx、SiN或SiAlON。
24.權利要求19中記載的液晶用電極基片，在屏障層與液晶用基片膜之間設置有增粘塗層。
25.權利要求24中記載的液晶用電極基片，其中的增粘塗層是有機矽烷偶合劑及/或矽硬塗層劑。
26.權利要求24中記載的液晶用電極基片，其中的增粘塗層為環氧樹脂。
全文摘要
一種液晶用電極基片，由液晶用基片膜及在其至少一面上設置的透明電極組成，該液晶用基片膜由含有作為雙酚成分的、選自1，1-二(4-羥苯基)-烷基環烷烴、1，1-二(3-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴及1，1-二(3，5-取代-4-羥苯基)-烷基環烷烴組成的組中的至少一種的芳香族聚酯或聚碳酸酯組成。具有高耐熱性及光程差小以及光程差的熱變化小的優點。
文檔編號G02F1/13GK1141086SQ95191677
公開日1997年1月22日 申請日期1995年2月22日 優先權日1994年2月24日
發明者高瀨純治, 細野和登, 清水浩司, 藤井貞男 申請人:鍾淵化學工業株式會社