內側測微計的製作方法
2023-06-02 04:25:01 4
專利名稱：內側測微計的製作方法
技術領域：
本發明涉及內側測微計，具體涉及一種削減部件數的內側測微計。
背景技術：
如圖8所示，傳統的內側測微計具有通過測微套筒20的迴轉使第1測杆11進退的內側測微計本體1、長度各相差一定尺寸的多個測砧30、設於測砧30與內側測微計本體1之間的伸測環40。
如圖9所示，內側測微計本體1包括在貫通孔3的一端側內周形成有雌螺紋4的內筒2A、設於內筒2A的外周上的圓筒狀外筒2B；由外周上具有與內筒2A的雌螺紋4螺合的雄螺紋13的筒狀的第1測杆軸12和與第1測杆軸12的一端側螺合的測頭15構成的第1測杆11；以及具有貫通孔21、將內筒2A和從外筒2B的一端側向另一端側的途中覆蓋的筒狀的測微套筒20。
在內筒2A的一端側附近沿圓筒軸設有多個切縫3A，並從外側螺合有螺母3B。又，在內筒2A的另一端側外周螺合有頭部具有旋鈕部的固定螺釘5和支承旋鈕6。
第1測杆軸12的一端側外周和測微套筒20的一端側開口部21A由從一端側向另一端側逐漸擴徑的錐形體27A加以嵌合，並通過與測頭15螺合的螺母27B加以緊固。
在測微套筒20的一端側內周設有滾花28，在另一端側外周沿圓周方向刻有刻度23。
測砧30一端側的直徑與內筒2A的貫通孔3的另一端側的直徑相同，在從一端側向另一端側的途中具有臺階31並形成擴徑狀態，在測砧30的另一端側設有測頭32。
在外筒2B上沿圓筒軸方向刻有刻度7。
伸測環40具有與測砧30一端側的直徑相同的貫通孔41。
使用時，選擇與被測定對象的被測定部位長度適合的長度的測砧30，將其從內筒2A的另一端側插入，用固定螺釘5保持。然後，使內側測微計本體1的測微套筒20迴轉而使第1測杆11進退。當測砧30的測頭32及第1測杆11的測頭15與被測定對象抵接時，從刻度7、23讀取被測定對象的被測定部位的尺寸。
使用伸測環40時，在將測砧30插入伸測環40的貫通孔41之後，將其測砧30插入內側測微計本體1。由此可將內側測微計的測定區域延長該伸測環40部分的尺寸。
實際測定時，通過根椐被測定對象在內側測微計本體1上選擇使用測砧30和伸測環40，可如
圖10所示設定調整內側測微計的測定區域。
例如，事先準備好內側測微計本體1的第1測杆11的作動距離為13mm、伸測環40的長度為12mm、以及50mm用、75mm用的測砧30。
在以50mm～63mm作為測定區域時，可通過將50mm用的測砧30安裝在內側測微計本體1上進行測定。
在以62mm～75mm作為測定區域時，可通過在50mm用的測砧30上添加伸測環40進行測定。
在以75mm～88mm作為測定區域時，只要換成75mm用的測砧30即可進行測定。
以下相同，用於可通過有選擇性地使用測砧30和伸測環40延長測定區域，故只要準備好長度按25mm各相差一定尺寸的測砧30，就可在連續的測定區域中進行測定。
然而，這種傳統的內側測微計必需準備長度按25mm各相差一定尺寸的測砧30。
例如，為了以50mm～300mm作為測定區域，必需事先準備50mm、75mm、100mm、125mm、150mm、175mm、200mm、225mm、250mm、275mm用的10個測砧30。
由於必需準備許多根長的測砧30，部件數多，因此加工麻煩，成本也高。並且，由於必須具有許多測砧30，故收納盒體大，攜帶不便。
本
發明內容
本發明有鑑於此，其主要目的在於提供一種部件數少、成本低、攜帶方便的內側測微計。
本發明的內側測微計的結構是，相對於具有在貫通孔的內周設有雌螺紋的圓筒狀的筒體、與所述雌螺紋螺合併設成可從所述貫通孔的一端側軸向進退的第1測杆、可與所述第1測杆一體迴轉並設於所述內筒的外側的測微套筒的內側測微計本體，通過有選擇性地使用長度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒體的貫通孔的另一端側上可裝脫的多個測砧以及具有插入所述測砧的貫通孔、並設於所述筒體的另一端側與所述測砧之間的第1延長構件，可設定調整測定區域，其特徵在於，具有第2延長構件，所述第2延長構件可裝脫且有選擇性地安裝在所述第1測杆的一端側，並具有與所述第1測杆一起進退的第2測杆。
採用這種結構，一旦測微套筒迴轉，第1測杆即與測微套筒一起迴轉。由於第1測杆的雄螺紋與筒體的雌螺紋螺合，因此第1測杆跟隨該螺紋的螺距從筒體的一端側沿軸向進退。此時，第1測杆從筒體的一端側向筒體的外側可進退的距離就是內側測微計本體的作動區域。
以往是通過有選擇性地使用在筒體的貫通孔的另一端側可裝脫的測砧以及設於筒體的另一端側與測砧之間的第1延長構件，將內側測微計的作動區域設定調整為與被測定對象長度對應的測定區域。
例如，在只使用短的測砧時，可將測定區域設定為短的長度，又，通過在其上添加第1延長構件來使用，就可將測定區域增加第1延長構件部分的尺寸而向長的一方變更調整。並且，通過換成更長的測砧，可將測定區域變更調整為更長的一方，依此類推，可對測定區域進行變更調整。
添加新的測砧及其有選擇性地與第1延長構件一起使用的第2延長構件可獲得如下的效果。
如上所述，將任意長度的測砧安裝在內側測微計本體上，中間嵌裝第1延長構件，在將測定範圍向長的一方設定調整之後，再通過安裝第2延長構件，可將測定區域向更長的一方設定調整。
換言之，以往可從任意的1個測砧延長的測定區域就是該測砧與第1延長構件的長度之和，但一旦加上了第2延長構件，就可延長至該測砧與第1延長構件、第2延長構件之和。
這樣，可去除以往所必需長度的測砧，即在該測砧上加上了第1延長構件、第2延長構件的長度之和的測砧。
此時，由於測定區域越長，可從以往所必需的測砧中去除的個數也就越多，因此使上述的效果更加明顯。
通過準備1個第2延長構件，可去除多個長的測砧，這不僅可減少部件數，而且在注意到長的多個測砧的尺寸及其製造時，上述測砧個數的去除可取得降低成本和減小收納盒體尺寸的明顯效果。
在本發明中，將所述第1測杆的作動區域作為v、所述第1延長構件的長度作為k、所述第2延長構件的所述第2測杆的長度作為s、所述測砧的長度尺寸之差作為d時，最好具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的關係。
採用這種結構，可用內側測微計測定的測定區域就可成為無間隙連續的區域。
安裝有長度為a的測砧A的內側測微計的測定區域S1由於內側測微計的作動區域是V，因此用a≤S1≤a+v來表示。
安裝有測砧A和長度為k的第1延長構件時的測定區域S2是a+k≤S2≤a+k+v。此時，由k≤v得a+k≤a+v，故(S2的最小值)≤(S1的最大值)。由此，S1和S2至少具有交叉的區域或者連續。
安裝有測砧A和具有長度s的第2測杆的第2延長構件時的測定區域S3是a+s≤S3≤a+s+v。此時，由s≤k+v得a+s≤a+k+v，故(S3的最小值)≤(S2的最大值)。由此，S2和S3至少具有交叉的區域或者連續。
安裝有測砧A、第1延長構件和第2延長構件時的測定區域S4是a+k+s≤S4≤a+k+s+v。此時，由k≤v得a+k+s≤a+s+v，故(S4的最小值)≤(S3的最大值)。由此，S3和S4至少具有交叉的區域或者連續。
若測砧A變更為長度a+d的測砧B，則測定區域S5是a+d≤S5≤a+d+v。此時，由d≤v+k+s得a+d≤a+v+k，故(S5的最小值)≤(S4的最大值)。由此，S4和S5至少具有交叉的區域或者連續。
由此，採用具有上述結構的內側測微計，可通過比以往個數少的測砧以連續的區域作為測定區域來進行設定調整。
在本發明中，所述第2延長構件最好具有可裝脫地安裝在所述測微套筒的一端側、中心具有貫通孔的第2延長構件本體；從所述第2延長構件的貫通孔的一端側設成可軸向進退的第2測杆；以及對所述第2測杆向所述第1測杆方向施力的施力裝置。
採用這種結構，由於第2測杆在第2延長構件的貫通孔內其位置不固定而可軸向進退，並由施力裝置向第1測杆施力，因此在將第2延長構件安裝在測微套筒的一端側時，第1測杆的一端與第2測杆的另一端接觸，由第1測杆的一端推壓第2測杆的另一端，第2測杆在一端側可滑動。由此，第2測杆的長度與添加在第1測杆上的部分相等，可獲得作為延長構件的效果。
此時，即使第1測杆從內側測微計本體的筒體伸出的長度有變化，第2測杆也能靈活地改變其位置，無間隙地與第1測杆的一端接觸。即，因第1、第2測杆完全一體地進行進退，故不會導致測定精度下降。
在本發明中，最好是在所述第2延長構件本體的另一端側和所述測微套筒的一端側的任一方設置雄螺紋，在所述第2延長構件本體的另一端側和所述測微套筒的一端側的另一方設置與所述雄螺紋螺合的雌螺紋。
採用這種結構，通過將測微套筒的一端側與第2延長構件的另一端側螺合，可將第2延長構件與測微套筒一體移動。由此，在使測微套筒迴轉而使測微套筒與第1測杆一起移動時，第2延長構件與第1測杆一起移動，可獲得作為延長構件的作用。
並且，採用第2延長構件與測微套筒螺合方式，由於可簡單地進行裝脫，使用性能優良，又由於也可使測微套筒和第2延長構件中的任1個迴轉，因此操作性也優良。
附圖的簡單說明圖1為表示本發明的內側測微計的一實施形態的結構圖。
圖2為從側面看上述實施形態的內側測微計本體的半剖面圖。
圖3為從側面看上述實施形態的伸測棒的半剖面圖。
圖4為上述實施形態的內側測微計的結構分解立體圖。
圖5為表示在上述實施形態的內側測微計中、將伸測棒和測砧安裝在內側測微計本體上的狀態的圖。
圖6為表示在上述實施形態的內側測微計中、將伸測棒、伸測環和測砧安裝在內側測微計本體上的狀態的圖。
圖7為表示在上述實施形態中、有選擇性地使用測砧、伸測環、伸測棒時的測定區域的圖。
圖8為表示傳統的內側測微計的結構圖。
圖9為從側面看傳統的內側測微計本體的半剖面圖。
圖10為表示在傳統的內側測微計中、有選擇性地使用測砧、伸測環時的測定區域的圖。
具體實施例方式
下面，參照圖示例說明本發明的實施形態。
如圖1所示，本實施形態的內側測微計具有內側測微計本體1、長度尺寸各相差一定尺寸的多個測砧30、作為第1延長構件的伸測環40、以及作為第2延長構件的伸測棒50。
如圖2所示，內側測微計本體1包括在貫通孔3的內周上形成有雌螺紋4的筒體2；與筒體2的雌螺紋4螺合、設置成從筒體2的貫通孔3的一端側可軸向進退的第1測杆11；以及可與該第1測杆11一體迴轉、設於筒體2的外側的測微套筒20。
在筒體2上的貫通孔3的一端側開口部附近設有雌螺紋4，在另一端側外周螺合有頭部具有旋鈕部的固定螺釘5和周圍具有旋鈕部的支承旋鈕6。
在筒體2的外壁沿軸向通過雷射劃線刻印有刻度7。
第1測杆11具有在大致整個外周設有雄螺紋13的第1測杆軸12、以及與第1測杆軸12的一端側前端一體形成的測頭15。又，測頭15的直徑小於第1測杆軸12的直徑。
第1測杆軸12的雄螺紋13與筒體2的雌螺紋4螺合，通過使第1測杆11迴轉，使第1測杆11從筒體2的一端側進退。
第1測杆軸12具有與另一端側開口的軸向平行的孔14。該第1測杆軸12的孔14的直徑稍大於筒體2的另一端側開口部3C的直徑。
測微套筒20由第1筒部22和第2筒部24構成，所述第1筒部22呈圓筒狀，具有與圓筒軸平行的貫通孔21，將從筒體2的一端側向另一端側的途中覆蓋的筒壁的內徑稍大於筒體2的外徑；所述第2筒部24的從筒體2的一端側將第1測杆11的測頭15覆蓋的筒壁的內徑等於測頭15的直徑。在該第2筒部24的一端側外周設有雄螺紋25。通常該雄螺紋25與圓環狀的蓋體26螺合。又，第2筒部24的另一端側與垂直於貫通孔21的推壓螺釘27螺合。利用該推壓螺釘27將測頭15與測微套筒20結合，使第1測杆11與測微套筒20一體迴轉。在測微套筒20的第1筒部22的另一端側外周沿圓周設有刻度23。又，在測微套筒20的中央部設有滾花28。
在本實施形態中，第1測杆11的作動距離為13mm，筒體2的雌螺紋4和第1測杆11的雄螺紋13的螺距為第1測杆11迴轉2圈時軸向移動1mm。故設在筒體上的刻度7為0.5mm，又，設於測微套筒20上的刻度23為沿一周分割為50等分，設成讀取0.01mm。
按照所定的不同的長度尺寸準備多個測砧30，測砧30為長棒體，一端側的直徑與筒體2的貫通孔3的另一端側開口部3C相同，在從測砧30的一端側向另一端側的途中設有直徑增大的臺階31，在另一端側的前端具有測頭32。
在本實施形態中，測砧30準備了每種相差50mm的長度。
伸測環40為具有貫通孔41的筒狀，貫通孔41的直徑大於測砧30一端側的直徑，但小於測砧30的臺階31的直徑。伸測環40的外徑大於筒體2的另一端側開口部3C的直徑。
在本實施形態中，伸測環40為12mm。
如圖3所示，伸測棒50包括具有貫通孔52的第2延長構件本體即伸測棒本體51；設置成從伸測棒本體51的貫通孔52的一端側可軸向進退的第2測杆58；向第2測杆58向另一端側方向施力的施力裝置即彈簧60；以及止動件70。
伸測棒本體51呈圓筒狀，具有與圓筒軸平行的貫通孔52。該貫通孔52一端側的直徑與測微套筒20的一端側開口部21A相同，為最小，在向另一端側和途中設有擴徑的兩部位的臺階即第1臺階53和第2臺階54。並且，伸測棒本體51的貫通孔52的第2臺階54與至另一端側開口側的途中設有雌螺紋55，又，另一端側開口部附近也設有雌螺紋56。
在伸測棒本體51的一端側的外周設有滾花57。
第2測杆58設於伸測棒本體51的貫通孔52內。其直徑與第1測杆11的測頭15相同。在第2測杆的途中設有比其它部分直徑大的環狀構件59。在該環狀構件59與貫通孔52內的第1臺階53之間設有彈簧60，對第2測杆58向另一端側方向施力。
在伸測棒本體51的貫通孔52內設有圓環狀的止動件70。該止動件70在將第2測杆58和彈簧60從另一端側插入之後與伸測棒本體51的雌螺紋55螺合。第2測杆的環狀構件59掛設在該止動件70上，並利用彈簧60的施力使第2測杆58不會向另一端側脫出。
這裡，相對於第1測杆11的雄螺紋13和筒體2的雌螺紋4是右螺紋，伸測棒本體51的雌螺紋56和測微套筒20的雄螺紋25形成為左螺紋。
在本實施形態中，伸測棒50的第2測杆58為25mm。
測定時，根椐被測定對象，在內側測微計本體1上有選擇性地使用測砧30、伸測環40和伸測棒50。
圖4表示本實施形態中的內側測微計的組裝結構。
首先，在測定時，在將測砧30安裝在內側測微計本體1上時，鬆開筒體2的固定螺釘5，將測砧30的一端從筒體2的另一端側開口部3C一直插入到由臺階31止動的部位，由固定螺釘5的推壓進行固定。
其次，在使用伸測環40時，將測砧30插通於伸測環40的貫通孔41而插入到筒體2的貫通孔3的另一端側。另外，在安裝伸測棒50時，取下蓋體26，將伸測棒50的雌螺紋56與測微套筒20的雄螺紋25螺合。
圖5表示將測砧30和伸測棒50安裝在內側測微計本體1上的狀態。
在此狀態下，第1測杆11成為第2測杆58的長度部分延長的結構，即，若使測微套筒20迴轉，則第1測杆11進退，同時，測微套筒20及伸測棒50的第2測杆58與第1測杆11一體進退，故通過將第2測杆58的一端和測砧30的測頭32與被測定對象抵接，就可測定被測定對象的被測定部位的尺寸。
圖6表示將測砧30、伸測棒50和伸測環40安裝在內側測微計本體1上的狀態。
在此狀態下，第1測杆延長了第2測杆的長度部分，再加上測砧30延長了伸測環40的長度部分。由此，通過使測微套筒20迴轉而將測砧30的測頭32和第2測杆58的一端與被測定對象抵接，就可測定被測定對象的被測定部位的尺寸。
採用如此本實施形態的內側測微計，則可獲得如下的效果。
若使測微套筒20迴轉，則第1測杆11與測微套筒一起迴轉。此時，第1測杆11的雄螺紋13與筒體2的雌螺紋4螺合，故第1測杆11可跟隨該螺紋4、13的螺距從筒體2的一端側進退。通過從設在筒體2和測微套筒20上的刻度7、23讀取此時的第1測杆11的作動距離，就可測定被測定對象。
在本實施形態中，內側測微計本體1的第1測杆11的作動距離為13mm，伸測環40為12mm、伸測棒50為25mm，並準備50mm用、100mm用、150mm用、200mm用、250mm用的測砧30。
由此，如圖7所示，可將從50mm至300mm的所有區域作為測定區域。
即，在只將50mm用測砧30安裝在內側測微計本體1上時，可將50mm～63mm作為測定區域。
在使用50mm用測砧30和12mm的伸測環40時，可將62mm～75mm作為測定區域。
取下伸測環40，在使用50mm測砧30和25mm的伸測棒50時，可將75mm～88mm作為測定區域。
在使用50mm測砧30、伸測環40和伸測棒50時，可將87mm～100mm作為測定區域。
由此，通過在50mm用測砧30上使用伸測環40和伸測棒50，可將從50mm～100mm的所有區域作為測定區域。
然後，將50mm用測砧30改為100mm用測砧30，與上述一樣通過有選擇性使用伸測環40和伸測棒50，可將從100mm至150mm的區域作為測定區域。
在本實施形態中，由於將各相差50mm的不同長度的測砧30一直準備到250mm，因此可將從50mm至300mm的所有區域作為測定區域。
並且，通過準備300mm、350mm用的那種相差50mm的不同長度的測砧30，可使測定區域連續地延長下去。
在不使用伸測棒50的傳統技術中，按照內側測微計本體1的作動距離為13mm，伸測環40為12mm的尺寸，除了伸測棒50以外均與本實施形態相同時，為了得到連續的測定區域，必須準備有按照各相差25mm的不同長度尺寸的測砧30。即、為了將50mm～300mm作為測定區域，需準備50mm、75mm、100mm、125mm、150mm、175mm、200mm、225mm、250mm、275mm用的10個測砧30。
對此，在使用25mm的伸測棒50的本實施形態中，如上所述只要準備5個測砧30即可，故可減少部件數，可降低成本。
並且，由於75mm、125mm、175mm、225mm、275mm用的測砧30在部件中是屬於大的部件，因此，可通過將其削減而減小收納盒體，在單純減少部件數的其礎上，在攜帶性方面也具有明顯的效果。
在伸測棒50方面，由於第2測杆58利用彈簧60向另一端側即第1測杆方向施力而在伸測棒本體51的貫通孔52內可軸向進退，因此，一旦被安裝在內側測微計本體1的另一端側上，則第2測杆58可被第1測杆11的測頭15的一端推壓而向一端側移動。此時，利用彈簧60的彈力可將第1測杆11與第2測杆58無間隙地密接，故在本實施形態中，第1測杆11可正確地延長第2測杆58的長度部分25mm，使其相等。
並且，從內側測微計本體1的測微套筒20的另一端側伸出的測頭15的長度即使變化，第2測杆58也可利用彈簧60的施力而靈活地改變位置。即，因第1測杆11、測頭15、第2測杆58完全一體地進行移動，故不會降低測定精度。
由於在測微套筒20的第2筒部24上設有雄螺紋25，在伸測棒本體51的貫通孔的另一端側設有雌螺紋56，因此相對於內側測微計本體1，採用螺紋螺合方式即可簡單地進行伸測棒50的裝脫。
並且，通過上述的螺合使測微套筒20與伸測棒50成為一體，故隨著測微套筒20的迴轉，在第1測杆11與測微套筒20一起移動時，伸測棒50的第2測杆58也一體移動。
第1測杆11的雄螺紋13和筒體2的雌螺紋4是右螺紋，而伸測棒本體51的雌螺紋56和測微套筒20的雄螺紋25則是左螺紋，故為了使第1測杆11從筒體2進出而使測微套筒20右轉時，即使帶動設在伸測棒50上的滾花57迴轉，伸測棒50也不會脫出。由此，可使其操作性優良。
本實施形態的內側測微計本體1的結構與傳統的結構相比，其不同之點如下。
本實施形態的筒體2在傳統技術中，如圖9所示，內筒2A與外筒2B是分體的。即由一端側附近的內周具有形成有雌螺紋4的貫通孔3的圓筒狀的內筒2A和安裝在該內筒2A的外側的圓筒狀的外筒2B所構成。
這是因為在內筒2A上採用刻印加工方式刻印刻度7時會使內筒2A變形、故在與內筒2A分體的外筒2B上進行刻度7的刻印的緣故。
在本實施形態中，通過採用雷射劃線方式直接在筒體2上進行刻度7的加工，可防止筒體2的變形，如圖2所示，可使傳統的內筒2A和外筒2B與筒體2形成一體化。由此可減少部件數，又可使加工工序簡化，可降低成本。
在傳統技術中，如圖9所示，第1測杆軸12與測頭15是分體的，在第1測杆軸12上設有貫通孔14A，該貫通孔14A的一端側開口部附近的內周與測頭15螺合。並且，在測微套筒20的貫通孔21的一端側開口部21A與第1測杆軸12的一端側外周設有從一端側向另一端側擴徑的錐形體27A，相互嵌合後通過與測頭15螺合的螺母27B緊固，將第1測杆軸12與測頭15、測微套筒20形成一體化結構。
對此，本實施形態如圖2所示由於其結構是第1測杆軸12與測頭15一體形成，將第1測杆軸12和測微套筒20的錐度取消，測微套筒20和測頭15由推壓螺釘27的推壓而固定，因此，可減少部件數，使加工工序簡化，可降低成本。
以往的結構是在筒體2的一端側沿軸向設置多個切縫3A，從筒體2的一端側的外側通過螺母3B的螺合進行緊固，正確地將筒體2與第1測杆11螺合。
由於第1測杆11頻繁迴轉會使第1測杆11與內筒2的螺紋4、13發生鬆動，此時須通過緊固螺母3B來調節螺紋4、13間的間隙。
而內側測微計的使用形態主要是界限量規的測定，可減少第1測杆11頻繁迴轉而產生螺紋4與13間的間隙的可能性。
為此，在本實施形態中，將上述的切縫3A和螺母3B取消。結果是減少了部件數，可使加工工序簡化，可降低成本。
另外，本發明的內側測微計並不限於上述實施例，而可在不脫離本發明宗旨的範圍內作各種變更。
作為第2延長構件，本實施形態中是將在伸測棒本體51的貫通孔52中設有第2測杆58的伸測棒50與測微套筒20螺合，但只要是將第2測杆58加接在第1測杆11上，則其形態不限於上述。例如，也可將第1測杆11的一端側與第2測杆58的另一端側單純地螺合。又，也可不採用螺合而採用由連接環和磁力進行固定等方法。
對第2測杆58施力的施力裝置也可不是彈簧60，只要彈性體即可。或者在第1測杆11的一端和第2測杆58的另一端設置磁鐵等，只要能將第1測杆11與第2測杆58密接，則任何方法均可。
上述實施形態是在測微套筒的一端側設置雄螺紋而在伸測棒本體的另一端側設置雌螺紋進行螺合的，反之，也可在測微套筒的一端側採用雌螺紋而在伸測棒本體的另一端側採用雄螺紋。
上述實施形態中是將內側測微計本體1的第1測杆11的作動距離定為13mm、伸測環40為12mm、伸測棒50的第2測杆58為25mm、測砧30不同的長度尺寸為50mm，但只要是具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的關係的組合，則無論使用何種長度均可確保連續的測定區域。
權利要求
1.一種內側測微計，其中，相對於具有在貫通孔的內周設有雌螺紋的圓筒狀的筒體、與所述雌螺紋螺合併設成可從所述貫通孔的一端側軸向進退的第1測杆、可與所述第1測杆一體迴轉並設於所述內筒的外側的測微套筒的內側測微計本體，通過有選擇性地使用長度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒體的貫通孔的另一端側上可裝脫的多個測砧以及具有插入所述測砧的貫通孔、並設於所述筒體的另一端側與所述測砧之間的第1延長構件，可設定調整測定區域，其特徵在於，具有第2延長構件，所述第2延長構件可裝脫且有選擇性地安裝在所述第1測杆的一端側，並具有與所述第1測杆一起進退的第2測杆。
2.如權利要求1所述的內側測微計，其特徵在於，將所述第1測杆的作動區域作為v、所述第1延長構件的長度作為k、所述第2延長構件的所述第2測杆的長度作為s、所述測砧的長度尺寸的差值作為d時，具有k≤v、s≤v+k、d≤v+k+s的關係。
3.如權利要求1所述的內側測微計，其特徵在於，所述第2延長構件具有可裝脫地安裝在所述測微套筒的一端側、中心具有貫通孔的第2延長構件本體；從所述第2延長構件的貫通孔的一端側設置成可軸向進退的第2測杆；以及對所述第2測杆向所述第1測杆方向施力的施力裝置。
4.如權利要求1至3任一項所述的內側測微計，其特徵在於，在所述第2延長構件本體的另一端側和所述測微套筒的一端側的任一方設置雄螺紋，在所述第2延長構件本體的另一端側和所述測微套筒的一端側的另一方設置與所述雄螺紋螺合的雌螺紋。
全文摘要
一種內側測微計，相對於與可軸向進退的第1測杆(11)螺合的內側測微計本體(1)，通過有選擇性地使用長度尺寸各相差一定尺寸的測砧以及設於該測砧與內側測微計本體(1)之間的伸測環(40)，可設定調整測定區域，其特徵在於，具有伸測棒(50)，該伸測棒(50)可裝脫且有選擇性地安裝在內側測微計本體(1)上，並具有與所述第1測杆(11)一起進退的第2測杆(58)。通過在從任意的1個測砧(30)延長的測定區域中加上伸測環(40)的長度，再加上第2延長構件(58)的長度部分，可減少測砧(30)的個數。
文檔編號G01B3/18GK1407312SQ0214202
公開日2003年4月2日 申請日期2002年8月20日 優先權日2001年8月21日
發明者照井勝信, 小西正, 柴橋稔 申請人:株式會社三豐